楊 斌， 楊廣凌

(1.東莞辰達(dá)電器有限公司，廣東東莞 523160;2.華南理工大學(xué)，廣東廣州 510640)

0 引言

實(shí)驗(yàn)室國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC/ISO17025《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求》［1-2］的出現(xiàn)，為世界各國(guó)進(jìn)行檢測(cè)和校準(zhǔn)活動(dòng)提供了一個(gè)統(tǒng)一的平臺(tái)，對(duì)加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試結(jié)果國(guó)際互認(rèn)，加快世界貿(mào)易發(fā)展起到了積極作用［3-4］。作為世界上最有影響力的安規(guī)認(rèn)證和檢測(cè)機(jī)構(gòu)之一，美國(guó)UL實(shí)驗(yàn)室也發(fā)展了一套完整的產(chǎn)品認(rèn)證和體系評(píng)價(jià)系統(tǒng)。為了進(jìn)一步提升其全球競(jìng)爭(zhēng)力以及與世界各國(guó)實(shí)驗(yàn)室體系保持連貫性和一致性，UL提出了其對(duì)合作實(shí)驗(yàn)室的DAP計(jì)劃，更加詳細(xì)、更具操作性地規(guī)范了實(shí)驗(yàn)室的環(huán)境設(shè)施條件、人員資格條件、儀器設(shè)備要求、易耗品的控制、記錄和報(bào)告控制等各項(xiàng)控制要求。

UL的DAP(Data Acceptance Program)計(jì)劃，是因應(yīng)IEC/ISO導(dǎo)則65和IEC/ISO17025對(duì)實(shí)驗(yàn)室的要求而作出的相應(yīng)調(diào)整，其各項(xiàng)內(nèi)容已相繼于2009年1月1日前開(kāi)始生效執(zhí)行。DAP計(jì)劃取代了UL之前的CIP(Client Interactive Program)客戶互動(dòng)計(jì)劃，它直接影響了 CIP計(jì)劃中的WTDP(Witness Test Data Program)、CTDP(Client Test Data Program)、TPTDP(Third Party Test Data Program)和TCP(TotalCertification Program)四種模式，是CIP計(jì)劃的強(qiáng)化和拓展。

表1 UL DAP測(cè)試計(jì)劃的模式

1 UL DAP測(cè)試計(jì)劃

UL DAP測(cè)試計(jì)劃的四種模式內(nèi)容見(jiàn)表1。

2 UL DAP內(nèi)容重點(diǎn)介紹

UL DAP計(jì)劃要求其參與者基于IEC/ISO17025標(biāo)準(zhǔn)建立一套實(shí)驗(yàn)室運(yùn)作體系，內(nèi)容包括試驗(yàn)設(shè)備、環(huán)境設(shè)施、人員資格、試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)、試驗(yàn)程序、試驗(yàn)記錄和結(jié)果報(bào)告程序等。DAP關(guān)注的重點(diǎn)內(nèi)容，主要在于:

(1)環(huán)境設(shè)施條件。包括實(shí)驗(yàn)室環(huán)境條件、電源質(zhì)量要求等;

(2)儀器設(shè)備控制要求和量值溯源要求。包括儀器精度和儀器選擇、儀器計(jì)量要求、計(jì)量證書(shū)分析、實(shí)驗(yàn)室耗材管理、熱電偶線的接受條件等;

(3)實(shí)驗(yàn)室運(yùn)作管理要求。試驗(yàn)記錄試驗(yàn)報(bào)告及相關(guān)要求、實(shí)驗(yàn)室體系審核要求、申訴程序等。

3 UL DAP內(nèi)容條款解析

3.1 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境條件

實(shí)驗(yàn)室環(huán)境條件對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性有直接的影響，試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)依照試驗(yàn)要求監(jiān)控和記錄實(shí)驗(yàn)室環(huán)境條件，試驗(yàn)應(yīng)在試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)或試驗(yàn)程序規(guī)定的受控環(huán)境條件下進(jìn)行，具體參數(shù)見(jiàn)表2。

