陳志剛
(廈門鎢業(yè)股份有限公司,福建 廈門361026)
高純六氟化鎢(WF6)是一種有著廣泛應用的氣體,它在電子工業(yè)中主要作為金屬鎢化學氣相沉積(CVD)工藝的原材料,特別是用它制成的WSi2可用作大規(guī)模集成電路(LSI)中的配線材料[1];也可通過CVD的方式制作各種大小不一、厚薄不等、形狀結構不同的純鎢異型件,取得粉末冶金法所無法達到的工藝特點。
六氟化鎢是唯一能穩(wěn)定存在的鎢的氟化物,其相對分子質量為297.84,熔點2.3℃,沸點17.1℃,15℃時液體密度3 441 kg/m3。氟化氫的相對分子量為20.01,熔點-83.4℃,沸點19.4℃[2]。2者的熔點差別較大而沸點相近,在提純過程中難以分離,因此在六氟化鎢的生產、提純工藝研究中,如何去除氟化氫尤為重要。高純六氟化鎢的質量分數(shù)要達到99.999%,而要求HF的質量分數(shù)小于5×10-6。
六氟化鎢生產去除HF工藝流程見圖1。
實驗中使用的原輔材料及其純度和用途如表1所示[3]。
實驗中所用工業(yè)級設備及作用如表2所示。
圖1 六氟化鎢生產去除HF工藝流程Fig 1 Flowsheetof the removal of hydrogen fluoride from tungsten hexafluoride
表1 實驗中使用的原輔材料Tab 1 Raw and auxiliarymaterials used in the experiment
1.4.1 物理法
相關物質的熔點及沸點見表3[2]。
電解制氟的電解質(KF·3HF)具有隨溫度的升高HF揮發(fā)性越大的特點,控制合適的溫度,減少氟氣中HF的夾帶;球狀氟化鈉對氟氣中的HF有特殊吸附性,截留其中的HF;HF的熔點比F2高136.2℃,在較低的溫度下使HF凝固,而純化F2進入氟化系統(tǒng)氟化;WF6的沸點與HF相差很小,而WF6的熔點比HF高85.7℃,當WF6呈固化狀態(tài)時,HF的飽和蒸汽壓較大,抽真空而除去HF;在精餾提純時,利用HF的揮發(fā)速度大于WF6的揮發(fā)速度,通過分段收集的方式而有效去除HF。
表2 實驗中使用的裝置設備及其作用Tab 2 Devices used in the experimentand its function
表3 物質的熔點及沸點Tab 3 Melting and boiling point of some compounds
1.4.2 化學法
WCl6在一定的溫度下與WF6中的HF發(fā)生置換反應,產生的HCl在低溫時抽真空排除。其反應方程式如下:
2.1.1 電解綜合因素的控制
工業(yè)氟氣是合成WF6的重要原料,采用中溫電解槽,電解電流為4 kA的工藝制氟,其反應過程如下:
2KF·3HF→2KHF2+2H2↑+F2↑。
在制氟過程中,氟氣夾帶少量的HF,由于電解質所含的HF的揮發(fā)程度取決于電解槽的槽溫及HF的加料速度、加料均勻性。電解時部分電能轉化為熱能,當電流越大時,電解槽溫度也越高,電解質所含的HF揮發(fā)也越嚴重,經多次實驗,選3.5 kA的電解電流、槽溫控制在90~95℃為宜。
由于HF的溶解是一個靜態(tài)吸收過程,HF的加料速度越快,HF的局部含量過高,造成揮發(fā)越嚴重,若加料速度不勻將造成HF揮發(fā)的波動,因此3.5 kA電解電流時均勻加料質量流量為2.5~3 kg/h,以維持電解槽內電解質含量的一致性。
2.1.2 氟化鈉吸附氟化氫
經電解產生的氟氣含有質量分數(shù)分別為0.2%的CF4、4.5%的HF,利用球狀氟化鈉對HF吸附的特殊性而除去氟氣中的HF。實驗表明,當溫度為80~120℃時,NaF和HF反應生成氟氫化鈉具有最佳反應效率,可去除HF。反應式如下:
