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        BiVO4/CuWO4復(fù)合薄膜的制備與光性能研究

        2016-05-14 08:17:10陳紫鵬謝致薇楊元政何玉定陳先朝
        電子技術(shù)與軟件工程 2016年6期
        關(guān)鍵詞:溶膠半導(dǎo)體

        陳紫鵬 謝致薇 楊元政 何玉定 陳先朝

        摘 要采用溶膠-凝膠法,分別在普通玻璃、石英玻璃、FTO導(dǎo)電玻璃上制備CuWO4薄膜,接著在FTO上制備BiVO4薄膜和BiVO4/CuWO4復(fù)合薄膜,通過XRD、SEM、UV-Vis等測試方法對這些薄膜表征和評價。結(jié)果表明:在FTO基體上能得到純相的CuWO4和BiVO4薄膜,以及BiVO4/CuWO4復(fù)合薄膜;與單層的BiVO4膜相比,BiVO4/CuWO4復(fù)合薄膜對可見光的吸收范圍有了大幅的提升。

        【關(guān)鍵詞】溶膠-凝膠法 半導(dǎo)體 光電極 BiVO4/CuWO4復(fù)合薄膜 可見光響應(yīng)

        1 研究背景

        半導(dǎo)體薄膜制氫光電極的研究處于起步階段,尚有很多關(guān)鍵技術(shù)問題未得到解決,制備成本居高不下,離大規(guī)模的工業(yè)生產(chǎn)還有很大距離,各國對其的研究也是趨之若鶩。日本、德國和美國在技術(shù)上處于領(lǐng)先地位,其中日本的AIST是這個領(lǐng)域的先驅(qū)研究機構(gòu)。目前,單獨使用氧化物半導(dǎo)體的光電極的轉(zhuǎn)換效率為0.69%,與價格昂貴的鉑復(fù)合的情況下可達到 1.1%。

        作為光電極材料,禁帶寬度必須大于1.23eV(電解水的電壓),此外,其價帶和導(dǎo)帶與水的氧化和還原電位相適應(yīng),即導(dǎo)帶位置比O2/H2O更負,價帶位置比H2/H2O更正。但,絕大多數(shù)半導(dǎo)體材料都未能完全滿足,從而不能進行光解水。以穩(wěn)定性較高的TiO2為例,其帶隙大,對太陽光的吸收也只有4%-5%的紫外光,而對于占太陽光能量的40%的可見光無法響應(yīng),同樣另外的一些光電極亦有類似不足,難以將400-800nm的可見光吸收。

        在研究開發(fā)可見光區(qū)域響應(yīng)的光電極材料中,發(fā)現(xiàn)鎢酸鹽催化劑具有種類繁多,形貌可控的特點,應(yīng)用于太陽能電極、光解水制氫等領(lǐng)域頗具發(fā)展?jié)撃?。通式為MWO4(M=Ni,Co,Cu等)的二價過渡族鎢酸鹽能較好的應(yīng)用于光學(xué)、電化學(xué)、催化等領(lǐng)域。如,納米結(jié)構(gòu)的二價過渡族金屬釩酸鹽BiVO4用于傳統(tǒng)的催化,鎢酸鹽PbWO4和CaWO4用于發(fā)光閃爍晶體材料、氧還原相變過程及動力學(xué)過程的研究、光敏催化作用和光涂料(如PbWO4、CaWO4),ZnWO4用在制作光纖以及微波技術(shù)中,均有著較好的效果。但用作光催化劑分解水制氫的研究較少。雖然最近有一些氧化物光催化分解水、以及氟離子摻雜WO3以提高其光催化性能的報導(dǎo)。但是關(guān)于CuWO4光催化性能的報導(dǎo)還是很少。

