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        SiB6-MoSi2復(fù)合涂層顯微結(jié)構(gòu)及抗氧化性能的研究

        2014-06-27 03:48:12黃劍鋒張永亮曹麗云李翠艷歐陽海波張博燁
        關(guān)鍵詞:裂紋復(fù)合材料

        黃劍鋒, 張永亮, 曹麗云, 李翠艷,歐陽海波, 郝 巍, 張博燁

        (1.陜西科技大學(xué) 材料科學(xué)與工程學(xué)院, 陜西 西安 710021; 2.西北工業(yè)大學(xué) 凝固技術(shù)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室, 陜西 西安 710072)

        0 引言

        碳/碳(C/C)復(fù)合材料不僅具有碳材料具有的很好的熱性能,如低熱膨脹系數(shù)、高熱導(dǎo)率、高氣化溫度和良好的抗熱震性能,而且具有優(yōu)異的高溫力學(xué)性能,如高強(qiáng)度、高模量、良好的斷裂韌性和耐磨性能,并且其強(qiáng)度隨溫度的增加不降反升,因此它已廣泛應(yīng)用于宇航航空、國(guó)防工業(yè)以及許多民用工業(yè)領(lǐng)域,被認(rèn)為是最有發(fā)展前途的高技術(shù)新材料之一.但是,C/C復(fù)合材料的一個(gè)致命弱點(diǎn)是當(dāng)溫度高于723 K的有氧氣氛下會(huì)發(fā)生氧化,從而大大地限制了C/C復(fù)合材料在高溫下的應(yīng)用[1,2].因此對(duì)其進(jìn)行高溫抗氧化防護(hù)對(duì)其高溫應(yīng)用具有重要意義.在C/C復(fù)合材料表面制備高溫抗氧化涂層被認(rèn)為是解決其氧化問題的最有效途徑之一[3].

        SiC涂層由于與C/C復(fù)合材料的物理、化學(xué)相容性好而普遍作為過渡層使用,但是單一的SiC涂層不能對(duì)C/C基體提供有效的保護(hù),其原因是很難消除SiC涂層與C/C復(fù)合材料基體熱膨脹系數(shù)不匹配所形成的裂紋缺[4].MoSi2因?yàn)榫哂泻芨叩娜埸c(diǎn)(2303 K),抗熱震以及優(yōu)良的高溫抗氧化性能,而且能在SiC內(nèi)涂層上很好的鋪展開來而不脫落,能夠封填裂紋,因而成為了外涂層的首選材料之一[5].SiB6具有較高的熔點(diǎn)(2 503 K)和很好的抗氧化性能,在溫度超過823 K以后會(huì)形成硼硅酸鹽玻璃相,這種玻璃相具有很好的抗氧化性能,并且在高溫下能夠愈合封填涂層產(chǎn)生的裂紋等缺陷[6].因此MoSi2和SiB6的這些特性使得兩者作為高溫?zé)嵴?熱防護(hù)涂層材料具有良好的應(yīng)用前景.

        本研究采用脈沖電弧放電法[7]在C/C-SiC基材表面制備了SiB6-MoSi2復(fù)合抗氧化涂層.脈沖電弧放電法是一種新的制備涂層的方法,它是在水熱電泳沉積法的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種新方法,水熱電泳沉積法[8,9]制備的涂層結(jié)合力較弱,在一定程度上對(duì)抗氧化不利.雙脈沖電泳沉積法[10-12]制備的合金涂層比較多,但是很少被報(bào)道過制備抗氧化涂層.而脈沖電弧放電法結(jié)合了水熱法和脈沖電沉積法的優(yōu)點(diǎn),將脈沖技術(shù)和電弧放電結(jié)合從而在低溫下能夠制備出一種致密的涂層.黃劍鋒等[7,13]采用脈沖電弧放電法成功的制備出AlPO4外涂層.本文研究了SiB6和MoSi2不同晶相組成(m[MoSi2]/m[SiB6]=Cp)對(duì)SiB6-MoSi2涂層顯微結(jié)構(gòu)及抗氧化性能的影響.

