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        制冷型紅外探測器關(guān)鍵驅(qū)動與信號處理電路設計

        2016-03-20 06:54:03楊小樂史漫麗
        紅外技術(shù) 2016年7期
        關(guān)鍵詞:信號處理差分探測器

        楊小樂,史漫麗,凌 龍

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        制冷型紅外探測器關(guān)鍵驅(qū)動與信號處理電路設計

        楊小樂,史漫麗,凌 龍

        (北京空間機電研究所,北京 100094)

        驅(qū)動與信號處理電路是紅外成像系統(tǒng)的重要組成部分,高質(zhì)量的電路有利于系統(tǒng)獲得高信噪比。針對制冷型紅外探測器電學接口特點,成像電路架構(gòu)采用焦面電路和信號處理電路,基于電路架構(gòu),設計出高集成度、低噪聲的驅(qū)動與信號處理電路,給出部分仿真結(jié)果和電路噪聲估算方法。介紹了一種軟硬結(jié)合的降噪方法,最后給出了電路核心指標噪聲的測試方法和具體噪聲值。

        制冷型紅外探測器;電路噪聲;電源與偏置電壓;時序驅(qū)動;模擬信號處理

        0 引言

        紅外成像系統(tǒng)是一種可探測目標紅外輻射,通過光電轉(zhuǎn)換、電信號處理等手段,將目標物體的溫度分布轉(zhuǎn)換成圖像的系統(tǒng)。紅外探測器是成像系統(tǒng)的核心,為發(fā)揮探測器的最佳性能,需要低噪聲的成像電路。電路主要是為探測器提供電源與偏置電壓、時序信號,同時對模擬輸出信號進行調(diào)理、模數(shù)轉(zhuǎn)換。目前的文獻中對紅外圖像處理技術(shù)介紹的較多,詳細研究具體電路的文獻較少,本文圍繞制冷型紅外探測器的特點,從電路頂層架構(gòu)出發(fā),設計出高集成度,低噪聲的驅(qū)動與信號處理電路,給出了仿真結(jié)果和實際噪聲測試結(jié)果,并且提出了一種軟硬相結(jié)合的系統(tǒng)降噪方法。

        1 制冷型紅外探測器

        制冷型紅外探測器典型電學接口信號有3類,電源與偏置電壓,時序信號,模擬輸出信號。

        電源和偏置電壓噪聲要求高,其中Gpol電壓(RMS噪聲要求小于100mV)是直接注入(DI)型探測器輸入級控制電壓,如圖1,它控制Mi為注入管,光生電流通過注入管在電容上積分,其質(zhì)量直接影響探測器的輸出噪聲[1-3]。

        VR_PIX和SUBPV電壓是電容反饋負導放大器(CTIA)型探測器輸入級控制電壓。如圖2,該結(jié)構(gòu)可以獲得接近100%的注入效率,適合小信號探測[2-3]。2個電壓噪聲水平直接決定探測器噪聲水平。

        圖1 DI輸入結(jié)構(gòu)示意圖

        圖2 電容反饋負導放大器結(jié)構(gòu)示意圖

        時序信號主要有時鐘、積分控制、串口控制等,時序信號主要考慮信號間相位關(guān)系,例如積分控制信號必須在時鐘上升沿±1/4周期內(nèi)改變狀態(tài),并且在此時間外保持穩(wěn)定,無毛刺。

        模擬輸出信號特點是輸出阻抗大,驅(qū)動能力弱,模擬輸出典型負載由一個≥100kW的電阻與一個≤10pF電容并聯(lián)組成。

        掌握以上探測器典型電接口特點,是設計高質(zhì)量成像電路的前提。

        2 電路設計

        2.1 電路架構(gòu)

