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        激光自準(zhǔn)直儀示值誤差的檢定方法

        2014-03-22 09:07:03張桂林
        計(jì)量技術(shù) 2014年6期
        關(guān)鍵詞:反射鏡干涉儀工控機(jī)

        姜 濤 張桂林 李 敏

        (長(zhǎng)春理工大學(xué),長(zhǎng)春 130022)

        0 引言

        相對(duì)普通光電自準(zhǔn)直儀,激光自準(zhǔn)直儀具有更好的靈敏度、準(zhǔn)確度,而對(duì)激光自準(zhǔn)直儀的檢定也面臨更大挑戰(zhàn),示值誤差是決定自準(zhǔn)直儀性能指標(biāo)的重要參數(shù)之一。國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程JJG 202—2007對(duì)不同等級(jí)自準(zhǔn)直儀示值誤差的檢定進(jìn)行了劃分[1-2],針對(duì)高精度激光自準(zhǔn)直儀示值誤差,本文提出了以雙頻激光干涉儀為檢定測(cè)量基準(zhǔn),使用自動(dòng)控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)對(duì)激光自準(zhǔn)直儀示值誤差的檢定。

        1 示值誤差檢定裝置結(jié)構(gòu)及原理

        1.1 檢定系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

        激光自準(zhǔn)直儀示值誤差檢定裝置主要由雙頻激光干涉儀及其組件、旋轉(zhuǎn)軸、回轉(zhuǎn)臺(tái)及水平調(diào)機(jī)構(gòu)、電機(jī)及傳動(dòng)部件、工控機(jī)和光學(xué)精密隔振平臺(tái)等組成。其具體結(jié)構(gòu)如圖1所示。

        圖1 系統(tǒng)整體機(jī)械結(jié)構(gòu)示意圖

        本文以Renishaw生產(chǎn)的XL-80激光干涉儀以及RX10回轉(zhuǎn)軸校準(zhǔn)裝置組合使用所得數(shù)據(jù)為基準(zhǔn)數(shù)據(jù)。XL-80激光干涉儀反射鏡以及激光自準(zhǔn)直儀反射鏡固定在RX10回轉(zhuǎn)軸校準(zhǔn)裝置上,RX10通過(guò)回轉(zhuǎn)臺(tái)、水平調(diào)整機(jī)構(gòu)與旋轉(zhuǎn)軸連接,水平調(diào)整機(jī)構(gòu)用于調(diào)整RX10與水平面之間的空間角;采用步進(jìn)電機(jī)作為動(dòng)力源,通過(guò)減速器、同步帶驅(qū)動(dòng)旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)。RX10回轉(zhuǎn)軸校準(zhǔn)裝置內(nèi)置多個(gè)高精度齒盤保證精度與重復(fù)性,與Renishaw XL-80激光干涉儀系統(tǒng)的組合使用,能夠?qū)崿F(xiàn)360度內(nèi)任意角度、任意間隔的檢測(cè)[3],滿足激光自準(zhǔn)直儀示值誤差的快速、高效、準(zhǔn)確的檢定。整個(gè)系統(tǒng)安裝光學(xué)精密隔振平臺(tái)上,通過(guò)工控機(jī)實(shí)現(xiàn)控制管理。

        1.2 檢定系統(tǒng)原理

        (1)

        本裝置采用工控機(jī)通過(guò)人機(jī)交互界面實(shí)現(xiàn)對(duì)系統(tǒng)的運(yùn)動(dòng)控制、數(shù)據(jù)采集與處理,如圖2所示。

        圖2 檢定系統(tǒng)工作原理

        具體工作時(shí),檢定人員通過(guò)工控機(jī)人機(jī)交互界面設(shè)置檢定方式、運(yùn)動(dòng)方式以及檢定信息等參數(shù)。其中:檢定方式包括定點(diǎn)檢定和隨機(jī)檢定兩種模式,運(yùn)動(dòng)方式設(shè)置包括電機(jī)速率及方向設(shè)施,檢定信息參數(shù)包括檢定時(shí)間、被檢產(chǎn)品信息、檢定精度要求以及檢定點(diǎn)數(shù)等。設(shè)置完成后,工控機(jī)將指令發(fā)送給運(yùn)動(dòng)控制模塊,傳動(dòng)機(jī)構(gòu)將電機(jī)轉(zhuǎn)速減小后帶動(dòng)回轉(zhuǎn)臺(tái)產(chǎn)生角位移,電機(jī)停止運(yùn)動(dòng);此時(shí)XL-80激光干涉系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集模塊和被檢激光自準(zhǔn)直儀數(shù)據(jù)采集模塊同時(shí)開始采集數(shù)據(jù),并將數(shù)據(jù)傳送給工控機(jī),工控機(jī)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理后,記錄檢定數(shù)據(jù),繪制并實(shí)時(shí)顯示檢定曲線;曲線繪制完成后,工控機(jī)再次發(fā)送運(yùn)動(dòng)控制指令,進(jìn)入下一檢定點(diǎn)的檢定。如此循環(huán)直至所設(shè)定檢定點(diǎn)都檢定完成,最后通過(guò)工控機(jī)實(shí)現(xiàn)對(duì)檢定數(shù)據(jù)的輸出。

        2 檢定系統(tǒng)原理分析

        2.1 激光自準(zhǔn)直儀原理分析

        激光自準(zhǔn)直儀是利用自準(zhǔn)直儀基本原理實(shí)現(xiàn)測(cè)量[5],激光器和反射鏡分別位于透鏡兩邊,使用時(shí)反射鏡與被測(cè)件固定,通過(guò)測(cè)量反射鏡的角度變化實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)件的檢測(cè)[5],其光路如圖3所示。