        1 實(shí)驗(yàn)部分

        1.1 復(fù)合涂層的制備

        采用密度為1.72 g/cm3的某型飛機(jī)剎車盤用C/C復(fù)合材料,試樣尺寸為10 mm×10 mm×10 mm,分別用300#和600#的SiC砂紙打磨去尖角并拋光,再在無水乙醇中超聲清洗40 min,然后置于373 K烘箱中干燥2 h得到C/C基體.采用包埋法在C/C基體表面制備SiC內(nèi)涂層,其具體制備工藝參照文獻(xiàn)[1].

        采用脈沖電弧放電法制備SiB6-MoSi2外涂層,其具體操作如下:首先,分別稱取粒徑為1μm的SiB6和MoSi2粉體,晶相組成Cp控制在1∶2~1∶5之間,將其懸浮于170 mL異丙醇中,配置成濃度Cg=30 g/L的懸浮液.其次,加入0.51 g碘(碘濃度CI=3 g/L),超聲震蕩40 min,再磁力攪拌20 h.再次,將此懸浮液轉(zhuǎn)移到水熱釜中,水熱溫度T=373 K,沉積電壓U=450 V,沉積時(shí)間t=30 min,脈沖占空比γ=50 %,脈沖頻率f=2 000 Hz,在C/C-SiC基體表面上制備SiB6-MoSi2外涂層,其具體制備裝置參照文獻(xiàn)[7].最后,沉積結(jié)束后,取出試樣,在333 K下干燥4 h,即得到SiB6-MoSi2外涂層的試樣(C/C-SiC/SiB6-MoSi2).

        1.2 涂層的表征及抗氧化性能測(cè)試

        采用日本理學(xué)Rigaku D/max-3C型X射線衍射(X-ray diffraction,XRD)儀分析涂層表面的晶相結(jié)構(gòu).采用JEOL JSM-6390A型掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope, SEM)觀察涂層的表面和斷面形貌.采用Sartorius TE124S型萬分之一數(shù)顯電子分析天平稱量試樣質(zhì)量,按氧化質(zhì)量損失率和失重速率來評(píng)價(jià)涂層抗氧化能力.

        (1)

        (2)

        (3)

        m0是試樣的初始重量,單位是g;mt是在高溫下經(jīng)過一定時(shí)間氧化后的試樣的質(zhì)量,單位是g;t是氧化時(shí)間,單位是h;S是試樣的表面積,單位是cm2;ΔW%是失重百分比;ΔW是單位面積失重,單位是g·m-2;vOxidation是失重速率,單位是g·m-2·h-1.

        2 結(jié)果與討論

        2.1 SiB6-MoSi2外涂層的相組成

        圖1為不同晶相組成(Cp=1∶2~1∶5)下得到的SiB6-MoSi2復(fù)合外涂層的X衍射圖譜(CI=3 g/L,T=373 K,U=450 V,t=30 min,Cg=20 g/L,γ=50%,f=2 000 Hz).由圖可知,在不同的涂層晶相組成范圍內(nèi),復(fù)合涂層的XRD圖譜均出現(xiàn)了SiB6和MoSi2的晶相衍射峰,沒有其他物相的衍射峰出現(xiàn),說明得到的涂層中的成分與原始復(fù)相粉體的物相構(gòu)成是相對(duì)應(yīng)的.此外,外涂層中SiB6的衍射峰值強(qiáng)度隨著懸浮液中涂層的晶相配比從1∶2到1∶5的增加而增強(qiáng),這意味著外涂層中SiB6的含量的增加,結(jié)晶性能也逐漸增加.