        制冷型紅外探測器采用真空杜瓦封裝,通過陶瓷引線環(huán)將電學信號引出,電路構(gòu)架采用焦面電路和信號處理電路,如圖3。焦面電路安裝在杜瓦上。如果杜瓦附近有足夠的空間,并且能夠保證焦面電路的力學性能,應盡可能的將電路放置在焦面電路上,避免信號的長距離傳輸。本文因焦面位置空間有限,焦面電路主要完成探測器電源與偏壓產(chǎn)生和濾波、時序信號整形驅(qū)動,模擬信號阻抗變換和單端轉(zhuǎn)差分處理等功能,信號處理電路主要完成時序產(chǎn)生與驅(qū)動,模擬信號調(diào)理與模數(shù)轉(zhuǎn)換,圖像處理以及輸出等功能。

        圖3 信號處理電路典型架構(gòu)

        2.2 電源與偏壓電路設計

        電源與偏置電壓電路是成像電路的關(guān)鍵,直接影響探測器的性能。本文對pol或者VR_PIX和SUBPV采用電壓基準源供電,選用的電壓基準源有較小的低頻噪聲、溫度漂移、時間漂移等保證穩(wěn)定度和噪聲要求[1,4-6]。選用AD580-2.5電壓參考源,它提供標準2.5V電壓基準,溫度穩(wěn)定性可以達到10ppm/℃,1Hz~1MHz峰峰值噪聲為600mV,但其噪聲不能滿足要求,為此增加RC濾波,濾除高頻噪聲,濾波頻率1/RC控制在1kHz以下,噪聲衰減24倍。為了減少電容的體積,盡量選用大的電阻,例如選擇100K電阻,因為濾波串入電阻,所以本身驅(qū)動能力只有10mA的AD580帶載能力更弱,同時考慮這類電壓要求具有一定的可調(diào)范圍,因此選用電壓基準源+運放的方案,如圖4。pol或者VR_PIX和SUBPV供電噪聲為運放與電壓基準源噪聲之和,運放要選擇窄帶、低噪聲電壓、溫度漂移系數(shù)低的運算放大器,本文推薦選用AD822,輸入阻抗為10MW,遠遠大于100K。

        圖4 Gpol或者VR_PIX和SUBPV供電電路

        對于噪聲要求相對較低,驅(qū)動能力要求較高的探測器模擬電源VDDA、數(shù)字電源VDDD,采用精密電壓基準源與運放+三極管配合方案,通過三極管增加驅(qū)動能力,典型電路如圖5。

        圖5 電源供電電路

        Fig.5 Power supply circuit

        2.3 時序電路設計

        時序信號由信號處理電路FPGA產(chǎn)生,采用54AC245TTL總線驅(qū)動器增加信號驅(qū)動能力,同時為了避免信號遠距離傳輸,信號質(zhì)量下降,在焦面電路放置施密特觸發(fā)器54HC14進行信號整形。

        驅(qū)動時序采用無空閑時間的最優(yōu)時序,驅(qū)動頻率最小,小的驅(qū)動頻率有利于探測器內(nèi)部讀出電路獲得最佳性能,同時也有利于探測器輸出信號采樣,更有利于采用多路選擇開關(guān)+AD的信號處理方案,降低多路開關(guān)的速率要求。

        探測器在驅(qū)動時鐘的上升沿輸出模擬信號,但是需要約半個時鐘周期的建立過程,信號在驅(qū)動時鐘的后半周平坦,因此要根據(jù)實際情況,通過FPGA調(diào)整采樣時鐘相位,獲得最佳采樣結(jié)果。

        2.4 模擬信號處理電路設計

        探測器輸出模擬信號疊加在一個直流電平上,目前有交流耦合和直流耦合兩種處理方式。

        交流耦合加直流恢復如圖6,直流恢復在恢復直流電平的同時,抑制了放大器的溫度漂移,但為保證精度,隔直電容和箝位電容會很大,并且受限于交流耦合電路低端頻率帶寬。

        直流耦合電路形式簡單,但無法抑制探測器輸出的溫漂以及運算放大器的溫漂。目前二代紅外探測器整個讀出電路都工作在低溫區(qū),溫漂很小,慢變的溫漂可通過非均勻性校正電路進行實時校正,本文采用直流耦合。