表2 試驗(yàn)環(huán)境條件及參數(shù)［5］

(1)溫度注解。①環(huán)境溫度測(cè)量應(yīng)用校驗(yàn)過(guò)的指示器如熱電偶測(cè)溫儀或水銀溫度計(jì)等來(lái)進(jìn)行;②用熱電偶測(cè)環(huán)境溫度時(shí)，由于有空氣流動(dòng)，熱電偶尖處的溫度讀數(shù)會(huì)有波動(dòng)，使熱電偶尖附著一熱容體可以減少瞬時(shí)波動(dòng)(如在3 min內(nèi))，該熱容體可以是一枚硬幣或一玻璃管礦物油，可予以懸掛以減少接觸;③環(huán)境溫度熱電偶應(yīng)離開(kāi)被測(cè)樣品以避免熱效應(yīng)并給出不實(shí)讀數(shù);④可接受校驗(yàn)過(guò)的水銀溫度計(jì)，它通常具有足夠的質(zhì)量以防止溫度讀數(shù)瞬時(shí)波動(dòng)。

(2)濕度注解。① 可以用濕度計(jì)或干濕球溫度計(jì)及濕度對(duì)照表來(lái)測(cè)量濕度;②可能情況下，最好在與被測(cè)樣品距地面等高處測(cè)量，在同一點(diǎn)更好，特別是在環(huán)境箱或環(huán)境房?jī)?nèi)進(jìn)行測(cè)試時(shí)。

(3)大氣壓力注解。①要求有大氣壓力值時(shí)，建議氣壓表位于測(cè)試區(qū)域;② 若不可行，也可由氣象等部門(mén)獲取大氣壓讀數(shù)值。多數(shù)情況下該氣象資料已經(jīng)足夠，但某些關(guān)鍵測(cè)試條件會(huì)要求使用氣壓表，因?yàn)榫植看髽强刂骗h(huán)境或自然變化會(huì)使氣象站數(shù)據(jù)與實(shí)際測(cè)試地點(diǎn)的不同。

(4)其他潛在環(huán)境影響因素。必要時(shí)，要對(duì)其他相關(guān)環(huán)境條件進(jìn)行監(jiān)察和記錄，如:① 電子放電或磁場(chǎng);② 測(cè)量設(shè)備電力供應(yīng);③ 空氣流動(dòng);④ 振動(dòng);⑤光照和反射;⑥生物污染;⑦灰塵。

3.2 實(shí)驗(yàn)室電源質(zhì)量要求

對(duì)于WTDP，由UL人員審核電源質(zhì)量分析報(bào)告，并在DATASHEET中確認(rèn)是否符合要求。對(duì)于其他DAP計(jì)劃(CTDP/TCP/TPTDP等)，由客戶分類及保存電源質(zhì)量分析報(bào)告和其他相關(guān)文件。

3.2.1 電源質(zhì)量分析分類

(1)常規(guī)電壓電源質(zhì)量分析。包括120 V，60 Hz，20 A/230 V，50 Hz，16 A/240 V，60 Hz，15 A;如需降低電路參數(shù)(如電流)以保持電源質(zhì)量，則該電路限值應(yīng)清晰標(biāo)明以便測(cè)試人員使用。用于測(cè)試的電源容量取決于廠商輸出標(biāo)稱值，分支電路容量取決于分支電路保護(hù)裝置的標(biāo)稱值。應(yīng)每年至少一次于測(cè)試連接處進(jìn)行電源質(zhì)量分析。

(2)其他電壓電源質(zhì)量分析。電壓或電流超過(guò)上述值的電源，應(yīng)在測(cè)試時(shí)進(jìn)行監(jiān)測(cè)，或每年至少一次進(jìn)行驗(yàn)證，以確保符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求。如標(biāo)準(zhǔn)未作闡述，UL認(rèn)為仍有必要進(jìn)行電源質(zhì)量驗(yàn)證以保持測(cè)試質(zhì)量。電路負(fù)載可以是保護(hù)裝置最大標(biāo)稱容量值或測(cè)試樣品對(duì)應(yīng)負(fù)載值，如果使用測(cè)試樣品負(fù)載且其值小于保護(hù)裝置標(biāo)稱值，則該測(cè)試電路應(yīng)標(biāo)明限定使用范圍。

3.2.2 要求客戶配合提供

(1)測(cè)試電路接線圖，由測(cè)試點(diǎn)到提供電源的第一個(gè)變壓器。(2)測(cè)試區(qū)域平面圖，標(biāo)明電源質(zhì)量分析測(cè)試點(diǎn)。(3)已校驗(yàn)儀器設(shè)備，包括電壓表、電流表、總體諧波分量分析儀。

