福建省福芯電子科技有限公司 孫曉儒
半超結(jié)VDMOS器件設計與應用
福建省福芯電子科技有限公司 孫曉儒
本文主要針對半超結(jié)VDMOS器件的設計和應用進行簡要討論分析,并通過超結(jié)器件的工作原理缺點以及使用的改進方法,對其進行理論性質(zhì)方面的應用探究。而在這種新型器件的使用中,結(jié)構(gòu)特征與工作原理,就代表了全部的結(jié)構(gòu)應用區(qū)間。對于新型器件結(jié)構(gòu)在日常使用中的安全問題,需要結(jié)合元器件的制造需求,以及市場未來的發(fā)展需求,進行綜合分析。
半超結(jié);VDMOS器件;設計;應用
隨著信息技術的不斷發(fā)展,功率半導體器件的出現(xiàn),為電子產(chǎn)品的發(fā)展帶來了新的血液,特別是半超結(jié)VDMOS器件,其在實際應用中,可應對諸多的阻抗問題,且不存在二次擊穿等方面的危險因素。并且在實際的使用過程中,功耗較低,可有效的降低通道功耗的使用規(guī)律。依據(jù)現(xiàn)有的通道電阻功能,依據(jù)功率器件的進一步發(fā)展規(guī)劃等,也可極大的降低導通電阻在實際使用過程中的威脅。下面針對半超結(jié)VDMOS的設計應用進行簡要解析。
首先,什么是傳統(tǒng)的VDMOS器件,全稱為垂直雙擴散金屬-氧化物半導體場效應晶體管,兼有雙極晶體管和普通MOS器件的優(yōu)點,無論是開關應用還是線形應用,VDMOS都是理想的功率器件,VDMOS主要應用于電機調(diào)速、逆變器、不間斷電源、電子開關、高保真音響、汽車電器和電子鎮(zhèn)流器等。特征: 接近無限大的靜態(tài)輸入阻抗特性,非常快的開關時間,導通電阻正溫度系數(shù),近似常數(shù)的跨導,高dV/dt。
對于傳統(tǒng)的VDMOS,其導通電阻的主要理想化結(jié)構(gòu)如圖1所示。
圖1 傳統(tǒng)VDMOS電阻排列結(jié)構(gòu)
在實際的功率器件使用過程中,不同電壓的產(chǎn)品,其導通電阻的各部分組成比例也是不同的。針對高壓器件而言,因為JFET效應問題,原胞間距的大小需要控制在10μm左右,避免影響到電子元器件的安全使用。在低壓VDMOS中外延層厚度可以做的很薄或者摻雜濃度很高,其漂移區(qū)的電阻不再對導通電阻起主導作用,溝道電阻比例增大。在電阻量的控制作用中,其主要的電阻顯現(xiàn)率,如表1所示。
對于高壓VDMOS器件,為了減小導通電阻或突破Si Limit,現(xiàn)在主流的技術是采用超結(jié)技術,但是超結(jié)技術具有工藝難度大,成本高,器件可靠性差等缺點,而半超結(jié)器件則沒有這些短板,其工藝上更易實現(xiàn),成本相對超結(jié)器件也低了很多,而且器件的正向?qū)娮璐蠓档?,單位面積的電流導通能力更強。
表1 不同壓VDMOS的電阻因素比例
現(xiàn)有的超結(jié)理論不斷發(fā)展,在超結(jié)VDMOS的應用中,隨著諸多的新材料器件的上市運行,人們對超結(jié)器件主要的結(jié)構(gòu)生產(chǎn)工藝也在不斷的完善。由于不同的結(jié)構(gòu)在使用上,存在電阻通路上的差異性,因此都需要從現(xiàn)有的結(jié)構(gòu)基礎來進行優(yōu)化處理。于是,引入了半超結(jié)器件的概念。如圖2所示,半超結(jié)器件結(jié)構(gòu)是在超結(jié)器件的基礎上,在N+外延層上增加了N-襯底支撐層(bottom assist layer)。