        圖6 交流耦合電路

        探測器的輸出阻抗大,需要進行阻抗變換,以便后續(xù)電路處理。阻抗變換采用跟隨電路,并且在探測器與跟隨電路間加入一階低通RC濾波器[1],降低探測器輸出噪聲。低通濾波的截止頻率設為探測器輸出頻率的3~5倍。阻抗變換電路位于信號處理鏈路中的最前端,必須選擇低噪聲、低溫度漂移系數(shù)的運放,以降低經(jīng)后級放大后的噪聲和漂移量對有用信號的影響,同時盡量靠近探測器輸出端,以減小布線中的寄生電容[7],本文選用OP15放大器。

        AD器件放在焦面電路上,模擬信號處理電路采用圖7的形式,信號阻抗變換后直接進入AD轉(zhuǎn)換器,盡可能降低信號的傳輸路徑,如果選擇單端AD,圖中差分運放2去掉即可。因焦面空間有限,焦面電路與信號處理電路距離約2m,采用圖8形式,AD器件放置在信號處理電路。

        焦面電路與信號處理電路通過柔性PCB連接,焦面電路上的差分運放實現(xiàn)單端到差分的轉(zhuǎn)換,信號處理電路上的差分運放實現(xiàn)信號的進一步調(diào)理,已濾除傳輸中引入的噪聲。采用差分信號傳輸,抗干擾能力強,外接共模噪聲幾乎可以完全抵消,對外輻射的電磁場相互抵消,能有效的抑制EMI,差分信號的開關(guān)變化位于兩個信號的交點,時序定位精確[4-5,8]。在差分放大電路的同相和反相輸入端加入共模噪聲,共模抑制仿真結(jié)果如圖9。

        圖7 模擬信號處理電路1

        Fig.7 Analog signal processing circuit 1

        圖8 模擬信號處理電路2

        Fig.8 Analog signal processing circuit 2

        差分放大電路往往采用雙運放,一個是跟隨器,另一個是增益為1的反向放大器,占用運放多,推薦使用ADI差分放大器AD813x。AD813x差分放大器可以是差分輸入,也可以是單端輸入,可以實現(xiàn)單端信號到差分信號的轉(zhuǎn)換,它的輸出平衡度由本身特性決定,而不依賴于反饋網(wǎng)絡電阻,輸出差分信號的共模電平可以由輸入管腳Vcom簡單設置。

        為減少高頻信號的反射和振鈴效應,在A/D輸出的數(shù)字信號中串入33W電阻[6]。

        圖9 差分放大電路共模抑制仿真

        3 噪聲分析與測試

        成像電路的噪聲主要由模擬信號處理鏈路決定,模擬信號處理鏈路主要由運放與AD器件組成。運放的噪聲電壓計算如式(1):

        式中:n為運放的等效輸入噪聲電壓;n為運放的等效輸入噪聲電流;S為源阻抗;t為源電阻的熱噪聲。

        n和n可以用式(2)、式(3)估算:

        式中:n為等效輸入噪聲的電壓密度,nV×Hz-1/2;n為等效輸入噪聲的電流密度,pA×Hz-1/2。

        源電阻熱噪聲按式(4)估算,其中=1.38×10-23:

        阻抗變換運放OP15,經(jīng)計算噪聲為129.63mV。差分運算放大器AD813x采用ADI公司的仿真計算工具,得到其噪聲為149.9mV。A/D的噪聲很多教科書上都按照最小量化分層LSB/121/2進行計算,這是認為量化噪聲在±LSB/2內(nèi)隨機分布,取其標準差。本文推薦按照最小LSB估算A/D噪聲,AD的輸入量程除以信噪比,噪聲為338.1mV。認為級聯(lián)的模擬鏈路中各單元噪聲互不相關(guān),模擬鏈路的噪聲n總為391.8mV,如式(5)[9-10]:

