摘 要:本文闡述了數(shù)據(jù)測(cè)量的方法,和3D掃描儀的測(cè)量模式,介紹了模型數(shù)據(jù)采集,得到點(diǎn)云數(shù)據(jù)。運(yùn)用Geomagic Qualify軟件對(duì)數(shù)據(jù)去噪、修補(bǔ)、實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的優(yōu)化并對(duì)點(diǎn)云數(shù)據(jù)封裝,獲得最佳三角形擬合的模型。
關(guān)鍵詞:3D掃描;顯像劑;Geomagic Qualify
DOI:10.16640/j.cnki.37-1222/t.2016.17.259
1 數(shù)據(jù)測(cè)量方法概述
數(shù)據(jù)測(cè)量是整個(gè)逆向工程技術(shù)的基礎(chǔ),測(cè)量工作是工作流程中的第一階段,后面的工作都要在此基礎(chǔ)上來完成。如果測(cè)量的數(shù)據(jù)存在誤差,模型重構(gòu)所生成的模型就不可能相對(duì)準(zhǔn)確,并且最終導(dǎo)致生產(chǎn)出來的產(chǎn)品不能夠如實(shí)的反應(yīng)原來的實(shí)物模型。測(cè)量方法主要有兩種:接觸式測(cè)量法和非接觸式測(cè)量法[1,2]。
1.1 接觸式測(cè)量方法
接觸式測(cè)量是指利用接觸式測(cè)量設(shè)備對(duì)實(shí)物外表面進(jìn)行數(shù)據(jù)采集。工作時(shí),通過傳感器測(cè)量探頭與被測(cè)量物體直接接觸,從而產(chǎn)生一個(gè)記錄信號(hào),然后通過一定的存儲(chǔ)設(shè)備記錄下來。接觸式測(cè)量方法根據(jù)測(cè)量原理的不同分為點(diǎn)位觸發(fā)式數(shù)據(jù)采集和連續(xù)式數(shù)據(jù)采集兩種。
1.2 非接觸式測(cè)量方法
隨著測(cè)量技術(shù)的不斷發(fā)展,接觸式測(cè)量方法已經(jīng)不能滿足測(cè)量市場(chǎng)的需要,因而產(chǎn)生了非接觸式測(cè)量方法。非接觸式測(cè)量就是根據(jù)光學(xué)、聲學(xué)、磁學(xué)等領(lǐng)域的基本原理,利用某種與物體表面發(fā)生相互作用的物理現(xiàn)象,如光、聲、磁等模擬量信號(hào)轉(zhuǎn)化為樣件模型表面的坐標(biāo)信息,從而完成對(duì)樣件表面的數(shù)據(jù)采集。主要有以下幾種:投影光柵法、超聲波法、工業(yè)CT掃描法、逐層切削照相測(cè)量、深度圖像三維測(cè)量法、核磁共振法(MRI)、自動(dòng)斷層掃描法等[3]。
1.3 測(cè)量模式
測(cè)量模式分為單面掃描、標(biāo)志點(diǎn)拼接、建立框架。
(1)單面掃描。針對(duì)比較簡(jiǎn)單的物體進(jìn)行單面的掃描,就可以得到所需的數(shù)據(jù)。
(2)標(biāo)志點(diǎn)拼接。對(duì)較大的物體,需要多次掃描獲得數(shù)據(jù),但是要通過貼標(biāo)志點(diǎn)進(jìn)行拼接。
(3)建立框架拼接。有些大物體被測(cè)量時(shí),要求精度高,為防止測(cè)量的累計(jì)誤差較大,需要建力框架控制誤差。
2 模型的掃描實(shí)踐
為了使掃描實(shí)物的效果好,須用液體顯像劑對(duì)實(shí)物進(jìn)行噴涂,噴涂后須等待實(shí)物表面的顯像劑晾干,方可移動(dòng)進(jìn)行后續(xù)操作。然后將標(biāo)志點(diǎn)貼于實(shí)物上,一般在實(shí)物上貼5個(gè)標(biāo)志點(diǎn),盡量錯(cuò)開保證后續(xù)在不同角度掃描時(shí),掃描儀能捕捉到最少三個(gè)貼標(biāo)點(diǎn),確保每次掃描的對(duì)象能夠順利拼接。
3 掃描數(shù)據(jù)處理
利用了非接觸式測(cè)量法,提高了工作效率和掃描精度,但掃描儀對(duì)塑件掃描過程中,同一部位可能會(huì)被多次掃描,產(chǎn)生的點(diǎn)云會(huì)不斷疊加,掃描的結(jié)果包含了大量的冗余數(shù)據(jù),對(duì)塑件后期的外形產(chǎn)生影響,如點(diǎn)云擬合的曲線、曲面的精度會(huì)降低。因此需要對(duì)掃描的數(shù)據(jù)進(jìn)行必要的處理。測(cè)量數(shù)據(jù)是通過光學(xué)3D掃描儀獲得的點(diǎn)云。該點(diǎn)云是散亂的點(diǎn)云,處理的方法主要包括:對(duì)多次測(cè)量得到的點(diǎn)云去除噪聲點(diǎn)、減少冗余數(shù)據(jù)、修補(bǔ)缺損數(shù)據(jù)、對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行封裝等等。
3.1 去除噪聲點(diǎn)
