白會(huì)新,馬振洋,王志武,楊 可,曾佩佩
(中國(guó)民航大學(xué)a.工程技術(shù)訓(xùn)練中心;b.天津市民用航空器適航與維修重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,天津 300300)
射頻前端基準(zhǔn)電流源低電壓抗電磁干擾設(shè)計(jì)
白會(huì)新a,馬振洋b,王志武a,楊 可a,曾佩佩a
(中國(guó)民航大學(xué)a.工程技術(shù)訓(xùn)練中心;b.天津市民用航空器適航與維修重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,天津 300300)
基于CMOS體驅(qū)動(dòng),提出低電壓基準(zhǔn)電流源電路抗干擾設(shè)計(jì),提高航管一次雷達(dá)射頻前端接收電路的可靠性。電路采用體驅(qū)動(dòng)技術(shù)實(shí)現(xiàn)低電源電壓工作,采用敏感隔離結(jié)構(gòu)提高電流鏡電路抗干擾性能。設(shè)計(jì)采用電源電壓為1 V的0.35 μm標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝,對(duì)該基準(zhǔn)電流源電路的抗電磁干擾特性進(jìn)行理論分析與仿真驗(yàn)證,并同普通體驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)相比較。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:當(dāng)輸入端存在3倍于參考電流大小的電磁干擾時(shí),該結(jié)構(gòu)的電流偏移小于0.3 μA。
CMOS體驅(qū)動(dòng);低電壓;基準(zhǔn)電流源;敏感隔離;抗干擾
航管一次雷達(dá)是實(shí)現(xiàn)雷達(dá)管制的必要設(shè)備,對(duì)民航飛行安全具有重要意義[1]。遠(yuǎn)程航管一次雷達(dá)可與廣域多點(diǎn)定位和自動(dòng)相關(guān)監(jiān)視等系統(tǒng)組合,形成性能更全面、可靠性更高的綜合空中交通管理系統(tǒng),具有良好的應(yīng)用前景[2]。航管一次雷達(dá)主要用于遠(yuǎn)程航路監(jiān)視,其處理的信號(hào)帶寬窄、載頻變化范圍大,實(shí)際應(yīng)用中接收機(jī)的線性動(dòng)態(tài)范圍需足夠大、靈敏度足夠高,同時(shí),可靠性和穩(wěn)定性必須滿足使用需求。因此,提升航管一次雷達(dá)接收機(jī)性能,以及提高其精確性和可靠性具有重要意義。
雷達(dá)數(shù)字接收機(jī)包括射頻前端、模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC、數(shù)字前端等主要電路模塊,其中,射頻前端電路模塊主要由濾波電路、放大電路、基準(zhǔn)電路等模擬電路組成。由于放大電路、基準(zhǔn)電路及模數(shù)轉(zhuǎn)換器等模擬器件直接對(duì)信號(hào)進(jìn)行接收,處理輸出后傳遞給下級(jí)單元,因此,其電磁敏感特性對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的影響最為嚴(yán)重,由電磁干擾(EMI)引起的放大電路及基準(zhǔn)電路的性能降級(jí)會(huì)導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)性能的削弱甚至失效[3]。針對(duì)接收機(jī)中使用的基準(zhǔn)電流電路,分析其面臨的低工作電壓及電磁敏感問(wèn)題,設(shè)計(jì)一種基于體驅(qū)動(dòng)的鏡像節(jié)點(diǎn)敏感隔離結(jié)構(gòu),提高基準(zhǔn)電流的精確性,進(jìn)而提高接收機(jī)射頻前端的抗干擾性能。
基準(zhǔn)電流源電路種類廣泛,但其結(jié)構(gòu)和工作原理均與傳統(tǒng)基準(zhǔn)電流源相同,如圖1(a)所示。參考電流在電阻R上產(chǎn)生,M1與M2、M1與M3構(gòu)成電流鏡結(jié)構(gòu)[4]。電流鏡是基準(zhǔn)電流源的核心結(jié)構(gòu),是實(shí)現(xiàn)輸出電流同參考電流精確匹配的關(guān)鍵電路單元,也是易受電磁干擾影響的結(jié)構(gòu),傳統(tǒng)電流鏡電路如圖1(b)所示。在電流鏡輸入端產(chǎn)生一個(gè)參考電流Iref,輸出端理論上將輸出一個(gè)大小和方向都等于參考電流的輸出電流Iout作為基準(zhǔn)電流供后級(jí)使用。
圖1 基準(zhǔn)電流源及核心結(jié)構(gòu)Fig.1 Current reference and critical component
射頻綜合系統(tǒng)要求電子設(shè)備高度集成化,集成電路的電源電壓不斷降低,傳統(tǒng)柵極鏡像電流鏡已不能滿足低電壓的使用需求[5]。本文設(shè)計(jì)一種體驅(qū)動(dòng)[6]電流鏡結(jié)構(gòu),可在低電源電壓條件下正常工作,如圖2(a)所示。PMOS晶體管的柵極連接最低電位,可使PMOS晶體管的柵源電壓維持正常,使PMOS晶體管源極和漏極之間形成導(dǎo)電溝道,不受閾值電壓VTH及電源電壓的制約,實(shí)現(xiàn)低電源電壓工作。同時(shí),基準(zhǔn)PMOS晶體管M1的漏極同襯底相連,鏡像PMOS晶體管M2的襯底同M1的襯底相連,構(gòu)成低電壓體驅(qū)動(dòng)電流鏡。