        為了擴大光電極對可見光的吸收范圍,加快載流子分離,一般會將兩種半導(dǎo)體材料復(fù)合成復(fù)合光電極。目前,利用復(fù)合半導(dǎo)體電極發(fā)展可見光響應(yīng)材料已然成為研究熱點,兩種不同的半導(dǎo)體復(fù)合,構(gòu)成異質(zhì)結(jié),其能級間電子-空穴更易分離,從而使其對太陽光的吸收波長紅移,且雙層或多層的復(fù)合結(jié)構(gòu)也可提高其光催化活性。大量的研究表明,p/n復(fù)合結(jié)構(gòu)能有效地提高電極的光電化學(xué)性能。但由于在數(shù)量上p型半導(dǎo)體氧化物不如n型半導(dǎo)體,從而n/n型異質(zhì)結(jié)將越來越受到關(guān)注,已有實驗制備出WO3/BiVO4同型異質(zhì)結(jié),且表明其光電化學(xué)分解水性能可大幅提高,他們分別用溶劑熱法和旋涂法在FTO 上制備WO3和BiVO4,然后形成WO3/BiVO4光陽極,制得的復(fù)合結(jié)構(gòu)極大的增強了光穩(wěn)定性和光轉(zhuǎn)換效率。

        基于CuWO4和BiVO4的性能,如果將CuWO4和BiVO4復(fù)合,則在這種BiVO4/CuWO4復(fù)合薄膜光電極中,BiVO4將570nm以內(nèi)可見光為主的光吸收,CuWO4擔負著有效移動電子的作用,有理由推測,這種層疊結(jié)構(gòu)在一定程度上可以增強可見光的吸收、電子—空穴分離以及電荷傳輸。本文擬研究CuWO4、BiVO4以及CuWO4/BiVO4復(fù)合膜的制備工藝,以及制備工藝對這些薄膜結(jié)構(gòu)組織和吸收光譜的影響。

        2 實驗部分

        2.1 試劑與基體

        采用硝酸鉍和偏釩酸銨作為主鹽,提供Bi和V;采用硝酸銅、鎢酸鈉為主鹽,提供Cu和W;以硝酸、檸檬酸和冰乙酸作為沉淀劑,其中硝酸調(diào)節(jié)溶液的PH,檸檬酸和冰乙酸起到螯合作用;以聚乙烯醇作為成膜促進劑起著高分子位阻、延緩溶劑的揮發(fā)、控制材料的微結(jié)構(gòu)三個作用;乙二醇作為溶劑,改善凝膠穩(wěn)定性,從而制得均勻透明的凝膠,并在一定程度上減少了硬團聚,所有試劑均為分析純。

        選取三種不同的玻璃基體,分別是載玻片(NOR),石英片(QUA),導(dǎo)電玻璃(FTO)。在涂膜之前,上述基體分別經(jīng)過甲苯(去除基底上的油脂),丙酮(去除基底上的甲苯),去離子水(去除基底上的丙酮)超聲清洗30min后用高純氮氣吹干。

        2.2 實驗方法

        制備CuWO4溶膠方法如下:稱取10 mmol(2.416g)Cu(NO3)2·3H2O、10mmol(3.2986g) Na2WO4·2H2O,分別溶于20 mL乙二醇中, 在加熱條件下攪拌至澄清,然后在加熱和攪拌條件下將Na2WO4溶液滴入Cu(NO3)2溶液中,可以觀察到迅速形成了溶膠,大約10-20 min后形成粘稠的凝膠。

        制備BiVO4溶膠方法如下:將20mmol(9.7g)Bi(NO3)3·5H2O、20mmol(2.34g)NH4VO3和20mmol(3.843g)檸檬酸依次溶于60ml的稀硝酸溶液中,磁力攪拌;將0.4g 聚乙烯醇和15ml 冰乙酸加入上述溶液中,攪拌7h后得到藍色的膠狀物。將制備的凝膠陳放一天。

        采用旋轉(zhuǎn)涂覆法制備CuWO4薄膜:將預(yù)處理后的FTO固定在旋涂機的抽風(fēng)口中心,共旋轉(zhuǎn)50秒,低速20秒,1000 r/min的轉(zhuǎn)速;高速30秒,3000r/min的轉(zhuǎn)速。反復(fù)進行直到所需的薄膜厚度,之后放入干燥箱中100℃干燥2h,空冷,用去離子水和無水乙醇離心洗漆1-2次,烘干。

