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        在三氧化二鉍—石墨烯修飾電極上采用陽極溶出伏安法檢測(cè)鉛和鎘

        2018-01-16 11:18:14崔聞?dòng)?/span>孫言春呂江維耿林
        分析化學(xué) 2018年11期
        關(guān)鍵詞:石墨烯

        崔聞?dòng)? 孫言春 呂江維 耿林

        摘 要 采用溶劑熱及自組裝法制備了三氧化二鉍-石墨烯(Bi2O3@石墨烯)復(fù)合材料,其較大的比表面積增加了電化學(xué)反應(yīng)活性位點(diǎn),且保留了石墨烯片層之間的孔狀結(jié)構(gòu),利于電子的傳導(dǎo)。用Bi2O3@石墨烯材料修飾玻碳電極,建立了陽極溶出伏安法同時(shí)快速測(cè)定痕量Pb2+ 和Cd2+ 的新方法。對(duì)底液pH值、富集電位及富集時(shí)間進(jìn)行了優(yōu)化,在0.2 mol/L HAc-NaAc緩沖溶液(pH 4.5)、富集電位

        1.2 V、富集時(shí)間120 s的條件下,分別在10~200 μg/L和25~200 μg/L濃度范圍內(nèi),Pb2+ 和Cd2+ 的溶出峰電流與Pb2+ 和Cd2+ 的濃度呈線性關(guān)系,富集時(shí)間為120 s時(shí),Pb2+ 和Cd2+ 的檢出限分別為0.02和0.25 μg/L(S/N=3),對(duì)同一樣品中Pb2+ 和Cd2+ 平行測(cè)定10次的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差(RSD)分別為4.3%和4.7%,重現(xiàn)性較好。將本方法用于實(shí)驗(yàn)室廢水樣品中痕量鉛和鎘的測(cè)定,結(jié)果與電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測(cè)試結(jié)果一致。

        關(guān)鍵詞 三氧化二鉍; 石墨烯; 陽極溶出伏安法; 鉛; 鎘

        1 引 言

        重金屬鉛和鎘在自然環(huán)境中不可降解,在生物體內(nèi)富集后可通過食物鏈進(jìn)入人體引起慢性中毒,因此快速準(zhǔn)確地測(cè)定重金屬鉛和鎘的方法具有重要的實(shí)際意義。測(cè)定重金屬常用的方法有原子吸收光譜法(AAS)[1,2]、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-AES)[3]及原子熒光光譜法(AFS)[4]等,上述方法檢測(cè)準(zhǔn)確度高,但是原子吸收光譜儀測(cè)定不同元素需更換光源燈; ICP-AES操作復(fù)雜,對(duì)實(shí)驗(yàn)條件要求苛刻; 原子熒光光譜法通常與氫化物發(fā)生法聯(lián)用,由于可氫化物發(fā)生反應(yīng)的元素有限, 限制了方法的應(yīng)用。

        陽極溶出伏安(Anodic stripping voltammetry, ASV)具有較高的靈敏度和選擇性,而且具有快速、簡(jiǎn)單、操作方便和成本低等優(yōu)點(diǎn),在水體檢測(cè)[5]、藥物成分[6]、食品分析[7]和重金屬測(cè)定[8~10]等方面得到了廣泛應(yīng)用。陽極溶出伏安法測(cè)定重金屬元素時(shí),工作電極常使用汞膜電極,但金屬汞及汞離子均具有毒性, 污染環(huán)境, 危害健康等缺點(diǎn),汞膜電極的應(yīng)用受到了嚴(yán)格的限制。作為汞膜電極的替代品,銻膜[11]、鉛膜[12]、鎵膜[13]電極也被用于分析檢測(cè),但電化學(xué)性能不穩(wěn)定,限制了其廣泛使用。Wang等[14]首次采用原位鍍鉍膜法制備鉍膜修飾的玻碳電極,測(cè)定鉛、鎘、鋅和鉈等金屬離子。后續(xù)的許多研究都證實(shí),鉍膜具有可與汞膜媲美的溶出伏安特性[15~17]。鉍的氧化物電極也可用于重金屬的檢測(cè),Rashid等[18,19]采用絲網(wǎng)印刷電極檢測(cè)重金屬鉛和鎘,將Bi2O3與石墨碳混合后噴涂在聚酯薄膜基體上作為工作電極,但無法實(shí)現(xiàn)Pb2+ 和Cd2+ 的同時(shí)檢測(cè)。