NaF吸附HF后形成NaHF2,當吸附到一定程度后達到飽和,此時F2中HF的質量分數(shù)平均下降至0.5%,去除率達到88.89%。吸附HF的球狀氟化鈉在400℃時NaHF2發(fā)生分解反應析出HF,采用高純氮氣持續(xù)吹掃2~3 h進行解析,尾氣進入堿吸收系統(tǒng)回收,可實現(xiàn)球狀氟化鈉的重復利用,其反應式如下:
F2與鎢粉在氟化爐反應合成制取WF6,初級WF6中的HF含量大多取決于氟氣中的HF含量,因此必須在氟氣進入氟化爐前將HF除去。由于HF的熔點比F2高136.2℃,故設計一個立式列管式的冷凍裝置,利用液氮汽化吸熱原理使HF迅速從氣態(tài)轉化為固態(tài)并依附于裝置的內表面,從而與F2分離。表4為氟化氫在不同溫度下的飽和蒸汽壓[4]。
表4 氟化氫在不同溫度下的飽和蒸汽壓Tab 4 The saturated vapor pressure of hydrogen fluoride at different temperatures
從表4可知,溫度越低,HF的飽和蒸汽壓越低,HF去除效果越好。但溫度不能低于F2的沸點,否則F2被液化會影響合成反應的正常進行。
合成反應在常壓下進行,HF在-180℃時的飽和蒸汽壓為2.67 Pa,此時F2中的HF極限質量分數(shù)約為26.7×10-6。由于氟化過程3體積的F2會轉變?yōu)?體積的WF6,因此氟化反應后WF6中HF的含量會比F2中的HF含量升高3倍,質量分數(shù)達80×10-6,這是理論上采用此工藝可達到的最好水平。
但是由于過程控制的不穩(wěn)定性,一般選擇在-170~-160℃冷凍為宜,對應初級WF6中HF的理論質量分數(shù)為0.14×10-3~0.20×10-3。經檢測,WF6中HF的實際含量在0.220×10-3~0.380×10-3。
實驗操作步驟:
1)取凈重20 kg,不同HF含量的WF6產品作為實驗原料,實驗前分析檢測HF含量,檢測完成后原料瓶稱量。
2)將原料瓶用干冰冷凍60min。使WF6產品固化并充高純氮氣,用專用的加料裝置稱取過量3倍的WCl6固體物,稱樣或裝取過程要迅速,防止試劑揮發(fā)或受潮。
3)對鋼瓶進行水浴加熱,控制反應溫度為60℃。每隔0.5 h將原料瓶搖勻10個回合以加速反應。持續(xù)反應24 h。
4)反應結束后,對原料瓶用干冰冷凍30min,然后抽真空10min,再加熱3 h至40~50℃,之后再冷凍、抽真空,如此反復3次后檢測原料瓶中HF含量,稱量。
5)分析檢測條件:原料瓶溫度40℃,持續(xù)穩(wěn)定3 h。
表5為傅里葉紅外光譜儀檢測WF6中HF含量結果。
表5 傅里葉紅外光譜儀檢測結果Tab 5 Analysis results of tungsten hexafluoride by FTIR
從表5可知,WCl6對WF6中HF的去除效果可達94%以上。但是由于WCl6易潮解、吸水變質、劇毒,反應過程操作較繁瑣,較適用于實驗室,目前還難以在工業(yè)上得到應用。
初 級WF6中 還 含 有 微 量 雜 質 如O2、N2、CO、CO2、Ar、CF4、SF6、HF等。這些雜質的存在會嚴重影響WF6的使用性能,因此必須進行提純,尤其必須對較難去除的HF進行脫除。WF6與各雜質組分沸點不同,在同一溫度下的飽和蒸汽壓也不同,利用這一特性可實現(xiàn)WF6與雜質氣體分離。WF6的初步提純選擇是在-25℃條件下進行固化,再利用真空系統(tǒng)對固化后的WF6進行除去輕組分雜質,通過5~8次固化、抽真空循環(huán)處理,可去除大量的氟化氫雜質。
2.4.1 排輕溫度確定
利用真空泵對精餾系統(tǒng)進行抽真空排輕,目的是為了去除HF和雜質氣體,由于HF沸點和WF6比較接近,為了提高WF6的回收率,減少排輕損失,所以冷凍溫度的選擇尤為重要。圖2是不同溫度下實測所得HF和WF6飽和蒸汽壓曲線。
圖2 不同溫度HF和WF6飽和蒸汽壓曲線Fig 2 The saturated vapor pressure curve of HF and WF6 at different temperatures
