(合肥工業(yè)大學(xué)機械與汽車工程學(xué)院,安徽 合肥 230009)
當(dāng)處于地磁場中的鐵磁性工件受工作載荷作用時,工件的磁性能在應(yīng)力和變形集中區(qū)內(nèi)會產(chǎn)生不可逆轉(zhuǎn)的重新取向,在工件表面產(chǎn)生漏磁場,并在應(yīng)力與變形集中區(qū)形成最大的漏磁場Hp(y)變化。金屬磁記憶檢測技術(shù)即通過檢測漏磁場來無損、準(zhǔn)確地確定鐵磁性金屬構(gòu)件上的應(yīng)力集中區(qū),進而對鐵磁性構(gòu)件的應(yīng)力集中與疲勞損傷進行早期診斷[1-2]。
近年來,磁記憶檢測技術(shù)在無損檢測領(lǐng)域蓬勃發(fā)展,在制造業(yè)、石油化工和航空等工程實踐中有著廣泛的應(yīng)用,并取得了巨大的經(jīng)濟效益。然而,目前常用的傳感器多為自制的線圈、磁阻傳感器或霍爾傳感器等,在檢測精度上有一定的不足。1988年,Baibieh發(fā)現(xiàn)磁有序材料在一定的結(jié)構(gòu)和外磁場下,其電阻會隨著外磁場的改變而發(fā)生巨大變化,稱其為巨磁電阻(giant magneto resistance, GMR)效應(yīng)[3]。自旋閥GMR傳感器是一種新型的基于GMR效應(yīng)的磁場檢測傳感器,其檢測靈敏度要比常規(guī)磁阻傳感器高1~2個數(shù)量級,并且在工作過程中具有良好的線性和溫度穩(wěn)定性[4-5]。
為提高磁記憶檢測的精確度,引入一種自旋閥GMR傳感器SAS010。該傳感器能夠更有效地檢測出鐵磁性零件應(yīng)力集中區(qū)的磁記憶信號法向分量Hp(y)。
基于自旋閥GMR傳感器的磁記憶檢測裝置總體結(jié)構(gòu)如圖1所示。
圖1 檢測裝置總體結(jié)構(gòu)框圖
系統(tǒng)主要包括電源模塊、信號調(diào)理與轉(zhuǎn)換模塊、處理器控制模塊、通信模塊等,其中信號調(diào)理與轉(zhuǎn)換模塊包括檢測探頭、信號調(diào)理電路、A/D轉(zhuǎn)換模塊等。
磁記憶信號Hp(y)通過檢測探頭被轉(zhuǎn)化成電壓信號,然后經(jīng)信號調(diào)理電路放大、濾波處理之后,由A/D轉(zhuǎn)換器將其轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,最后通過處理器芯片讀取Hp(y),并對其進行數(shù)字平滑操作。數(shù)據(jù)采集完成之后,通過串行口將數(shù)字Hp(y)信號傳輸給上位機PC。
電源模塊采用220 V交流電壓供電,通過開關(guān)電源電路獲得模擬電源(±5.0 V)和數(shù)字電源(±5.0 V、3.3 V、24.0 V、2.5 V)。模擬電源供給電路中的模擬電路部分;數(shù)字電源供給電路中的數(shù)字電路部分,其中,±5.0 V和3.3 V供給數(shù)據(jù)采集單元中的集成塊使用,2.5 V供給A/D轉(zhuǎn)換器作為參考電壓,24.0 V供給步進電機繞組。
檢測探頭采用SAS010自旋閥巨磁電阻(GMR)傳感器,其電路如圖2所示。
圖2 檢測探頭與信號調(diào)理電路
圖2中,AD0為輸出的電壓信號,由二極管D1、D2進行限壓,防止過壓脈沖對數(shù)模轉(zhuǎn)換電路產(chǎn)生影響;AD1為差分放大器AD620。由圖2可以看出,傳感器由4個阻值均為R的巨磁電阻構(gòu)成惠斯通電橋,其中R1、R4可感應(yīng)到外部磁場變化,R2、R3用屏蔽層隔離[6]。電橋通電后,傳感器靠近待檢測工件表面,沿敏感軸方向水平移動,傳感器內(nèi)巨磁電阻R1、R4的阻值隨著工件表面漏磁場信號Hp(y)的變化而產(chǎn)生巨大變化,導(dǎo)致電橋輸出端的電壓產(chǎn)生相應(yīng)的變化。傳感器由此將磁場強度轉(zhuǎn)換成差分電壓輸出。