        圖1 不同晶相組成(Cp=1∶2~1∶5)下制備 的SiB6-MoSi2復(fù)合外涂層的X衍射圖譜

        2.2 SiB6-MoSi2外涂層的顯微結(jié)構(gòu)

        圖2是SiB6和MoSi2粉體按照不同組成比制備的SiB6-MoSi2復(fù)相外涂層的表面SEM照片.從圖中可以看出,當(dāng)m[MoSi2]/m[SiB6]為1∶2和1∶3時(shí),外涂層表面顆粒間堆積較為疏松,表面不均勻,且存在一些較小的孔洞,并且有裂紋的存在(如圖2(a)所示).這可能是由于SiB6-MoSi2復(fù)相涂層中MoSi2的含量較多,而MoSi2熱膨脹系數(shù)(8.2×10-6/℃)[14]與SiC內(nèi)涂層的熱膨脹系數(shù)(4.0×10-6/℃)[14]的差異較大,從而產(chǎn)生了微裂紋和微孔等缺陷.隨著涂層中SiB6的含量的增加,涂層表面變得相對(duì)致密和均勻(如圖2(b)所示).當(dāng)m[MoSi2]/m[SiB6]=1∶4時(shí),涂層表面的致密性和均勻性達(dá)到最佳,涂層分布均勻(如圖2(c)所示).當(dāng)m[MoSi2]/m[SiB6]=1∶5時(shí),涂層的均勻性和致密性變得較差,結(jié)構(gòu)變得疏松(如圖2(d)所示),這可能與材料自身的物理化學(xué)相容性有關(guān).

        (a)1∶2 (b)1∶3 (c)1∶4 (d)1∶5圖2 不同晶相組成(Cp=1∶2~1∶5)下制備 的SiB6-MoSi2復(fù)合外涂層的表面SEM照片

        圖3是SiB6和MoSi2粉體按照不同組成比制備的SiB6-MoSi2復(fù)相外涂層的斷面SEM照片.從圖中可以看出,當(dāng)m[MoSi2]/m[SiB6]=1∶2時(shí),所制備的SiB6-MoSi2涂層和SiC內(nèi)涂層之間出現(xiàn)了明顯的裂紋,說明此時(shí)的內(nèi)外涂層結(jié)合力較差,并且SiB6-MoSi2復(fù)合外涂層當(dāng)中還存在貫穿性裂紋(如圖3(a)所示).隨著外涂層中SiB6含量的增加,內(nèi)外涂層界面處的裂紋逐漸變小,但是涂層仍然不夠致密(如圖3(b)所示).當(dāng)m[MoSi2]/m[SiB6]=1∶4時(shí),內(nèi)外涂層結(jié)合較好,涂層均勻而致密(如圖3(c)所示).當(dāng)繼續(xù)增加涂層組分中SiB6的含量,所制備的外涂層與SiC-C/C基體結(jié)合性有所下降,內(nèi)外涂層界面處有微裂紋(如圖3(d)所示),這和復(fù)合涂層表面的SEM形貌分析是相吻合的.

        (a)1∶2 (b)1∶3 (c)1∶4 (d)1∶5圖3 不同晶相組成(Cp=1∶2~1∶5)下制備 的SiB6-MoSi2復(fù)合外涂層的表面SEM照片

        圖4 SiB6-MoSi2復(fù)合外涂層的斷面 EDS線掃描照片

        圖4是根據(jù)圖3(c)作的SiB6-MoSi2/SiC復(fù)合涂層試樣的斷面EDS線掃描圖.圖中顯示了B、C、Si、Mo在SiB6-MoSi2/SiC-C/C試樣中沿著斷面的分布濃度.從元素線能譜分析圖中可以看出,整個(gè)試樣分為三個(gè)區(qū)域A、B和C.A部分為C/C復(fù)合材料;B部分是SiC內(nèi)涂層;C部分是SiB6-MoSi2復(fù)相外涂層厚度為200μm左右.這與前面的XRD分析和SEM分析是相一致的.

