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        高速高精度ADC動(dòng)態(tài)性能測試技術(shù)研究及硬件實(shí)現(xiàn)

        2016-10-13 01:14:59北方工業(yè)大學(xué)微電子系
        電子世界 2016年17期
        關(guān)鍵詞:信號(hào)

        北方工業(yè)大學(xué)微電子系 戴 瀾 張 揚(yáng)

        高速高精度ADC動(dòng)態(tài)性能測試技術(shù)研究及硬件實(shí)現(xiàn)

        北方工業(yè)大學(xué)微電子系 戴 瀾 張 揚(yáng)

        本文提出了一種實(shí)用的高速高精度ADC測試方案,并以ADI公司高速高精度pipeline ADC AD9226芯片為例,進(jìn)行電路設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。對(duì)比芯片廠家的datasheet文件,并對(duì)多組測試結(jié)果進(jìn)行不同角度的分析,最終驗(yàn)證了本測試方案對(duì)于高速高進(jìn)度ADC動(dòng)態(tài)性能參數(shù)測試的可行性。

        動(dòng)態(tài)參數(shù);實(shí)時(shí)監(jiān)測;快速傅里葉變換

        1. 引言

        芯片測試技術(shù)隨著集成電路的發(fā)展越來越受到重視。高速高精度ADC的測試,對(duì)指導(dǎo)ADC芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證、系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)芯片的選用以及新產(chǎn)品性能的前期評(píng)估都有著重要的意義。

        ADC參數(shù)主要分靜態(tài)與動(dòng)態(tài)參數(shù)。本文提出了一種高速高精度ADC動(dòng)態(tài)性能參數(shù)的測試方案,并對(duì)多組測試結(jié)果進(jìn)行了不同角度的分析比對(duì),驗(yàn)證了方案對(duì)于高速高精度ADC重要參數(shù)測試的可行性。

        2. ADC測試方案及方法

        2.1ADC測試方案

        ADC常用的測試方案如圖1所示:提供ADC外圍理想的測試環(huán)境,在借助于邏輯分析儀進(jìn)行測試:

        圖1 ADC常用測試方案結(jié)構(gòu)框圖

        2.2非相干采樣加窗處理測試

        為防止信號(hào)頻譜泄露等情況對(duì)測試結(jié)果的影響,需要采用相干采樣的方式設(shè)定輸入信號(hào)與采樣時(shí)鐘的頻率。實(shí)際測試過程中,由于測試儀器本身精度的限制,很難達(dá)到這種完全相干采樣的測試條件。在處理連續(xù)時(shí)間信號(hào)的頻譜時(shí),常會(huì)產(chǎn)生頻譜泄露、頻率分辨率降低等問題,它們很大程度上影響到頻譜分析精度。一般情況下,常采用較為接近的非相干采樣設(shè)定,然后通過加窗函數(shù)處理進(jìn)行補(bǔ)償?shù)姆绞絹肀M可能彌補(bǔ)上述情況對(duì)測試結(jié)果的影響。

        2.3FFT動(dòng)態(tài)性能測試

        FFT測試方法是目前最常用的有效測試ADC動(dòng)態(tài)性能的測試方法。它是從頻域的角度去分析信號(hào)及噪聲背景的頻譜參數(shù),以此來計(jì)算ADC的各項(xiàng)動(dòng)態(tài)性能指標(biāo)。在實(shí)際測試過程當(dāng)中,常利用邏輯分析儀采集ADC采樣輸出的數(shù)據(jù),然后做一些相應(yīng)的處理,再借助Matlab軟件進(jìn)行FFT分析和計(jì)算,從而得到ADC的動(dòng)態(tài)性能參數(shù)。

        3. 測試方案及實(shí)例分析

        AD9226是ADI公司出品的一款65MPSP,12位pipeline高速高精度ADC。硬件方案框圖如圖2所示:

        測試中,采用單端輸入,放大器差分輸入,直接差分輸入和RF變壓器輸入四種輸入方式,經(jīng)過低通濾波,進(jìn)入到ADC輸入端口。分別采用雙路+5V/+3.3V低噪聲電源芯片ADP3338進(jìn)行模擬/數(shù)字部分的供電。模擬和數(shù)字電路分開布線,單點(diǎn)接地。時(shí)鐘的處理采用固定65MHz有源晶振和外部時(shí)鐘供給端口兩種方式。輸出用兩塊VHC541八位高速緩沖器對(duì)輸出數(shù)字信號(hào)碼進(jìn)行處理,由時(shí)鐘直接接入緩沖器的時(shí)鐘輸出接口,用于接入邏輯分析儀做外部同步時(shí)鐘。最后由Tektronix TLA5203邏輯分析儀采集數(shù)據(jù),導(dǎo)入到PC Matlab軟件進(jìn)行FFT分析,對(duì)比各個(gè)測試結(jié)果。