圖2 低電壓電流鏡Fig.2 Low-voltage current mirror
在普通體驅(qū)動(dòng)電流鏡結(jié)構(gòu)中,由于鏡像節(jié)點(diǎn)存在寄生電容Ct,如圖2(b)所示,當(dāng)輸入?yún)⒖级舜嬖陔姶鸥蓴_時(shí),輸出電流將產(chǎn)生偏移,即
可見(jiàn),由于非線性干擾信號(hào)在線性電路中進(jìn)行傳輸,輸出晶體管襯源電壓發(fā)生變化。由于寄生電容的存在,電荷泵效應(yīng)產(chǎn)生,電流鏡電路匹配電流的精確性受到電磁干擾影響,影響大小由調(diào)制因子m直觀體現(xiàn)。
為提高電路抗電磁干擾能力,實(shí)現(xiàn)體驅(qū)動(dòng)電流鏡在低電壓領(lǐng)域的高可靠性應(yīng)用,應(yīng)通過(guò)電路設(shè)計(jì)降低鏡像節(jié)點(diǎn)寄生電容Ct,同時(shí)降低影響因子m以抑制由電磁干擾造成的輸出基準(zhǔn)電流偏移。
本文提出一種鏡像節(jié)點(diǎn)敏感隔離結(jié)構(gòu),如圖3所示。PMOS晶體管M1、M2構(gòu)成電流鏡結(jié)構(gòu)。CMOS晶體管M4將敏感鏡像節(jié)點(diǎn)同M1漏極隔離,通過(guò)適當(dāng)選擇CMOS晶體管M3的尺寸,可保證靜態(tài)偏置處于適當(dāng)電位。M3和M4構(gòu)成負(fù)反饋,使得基準(zhǔn)晶體管M1的襯源電壓在電磁干擾作用下仍可維持恒定。若由于干擾使輸入電流升高,導(dǎo)致VDS1增高,則M4的襯底電壓升高,加大通過(guò)M4的電流IDS4。由于VDD恒定,VDS4隨IDS4的升高而升高,使得VDS3降低,進(jìn)而降低M1的襯底電壓,使輸入電流趨向恒定。同時(shí),電容Ca、Cb構(gòu)成二階濾波電路,進(jìn)一步降低電磁干擾對(duì)輸出電流的影響。本結(jié)構(gòu)中,由于電容Cb的電流直接由電源電壓通過(guò)晶體管M3提供,其并不會(huì)引發(fā)電荷泵效應(yīng),亦不會(huì)對(duì)電路的電磁兼容性能造成消極影響。
圖3 鏡像節(jié)點(diǎn)敏感隔離低電壓電流鏡Fig.3 Low-voltage current mirror with sensitive-isolated mirror node
為衡量本文提出的低電壓電流鏡設(shè)計(jì)在電磁兼容方面性能的提高,首先對(duì)普通體驅(qū)動(dòng)電流鏡的電磁兼容性能進(jìn)行仿真?;鶞?zhǔn)端采用0直流平均值的正弦波作為干擾信號(hào)[8],電磁干擾信號(hào)幅度為30 μA,干擾信號(hào)頻率為1 MHz,輸出電流的仿真結(jié)果如圖4所示。
圖4 傳統(tǒng)體驅(qū)動(dòng)電流鏡輸出電流Fig.4 Output current of traditional bulk-driven current mirror
傳統(tǒng)體驅(qū)動(dòng)電流鏡在電磁干擾的影響下,輸出電流產(chǎn)生波動(dòng)。更為嚴(yán)重的是,直流電流值發(fā)生偏移,產(chǎn)生電流偏移,這將對(duì)以此電流鏡結(jié)構(gòu)為偏置電路的后級(jí)電路結(jié)構(gòu)產(chǎn)生嚴(yán)重影響。如圖4所示,干擾信號(hào)幅度為30μA時(shí),輸出直流電流偏移值約高達(dá)7μA,遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)使用容限。
在相同電磁干擾條件下,對(duì)本文提出的電路設(shè)計(jì)進(jìn)行電磁兼容性能仿真,結(jié)果如圖5所示??梢?jiàn),當(dāng)電路未穩(wěn)定工作時(shí),輸出電流偏移最大值僅約為0.3 μA,當(dāng)電路穩(wěn)定工作后,輸出基本無(wú)直流電流偏移。
圖5 敏感隔離電流鏡輸出電流Fig.5 Output current of sensitive-isolated current mirror
本文設(shè)計(jì)的電磁兼容高可靠性低電壓電流鏡結(jié)構(gòu)主要晶體管的寬長(zhǎng)比如表1所示,工作電壓為1 V。設(shè)計(jì)采用標(biāo)準(zhǔn)n阱0.35 μm CMOS工藝,仿真平臺(tái)為Cadence。
表1 敏感隔離低電壓電流鏡器件參數(shù)Tab.1 Device parameter of sensitive-isolated low-voltage current mirror
本文討論了雷達(dá)接收機(jī)電路組成單元基準(zhǔn)電流源電路的電磁敏感問(wèn)題,提出了抗電磁干擾低電壓電流鏡結(jié)構(gòu)。其采用體驅(qū)動(dòng)技術(shù),使用鏡像節(jié)點(diǎn)敏感隔離結(jié)構(gòu)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,所設(shè)計(jì)電路可在1 V低電源電壓條件下工作,可有效抑制由電磁干擾造成的直流電流偏移,抗電磁干擾性能良好。