(4)電阻性負(fù)載，能夠帶載至要求電流。

3.2.3 電源質(zhì)量分析內(nèi)容［6］

(1)試驗(yàn)電路獨(dú)立性。如果接線圖分析表明試驗(yàn)電路與其他頻繁變動(dòng)負(fù)載(如空調(diào)、加熱裝置、制造裝置等)共用同一電源時(shí)，其變動(dòng)對(duì)試驗(yàn)電路的影響應(yīng)予以確定。

試驗(yàn)方法:① 調(diào)整試驗(yàn)周期至頻繁啟動(dòng)負(fù)載循環(huán)，可重復(fù)多次以確定其在幅度和周期上對(duì)試驗(yàn)電路的影響;②在空調(diào)、加熱裝置、制造裝置、照明系統(tǒng)等日常工作條件下，在每個(gè)代表性試驗(yàn)地點(diǎn)測(cè)量試驗(yàn)電路的開(kāi)路電壓;③對(duì)上述裝置是否影響試驗(yàn)電路有懷疑時(shí)，可以關(guān)閉這些裝置再做測(cè)量，不可關(guān)閉時(shí)應(yīng)作備注。判定條件:頻繁變動(dòng)負(fù)載條件下的測(cè)量電壓與正常條件下的偏離不可超過(guò)±3%(或依測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求)。

(2)L/N/G電壓測(cè)量。①試驗(yàn)方法。在每個(gè)代表性試驗(yàn)電源輸出插座或電源連接點(diǎn)，測(cè)量L-G，NG，L-N間開(kāi)路電壓。注:此試驗(yàn)不適用于無(wú)接地的delta系統(tǒng)，I-T，TN-C或T-T系統(tǒng)。② 判定條件:L-G間開(kāi)路電壓與L-N間相同，N-G間開(kāi)路電壓 ＜1V;注1:若L-G間開(kāi)路電壓與L-N間不同，該地線/零線連接可能需要維護(hù)，改善后再測(cè)試;注2:若N-G間開(kāi)路電壓≥1V，則接地回路阻抗太高，改善后再測(cè)試。

(3)電氣調(diào)節(jié)/電路容量試驗(yàn)。手動(dòng)調(diào)壓器(自耦式或滑線式)電壓調(diào)節(jié)方式的使用;對(duì)某些測(cè)試的整個(gè)過(guò)程，在連接負(fù)載后，可以通過(guò)調(diào)節(jié)自耦調(diào)壓器或滑線調(diào)壓器來(lái)穩(wěn)壓。

因動(dòng)態(tài)負(fù)載引起電壓變化或惡劣輸電線品質(zhì)影響電壓穩(wěn)定性時(shí)，不可手動(dòng)調(diào)節(jié)變壓器以作補(bǔ)償。手動(dòng)調(diào)壓只用于長(zhǎng)期電壓變化補(bǔ)償，不預(yù)作動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)。

手動(dòng)調(diào)壓最小間隔為15 min。

若電壓調(diào)節(jié)需在15 min內(nèi)進(jìn)行，其動(dòng)態(tài)響應(yīng)應(yīng)通過(guò)更換電源或使用自動(dòng)調(diào)壓裝置來(lái)改善。

電壓調(diào)節(jié)/電路容量試驗(yàn)。

試驗(yàn)方法:① 空載電壓穩(wěn)定性。在代表性測(cè)試點(diǎn)，調(diào)節(jié)開(kāi)路電壓至標(biāo)定值并予以記錄，以15min間隔記錄1 h，其間電壓不可再作調(diào)節(jié)。② 滿載電壓穩(wěn)定性。在該測(cè)試點(diǎn)連接負(fù)載，調(diào)整電壓至標(biāo)定值且負(fù)載為該點(diǎn)標(biāo)稱輸出電流。若使用了自耦/滑線調(diào)壓器，可按規(guī)定進(jìn)行監(jiān)控和調(diào)整直到熱穩(wěn)定。此后開(kāi)始測(cè)量電壓，以15 min間隔記錄1 h。需要手動(dòng)調(diào)節(jié)時(shí)，記錄每15 min電壓調(diào)節(jié)值。

判定條件:① 空載時(shí)，(Vocmax-Vnom)/Vnom和(Vnom-Vocmin)/Vnom≤±3%(或測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)限值);② 滿載時(shí)，(Vloadedmax-Vnom)/Vnom和(Vnom-Vloadedmin)/Vnom≤±3%(或測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)限值)。