        采用浸漬提拉法制備BiVO4薄膜:將預(yù)處理后的FTO浸入BiVO4溶膠中5min,緩慢提起,提起后自然晾置110min,放入恒溫干燥箱中于100℃恒溫干燥2h,取出后自然冷卻致室溫。

        BiVO4/ CuWO4復(fù)合膜的制備方法是在FTO上,先用旋轉(zhuǎn)涂覆法制備CuWO4前驅(qū)體膜,然后采用提拉法提取BiVO4前驅(qū)體層。

        退火工藝:先以1℃/min的升溫速率到100℃,保溫2h,再同樣以1℃/min的升溫速率升溫至550℃,保溫2h,隨爐冷卻。即可得到涂制在FTO上的CuWO4薄膜。采用相同的退火工藝得到單層的BiVO4以及復(fù)合的BiVO4/ CuWO4。

        本文采用Rigaku D/Max-Ultima IV型號的X射線衍射儀表征分析上述膜層的結(jié)構(gòu),用S3400N-II掃描電子顯微鏡觀察膜層的表面形貌,用UV-2450紫外—可見光分光光度計測試膜層的吸收光譜,以研究膜層材料與組合、以及制備工藝對結(jié)構(gòu)組織和性能的影響。

        3 結(jié)果與分析

        3.1 基體材料對膜層XRD譜的影響

        采用前節(jié)介紹的CuWO4制備工藝,在三種玻璃基底上依次鍍上CuWO4膜,退火后的樣品的XRD譜如圖1所示。

        三種樣品衍射峰與CuWO4的XRD標準卡(JCPDF 70-1732)吻合,均屬三斜結(jié)構(gòu)的純相CuWO4,說明在不同基底上制成的CuWO4樣品都能保持ABO4型鎢酸鹽晶體結(jié)構(gòu),且結(jié)晶度較高,圖1中明顯的衍射峰位于25.6°,27°,30°和31.4°,分別對應(yīng)于,,,晶面,未檢測到其他明顯的雜相峰,可以看出三種樣品均為純相。通過比較各衍射晶面的織構(gòu)系數(shù)(TC),可了解其擇優(yōu)取向情況。當TC等于1時,表明膜層無規(guī)取向,當TC大于1時,表明膜層具有擇優(yōu)取向趨勢,TC值越大,擇優(yōu)取向的程度越高。根據(jù)織構(gòu)系數(shù)TC的計算公式:

        (1)

        其中:

        Ii(hkl)——實際測得的衍射峰強度

        I0(hkl)——卡片上對應(yīng)衍射峰強度,求和是對卡片上所有衍射峰的求和。

        計算出薄膜的TC值如表1所示。

        由表1可知,以低指數(shù)原子密排面(111)的擇優(yōu)取向為主,說明CuWO4樣品膜沿(111)晶面擇優(yōu)生長。從衍射峰強度上看,可知CuWO4的衍射峰強度在FTO上比另兩種基體上的要更高,說明CuWO4在FTO上的結(jié)晶度最好。由謝樂公式:

        (2)

        (K為Scherrer常數(shù)、D為晶粒垂直于晶面方向的平均厚度、B為實測樣品衍射峰半高寬度,θ為衍射角,γ為X射線波長,為0.154056nm)。

        可計算出在FTO、石英、普通玻璃三種基體上的薄膜的平均晶粒大小分別為48.71nm,57.49nm,60.14nm,表明在同等制備工藝下,以FTO為基底可以得到更為小的晶粒尺寸。