[1]安春雨,陳忠先.空管一次雷達(dá)的市場(chǎng)要求及發(fā)展[J].空中交通管理,2006(5):28-30.
[2]孫一超.射頻帶通采樣雷達(dá)數(shù)字接收機(jī)的研究與設(shè)計(jì)[D].南京:南京理工大學(xué),2014.
[3]CORDOVA D,TOLEDO P,FABRIS E.A Low-Voltage Current Reference with High Immunity to EMI[C]//Integrated Circuits and Systems Design IEEE,Aracaju,September 1-5,2014:1-6.
[4]PAUL R G,PAUL J H,STEPHEN H,et al.模擬集成電路的分析與設(shè)計(jì)[M].北京:高等教育出版社,2003.
[5]白會(huì)新,李洪革,謝樹(shù)果,等.抗電磁干擾低電壓CMOS放大器設(shè)計(jì)[J].電子學(xué)報(bào),2015,43(9):1870-1874.
[6]尹 韜,朱樟明,楊銀堂,等.襯底驅(qū)動(dòng)MOSFET特性分析及超低壓運(yùn)算放大器設(shè)計(jì)[J].半導(dǎo)體學(xué)報(bào),2005,26(1):158-162.
[7]REDOUTEé J M,MICHIEL S.EMI resisting CMOS differential pair structure[J].Electronics Letters,2006,42(21):1217-1218.
[8]LI Hong’ge,BAI Huixin,XIE Shuguo,et al.Bulk-driven CMOS amplifier with high EMI immunity[J].IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility,2015,57(6):1425-1434.
(責(zé)任編輯:劉佩佩)
Design of low-voltage current reference circuit in RF front-end with high electromagnetic interference immunity
BAI Huixina,MA Zhenyangb,WANG Zhiwua,YANG Kea,ZENG Peipeia
(a.Engineering Techniques Training Center;b.Civil Aircraft Airworthiness and Maintenance Key Lab of Tianjin,CAUC,Tianjin 300300,China)
Based on CMOS bulk-driven structure,a low-voltage current reference circuit with high electromagnetic interference (EMI) immunity is proposed,improving the reliability of RF front-end receiver circuit in primary surveillance radar.In the circuit,bulk-driven structure realizes low-voltage supply and sensitive isolation structure improves EMI immunity.The design is implemented in a 0.35 μm standard CMOS process using 1V power supply.Theoretical analysis and simulation results for EMI robustness are presented and compared with the classical bulk-driven structure.Results show that the current shift of the proposed design is less than 0.3 μA when a 3 times of EMI referred to the reference current is presented in the input.
CMOS bulk-driven;low-voltage;current reference;sensitive isolation;EMI immunity
V243.2;TN432
:A
:1674-5590(2017)04-0051-03
2017-01-12;
:2017-03-13
國(guó)家自然科學(xué)基金項(xiàng)目(61601468);中國(guó)民用航空局科技創(chuàng)新引導(dǎo)資金項(xiàng)目(20150227);中國(guó)民航大學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)創(chuàng)新基金項(xiàng)目(2016SYCX30)
白會(huì)新(1990—),女,河北承德人,助理工程師,碩士,研究方向?yàn)殡娐废到y(tǒng)設(shè)計(jì)和實(shí)驗(yàn)技術(shù)研究.