帶載頻率穩(wěn)定性測(cè)試

試驗(yàn)方法(注:多數(shù)情況下，工業(yè)化國(guó)家的電網(wǎng)頻率穩(wěn)定性可以接受):①空載頻率。在代表性測(cè)試點(diǎn)，測(cè)量開(kāi)路(正弦)電壓的頻率值并予以記錄。②滿載頻率。在該測(cè)試點(diǎn)連接負(fù)載，調(diào)整電壓至標(biāo)定值且負(fù)載為該點(diǎn)標(biāo)稱輸出電流。若使用了自耦/滑線調(diào)壓器，可按規(guī)定進(jìn)行監(jiān)控和調(diào)整直到熱穩(wěn)定。此后開(kāi)始測(cè)量頻率(如用頻率計(jì)或示波器)，記錄起始和1 h后的頻率值。注:有些電源為230 V 50 Hz 10 A max，該電源可以使用但應(yīng)予記錄。

判定條件:滿載時(shí)，(Floadedmax-Fnom)/Fnom和(Fnom-Floadedmin)/Fnom≤±2%(或測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)限值)

總體諧波分量(THD)測(cè)試［7］(見(jiàn)表3)。

試驗(yàn)方法:①使用總體諧波分量分析儀，在代表性測(cè)試點(diǎn)測(cè)量開(kāi)路電壓的諧波分量。② 在該測(cè)試點(diǎn)連接標(biāo)稱負(fù)載，不必調(diào)整電壓。測(cè)量起始和1 h后的諧波分量。

注:有些電源為220 V 50 Hz 10 A max，該電源可以使用但應(yīng)予記錄。

判定條件:空載和滿載時(shí)THD值均 ≤±5%(或測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)限值)如各方同意，也可接受THD＞5%，相關(guān)意見(jiàn)要文件化，并維持測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求。

表3 總體諧波分量(THD)測(cè)試參數(shù)表

測(cè)試時(shí)應(yīng)注意:①電源分析測(cè)試點(diǎn)的選擇應(yīng)使其距離電源變壓器或轉(zhuǎn)換器最遠(yuǎn);②可能情況下應(yīng)首先進(jìn)行試驗(yàn)電路獨(dú)立性測(cè)試;③帶載頻率穩(wěn)定性測(cè)試針對(duì)使用頻率變換器的電源。

3.3 儀器精度和儀器選擇

儀器精度選擇的依據(jù)，源自以下四項(xiàng)要求:書(shū)面測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)或協(xié)議要求/表4默認(rèn)精度表/聯(lián)絡(luò)UL確定類似儀表精度/設(shè)備制造商或校驗(yàn)證書(shū)標(biāo)明精度。

儀器選擇的確認(rèn)，會(huì)在UL人員到訪前或到訪中進(jìn)行，不符合的儀表不能用于數(shù)據(jù)采集。

對(duì)WTDP，UL人員會(huì)在測(cè)試之前進(jìn)行儀器校驗(yàn)證書(shū)和其他相關(guān)文件的審核。

對(duì)其他DAP程序(CTDP/TCP/TPTDP等)，實(shí)驗(yàn)室要對(duì)相關(guān)測(cè)試儀器資料保存?zhèn)渌鳎捎秒娮踊驎?shū)面形式，保存期應(yīng)符合CTDP/TCP實(shí)驗(yàn)室協(xié)議(L-56)。①測(cè)量?jī)x器的精度誤差要求，是用于確保獲取數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和測(cè)試結(jié)果的重復(fù)性，該表適用于測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)或文件沒(méi)有對(duì)測(cè)試測(cè)量規(guī)格作詳細(xì)規(guī)定時(shí)。其精度要求通常為下述條件之一:CTL 251A儀器精度誤差限值表/上表未包括的儀表取其滿量程的(0.1%作為默認(rèn)值/儀器制造商規(guī)格要求［9］。② 測(cè)溫儀備注:熱電偶法測(cè)溫儀，其溫度指示應(yīng)符合相應(yīng)的由NIST接受的國(guó)際溫度標(biāo)尺所規(guī)定的熱電壓對(duì)照表。熱電阻法測(cè)溫儀，應(yīng)符合DIN43760、IEC751或BS1904規(guī)定的電阻-溫度對(duì)照表，并依據(jù)這些標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量。熱電偶的用法，應(yīng)符合 CTL OP-0108(http:∥www.iecee.org/ctl/operational/ctl-op-108-ed1.pdf)。熱電偶線的誤差應(yīng)符合限值，可依據(jù) CTL OP-0109(http:∥www.iecee.org/ctl/operational/ctl-op-109-ed1.pdf)。測(cè)溫儀應(yīng)符合測(cè)量?jī)x表基本應(yīng)用的精度要求，熱電偶校驗(yàn)誤差不包括在此表容差中。③稱重儀備注:重量基子最好采用不銹鋼材質(zhì);小于0.01lb(4.5 4 g)的基子應(yīng)采用不銹鋼、鉭、鎳鉻合金或其他不用表面防護(hù)處理就足夠抗腐蝕和氧化的材質(zhì);0.01lb(4.54 g)≤W＜10lb(4.54 kg)時(shí)，采用的材質(zhì)和加工方法應(yīng)可防止校驗(yàn)誤差及由于腐蝕和破損而引至的數(shù)據(jù)失效。