由圖2可知,0℃以上WF6的飽和蒸汽壓要高于氟化氫飽和蒸汽壓,所以不適合排輕;在-40℃時2種介質的飽和蒸汽壓也較為接近,只有在-15~-30℃內差別較大,考慮到能耗和排輕效果以及其他因素,所以目前工藝確定的適宜冷凍溫度為-15~-30℃,以溫度-25℃為佳。
2.4.2 排輕次數(shù)
以大量實驗總結為基礎,選擇排輕處理的工藝參數(shù)如下:投料量500 kg,精餾釜容積0.5 m3;真空系統(tǒng)的極限真空度10 Pa,真空泵排氣體積流量230 m3/h;冷凍固化溫度-25℃,排輕時間2.5 h。
按照排輕處理的工藝條件排輕,然后對精餾釜升溫至30℃,用Nicolet IS10型傅里葉變換紅外光譜儀檢測WF6氣相中的HF含量,結束后又進入第3輪的冷凍,圖3為排輕次數(shù)與氟化氫含量的關系。
圖3 精餾的WF6產品中HF含量與排輕次數(shù)的關系Fig 3 Relationship between times of removing HF and HF content in WF6
圖3表明,排輕初期的前3次,HF含量的下降速度較快,排輕的后期(第4次開始)HF含量的下降速度趨緩。由于每次WF6的損耗為3.5 kg,排輕次數(shù)增加,WF6產品損耗也會增加,故一般情況排輕次數(shù)以6次為宜。此時,產品WF6的HF的質量分數(shù)會下降至0.1×10-3以下,通過排輕WF6的HF含量會下降96%。
通過排輕將HF的質量分數(shù)降至0.1×10-3以下時,精餾釜加熱穩(wěn)定在30℃,可開始精餾,收集餾分至前餾罐。收集初始,體積流量500 mL/min,每隔0.5 h提高500mL/min,直至3 000 mL/min穩(wěn)定后,開始分階段檢測HF含量。某批精餾前期HF含量變化趨勢如表6所示。
表6 精餾初期HF含量變化趨勢Tab 6 Trend of HF content in the early batch distillation
在精餾體積流量保持3 L/min不變的情況下,精餾后期在線檢測HF的質量分數(shù)最低降至2.65×10-6,總時長為226 h。由表6可知,精餾開始的前5 h(前段),HF氣體的揮發(fā)速度大于5 h之后的揮發(fā)速度,而且前5 h的收集量僅占總收集量的2.2%,此部分低純度產品單獨存放,并再次返回精餾的排輕階段,高純產品集中存放作為產品灌裝,裝瓶后檢測HF的質量分數(shù)均小于5×10-6,滿足高純WF6產品中HF含量的質量要求。
由于WF6的沸點與HF差異很小,常規(guī)條件下難以有效分離,但通過物理法和化學法仍然可以將HF從WF6除去,使WF6產品中HF的質量分數(shù)滿足大于99.999%的要求。
1)選擇電解制氟的電解電流3.5 kA,控制電解質的溫度及合理的HF的加料質量流量為2.5~3 kg/h,可有效抑制氟氣中的HF含量。
2)通過球狀氟化鈉對HF的吸附特性,使F2中的HF的質量分數(shù)平均從4.5%下降至0.5%,去除率達到88.89%。
3)利用HF的熔點遠高于F2的熔點,在-170~-160℃的冷凍溫度下,使HF固化而與F2分離,WF6中HF的質量分數(shù)在0.22×10-3~0.38×10-3。
4)在60℃條件下,WCl6與WF6中的HF發(fā)生反應,從而有效地去除WF6中的HF,去除率達94%以上,工業(yè)化推廣有待進一步優(yōu)化。
5)利用WF6的熔點比HF高85.7℃,在低溫-25℃時將WF6固化,密閉條件下抽真空將HF除去,通過6次排輕,HF含量下降了96%。
6)精餾過程中,利用HF的揮發(fā)速度比WF6大的特點,精餾的前段收集高含量HF的WF6僅占2.2%,重新返回排輕步驟處理,從而達到提純的目的。
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