        紅外探測器的驅(qū)動頻率較低,最大為5MHz,而AD器件的采樣頻率高達幾十兆。在探測器輸出平坦區(qū)上疊加了很多隨機噪聲,可以采用多次采樣濾波的方法降低噪聲、提高信噪比,多次采樣濾波技術(shù)其原理如圖10,其認為探測器噪聲時域分布特性是隨機的、不相關(guān)的,且服從泊松分布,在探測器輸出的平坦區(qū)利用AD的高采樣頻率對一像元進行次采樣,將采樣得到的信號數(shù)字化之后取均值作為輸出的信號。理論經(jīng)過次采樣濾波后,信噪比能夠提高1/2倍。探測器主時鐘以及AD時鐘的相位要通過PLL鎖定,防止溫度漂移等因素造成AD時鐘采樣位置偏移,造成采樣結(jié)果錯誤。

        圖10 多次采樣濾波示意圖

        紅外成像系統(tǒng)的噪聲有時間噪聲與空間噪聲,空間噪聲可以通過校正算法盡可能的降低,將時間噪聲視為系統(tǒng)噪聲,即連續(xù)采集幀圖像,計算出每一個探測像元的時間噪聲,然后平均每個像元的時間噪聲視為系統(tǒng)噪聲[1]。

        實際測試電路的噪聲,因探測器輸出范圍是1.6~4.4V,測試方法是將焦面電路的輸入端接入2節(jié)串聯(lián)的干電池,通過采集經(jīng)過模擬信號處理鏈路后的圖像計算噪聲,計算結(jié)果整個電路的噪聲為520mV,采用8次采樣濾波,整個電路的噪聲為350mV,電路噪聲明顯降低。理論分析電路噪聲為391.8mV,實際測試偏大,這主要是與實際電路設計中的PCB具體設計、接地設計,供電電源品質(zhì)等因素有關(guān)。

        4 結(jié)論

        制冷型紅外探測器主要電學接口信號有電源與偏置電壓、時序信號和模擬輸出信號,驅(qū)動與信號處理電路中任何一個環(huán)節(jié),都會影響最終成像性能。本文從成像電路的架構(gòu)出發(fā),通過電壓基準源與運放產(chǎn)生高質(zhì)量的偏置電壓,通過驅(qū)動與整形芯片產(chǎn)生高質(zhì)量的時序信號,通過阻抗變換電路和差分放大器構(gòu)成模擬信號處理電路,并且給出了具體電路設計和噪聲分析方法。電路實測噪聲僅有520mV,通過多次采樣濾波技術(shù),噪聲進一步降低,成像質(zhì)量得到明顯改善。

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        Design of the Key Driving and Signal Processing Circuit for Cooled Infrared Detector

        YANG Xiaole,SHI Manli,LING Long

        (,100094,)

        Driving and signal processing circuit is a very important part of infrared imaging system. High quality circuit is beneficial to system SNR. According to the electronic interface characteristics of cooled infrared detector, the circuit structure consists of focal plane circuit and signal processing circuit. Based on the structure, high integration and low noise driving and signal processing circuit was designed. Simulation results and noise estimation method of composing circuit was given, and noise reduction method of combination of hardware and software is also given. In the last section, the core index noise test method and concrete value are presented.

        cooled infrared detector,circuit noise,power and bias voltage,timing-driven,analog signal process

        TN215

        文獻標示碼:A

        1001-8891(2016)07-0556-05

        2015-12-17;

        2016-03-15.

        楊小樂(1984-),男,滿族,遼寧丹東人,碩士,主要從事空間紅外遙感器電子學方面的研究工作。E-mail:chinayao88@icloud.com。

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