蘇志錕,李永亮,謝嘉寧*(佛山科學技術學院物理系,廣東 佛山 528000)
光束分析儀測量高階拉蓋爾高斯光束暗區(qū)半徑研究
蘇志錕,李永亮,謝嘉寧*
(佛山科學技術學院物理系,廣東 佛山 528000)
理論推導高階拉蓋爾高斯光束暗區(qū)半徑隨拓撲數(shù)變化的表達式,利用光束分析儀測量拉蓋爾高斯光束的暗區(qū)半徑,比較了理論和實驗測量的結果,分析產(chǎn)生誤差的原因。
光束分析儀;高階拉蓋爾高斯光束;空心半徑
本文利用Newport LBP2光束分析儀CCD測量高階拉蓋爾高斯光束暗區(qū)半徑,比較實驗結果與理論分析的結果,分析兩者存在誤差的原因。
高階拉蓋爾高斯光束的強度分布表達式:
最后,得到暗區(qū)大小r(0>r)滿足下式:
根據(jù)式(3)算出不同l的暗區(qū)半徑r如表1。
從表1可以知道相鄰l之間的暗區(qū)半徑隨l的增大而減小:l取±1和±2時,兩者暗區(qū)半徑相差;l取±20和±21時,兩者暗區(qū)半徑相差。
為了得到暗區(qū)半徑與拓撲荷數(shù)的關系,按圖1布置光路進行測量。
在圖1中CCD與螺旋相位板(SPP,spiral phase plate)的距離為8 cm,與He-Ne激光器相距60 cm。4f系統(tǒng)是為了擴束和減弱中心光強度,由于中心光強度太強而使得加入SPP后沒能得到渦旋光。因為過大的光強使得中心處于飽和狀態(tài)從而使得螺旋相位板的調(diào)節(jié)失去作用。我們采用CCD中的坐標法先測量直徑,再計算得到半徑,如圖2所示。
圖1 暗區(qū)半徑測量光路圖
表1 不同l的暗區(qū)半徑r
圖2 l=4直徑測量示例
不改變其他設備,只調(diào)節(jié)SPP位置改變拓撲荷數(shù)1~8,同時保持前后距離不變,得到表2測量值。
根據(jù)表1的數(shù)據(jù)和表2中取相同拓撲荷數(shù)繪制拓撲荷數(shù)與暗區(qū)半徑的關系曲線圖(圖3所示)。
圖3曲線中小點的曲線是理論計算值,大點的曲線是實驗測量值。經(jīng)過比較可以知道實驗測量的暗區(qū)半徑確實隨著拓撲荷數(shù)的增大而增大,實驗測量與理論計算相一致。但是,理論計算值的曲線斜率較大,數(shù)值增大較快,而實驗測量值的曲線斜率較小,增大得較慢,這與實驗測量的設備和激光器出射光束的束腰半徑有關,也有一定的測量誤差。
本文研究了高階拉蓋爾高斯光束的光學特性,即暗區(qū)半徑,結果表明,隨著拓撲數(shù)的增加,暗區(qū)半徑變大。高階拉蓋爾光束具有廣泛的應用前景,它可以作為光學扳手操控原子、細胞核其它微粒,也可以作為自由空間光通信信息載體的一個自 由度。
表2 暗區(qū)半徑的測量
圖3 暗區(qū)半徑r與的關系曲線測量圖
[1] 李陽月,等.渦旋光束的產(chǎn)生與干涉[J].物理學報,2010,56(3).
[2] 吳明波.渦旋光束拓撲荷數(shù)測量研究[D].四川:電子科技大學,2015.
[3] 郭邦紅,郭建軍,等.渦旋光學與軌道角動量高維編碼量子通信研究[J].華南師范大學學報(自然科學版),2015,47(4):1~7.
[4] 李陽月.渦旋光束拓撲電荷數(shù)的測量[D].福建:華僑大學,2011.
[5] 徐麗娟.渦旋光束的產(chǎn)生及特性研究[D].浙江:浙江大學,2014.
[6] 王浩,楊德興,甘雪濤,等.平面渦旋光干涉的分析[J].光學學報,2009,29(2).
TE921
B
1671-0711(2016)07(下)-0057-02