信號調(diào)理電路對檢測探頭獲取的磁記憶信號法向分量Hp(y)進行升壓處理和低通濾波,將信號調(diào)整至0~5 V范圍內(nèi),并輸送到A/D轉(zhuǎn)換器中。
GMR磁傳感器檢測試樣時,輸出一對差分電壓信號Uo-和Uo+。Uo-和Uo+由差分放大器AD620(AD1)進行差分放大[7],AD620的放大倍數(shù)通過一款精密的電位器R5來調(diào)節(jié),串聯(lián)的100 Ω電阻R6用來防止差分放大器對信號過壓放大。因此,當(dāng)確定所需的電壓增益后,外部的電位器的電阻RG應(yīng)調(diào)節(jié)為:
(1)
式中:G為放大倍數(shù);RG為電位器調(diào)節(jié)電阻值。
差分放大器AD620(AD1)的輸出信號經(jīng)過加法電路進行電壓提升,并通過由運算器電路構(gòu)成的二階有源低通濾波電路進行濾波處理。二極管D1、D2對輸出電壓AD0進行限壓防護。信號轉(zhuǎn)換電路采用16位A/D轉(zhuǎn)換器ADS8364[8],通過CS引腳控制其啟動,CLK引腳輸入其工作時鐘頻率。在系統(tǒng)檢測試樣時,工作時鐘頻率設(shè)置為2 kHz,轉(zhuǎn)換頻率為100 Hz。
A/D轉(zhuǎn)換電路由16位ADS8364數(shù)模轉(zhuǎn)器和外圍電路組成,其電路如圖3所示。
圖3 數(shù)模轉(zhuǎn)換電路
檢測獲取的單端模擬電壓信號AD0~AD2通過“+”極接口輸入到ADS8364芯片中,與“-”接口之間采用電容進行阻抗匹配,參考端REFIN的輸入電壓值為2.5 V。T3PWM為DSP2407產(chǎn)生的20 kHz的頻率波,作為ADS8364的時鐘信號。當(dāng)一次數(shù)模轉(zhuǎn)換完成之后,ADS8364通過第27腳輸出ADCSOC信號給DSP2407處理器。第29腳接收處理器發(fā)送過來的讀控制信號RD,且低電平有效。三個保持信號HOLDA、HOLDB、HOLDC分別由DSP2407的IOPE3、IOPE2、IOPE1口控制,通過保持信號的高低電平來啟動指定小組(A、B、C)的通道,完成數(shù)模轉(zhuǎn)換,且低電平有效。ADS8364通過設(shè)置第55引腳接地,選擇16位數(shù)據(jù)輸出方式。DSP2407通過A2、A1、A0三個信號來控制對ADS8364轉(zhuǎn)換結(jié)果的讀取方式,讀取AD0、AD1、AD2的轉(zhuǎn)換結(jié)果時,A2A1A0依次設(shè)置為000、001、010。
處理器控制模塊由DSP2407處理器芯片構(gòu)成,外部拓展(64×16)kB的SRAM存儲器,以擴大系統(tǒng)的存儲空間和仿真器對系統(tǒng)進行仿真調(diào)試所需的存儲空間。DSP2407的T3PWM輸出A/D轉(zhuǎn)換器的工作頻率信號f1和啟動信號,信號經(jīng)轉(zhuǎn)換通過外部中斷接口XINT2實現(xiàn)對數(shù)字信號的讀??;然后由PWM1、PWM2、PWM3、PWM4輸出步進電機的控制信號,通過處理器協(xié)調(diào)頻率f1和電機控制信號頻率,使二者呈一定的比例關(guān)系并同步工作,從而實現(xiàn)采集的數(shù)據(jù)和檢測探頭移動距離的精確對應(yīng)關(guān)系,對暗傷部位進行精確的定位。
