據(jù)報(bào)道，NIST納米科學(xué)與技術(shù)研究中心 （CNST）和韓國(guó)國(guó)家計(jì)量院 （韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)科學(xué)研究院，KRISS）剛剛研制出一種獨(dú)特的納米測(cè)量技術(shù)，可用于觀察碳化硅基石墨烯的無(wú)序結(jié)構(gòu)。

石墨烯是一種單層的、只有一個(gè)原子厚度的碳材料，從柔性顯示器到高速晶體管，其應(yīng)用前景非常廣闊。然而，這些應(yīng)用也對(duì)大面積制造方法以及潛在的、與制造相關(guān)的結(jié)構(gòu)缺陷檢測(cè)方法提出了新的要求。

該團(tuán)隊(duì)研制出一種基于局部熱電勢(shì)測(cè)量的新方法，利用從掃描探針針尖到樣品表面的熱傳遞，形成對(duì)石墨烯層無(wú)序納米結(jié)構(gòu)的超敏感成像。研究人員認(rèn)為，根據(jù)最初的測(cè)量結(jié)果來(lái)看，這種新式掃描探針測(cè)量技術(shù)將在基于石墨烯等新興電子材料的技術(shù)領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用價(jià)值。

（摘自NIST官網(wǎng)，編譯/李莉萍）