        2.3 SiB6-MoSi2涂層的抗氧化性能及氧化機(jī)理分析

        圖5是SiC-C/C試樣和不同晶相組成下制備的SiB6-MoSi2/SiC-C/C試樣在1 773 K下空氣中的靜態(tài)氧化失重曲線.從圖中可以看出,采用包埋法制備的SiC-C/C涂層試樣在1 773 K下氧化26 h后氧化失重百分率高達(dá)2.02 %,這說明單一的SiC涂層在高溫下不能長(zhǎng)時(shí)間有效保護(hù)C/C基體.而在SiC-C/C表面沉積了SiB6-MoSi2的復(fù)合涂層時(shí),C/C復(fù)合材料的高溫氧化保護(hù)能力明顯提高.當(dāng)晶相配比Cp為1∶2,1∶3和1∶5時(shí),其抗氧化性能亞于1∶4.可能是由于以下兩方面原因造成的.一方面,當(dāng)晶相配比不為1∶4時(shí),涂層表面不均勻且有微裂紋等缺陷(如圖2所示);且內(nèi)外涂層結(jié)合均不緊密,有貫穿性裂紋(如圖3所示).導(dǎo)致在抗氧化初期,由SiB6-MoSi2復(fù)合涂層氧化形成的硼硅酸鹽玻璃相[14,15],并不能及時(shí)有效地愈合這些微裂紋和缺陷,為氧氣提供了氧化通道,氧氣穿過外涂層,能夠快速擴(kuò)散進(jìn)入多孔的SiC內(nèi)涂層從而達(dá)到SiC內(nèi)涂層與基體的界面,致使涂層氧化失重速率較快.

        另一方面,當(dāng)Cp為1∶2和1∶3時(shí),MoSi2含量較多,而其的熱膨脹系數(shù)與內(nèi)涂層的熱膨脹系數(shù)相差較大.在室溫至1 773 K的循環(huán)抗氧化測(cè)試過程中,內(nèi)外涂層熱膨脹系數(shù)不匹配導(dǎo)致涂層開裂或者剝落[4,5,14],產(chǎn)生氧化通道,抗氧化能力顯著下降,失重增加,涂層失效.當(dāng)Cp為1∶5時(shí),SiB6含量較多,但由于其熔點(diǎn)過高,較短的時(shí)間內(nèi)難以形成具有自愈合性能的玻璃層[6],外涂層不能及時(shí)鋪展在SiC涂層表面;同時(shí)外涂層氧化生成的B2O3在高溫下?lián)]發(fā),造成孔洞等缺陷,也對(duì)抗氧化性能不利,導(dǎo)致涂層加速失效.

        當(dāng)m[MoSi2]/m[SiB6]=1∶4時(shí),所制備的SiB6-MoSi2/SiC-C/C試樣表現(xiàn)出優(yōu)異的抗氧化性能,在1 773 K下氧化156 h后失重百分率僅為2.12 %,這說明SiB6-MoSi2復(fù)合涂層具有很好的抗氧化性能.

        圖5 SiC-C/C試樣和不同晶相組成下制備的 SiB6-MoSi2/SiC-C/C試樣在1 773 K下空氣中 的靜態(tài)氧化失重曲線圖

        圖6 晶相組成m[MoSi2]/m[SiB6]=1∶4時(shí) 制備的SiB6-MoSi2/SiC-C/C試樣在1 773 K下 空氣中的靜態(tài)氧化失重曲線圖

        圖6是m[MoSi2]/m[SiB6]=1∶4時(shí)制備的SiB6-MoSi2/SiC-C/C試樣在1 773 K下空氣中的等溫氧化曲線.此氧化曲線可分為A、B、C三個(gè)階段.

        (a)28 h (b)102 h (c)156 h圖7 SiB6-MoSi2/SiC-C/C試樣在1 773 K下 氧化不同時(shí)間的表面SEM照片

        圖8 SiB6-MoSi2/SiC-C/C試樣在1 773 K下 氧化156 h后的斷面SEM照片

        在氧化初始階段A(0~28 h),SiB6-MoSi2/SiC-C/C試樣先增重后失重,此時(shí)試樣處于氧化調(diào)整期.如圖7(a)是經(jīng)過氧化28 h后的試樣涂層表面SEM照片,從圖中可以看出,此時(shí)涂層表面出現(xiàn)了熔融態(tài),但是還有部分顆粒沒有完全熔融.此階段內(nèi)的失重可能是氧氣通過介質(zhì)/SiB6-MoSi2界面向SiB6-MoSi2涂層內(nèi)部擴(kuò)散,SiB6和MoSi2部分分解為SiO2玻璃態(tài)熔體、氣相B2O3和MoO3(反應(yīng)4、5)[6,14,15],當(dāng)氧氣到達(dá)SiB6-MoSi2界面時(shí),與部分SiC反應(yīng)生成SiO,CO和CO2氣相(反應(yīng)6、7)[14,15],這些氣相的產(chǎn)生是造成反應(yīng)初期試樣增重(反應(yīng)7)和失重(反應(yīng)4、5、6、7)的原因.