表4 實(shí)驗(yàn)室測(cè)量?jī)x器精度誤差限值表［8］

3.4 儀器計(jì)量要求(自校驗(yàn)及非認(rèn)可校驗(yàn)服務(wù)提供商校驗(yàn)要求)

儀器的計(jì)量對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)質(zhì)量和試驗(yàn)重復(fù)性有著直接影響，合格評(píng)定條件要求可能情況下追溯到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)際單位制。對(duì)于某些專業(yè)儀器或不存在合格校驗(yàn)服務(wù)時(shí)，DAP客戶若對(duì)其測(cè)試儀器進(jìn)行自行校驗(yàn)，或利用了非認(rèn)可校驗(yàn)服務(wù)提供商，該校驗(yàn)的要求和細(xì)則，可參見(jiàn) DAP– In-house calibration requirements(and use of Non-Accredited Calibration Service Providers)［10］。

3.5 計(jì)量證書(shū)分析

儀器的計(jì)量(包括計(jì)量標(biāo)準(zhǔn))應(yīng)可追溯至國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，計(jì)量服務(wù)提供商應(yīng)通過(guò)ISO17025認(rèn)可。

用于控制關(guān)鍵測(cè)試功能或獲取測(cè)試數(shù)據(jù)的所有測(cè)試測(cè)量?jī)x器都應(yīng)有計(jì)量證書(shū)，該證書(shū)應(yīng)包含ISO17025規(guī)定的各項(xiàng)信息(見(jiàn)表5)。

當(dāng)計(jì)量由非認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室完成時(shí):①若可以找到認(rèn)可計(jì)量實(shí)驗(yàn)室，則客戶需分析闡述使用非認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室的適當(dāng)性。參見(jiàn)附錄B 00-OP-C0038內(nèi)部校驗(yàn)要求(非認(rèn)可計(jì)量服務(wù)提供商的使用)。②若找不到認(rèn)可計(jì)量實(shí)驗(yàn)室，則客戶需確保計(jì)量實(shí)驗(yàn)室通過(guò)評(píng)審(文件審核和現(xiàn)場(chǎng)訪問(wèn))以獲取追溯性，其校驗(yàn)報(bào)告應(yīng)等同于認(rèn)可校驗(yàn)報(bào)告，提供校驗(yàn)數(shù)據(jù)和測(cè)量不確定度。③若計(jì)量由原始儀器廠家(OEM)進(jìn)行，則客戶需表明只有OEM可以進(jìn)行和/或沒(méi)有適用的認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室，同時(shí)應(yīng)符合前一條款以確?？勺匪葜羾?guó)家標(biāo)準(zhǔn)。

表5 計(jì)量證書(shū)包含信息［11］

對(duì)于WTDP實(shí)驗(yàn)室，UL會(huì)要求提交所用儀器證書(shū)和相關(guān)文件并置于UL文件保存系統(tǒng)中;對(duì)于其他DAP程序(CTDP/TCP/TPTDP等)，客戶可自行檢索和保存此類文件(可用電子檔)，保存期限與L-56協(xié)議一致。

應(yīng)有程序和記錄規(guī)定校驗(yàn)證書(shū)何時(shí)失效以及重新校驗(yàn)如何確認(rèn)。

注:對(duì)于內(nèi)部客戶，只要是準(zhǔn)確清晰明確客觀的，ISO17025允許使用內(nèi)部簡(jiǎn)化報(bào)告形式，但相關(guān)信息應(yīng)予以保留并可于需要時(shí)提交，保存期限按‘證書(shū)、認(rèn)證表格和其他文件’要求或L-56協(xié)議要求。

