摘 要：X射線熒光光譜分析儀在使用上還存在著很多的問(wèn)題，需要進(jìn)行故障處理，完善X射線熒光光譜分析儀。

關(guān)鍵詞：X射線熒光光譜分析儀；故障處理；維護(hù)

中圖分類號(hào)：TQ172 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A

X射線熒光光譜分析儀在礦產(chǎn)的測(cè)量上是極為重要的，使用的時(shí)間也比較長(zhǎng)。本文就對(duì)X射線熒光光譜分析儀的主要故障處理進(jìn)行具體分析，在維修過(guò)程中不斷完善，通過(guò)研究，為維修進(jìn)行充分指導(dǎo)。

一、低壓直流電源發(fā)生的故障

故障在發(fā)生的過(guò)程中，產(chǎn)生的現(xiàn)象是開機(jī)儀器指示燈在亮，但是儀器無(wú)法正常進(jìn)入工作的狀態(tài)，使用高壓也無(wú)法開啟，也不能夠和計(jì)算機(jī)連接，在使用的過(guò)程中，也會(huì)聽到儀器內(nèi)出現(xiàn)兩次啪啪的聲音。具體的分析如下：在儀器指示燈亮，但是卻無(wú)法操作的情況下，就會(huì)出現(xiàn)啪啪聲，這種聲響就極有可能是保險(xiǎn)管發(fā)生爆裂導(dǎo)致的爆裂聲響，主要的影響因素就是低壓直流電源出現(xiàn)了問(wèn)題。掃描型的X射線熒光光譜分析儀共有5組低壓直流電源，這5組電源電壓分別為+5V、-5V、+12V、-12V和+24V，在這5組電壓中，+5V和-5V是整個(gè)主機(jī)CPU的板電源，而+12V和-12V是控制板和信號(hào)處理板的電源，以上的這4組電源均是由同一個(gè)電源板輸出的，這一電源的型號(hào)是LPQ255或詢問(wèn)售后工程師。最后的+24V電壓是電磁閥和直流馬達(dá)的供電電源，這一電源板的型號(hào)是LPQ252或詢問(wèn)售后工程師，與上述4種電壓電源在型號(hào)上是相同的。使用萬(wàn)用表對(duì)LPQ255和LPQ252進(jìn)行檢測(cè)，輸出的都是交流電，交流電的電壓是220V，而直流電的電壓均為0V，在使用的過(guò)程中，兩塊電源板上使用的都是保險(xiǎn)管，如果兩塊電源板上使用的保險(xiǎn)管都變黑，在更換了保險(xiǎn)之后，保險(xiǎn)管又燒斷了，那么就說(shuō)明了電路出現(xiàn)了短路。在處理的過(guò)程中，要明確電源的類型，這兩種電源均是開關(guān)電源，如果買原裝的配件是非常貴的，從周期上看也比較長(zhǎng)。電子市場(chǎng)上是非常容易就能夠買到替代品的，經(jīng)濟(jì)又實(shí)惠，在買的過(guò)程中，必須要買輸出的功率是150W的開關(guān)電源，在接線的時(shí)候一定要注意，接法上不要出現(xiàn)錯(cuò)誤。