        2SiB6(s)+11O2(g)→2SiO2(s)+6B2O3(s)

        (4)

        2MoSi2(s)+7O2(g)→4SiO2(s)+2MoO3(g)

        (5)

        SiC(s)+O2(g)→SiO(g)+CO(g)

        (6)

        SiC(s)+2O2(g)→SiO2(s)+CO2(g)

        (7)

        在氧化B階段(28~102 h),試樣失重較慢,失重速率維持在一個(gè)較低的水平.這說明在經(jīng)過氧化調(diào)整期后,隨著氧化時(shí)間的延長(zhǎng)可能逐漸形成了連續(xù)的硼硅酸鹽(SiO2、B2O3)玻璃層(反應(yīng)2、3、4、6),涂層表面變得光滑均勻(如圖7(b)所示).形成的玻璃層能很好地鋪展在SiC內(nèi)涂層表面形成保護(hù)層,并且這種玻璃層還具有優(yōu)良的阻氧能力和自愈合能力,使得C/C復(fù)合材料獲得較好的保護(hù)效果.在此階段內(nèi),由于SiO2氧滲透率較低,所以氧化緩慢,使試樣的失重穩(wěn)定在一個(gè)較低的數(shù)值.

        在氧化C階段(102~156 h),試樣失重呈直線增長(zhǎng),并且在氧化156 h后達(dá)到2.12 %.圖6是氧化156 h后試樣的表面SEM照片,可以看出,涂層表面出現(xiàn)很多的氧化孔洞.圖8是氧化166 h后的試樣的斷面SEM照片,可以看出涂層由原來的200μm減少到了80μm.這些氧化孔洞,可能是由于生成的氣相從涂層表面逸出留下的:隨著氧化時(shí)間的繼續(xù)延長(zhǎng),由于在SiC界面上生成的SiO、CO和CO2氣體大于大氣壓力,導(dǎo)致這些氣體通過玻璃層逸出,在表面破裂而形成微孔等缺陷(如圖7(c)所示).形成的玻璃層粘度較大,高溫流動(dòng)性差,短時(shí)間內(nèi)很難使這些微孔愈合.隨著時(shí)間的延長(zhǎng),玻璃層緩慢揮發(fā),導(dǎo)致孔隙數(shù)量進(jìn)一步增加,涂層的自愈合能力逐漸下降.氧氣通過涂層晶界或缺陷向涂層/基體界面的快速遷移,碳與氧發(fā)生氧化反應(yīng)[7](反應(yīng)8、9)使得C/C復(fù)合材料氧化,涂層的氧化質(zhì)量損失與時(shí)間呈線性迅速增長(zhǎng).

        C(s)+O2(g)→CO2(g)

        (8)

        2C(s)+O2(g)→2CO(g)

        (9)

        3 結(jié)論

        采用脈沖電弧放電法在SiC-C/C復(fù)合材料表面制備SiB6-MoSi2復(fù)合抗氧化涂層,當(dāng)m[MoSi2]/m[SiB6]為1∶2~1∶4時(shí),隨著含量的增加,外涂層的致密程度、均勻性和氧化保護(hù)能力也在提高.晶相組成過高(Cp=1∶5)時(shí),復(fù)合涂層中出現(xiàn)微裂紋等缺陷,此時(shí)涂層的氧化保護(hù)能力減弱.晶相組成m[MoSi2]/m[SiB6]=1∶4時(shí),制備的SiB6-MoSi2/SiC復(fù)合涂層具有較好的抗氧化性能,在1 773 K的空氣氣氛下氧化156 h后,失重率僅為2.12 %,相應(yīng)的氧化失重速率穩(wěn)定在0.02×10-2g·cm-2·h-1.經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的氧化,形成的硼硅酸鹽玻璃層揮發(fā)使得玻璃層變薄,氣相(CO、CO2)的逸出產(chǎn)生了氧化孔洞等缺陷不能被封填愈合,復(fù)合涂層抗氧化失效.

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