        由于在FTO基體的CuWO4膜結(jié)晶程度較好,晶粒小,沿(111)擇優(yōu)取向,所以,本文接下來的實驗都使用FTO做為實驗基體。

        圖2為同樣FTO基底,和一致的退火工藝下制備出的三樣品膜,分別是BiVO4/ CuWO4、BiVO4、CuWO4,在同等測試條件時所得的XRD譜。從圖2可以看出,BiVO4為單斜白鎢礦結(jié)構(gòu)(JCPDS No. 14-0688), 與其另外兩種同素異構(gòu)體(四方白鎢礦,四方鋯石型)相比,具有更高的光解能力,CuWO4與之前的討論一樣,為三斜結(jié)構(gòu)(JCPDF 70-1732)的純相。在空白的FTO上為SnO2的純相,與單層BiVO4/FTO膜或單層CuWO4/FTO膜對比,并未發(fā)現(xiàn)SnO2的物相信息,表明所鍍膜層較厚;在圖中28°處復(fù)合薄膜BiVO4/CuWO4/FTO的衍射峰強度比純BiVO4/FTO有明顯提高,這說明兩種薄膜的復(fù)合,即CuWO4薄膜基體有利于BiVO4薄膜的生長。

        表2為不同基體上BiVO4膜的TC值,說明無論在FTO上還是CuWO4膜層上均沿(121)晶面擇優(yōu)生長,而在CuWO4膜上生長時的擇優(yōu)取向更為明顯。對比BiVO4/FTO與BiVO4/CuWO4/FTO衍射峰強度,可知后者的峰強要更高,說明BiVO4在CuWO4膜層上生長的結(jié)晶度比直接在FTO上更好。

        3.2 膜層表面形貌分析

        圖3是三種樣品薄膜用掃描電鏡(SEM)拍攝出的表面形貌,圖3a中CuWO4晶粒近似六面體狀,結(jié)晶度較好,僅存在小部分區(qū)域結(jié)晶組織特征不明顯,圖3b中BiVO4晶粒主要呈橄欖狀,少量呈近六面體狀,如圖3b中的A、B處;在圖3c,即二者復(fù)合形成的復(fù)合膜BiVO4/ CuWO4中,晶粒呈規(guī)則六面體狀,比單層膜結(jié)晶程度高;明顯看出,在CuWO4生長的BiVO4的晶粒特征與在FTO上生長的完全不同,且致密度也高得多。

        在圖2中可以看出,空白FTO上若干處衍射峰較強,經(jīng)XRD標準卡(JCPDF 70-1732)對比可知,其為純相的SnO2。根據(jù)之前的織構(gòu)系數(shù)公式可以得到其在(200)處有明顯的擇優(yōu)取向。同樣按之前的分析,CuWO4晶粒近似六面體狀,沿(111)晶面擇優(yōu)生長,BiVO4晶粒呈橄欖或近六面體等形狀,沿(121)晶面擇優(yōu)生長。如文中實驗所述,在CuWO4/ FTO上接著鍍上一層BiVO4,CuWO4可擔負起有效移動載流子的作用,進而影響晶粒生長過程中擇優(yōu)取向,對BiVO4晶體的生長可能起到促進或抑制作用,雙層膜的復(fù)合結(jié)構(gòu)更有利于沿(121)晶面優(yōu)先取向的晶粒生長,而抑制了其它取向晶粒的生長。正如前面分析,雙層膜在(121)晶面的織構(gòu)系數(shù)要明顯大于單層BiVO4,所以以CuWO4為基體的BiVO4擇優(yōu)取向的程度較高,且對比衍射峰可知,BiVO4在CuWO4基體上結(jié)晶度要好得多,由于雙層膜上的BiVO4在生長方向上具有明顯的優(yōu)先取向,可直接導(dǎo)致圖3c中觀察到的CuWO4基體上的BiVO4橄欖狀的晶粒生長受到抑制,絕大部分晶粒取向生長成規(guī)則的六面體。