檢測系統(tǒng)與上位機PC之間的通信采用RS-232模式,傳輸速率設(shè)置為9 600 bit/s,并采用MAX3232芯片實現(xiàn)DSP2407的SCI模塊與RS-232的電平匹配。
下位機程序流程主要包含系統(tǒng)初始化模塊、A/D轉(zhuǎn)換器控制模塊、電機驅(qū)動模塊、信號平滑模塊、通信模塊和看門狗模塊。系統(tǒng)初始化模塊通過系統(tǒng)內(nèi)的復(fù)位按鍵對主控芯片和外設(shè)的工作狀態(tài)進行初始化。系統(tǒng)獲取初始化信號之后,加載主控程序,并初始化內(nèi)部的相關(guān)參數(shù)變量和關(guān)鍵字,同時初始化A/D轉(zhuǎn)換、電機的驅(qū)動參數(shù)和通信等。由處理器DSP2407的通用定時器3產(chǎn)生A/D轉(zhuǎn)換所需的工作頻率信號f1,并通過處理器的XINT2引腳產(chǎn)生中斷讀取A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果,數(shù)據(jù)存儲在SRAM中。電機驅(qū)動模塊中,通過DSP2407的PWM信號來控制步進電機的勻速轉(zhuǎn)動。信號平滑模塊去除檢測的背景磁場值和模擬電路中的電壓提升值。通信模塊實現(xiàn)數(shù)據(jù)的傳輸,通過上位機PC對信號做進一步的分析處理。系統(tǒng)通過看門狗模塊防止在處理器運算時陷入死循環(huán),維持其穩(wěn)定運行。
系統(tǒng)運行流程如圖4所示。電路通電后,首先對處理器進行初始化,然后等待輸入指令,獲取復(fù)位信號時,系統(tǒng)進行初始化操作。獲取指令1時,檢測試驗所在環(huán)境的背景參數(shù)值,求其均值T;獲取指令2時,啟動數(shù)模轉(zhuǎn)換電路并啟動步進電機的控制信號,然后對試驗對象進行檢測,之后讀取檢測數(shù)據(jù),并去除背景參數(shù)值T;獲取指令3時,啟動串行口電路,將檢測數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔粰C中。在上位機中對檢測的磁記憶信號進行數(shù)字濾波計算和梯度值計算。
圖4 系統(tǒng)運行流程圖
對采集的數(shù)據(jù)進行平滑、濾波運算。在處理器中,基于LMS的64階自適應(yīng)濾波器進行數(shù)字濾波運算。數(shù)字濾波算法[9]如下。
for(n=0;n ∥求輸出 e(n) =d(n)-y(n); ∥求誤差 w(n+1) =w(n) +u×e(n)×x(n); ∥更新濾波系數(shù)} 其中,N=64;n為自變量;x(n)為自適應(yīng)濾波器的輸入矢量;y(n)為自適應(yīng)濾波器的輸出矢量;d(n)為采集的數(shù)字信號;e(n)為誤差;w(k)為濾波系數(shù)值;u為收斂因子。 下位機通過串行口將采集的數(shù)據(jù)y(n)發(fā)送到上位機PC中,然后計算出信號波形的變化率K(n),并繪制出數(shù)據(jù)的波形圖。計算方法如下: K(n)=|Hp(n+1)-Hp(n)|/ΔL (2) 式中:ΔL為一個數(shù)模轉(zhuǎn)換周期內(nèi)絲杠滑臺能夠移動的水平距離;Hp(n)和Hp(n+1)分別為前后兩次采集的信號電壓值。 檢測試樣如圖5所示。選用某汽車車橋板材,材料為510L,板厚6 mm。