二、探測(cè)器高壓故障

探測(cè)器出現(xiàn)了高壓故障的現(xiàn)象如下：在整個(gè)目標(biāo)樣品測(cè)試的過(guò)程中，如果出現(xiàn)了Cl、Na、S、Si和Mg元素，測(cè)定的結(jié)果不穩(wěn)定，出現(xiàn)了時(shí)好時(shí)壞的現(xiàn)象，如果對(duì)同一個(gè)樣品進(jìn)行連續(xù)的測(cè)量，那么就會(huì)有個(gè)別的元素在穩(wěn)定性上極差，與質(zhì)量的要求是不符的。S和Cl元素在X射線熒光光譜分析儀測(cè)量的過(guò)程中，表面就會(huì)出現(xiàn)滲出的現(xiàn)象，如果重復(fù)的進(jìn)行測(cè)量就會(huì)出現(xiàn)越測(cè)越高的現(xiàn)象，這樣在這些元素中Mg、Si和Na是主要的元素，而且含量占到了百分之幾或者是百分之幾十，那么在穩(wěn)定性上就是極好的。如果出現(xiàn)了滲出的現(xiàn)象就證明儀器出現(xiàn)了問(wèn)題，尤其是Mg、Si和Na在測(cè)定的結(jié)果上呈現(xiàn)著時(shí)好時(shí)壞的現(xiàn)象，在這樣的情況下就不容易進(jìn)行故障單元的判別。S和C1元素分別與Ge晶體分光有關(guān)、Mg和Na分別與RX-25晶體分光有關(guān)，Si與PET晶體分光有關(guān)，在整個(gè)過(guò)程中，可以基本上將機(jī)械系統(tǒng)和光學(xué)系統(tǒng)中存在的問(wèn)題進(jìn)行排除，之后對(duì)這五種元素進(jìn)行充分的分析，可以知道這五種元素均是由流氣探測(cè)器進(jìn)行檢測(cè)的，而且Mg、Si和Na這三種元素是在比較高的電壓下進(jìn)行檢測(cè)的，因此問(wèn)題極有可能出現(xiàn)在探測(cè)器的高壓上，但是這僅僅是一個(gè)猜想，為了驗(yàn)證這一猜想，就要將閃爍計(jì)數(shù)器和流氣探測(cè)器進(jìn)行對(duì)調(diào)，在對(duì)調(diào)的過(guò)程中，一定要注意不能夠直接的進(jìn)行對(duì)調(diào)，通過(guò)實(shí)驗(yàn)，就驗(yàn)證了這一猜想是正確的，閃爍計(jì)數(shù)器的元素也出現(xiàn)了不穩(wěn)的情況。在處理的過(guò)程中，僅僅需要將探測(cè)器高壓塊換掉，在換掉之后，進(jìn)過(guò)了正常的調(diào)試，儀器處于正常的狀態(tài)。

三、真空不良故障

在發(fā)生了真空不良故障的過(guò)程中，儀器會(huì)出現(xiàn)以下的現(xiàn)象：儀器在正常工作的時(shí)候，真空的狀態(tài)下只能夠抽到30Pa，而且有著越來(lái)越不好的一種趨勢(shì)，經(jīng)過(guò)了幾天之后，最低就只能夠抽到60Pa，在將樣品蓋打開和關(guān)閉的時(shí)候，都是這樣的現(xiàn)象，到最后，儀器就會(huì)由于真空超上限從而進(jìn)行了保護(hù)。儀器真空不好主要有3種原因：光室的內(nèi)部出現(xiàn)了微漏的情況、儀器進(jìn)樣的系統(tǒng)密封圈被嚴(yán)重的污染和真空泵的抽力不夠。如果是真空泵的抽力不夠，首先觀察真空泵油頁(yè)面窗口，發(fā)現(xiàn)明顯渾濁或者乳化，直接更換真空油。其次檢查真空泵機(jī)械問(wèn)題。如果儀器長(zhǎng)時(shí)間地做樣，而且是粉末樣，那么進(jìn)樣系統(tǒng)的密封圈就極容易被污染，這種情況下的真空狀態(tài)是極容易修復(fù)好的，僅僅需要清洗就可以。如果儀器是在做樣的過(guò)程中逐漸出現(xiàn)了真空不好的現(xiàn)象，這時(shí)就可以將人為因素引起的裝卸不良故障排除。最后就是光室的內(nèi)部有著微漏，也就是說(shuō)窗口膜漏氣，為了進(jìn)一步證實(shí)，把儀器置于空氣狀態(tài)，觀察PR氣的流量，與抽真空狀態(tài)下的PR氣流量比較，發(fā)現(xiàn)抽真空狀態(tài)下的PR氣流量大于空氣狀態(tài)的PR氣流量，可以斷定問(wèn)題出在窗口膜上。更換窗口膜，故障排除。

結(jié)論

X熒光光譜儀為大型分析儀器，涉及電學(xué)、光學(xué)、機(jī)械、水路、氣路、計(jì)算機(jī)等領(lǐng)域的知識(shí)，要求分析、維護(hù)人員盡量從整體把握。儀器在高負(fù)荷率的情況下，對(duì)影響儀器正常運(yùn)行的關(guān)鍵部件做預(yù)防性維護(hù)有助于減少儀器的故障率，有利于儀器的正常使用，發(fā)揮著整個(gè)儀器的功能，發(fā)現(xiàn)了故障及時(shí)地處理，這樣在應(yīng)用的過(guò)程中，才會(huì)提高利用率，除此之外，還要不斷地完善，促進(jìn)熒光光譜分析法的不斷發(fā)展。

參考文獻(xiàn)

[1]張振華，曹峰.日本理學(xué)ZSXPrimusⅡ型X射線熒光光譜儀常見故障分析及日常維護(hù)[J].現(xiàn)代儀器與醫(yī)療，2012，18（4）：67-69.