去除噪聲點(diǎn)的方法比較多,有人機(jī)交互法,最小二乘法,弦高差方法、平滑濾波法,常用的方法是人機(jī)交互法。通常將點(diǎn)云可以導(dǎo)入Geomagic Qualify軟件,進(jìn)行降噪處理。
3.2 數(shù)據(jù)修補(bǔ)
(1)數(shù)據(jù)修補(bǔ)的概念。對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行了降噪處理之后,有的部位形狀復(fù)雜或測(cè)量方法不夠準(zhǔn)確等問題,在用專業(yè)軟件打開后發(fā)現(xiàn)點(diǎn)云數(shù)據(jù)有缺失。多數(shù)情況實(shí)物需要掃描反面,就需要在實(shí)物的側(cè)面增加標(biāo)志點(diǎn)進(jìn)行過渡,而每次增加一個(gè)過渡拼接點(diǎn),其實(shí)物的點(diǎn)云就形成一個(gè)孔洞,也就是點(diǎn)云數(shù)據(jù)丟失。
(2)數(shù)據(jù)修補(bǔ)的常用方法。數(shù)據(jù)修補(bǔ)在工程實(shí)踐中是一個(gè)綜合的操作過程,對(duì)人的要求較高。常用的方法有直接填充法、造型設(shè)計(jì)法等。
4 數(shù)據(jù)優(yōu)化及封裝
(1)點(diǎn)云數(shù)據(jù)的優(yōu)化。隨著每次掃描的點(diǎn)云數(shù)據(jù)不斷增加,數(shù)據(jù)量比較龐大。這對(duì)工作站的硬件配置要求較高,同時(shí)影響數(shù)據(jù)的處理速度,所以在不影響實(shí)物掃描的精度前提下對(duì)獲得的點(diǎn)云進(jìn)行數(shù)據(jù)優(yōu)化。
(2)點(diǎn)云數(shù)據(jù)的封裝。點(diǎn)云數(shù)據(jù)優(yōu)化后,對(duì)點(diǎn)云進(jìn)行封裝。通過Geomagic Qualify軟件對(duì)點(diǎn)云數(shù)據(jù)的計(jì)算,以若干個(gè)三角形擬合模型。在這過程中,前期的降噪處理和數(shù)據(jù)的優(yōu)化顯得尤其重要,需要重復(fù)進(jìn)行以獲得最佳三角形擬合的模型質(zhì)量,對(duì)高精度要求的零件需要更多的細(xì)心和耐心。
5 模型重構(gòu)
模型的重構(gòu)一般是根據(jù)掃描數(shù)據(jù)上的特征點(diǎn),以點(diǎn)建線,以線建面的過程。前面雖然進(jìn)行了點(diǎn)云數(shù)據(jù)的封裝,但由于3D掃描過程中有死角導(dǎo)致點(diǎn)云缺失,或者由于貼標(biāo)遮擋掃描物體形成的破孔等原因不能形成完整的數(shù)據(jù),需要重新建模。在工程實(shí)踐中,由于物體掃描之前是隨機(jī)擺放的,通過掃描儀得到的3D數(shù)據(jù)形成的坐標(biāo)系與軟件空間的工作坐標(biāo)系不匹配,所以要對(duì)3D數(shù)據(jù)重新定位,便于建模??偟脑O(shè)計(jì)思路是找特征點(diǎn),接著連線再確定平面擺正3D數(shù)據(jù),然后利用曲線擬合的方法進(jìn)行造型。建模的總體思想是先大后小,先主后次的操作方法,利用各種建模命令對(duì)平面體進(jìn)行造型。
6 總結(jié)
通過前面的3D掃描介紹,從獲得點(diǎn)云數(shù)據(jù),對(duì)數(shù)據(jù)優(yōu)化后生成可操作的小平面體,利用小平面體進(jìn)行了3D重構(gòu),獲得了產(chǎn)品的近似原型。但對(duì)于精度要求較高的實(shí)物模型,在造型后的數(shù)字模型需要對(duì)掃描的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì),通過軟件分析兩者之間的重合度,如果重合度不高,需要重新建?;驋呙枞S數(shù)據(jù)。這個(gè)過程有可能出現(xiàn)反復(fù),直到達(dá)到最優(yōu)的重合度或滿足塑件的功能要求,一般在工程實(shí)踐中對(duì)裝配件更加要注意。
隨著中國(guó)制造2025的提出,傳統(tǒng)工業(yè)體制運(yùn)行模式將發(fā)生質(zhì)的變化,新產(chǎn)品開發(fā)的周期也將越來越短。本文提出的基于原始的3D掃描實(shí)踐也是制造業(yè)當(dāng)中常用的逆向工程技術(shù),是產(chǎn)品前期開發(fā)中,對(duì)外觀、功能的驗(yàn)證,從而降低產(chǎn)品的生產(chǎn)成本。
參考文獻(xiàn):
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[2]Marek Vanco,Guido Brunnett. Direct Segmentation of Algebraic Models for Reverse Engineering [J].Computing, 2004:207-220.
[3]宋巖,周艷華,劉雅翔等.逆向工程技術(shù)及工程應(yīng)用研究[J].科技資訊,2010(35):43-44.