圖2 結(jié)構(gòu)剖面圖
超結(jié)器件P柱區(qū)的深寬比對其使用中的性能影響較大,因此需要注意其實際的通電性,并根據(jù)其不同的影響因素來進行制作工藝上的生產(chǎn)調(diào)整。半超結(jié)MOS的擊穿電壓和導通電阻是超結(jié)MOS和電壓支持層的擊穿電壓和導通電阻之和。半超結(jié)MOS在相同的導通電阻下與超結(jié)MOS相比降低了P柱區(qū)的深寬比,減少了工藝步驟和難度,節(jié)約了成本。
影響擊穿特性的因素主要是cell漂移區(qū)中的 N 區(qū)和 P區(qū)的電荷量,半超結(jié)是基于電荷補償?shù)钠骷?,如果 N 區(qū)和P區(qū)電荷不平衡 ,擊穿電壓便會嚴重下降。當 N 區(qū)電荷大于 P 區(qū)電荷時 ,擊穿發(fā)生在P-body 和 N 區(qū)形成的 PN 結(jié);當 N 區(qū)電荷小于 P 區(qū)電荷時 ,擊穿發(fā)生在 P區(qū)和 N 型電壓支持層形成的 PN 結(jié)。因此,精確控制P/N區(qū)的電荷平衡成為半超結(jié)器件工藝控制的關鍵點。
首先,半超結(jié)器件通態(tài)阻抗小,通態(tài)損耗小。由于其Rdson遠遠低于超結(jié)器件及傳統(tǒng)VDMOS,因此在系統(tǒng)電源類產(chǎn)品中半超結(jié)器件的導通損耗必然較之超結(jié)與傳統(tǒng)VDMOS要減少的多,其大大提高了系統(tǒng)產(chǎn)品的效率,半超結(jié)的這個優(yōu)點在大功率、大電流類的電源產(chǎn)品上,優(yōu)勢表現(xiàn)的尤為突出。其次,同等功率規(guī)格下封裝小,有利于功率密度的提高。同等電流以及電壓規(guī)格條件下,半超結(jié)的晶圓面積要小于超結(jié)及傳統(tǒng)VDMOS工藝的晶圓面積,這樣作為MOS的廠家,對于同一規(guī)格的產(chǎn)品,可以封裝出來體積相對較小的產(chǎn)品,有利于電源系統(tǒng)功率密度的提高。并且,由于半超結(jié)器件導通損耗的降低從而降低了電源類產(chǎn)品的損耗,因為這些損耗都是以熱量的形式散發(fā)出去,我們在實際應用中往往會增加散熱器來降低MOS單體的溫升,使其保證在合適的溫度范圍內(nèi)。由于半超結(jié)器件可以有效的減少發(fā)熱量,減小了散熱器的體積,對于一些功率稍低的電源,甚至使用半超結(jié)器件后可以將散熱器徹底拿掉,其有效的提高了系統(tǒng)電源類產(chǎn)品的功率密度。
除了上述提到的優(yōu)點外,作為功率器件的半超結(jié)在應用上也有其不可避免的缺點。如EMI可能超標、柵極震蕩現(xiàn)象較突出、紋波噪音差等,這些都需要在器件應用中不斷進行總結(jié)分析,再結(jié)合設計與工藝上的優(yōu)化,逐步對其進行完善。
隨著現(xiàn)代技術的不斷成熟,在信息應用技術的發(fā)展中,半超結(jié)器件的使用,為現(xiàn)代社會的發(fā)展提供了一定的技術保障。而其中所衍生出來的諸多元器件,在使用上,也極大的滿足了不同領域內(nèi)的應用需求,伴隨著新型材料的不斷涌現(xiàn),對半超結(jié)這一類特種器件的發(fā)展勢必將起到錦上添花的作用,加速其發(fā)展進程,使其更快的達到一個新的輝煌時代。
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