        本研究采用Bi2O3@石墨烯復(fù)合材料修飾玻碳電極,在HAc-NaAc緩沖溶液中,建立了同時(shí)測(cè)定重金屬鉛和鎘的方法,考察了pH值、富集電位和富集時(shí)間對(duì)陽極溶出伏安曲線的影響,以及方法的線性范圍、檢出限和重現(xiàn)性,為Bi2O3@石墨烯膜電極用于實(shí)際樣品中痕量鉛和鎘的測(cè)定提供參考和依據(jù)。

        2 實(shí)驗(yàn)部分

        2.1 儀器與試劑

        CHI660D電化學(xué)工作站(上海辰華儀器有限公司); SU8010掃描電子顯微鏡(日本Hitachi公司); ASAP2020 BET比表面積分析儀(美國(guó)麥克儀器公司); IRIS電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(美國(guó)Thermo Jarrell Ash公司); X′Pert PRO X-射線粉末衍射儀(荷蘭; PANalytical公司); 320-s pH計(jì)(美國(guó); Mettler-Toledo公司)。采用三電極系統(tǒng):Bi2O3@石墨烯膜修飾玻碳電極為工作電極,Ag/AgCl電極為參比電極,鉑電極為對(duì)電極。

        10%Nafion溶液(美國(guó)Sigma-Aldrich公司); Bi(NO3)3、Cd(NO3)2、Pb(NO3)2、NaAc、HAc、HNO3和HClO4(上海阿拉丁生化科技股份有限公司); 石墨粉(美國(guó)Alfa Aesar公司)。所用試劑均為分析純,實(shí)驗(yàn)用水為去離子水。實(shí)際水樣為本實(shí)驗(yàn)室廢水。

        2.2 Bi2O3@石墨烯材料制備及工作電極修飾

        采用溶劑熱及后續(xù)焙燒的方法制備Bi2O3納米顆粒,然后采用靜電自組裝和水熱反應(yīng)制備Bi2O3@石墨烯材料[20,21]。取2 mg Bi2O3@石墨烯粉末超聲處理,均勻分散至500 μL 10% Nafion溶液中。

        將玻碳電極依次在乙醇、HNO3、去離子水中分別超聲處理5 min,再依次用1.0、0.3和0.05 μm粒徑的氧化鋁粉末反復(fù)打磨至鏡面,用去離子水超聲清洗5 s后,用氮?dú)獯蹈?。? μL Bi2O3@石墨烯修飾液滴涂在電極表面,在室溫下自然干燥,待用。實(shí)驗(yàn)測(cè)試前,電解質(zhì)溶液均通氮?dú)?0~30 min除氧,所有測(cè)試均在室溫下進(jìn)行。

        2.3 陽極溶出伏安法測(cè)定重金屬離子

        將三電極系統(tǒng)置于Pb2+ 和Cd2+ 濃度分別為40 μg/L和70 μg/L的HAc-NaAc緩沖溶液中,在恒電位下攪拌富集相應(yīng)時(shí)間,再靜置2 s,進(jìn)行陽極溶出伏安掃描,電位掃描范圍為1.0~0.3 V,記錄電極表面Pb2+ 和Cd2+ 的溶出伏安曲線。方波溶出伏安法的參數(shù)為:頻率50 Hz,電位階躍4 mV,振幅40 mV。每次測(cè)量前,將電極在0.3 V恒定電位下攪拌300 s, 以清洗工作電極表面。

        2.4 實(shí)廢水樣品預(yù)處理以及測(cè)定

        取實(shí)驗(yàn)室廢水150 mL,采用硝酸-高氯酸消化的方法[22]預(yù)處理,并定容至50 mL。取實(shí)驗(yàn)室廢水樣品于聚四氟乙烯燒杯中,加入2~5 mL HNO3和2~5滴HClO4,置于低溫電熱板上加熱至冒白煙,繼續(xù)加熱5 min,取下稍冷后,用HAc-NaAc緩沖溶液溶解,定容至50 mL,參照2.3節(jié)的方法進(jìn)行陽極溶出伏安掃描測(cè)試。

        3 結(jié)果與討論

        3.1 修飾材料的表征

        如圖1所示,Bi2O3@石墨烯的吸脫附曲線具有明顯的吸附曲線和脫附曲線滯后環(huán),Bi2O3@石墨烯的比表面積高達(dá)112 m2/g,較大的比表面積可以增加電化學(xué)反應(yīng)活性位點(diǎn)。

        圖2是Bi2O3@石墨烯材料的SEM照片。納米Bi2O3散布在石墨烯片層兩側(cè),抑制了石墨烯層間的堆疊,并且石墨烯片層之間保留的孔狀結(jié)構(gòu)亦利于電子的傳遞; 而石墨烯阻礙了Bi2O3納米顆粒之間的聚集,有利于增加Bi2O3納米的活性位點(diǎn)。