        3.3 三種樣品膜的紫外——可見光光譜分析

        從圖4可以看出在FTO上制備的三種樣品除了在紫外區(qū)間(<380nm)有較強的吸收外,在可見光區(qū)域內(nèi)也表現(xiàn)出一定程度的吸收,吸收曲線呈典型的階梯特征表明樣品具有一定程度的可見光區(qū)光解能力,如圖中CWO線可知在可見光530nm以內(nèi)范圍, CuWO4可響應(yīng)吸收。線BVO中BiVO4的可見光反應(yīng)范圍在570nm以內(nèi)。我們不難想象當太陽光照射在最上面一層BiVO4上,它將570nm以內(nèi)的太陽光吸收,產(chǎn)生的光生電子發(fā)生遷移,而第二層的CuWO4擔負起有效移動電子的作用,加快遷移的速度,而第三層FTO上的SnO2可減少電子在CWO與FTO基體的界面再結(jié)合而損失,其結(jié)果正如圖4中,雙層膜與單層BiVO4和 CuWO4膜相比,復(fù)合膜BiVO4/ CuWO4在可見光區(qū)的吸收明顯提高,長波一側(cè)吸收邊紅移至700nm甚至更長。

        由圖5a所示,CuWO4的禁帶寬度為2.52eV,對應(yīng)于493nm,說明了可以在可見光范圍內(nèi)響應(yīng),根據(jù)圖4中的紫外—可見光譜分析可知其長波端吸收邊為530nm,可用的可見光范圍是493nm-530nm。對于純相的WO3而言,其禁帶寬度為2.77eV,它的價帶由O2p構(gòu)成,導(dǎo)帶由W5d構(gòu)成。但對于CuWO4來說,禁帶寬度比其更小,Cu的3d9軌道和W5d的軌道雜化而改變了原來導(dǎo)帶的組成,重新組成了新的導(dǎo)帶。

        如圖5b可知,BiVO4的禁帶寬度為2.65eV,其對應(yīng)的短波端吸收邊為485nm,同樣根據(jù)圖5得到的實驗結(jié)果可確定BiVO4對可見光的吸收范圍為485nm-570nm。

        文獻[6]中報道的BiVO4的禁帶寬度為2.51eV,文獻[7]中報道的CuWO4的禁帶寬度為2.33eV,本試驗所得兩種膜的禁帶寬度相對較大些。這是由于量子尺寸效應(yīng),薄膜導(dǎo)體的禁帶寬度會產(chǎn)生藍移現(xiàn)象。本實驗中所得的樣品有著更正的導(dǎo)帶和更負的價帶,這可以使復(fù)合膜BiVO4/ CuWO4獲得更強的氧化—還原性能,從而具備更優(yōu)秀的光催化分解水性能。

        4 結(jié)論

        采用溶膠凝膠法制備了單層CuWO4、BiVO4膜和雙層的CuWO4/BiVO4膜,研究了三種膜的結(jié)構(gòu)、表面形貌和紫外-可見光譜及光學(xué)帶隙,結(jié)果如下:

        與普通玻璃基體和石英玻璃基體相比,F(xiàn)TO基體上生長的CuWO4膜具有更好的結(jié)晶度。

        與生長在FTO基體上的BiVO4膜相比,生長在CuWO4膜上的BiVO4膜的衍射峰強增大,擇優(yōu)取向程度明顯增加。

        在FTO基體上,CuWO4膜的結(jié)晶度較好,呈近似六面體狀;而BiVO4膜晶粒主要呈橄欖狀,出現(xiàn)極少量近似六面體狀晶粒,結(jié)晶程度不如前者。在CuWO4膜上的BiVO4膜的晶粒呈規(guī)則六面體狀,與在FTO上生長的完全不同,且致密度也高得多。

        單層CuWO4和BiVO4對可見光的有效吸收范圍分別是493nm-530nm和485nm-570nm,雙層膜BiVO4/ CuWO4在可見光區(qū)的吸收范圍顯著變寬,且吸收系數(shù)得以提高。

        參考文獻

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        作者單位

        廣東工業(yè)大學(xué)材料與能源學(xué)院 廣東省廣州市 510006

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