按照GB/T 2975-1998標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對位置、方向、狀態(tài)、方法、加工余量進行取樣;試樣的形狀按照GB/T 228-2002的要求進行制備,試樣在中心線位置加工一對對稱的U口;采用MTS810型液壓伺服疲勞試驗機對試樣進行拉伸試驗,在進行拉伸試驗之前先進行退磁處理。 圖5 檢測試樣 利用開發(fā)的磁記憶檢測系統(tǒng)對拉伸至屈服階段的工件進行檢測,通過步進電機帶動檢測探頭,檢測探頭采用單通道,沿工件中心線,從起始線勻速運動到終點線,獲得工件的磁記憶信號。檢測出的波形如圖6所示。 圖6 檢測波形分析 試驗表明,在檢測到試件的中心線U口時,磁記憶信號存在過零點,其梯度值K(n)出現(xiàn)最大值,可判定此處有疲勞損傷。因此,采用自旋閥GMR傳感器可以有效地檢測出鐵磁性物質(zhì)工件的缺陷或應(yīng)力集中區(qū);采集的信號通過背景去噪和自適應(yīng)濾波,可以有效地去除磁記憶信號中的噪聲,獲得精確的磁記憶信號,為進一步的信號分析與處理提供了良好基礎(chǔ)。 介紹了自旋閥GMR傳感器在金屬磁記憶檢測中的應(yīng)用。通過檢測試驗發(fā)現(xiàn),自旋閥GMR傳感器可以有效檢測出鐵磁性工件的應(yīng)力集中區(qū)與損傷部位。巨磁阻傳感器具有體積小、靈敏度高、線性度好、線性范圍寬、溫度特性好、可靠性高等特點,隨著自旋閥巨磁阻傳感器技術(shù)的進一步發(fā)展,其將在金屬磁記憶檢測中發(fā)揮更大的作用。 [1] Dubov A A.A study of metal properties using the method of magnetic memory[J].Metal Science and Heat Treatment,1997,39(9/10):401- 405. [2] Dubov A A.Study of metal properties using magnetic memory method[C]//Proceedings of the 7th European Conference on Non-destructive Testing,Copenhagen,1998:920-927. [3] ThompsonS M.The discovery,development and future of GMR:the Nobel Prize 2007[J].Journey of Physics D: Applied Physics,2008,41(9):093001-093020. [4] 陳亮,闕沛文,黃作英.一種新型磁阻式傳感器在漏磁檢測中的應(yīng)用[J].傳感器技術(shù),2004,23(10):75-79. [5] 高揚華,張光新,黃平捷.基于GMR傳感器的電渦流檢測系統(tǒng)關(guān)鍵技術(shù)研究[J].傳感器與微系統(tǒng),2009,28(11):31-34. [6] 牛永波,馮潔,陳翔,等.基于NiFeCo/Cu多層膜巨磁電阻效應(yīng)的磁微球檢測[J].功能材料與器件學(xué)報,2008,14(6):1013-1018. [7] 呂志昂.微弱信號調(diào)理電路的設(shè)計[J].微型機與應(yīng)用,2012,31(15):18-22. [8] 劉品,李松巖,徐赫.基于ADS8364高速數(shù)據(jù)采集模塊接口設(shè)計[J].現(xiàn)代電子技術(shù),2011,34(15):138-140. [9] 王麗芳,陳益平.基于DSP的自適應(yīng)濾波器的實現(xiàn)[J].計算機仿真,2009,26(9):281-284.3.3 K值計算
4 檢測與結(jié)果
4.1 檢測對象
4.2 試驗結(jié)果
5 結(jié)束語