        圖3是Bi2O3@石墨烯的XRD譜圖,Bi2O3@石墨烯的所有衍射峰都?xì)w屬于四方晶型的β-Bi2O3 (JCPDS. No. 78-1793)的特征衍射峰,沒有其它雜質(zhì)相的衍射峰。

        3.2 電極陽極溶出伏安特性

        圖4是Pb2+ 和Cd2+ 在玻碳電極和Bi2O3@石墨烯材料修飾玻碳電極上的陽極溶出伏安曲線。如圖4所示,Pb2+ 和Cd2+ 在玻碳電極上分別于0.60和0.85 V產(chǎn)生靈敏的電位溶出峰,且Pb2+ 和Cd2+ 溶出峰的峰電位相差較大,兩種離子可同時(shí)測(cè)定。在Bi2O3@石墨烯材料修飾玻碳電極上,Pb2+ 和Cd2+ 分別在0.59 V和0.85 V產(chǎn)生電位溶出峰,且峰電流值明顯大于各自玻碳電極上峰電流值,表現(xiàn)出更好的陽極溶出伏安特性。

        3.3 實(shí)驗(yàn)條件的優(yōu)化

        3.3.1 pH值對(duì)Pb2+ 和Cd2+ 溶出峰電流的影響 考察了40 μg/L Pb2+ 和70 μg/L Cd2+ 在不同pH值的HAc-NaAc緩沖溶液中的溶出行為。如圖5所示,HAc-NaAc緩沖溶液在pH 2.0~4.5范圍內(nèi),Pb2+ 和Cd2+ 的溶出峰電流隨pH值的升高而增大; 當(dāng)pH值從4.5增大到6.0時(shí),峰電流則顯著減小。原因可能是當(dāng)pH值較低時(shí),H+濃度高,其在工作電極表面發(fā)生還原反應(yīng),與金屬離子產(chǎn)生競(jìng)爭(zhēng),進(jìn)而影響電極表面金屬離子的沉積[23,24],導(dǎo)致溶出峰電流值較低; 而pH值較大時(shí),電極表面附近的OH會(huì)與金屬離子發(fā)生絡(luò)合反應(yīng),影響金屬離子在電極表面的沉積,也可導(dǎo)致溶出電流減弱[24]。綜合考慮,當(dāng)pH=4.5時(shí),電極表面H+和OH的干擾相對(duì)較小,因此選擇0.2 mol/L HAc-NaAc緩沖溶液(pH 4.5)為底液。

        3.3.2 富集電位對(duì)Pb2+ 和Cd2+ 溶出峰電流的影響

        固定Pb2+ 和Cd2+ 的濃度分別為40和70 μg/L,電沉積時(shí)間為120 s,改變富集電位,考察Pb2+ 和Cd2+ 溶出峰電流隨富集電位變化的情況,結(jié)果見圖6。當(dāng)富集電位從0.9 V降到1.0 V時(shí),Cd2+ 的峰電流值變化不大,Pb2+ 的峰電流值增大較明顯; 當(dāng)富集電位從1.0 V下降到1.2 V時(shí), Pb2+ 和Cd2+ 的峰電流值均顯著增大; 當(dāng)富集電位為1.3 V時(shí),Pb2+ 和Cd2+ 的峰電流值均有所下降。因此,富集電位選擇1.2 V。

        對(duì)于同時(shí)檢測(cè)2種及2種以上的重金屬離子,不同的離子對(duì)其它離子的溶出電位也會(huì)有影響,韓彥超等[25]研究發(fā)現(xiàn),Cd2+ 的溶出峰電流值在Pb2+ 存在的條件下會(huì)明顯增加,且峰電位會(huì)略正移,原因在于Pb2+ 比Cd2+ 更易析出,析出的Pb在電極表面可促進(jìn)或輔助Cd的析出,形成Pb-Cd的金屬間復(fù)合物。隨著富集電位由0.9 V負(fù)移至1.3 V,Bi2O3@石墨烯電極的表面狀態(tài)的變化以及H+的干擾程度不同,導(dǎo)致了Pb2+ 和Cd2+ 溶出峰電位略有變化。

        3.3.3 富集時(shí)間對(duì)Pb2+ 和Cd2+ 溶出峰電流的影響

        固定Pb2+ 和Cd2+ 濃度分別為40和70 μg/L,設(shè)置富集電位為1.2 V,考察攪拌條件下Pb2+ 和Cd2+ 溶出峰電流隨富集時(shí)間60~500 s變化的規(guī)律,結(jié)果見圖7。