以下三種標(biāo)識(shí)可以接受:ILAC MRA–國(guó)際實(shí)驗(yàn)室評(píng)定組織;APLAC MRA–亞太實(shí)驗(yàn)室評(píng)定委員會(huì);EAC MRA–歐洲評(píng)定組織。

3.6 實(shí)驗(yàn)室耗材管理

對(duì)于實(shí)驗(yàn)室關(guān)鍵耗材應(yīng)提供采購(gòu)、接收、驗(yàn)證和存儲(chǔ)等相關(guān)信息［12］:

(1)耗材采購(gòu)。確定材料失效日期/使用壽命;應(yīng)有文件化的程序規(guī)定需要特殊操作、存儲(chǔ)或處置的關(guān)鍵耗材;要求供應(yīng)商提供符合性證明(COC);采購(gòu)時(shí)完整地確定所需耗材以確保收到適當(dāng)?shù)牟牧稀?/p>

(2)耗材驗(yàn)證。收到后，檢查物料并審核相關(guān)證書(shū)等;驗(yàn)證“所得即所訂”:① 收到的物料與規(guī)格要求中的供應(yīng)商/廠家型號(hào)和描述一致;② 研究表明該物料滿足規(guī)格要求;若有疑問(wèn)，應(yīng)聯(lián)絡(luò)供應(yīng)商。

(3)耗材存儲(chǔ)。存儲(chǔ)的物料應(yīng)標(biāo)示以下信息:耗材ID標(biāo)識(shí)/物料描述和詳細(xì)規(guī)格(可能時(shí))/失效期/任何特殊的存儲(chǔ)條件;

對(duì)于WTDP實(shí)驗(yàn)室，UL會(huì)于測(cè)試前審核耗材COC和相關(guān)文件;對(duì)于其他 DAP程序(CTDP/TCP/TPTDP等)，客戶可自行檢索和保存此類文件(可用電子檔)，保存期限與L-56協(xié)議一致。

3.7 熱電偶線的接受條件

熱電偶的精度直接影響到測(cè)試數(shù)據(jù)質(zhì)量和重復(fù)性，其精度應(yīng)符合:① ASTM E230《標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格和熱電動(dòng)勢(shì)》中的特別限值表［13］或② ANSI MC96.1《測(cè)溫?zé)犭娕肌罚?4］或③ IEC60584-2或 JIS C 1602;《IEC誤差等級(jí) 1、2 或 3》［15］。

對(duì)于WTDP實(shí)驗(yàn)室，對(duì)熱電偶線及其加工確認(rèn)，以及供應(yīng)商預(yù)加工的熱電偶，UL會(huì)于測(cè)試前審核其COC和相關(guān)記錄;對(duì)于其他DAP程序(CTDP/TCP/TPTDP等)，對(duì)每卷熱電偶線或在用熱電偶，客戶可自行檢索和保存其證書(shū)和文件(可用電子檔)。

3.8 試驗(yàn)記錄、試驗(yàn)報(bào)告及相關(guān)要求

DAP客戶應(yīng)遵守?cái)?shù)據(jù)記錄和報(bào)告的相關(guān)要求，確保信息記錄細(xì)致準(zhǔn)確并描述充分，提供產(chǎn)品評(píng)價(jià)所需的所有信息和觀察現(xiàn)象。

3.9 實(shí)驗(yàn)室運(yùn)作體系整體審核要求

實(shí)驗(yàn)室的運(yùn)作體系，是按照IEC/ISO17025要求來(lái)建立和維持的，主要分為管理體系要求和技術(shù)要求，管理體系要求覆蓋了IEC/ISO9000的各項(xiàng)相關(guān)要求，技術(shù)要求則專門(mén)適用于檢測(cè)或校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室。

3.10 申訴程序

DAP參與者可用本程序?qū)L人員就標(biāo)準(zhǔn)要求適用性所作出的技術(shù)決定向UL(DAP@us.ul.com)進(jìn)行申訴，本程序不適用于產(chǎn)品證明。

4 結(jié)語(yǔ)