        圖2 硬件方案框圖

        4. 測試儀器和測試結(jié)果

        4.1主要測試儀器

        測試儀器對(duì)測試結(jié)果有很大影響,選用時(shí)要保證儀器參數(shù)性能要一定程度上優(yōu)于被測芯片/方案的設(shè)計(jì)性能,儀器接入測試方案的位置和方式也很重要。下面對(duì)本測試方案中用到的幾個(gè)重要儀器進(jìn)行簡單介紹。

        表1 主要測試儀器介

        4.2測試結(jié)果

        以下給出不同測試情況下的分析結(jié)果:

        (1)AVDD=5V,DVDD=3.3V,內(nèi)部基準(zhǔn)VREF=2.0V,差分滿幅輸入方式,測試結(jié)果如表2。

        表2 不同采樣頻率信號(hào)下的測試結(jié)果

        (2)AVDD=5V,DVDD=3.3V,內(nèi)部基準(zhǔn)VREF=2.0V,差分滿幅輸入,F(xiàn)in變化,測試結(jié)果如表3。

        表3 不同輸入信號(hào)頻率下的測試結(jié)果

        (3)當(dāng)Fclk不變,F(xiàn)in不變,輸入信號(hào)Vpp從較小的值,變化到滿幅度時(shí)(與基準(zhǔn)的設(shè)定有關(guān)),ADC測試結(jié)果逐漸變好。在其他條件相同的情況下,滿幅輸入得到更好的測試結(jié)果。

        5. 測試結(jié)果分析及總結(jié)

        圖3給出測試輸入為40KHz,采樣頻率為10MHz時(shí),用邏輯分析儀采集到的262144點(diǎn)數(shù)據(jù)進(jìn)行Matlab FFT數(shù)據(jù)分析的結(jié)果。從圖中可以看出,輸入諧波成分很大,從而影響到整個(gè)ADC測試的結(jié)果,從SFND,SNR,SNDR,ENOB等參數(shù)可以看出。這是由于在測試的初期,輸入信號(hào)直接接入到了測試電路,而沒有加入低通濾波而造成的。一般實(shí)驗(yàn)室測試條件,在信號(hào)源的輸出端不加濾波器,很難測試出ADC的真實(shí)性能。

        從表1測試結(jié)果看,在時(shí)鐘頻率大于65MHz時(shí),ADC的性能明顯變差,驗(yàn)證了AD9226芯片資料給出的最大采樣率為65Msps。表2中,為時(shí)鐘頻率固定為65MHz時(shí),不同輸入信號(hào)頻率下的ADC性能,可以看出過采樣時(shí)性能較好,欠采樣時(shí)性能較差,這是由于欠采樣時(shí),測試信號(hào)的頻譜發(fā)生混疊而造成的。此項(xiàng)測試對(duì)比ADI公司給出的芯片測試資料,相同測試條件下,測試結(jié)果比較接近,驗(yàn)證了測試方案的可行性。測試結(jié)果(表3)驗(yàn)證了滿幅輸入時(shí),ADC的性能最優(yōu)的結(jié)論,也說明了在實(shí)際測試和應(yīng)用過程中,要注意ADC基準(zhǔn)的設(shè)定與輸入信號(hào)幅度之間的匹配關(guān)系。

        圖3 未經(jīng)輸入濾波的測試結(jié)果

        本文提出了一種適用于高速高精度ADC的測試方案,并以ADI公司高速高精度ADC芯片AD9226為例進(jìn)行電路設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn),經(jīng)實(shí)際測試和結(jié)果分析對(duì)比,驗(yàn)證本方案的可行性。對(duì)后續(xù)ADC測試技術(shù)的研究和自主ADC芯片的測試都有著積極的作用和意義。

        [1][Analog Device Inc.AD8138-EP:Low Distortion Differential ADC Driver Data Sheet(Rev 0,04/2010).

        [2]劉俊逸.高速高精度pipeline ADC測試的研究[D].西安:西安電子科技大學(xué),2013,01.

        [3]戴瀾,姜巖峰,劉文楷.基于Matlab的高速高精度ADC測試研究[J].計(jì)算機(jī)測量與控制,2010,18(9):P2044-2049.

        [4]何賓.Altium Designer 13.0 電路設(shè)計(jì)、仿真與驗(yàn)證權(quán)威指南[M].北京:清華大學(xué)出版社,2014.

        [5]D.K.Mishra and R.S.Gamad."Dynamic testing of an ADC for real application input"2011 IEEE AUTOTESTCON,Baltimore,MD,2011:354-359.

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