作者/張鄧正，順德職業(yè)技術(shù)學(xué)院電子與信息工程學(xué)院

一款茶吧機(jī)測(cè)試用FCT測(cè)試板

作者/張鄧正，順德職業(yè)技術(shù)學(xué)院電子與信息工程學(xué)院

FCT 英文全稱為：Functional Circuit Test，即功能測(cè)試，一般專指PCBA 上電后的功能測(cè)試，是針對(duì)測(cè)試目標(biāo)板(UUT：Unit Under Test)提供模擬的運(yùn)行環(huán)境，使其工作于各種設(shè)計(jì)狀態(tài)，從而獲取各個(gè)狀態(tài)的參數(shù)來(lái)驗(yàn)證UUT 的功能好壞的測(cè)試方法。不僅使用方便，效率高，出錯(cuò)率低，而且節(jié)省了人工成本，大大提高了生產(chǎn)效率。

PCBA；FCT

1. 設(shè)計(jì)思路與參數(shù)要求

FCT為自動(dòng)功能測(cè)試，測(cè)試速度快且準(zhǔn)確度高，效率遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)的人工操作，但測(cè)試過(guò)程仍缺少不了人為的操作，為方便人即時(shí)處理，本測(cè)試板設(shè)有顯示部分，以LED點(diǎn)亮的形式給人直觀的異常信號(hào)反饋。FCT電控板原理圖如圖1所示。

1.1 主要測(cè)試參數(shù)

（1）輸出負(fù)載：AC220V負(fù)載輸出2通道，DC12V負(fù)載輸出1通道。

（2）輸出電壓：+12V，+5V，溫度AD量。

（3）功能測(cè)試：干燒保護(hù)。

1.2 測(cè)試要求

（1）放電保護(hù)。

（2）電源模塊采用隔離方案，F(xiàn)CT板與被測(cè)試板電源相互獨(dú)立。

（3）FCT板電源輸出+12V，+5V與被測(cè)板電源輸出+12V，+5V共地。

（4）FCT板控制被測(cè)板電源。

2. 主要模塊的設(shè)計(jì)

2.1 測(cè)試程序框架模塊

圖2

測(cè)試程序框架如圖2所示。

2.2 MCU模塊

MCU模塊采用MC96F8316M單片機(jī)，有利于降低成本。操作如圖3所示，F(xiàn)CT板上電，按下“SW1”鍵開始自動(dòng)檢測(cè)，自動(dòng)測(cè)試運(yùn)行過(guò)程中途按下“SW2”中斷自檢并停留在當(dāng)前狀態(tài)，此時(shí)再次按下“SW2”則繼續(xù)從中斷位置開始自檢；每次按下“SW1”都復(fù)位重新開始自檢。

圖3 操作原理圖

2.3 電壓、溫度AD檢測(cè)模塊

電壓、溫度AD檢測(cè)采用常用帶AD檢測(cè)，如圖4所示，RT使用熱敏電阻，VCC接MCU電源或者IO口，由于熱敏電阻的阻值隨著溫度變化而產(chǎn)生變化，因此，通過(guò)R1與RT的分壓值可以計(jì)算出當(dāng)前的RT阻值，進(jìn)一步根據(jù)熱敏電阻的分度表?yè)Q算出當(dāng)前的溫度，（R1+RT)/RT=256/AD，RT=R1×AD/ (256—AD)，如果AD為10位進(jìn)度，則用1024（210）取代上分別使用1%的精密電阻，同樣可以通過(guò)R1面算是中的256；在電壓檢測(cè)中，R1和RT和RT的分壓值計(jì)算出當(dāng)前VCC或者Vad的電壓，（1）VCC=5.0V：Vad=VCC×AD/256;（2）VCC5.0V：VCC/Vad=(R1+RT)/ RT，Vad=5.0×AD/256，通過(guò)此算法可以測(cè)試比MCU電壓高的電壓，主要用于電池電壓檢測(cè)等電路中。

圖4 AD檢測(cè)原理圖

＊ [1]童詩(shī)白，華成英，模擬電子技術(shù)基礎(chǔ)[M]，北京：高等教育出版社，2006.5（2013.12重?。?/p>

＊ [2]張國(guó)鋒，單片機(jī)原理及應(yīng)用[J],北京：高等教育研究，200.9

＊ [3]張紅，電路與電子技術(shù)[M]，2版，北京：北京航空航天大學(xué)出版社，2007

圖1 FCT電控板原理圖