UL DAP測(cè)試計(jì)劃，為企業(yè)或第三方機(jī)構(gòu)對(duì)其產(chǎn)品獲得UL安全認(rèn)證，并快速推向北美市場(chǎng)，提供了一種簡(jiǎn)便、快捷和高效的途徑。UL品牌的全球市場(chǎng)美譽(yù)度，與企業(yè)或第三方機(jī)構(gòu)測(cè)試能力的靈活性和廣泛性的結(jié)合，為企業(yè)、社會(huì)、消費(fèi)者之間搭建了一個(gè)安全、可靠、便捷、高效的橋梁。建立和維持一個(gè)符合世界主流國(guó)家要求的實(shí)驗(yàn)室，是中國(guó)企業(yè)提高自身水平、融入世界經(jīng)濟(jì)、打破技術(shù)壁壘、搶占市場(chǎng)先機(jī)的重要環(huán)節(jié)［16］。而實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo)的關(guān)鍵因素，則是明確管理職責(zé)、優(yōu)化資源管理、提升產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)、保證持續(xù)改善等［17-19］。

［1］IEC/ISO17025，檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室的通用要求［S］.歐洲:國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，2005.

［2］CNAS-CL01，檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則［S］.中國(guó):CNAS，2006.

［3］中國(guó)實(shí)驗(yàn)室國(guó)家認(rèn)可委員會(huì).中國(guó)實(shí)驗(yàn)室注冊(cè)評(píng)審員培訓(xùn)教程［M］.北京:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社，2001 年.1-14.

［4］中國(guó)實(shí)驗(yàn)室國(guó)家認(rèn)可委員會(huì).實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可評(píng)審員培訓(xùn)教程［M］.北京:中國(guó)計(jì)量出版社，2003年.3-20.

［5］UL DAP 00-OP-C0035.Laboratory Ambient Conditions［S］.US:Underwriters Laboratory.2010，1-2.

［6］CNAS-CL11，檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則在電氣領(lǐng)域的應(yīng)用［S］.中國(guó):CNAS，2011，2-3.

［7］UL DAP 00-OP-C0036.電源質(zhì)量［S］.美國(guó):UL，2010，3-6.

［8］IECEE CTL決議DSH 251B.測(cè)量?jī)x器精度誤差限值表［S］.IECEE，WWW.IECEE.ORG/CTL.

［9］UL DAP 00-OP-C0034.Equipment Accuracy/Selection［S］.US:Underwriters Laboratory.2010，3-11.

［10］UL DAP 00-OP-C0038.Equipments – In-houseCalibration Requirements［S］.US:Underwriters Laboratory.2010，1-24.

［11］UL DAP 00-OP-C0032.Calibration Certificate Analysis［S］.US:Underwriters Laboratory.2010，1-2.

［12］ULDAP 00-OP-C0033.LaboratoryConsumables［S］.US:Underwriters Laboratory.2010，1-3.

［13］ASTM E230.標(biāo)準(zhǔn)化熱電偶用標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范和溫度-電動(dòng)勢(shì)圖表［S］.US:ASTM，2003.

［14］ANSI MC96.1.測(cè)溫?zé)犭娕迹跾］.US:ANSI，1982.

［15］IEC60584-2.IEC 誤差等級(jí)1、2 或3［S］.IECEE，1982.

［16］楊 斌，魏德仙.如何籌建符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)驗(yàn)室［J］.分析儀器，2010(3):70-74.

YANG Bin，WEI De-Xian.A Study on how to setup a test laboratory in conformity with international standard［J］. Analytical Instrumentation，2010(3):70-74.

［17］馮敏俠，莊中華.做好實(shí)驗(yàn)室建設(shè)規(guī)劃，促進(jìn)實(shí)驗(yàn)室建設(shè)發(fā)展［J］.實(shí)驗(yàn)室研究與探索，2012(8):423-426.

FENG Min-Xia，ZHUANG Zhong-Hua.Promoting the Development of the Laboratory with Elaborate Construction Planning［J］.Research and Exploration in Laboratory，2012(8):423-426.

［18］豐益中，陳 斌.電動(dòng)工具UL實(shí)驗(yàn)室的建設(shè)［J］.安全與電磁兼容，2007(3):38-39.

FENG Yi-Zhong，CHEN Bin.UL Laboratory Construction of Electric Motor-operated Tools［J］.Safety ＆ EMC，2007(3):38-39.

［19］姚世全.電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施指南［M］.北京:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社，1999.