        1.2 V; pH: 4.5隨著富集時(shí)間延長(zhǎng),鉛和鎘的溶出峰電流值逐漸增大。而在富集時(shí)間300 s后,鉛和鎘的峰電流值增大的幅度有所減少,這是由于Bi2O3膜中沉積的重金屬增加了復(fù)合膜的厚度,影響了電子的傳輸[26]。Pb2+ 和Cd2+ 溶出電位隨著富集時(shí)間延長(zhǎng)也發(fā)生變化,原因在于電極表面富集的重金屬隨富集時(shí)間的延長(zhǎng)而增多,影響了Pb2+ 和Cd2+ 的溶出電位。為避免富集時(shí)間過長(zhǎng)影響電子傳輸,選擇富集時(shí)間為120 s。

        3.4 線性范圍、檢出限和重現(xiàn)性

        在最佳實(shí)驗(yàn)條件下,采用方波溶出伏安法測(cè)定不同濃度Pb2+ 和Cd2+ 的溶出曲線,如圖8所示。Pb2+ 和Cd2+ 濃度分別在10~200 μg/L和25~200 μg/L范圍內(nèi),溶出峰電流隨著濃度的增加而線性增大,Pb2+ 線性回歸方程為I(μA)=0.071C-0.052(r=0.9970); Cd2+ 線性回歸方程為I (μA)= 0.058C-1.382(r=0.9955),檢出限分別為0.02和0.25 μg/L(S/N=3)。與文獻(xiàn)報(bào)道的鉍膜修飾電極檢測(cè)鉛和鎘的方法相比(表1), Bi2O3@石墨烯電極具有良好溶出伏安特性。

        不同于Bi膜可與目標(biāo)離子通過形成金屬間化合物來提高對(duì)目標(biāo)離子的富集,Bi2O3通過表面的氧原子與目標(biāo)金屬離子形成MO鍵和MOH吸附重金屬離子,從而降低檢測(cè)重金屬離子的檢測(cè)限和提高靈敏度[34]。其它金屬氧化物也被報(bào)道通過類似的機(jī)理提高檢測(cè)重金屬的性能[35, 36]。

        使用同一Bi2O3@石墨烯修飾電極對(duì)40 μg/L Pb2+ 、70 μg/L Cd2+ 平行測(cè)定10次,Pb2+ 和Cd2+ 的溶出峰電流的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差分別為4.3%和4.7%,表明此電極重現(xiàn)性良好。

        3.5 干擾實(shí)驗(yàn)

        在30 μg/L的Pb2+ 和Cd2+ 待測(cè)體系中添加不同種類的干擾離子,考察2.0 mg/L K+和Na+ 以及1.5 mg/L Fe2+、Cu2+、Mg2+和Zn2+對(duì)Pb2+和Cd2+測(cè)定的影響。結(jié)果表明,Cu2+對(duì)Cd2+的峰電流值影響較大,響應(yīng)電流標(biāo)準(zhǔn)偏差約19%,原因是Cd2+ 與Cu2+在電極表面形成混合層,對(duì)電極的性能產(chǎn)生了影響[37]。其它干擾離子對(duì)Pb2+ 和Cd2+ 的測(cè)定無明顯影響,響應(yīng)電流標(biāo)準(zhǔn)偏差小于6%。

        3.6 實(shí)際樣品分析

        取實(shí)驗(yàn)室廢水樣品,采用硝酸-高氯酸消化的方法預(yù)處理后,采用本方法測(cè)定Pb2+ 和Cd2+ 的,結(jié)果見圖9。廢水水樣中Pb2+ 和Cd2+ 的濃度分別為5.50和9.24 μg/L。采用ICP-AES法測(cè)定該實(shí)驗(yàn)室廢水樣品中Pb2+ 和Cd2+ 的含量為5.52和9.27 μg/L,兩種方法測(cè)定結(jié)果一致,證明本方法具有良好的應(yīng)用前景。

        4 結(jié) 論

        制備了Bi2O3@石墨烯修飾的玻碳電極,采用陽極溶出伏安法同時(shí)測(cè)定痕量的Pb2+ 和Cd2+ 。結(jié)果表明,Bi2O3膜電極對(duì)Pb2+ 和Cd2+ 的溶出具有良好的電化學(xué)響應(yīng)。引入的石墨烯納米材料擁有大的比表面積,有利于溶液中金屬離子的富集,實(shí)現(xiàn)了Pb2+ 和Cd2+ 同時(shí)檢測(cè)。Bi2O3@石墨烯修飾電極重現(xiàn)性好、靈敏度高、電極表面易更新、無毒、環(huán)保, 具有很好的應(yīng)用前景。

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