林 輝，肖雪夫，趙 靖，簡利民

（1.原子高科股份有限公司，北京 102413；2.中國原子能科學研究院 放射性計量測試部，北京 102413）

241Am低能光子源是同位素工業(yè)儀表中使用極為廣泛的放射源[1]，目前由于原料短缺、放射源使用限制多、辦理手續(xù)復雜、管理費用高等問題[2]，對使用241Am低能光子源的同位素工業(yè)儀表的發(fā)展造成了限制，因此，研制一種能譜與241Am低能光子源的相近、使用方便、不影響原有儀表設計、能替代241Am低能光子源的X射線機有著非常重要的意義[3]。與放射性同位素源相比，X射線機最大的優(yōu)點是X射線的強度和分布具有可調節(jié)性。另外，X射線機光路的幾何布置受限制小，可使用準直器、濾光片、狹縫等提高性能。X射線機與241Am低能光子源相比，其缺點是X射線譜是連續(xù)譜，用來替代 Am低能光子源，必須對連續(xù)譜進行單色化處理。本文利用濾光片法研制一種能替代241Am低能光子源的準單色X射線輸出裝置并對其應用進行測試。

1 實驗方法

參照241Am光子源的光子能量（59.5keV）、譜形和發(fā)射率（3.7×108Bq241Am光子源對應的光子發(fā)射率約為108s－1）[4]，根據蒙特卡羅模擬計算結果來設計加工X射線管，在X射線的出射方向安裝合適的準直器和濾光片，利用濾光片的吸收限進行濾波，除去不需要的譜線。參照241Am放射源的能譜半高寬，將濾波后的能譜半高寬小于20keV時獲得的準單色X射線用來替代241Am放射源。

2 實驗與結果討論

2.1 X射線機參數

應用SPELLMAN公司生產的可調高壓電源與自行設計委托加工的X射線管[5]、準直器、冷卻系統(tǒng)組裝成X射線輸出分體機，X射線管的參數列于表1。

表1 X射線管的參數Table 1 Parameters of X-ray tube

2.2 X射線連續(xù)譜實驗

X射線機在70kV高壓、0.1mA管電流、1.5m探測距離、60s測量時間條件下的連續(xù)譜示于圖1?？芍?，X射線機發(fā)射的X射線能譜是連續(xù)的，無明顯的峰位，欲得到明顯的峰位需對X射線機輸出的X射線進行單色化處理。

圖1 70kV高壓的連續(xù)譜Fig.1 Continuous spectrum of 70kV

2.3 準直器對X射線連續(xù)譜譜形和X射線強度的影響

由于241Am低能光子源是經屏蔽準直后到達探測器，而X射線管發(fā)射的X射線沿一定角度呈扇形發(fā)射，因此欲不改變原來的測量系統(tǒng)直接替代241Am低能光子源，就必須沿發(fā)射角度對X射線進行準直以減少本底信號，使用鉛制的不同規(guī)格準直器進行實驗，實驗結果示于圖2?？煽闯?，經準直器后的X射線連續(xù)譜可得到明顯的峰位，X射線的強度隨準直器的加長而減弱，峰區(qū)邊界能量主要集中在30～65keV之間。欲得到50～60keV之間的峰位能量，需對高能峰區(qū)（≥60keV）和低能峰區(qū)（≤50keV）部分的X射線進行過濾。

圖2 準直系統(tǒng)對X射線連續(xù)譜譜形和強度的影響Fig.2 Influence of collimator on spectrum and intensity of X-ray

2.4 濾光片的選擇

參照元素的K吸收限[1]，選擇鋁、鎳、銅和銀作為吸收低能（≤50keV）的濾光片，釓、鉭和鉑作為吸收高能（≥60keV）的濾光片進行實驗。實驗結果表明，濾光片按表2組合（高壓，70kV；管電流，0.1mA；探頭距離，1.5m；準直器，φ10mm×50mm；測量時間，60s）時，可得到與241Am低能光子源非常相近的準單色X射線（圖3）。

表2 混合濾光片對X射線譜形和強度的影響Table 2 Influence of combined filter on spectrum and intensity of X-ray

圖3 Ta-Ag、Pt-Ag混合濾光片及241 Am標準源譜Fig.3 Spectra of Ta-Ag，Pt-Ag and 241 Am standard source

2.5 管電流對X射線譜形和強度的影響

在高壓、濾光片、探頭距離和測量時間等參數固定的條件下，調節(jié)管電流，結果示于圖4（高壓，70kV；濾光片，Ta-Ag；探頭距離，1.5m；準直器，φ10mm×50mm；測量時間，60s）?？煽闯觯S管電流的增大，X射線譜的峰位能量逐漸變小、峰半高寬逐漸增大，X射線強度劇增，因此在適用能量范圍內可通過調節(jié)管電流來獲得不同強度的射線以代替不同活度的241Am低能光子源。

圖4 管電流對X射線譜形和強度的影響Fig.4 Influence of tube current on spectrum and intensity of X-ray

2.6 料位檢測應用實驗

用準單色X射線機替代1.11×109Bq的241Am放射源（φ10mm×5mm），通過PVC桶（內徑120mm、高50mm、壁厚5mm）進行靜態(tài)無損料位檢測實驗，實驗結果表明，準單色X射線機能進行料位測量并得到與241Am放射源相同的實驗結果（圖5）。

圖5 X射線料位測量實驗結果Fig.5 Experimental result of X-ray level indicator

3 結論

本文研究結果表明，自行研制的準單色X射線機能產生與241Am低能光子源的譜峰和譜形相近的準單色X射線，且在料位計上能替代241Am低能光子源。

[1]孫樹正.放射源的制備與應用[M].北京：原子能出版社，1982.

[2]國家環(huán)保總局核安全司.輻射安全與防護的法律法規(guī)選編[M].北京：原子能出版社，2006.

[3]楊福.應用核物理[M].長沙：湖南教育出版社，1994.

[4]中國核工業(yè)總公司.EJ／T 1067—1998 X射線熒光分析用镅-241源[S].北京：原子能出版社，1998.

[5]中華人民共和國國家發(fā)展和改革委員會.JB／T 6215—2004 工業(yè)用X射線管系列型譜[S].北京：機械工業(yè)出版社，2004.