        圖3 激光自準(zhǔn)直光路示意圖

        (2)

        假設(shè)測(cè)量時(shí),反射鏡繞Z′軸旋轉(zhuǎn)β角度,繞Y′旋轉(zhuǎn)g角度,則o′-X′Y′Z′坐標(biāo)與旋轉(zhuǎn)后坐標(biāo)系之間變換矩陣為[6-7]

        (3)

        則法線單位矢量變化為

        (4)

        將式(3)帶入式(4)得旋轉(zhuǎn)后光束經(jīng)反射鏡反射變換矩陣為

        (5)

        =[1-2(cosgcosβ)2-cosgsin2βsin2gcos2β]

        (6)

        由自準(zhǔn)直基本原理,可得激光反射光束經(jīng)透鏡中心后入射到焦平面o-X′YZ點(diǎn)O′(o,y′,z′)位置坐標(biāo),其中

        (7)

        在激光自準(zhǔn)直儀中,一般通過(guò)光敏元件獲得反射光束成像坐標(biāo)O′(o,y′,z′)。式(7)給出了反射光束成像坐標(biāo)與反射鏡位移量之間的關(guān)系,通過(guò)數(shù)學(xué)解析可得反射鏡在各個(gè)方向上的角度位移量。

        2.2 激光干涉儀檢定原理分析

        激光干涉儀檢定自準(zhǔn)直儀示值誤差其原理是,將檢定規(guī)程所要求的角度位移信號(hào)識(shí)別為干涉條件所需要的線位移,再利用相干原理得出相應(yīng)的線位移變化量,最后通過(guò)將所測(cè)得的線位移量轉(zhuǎn)化為角位移量并顯示。激光干涉儀基本原理[8-9],其光路如圖4所示。

        圖4 激光干涉儀測(cè)量原理光路圖

        由激光器發(fā)出一束激光經(jīng)分光鏡分成兩束相干光束I0和I1,其中I0經(jīng)定反射鏡反射作為測(cè)量基準(zhǔn)光,I1作為測(cè)量光束進(jìn)入發(fā)生位移變化的動(dòng)反射鏡并反射。兩束光返回在干涉點(diǎn)會(huì)合發(fā)生干涉并形成干涉條紋,干涉條紋返回激光器。

        由疊加原理知,光程差每改變l/2,光強(qiáng)將從最大變成最小,莫爾條紋變化一次,因此通過(guò)對(duì)莫爾條紋的計(jì)數(shù)可得出光程變化量(位移變化量):

        Δ0=Nl/2

        (8)

        式中,Δ0光程變化量;N為莫爾條紋變化量;l為光波波長(zhǎng)。

        利用Renishaw XL-80激光干涉系統(tǒng)和Renishaw RX10回轉(zhuǎn)軸校準(zhǔn)裝置組合使用檢定激光自準(zhǔn)直儀示值誤差的原理是,利用反射鏡角位移與線位移之間的線性關(guān)系,將角位移識(shí)別為線位移進(jìn)行測(cè)量,再將線位移轉(zhuǎn)化為相應(yīng)的角位移進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。如上所述,XL-80激光干涉儀在本系統(tǒng)的使用中,干涉鏡組件靜止,反射鏡隨RX10旋轉(zhuǎn)。本文以反射鏡幾何中心為原點(diǎn)O,激光入射方向?yàn)閕軸,豎直方向?yàn)閗軸,建立如圖5所示直角坐標(biāo)系o-ijk,點(diǎn)P(x,y,z)為激光入射點(diǎn)。

        圖5 反射鏡角度變化數(shù)學(xué)模型

        在檢定時(shí),激光干涉儀系統(tǒng)反射鏡與激光自準(zhǔn)直儀反射鏡呈180度放置,運(yùn)動(dòng)狀態(tài)相同。不失一般性地,假設(shè)激光干涉儀反射鏡繞i旋轉(zhuǎn)φ角度,繞j旋轉(zhuǎn)ω角度,繞k旋轉(zhuǎn)θ角度,則o-ijk坐標(biāo)與旋轉(zhuǎn)后坐標(biāo)系之間變換矩陣為

        (9)

        旋轉(zhuǎn)后激光入射點(diǎn)P(x,y,z)的坐標(biāo)為

        P′=RN·P=xcosωcosφ+y(sinθsinωcosφ-cosθsinφ)+z(cosθsinωcosφ+sinθsinφ),xcosωsinφ+y(sinθsinωsinφ+cosθcosφ)+z(cosθsinωsing-sinθcosφ),-xsinω+xsinθcosω+zcosθcosω)

        (10)

        將式(10)代入Δ=|P′|-|P|得激光入射點(diǎn)位移變化量為

        (11)

        式中

        光程差變化為Δ′=l·Δ。

        在激光干涉儀的實(shí)際使用中往往直接得到莫爾條紋的變化量N,式(8)給出了莫爾條紋變化量與光程差之間關(guān)系,結(jié)合式(11)可得出反射鏡線性位移變化量,根據(jù)線性位移量與角度位移量之間的線性關(guān)系,可得出反射鏡角度變化量。通過(guò)與RX10回轉(zhuǎn)軸裝置的固定,控制反射鏡i方向和j方向的旋轉(zhuǎn)量即可實(shí)現(xiàn)降低這兩個(gè)方向所引起的誤差,實(shí)現(xiàn)對(duì)激光自準(zhǔn)直儀反射鏡的一致運(yùn)動(dòng)。

        3 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)及分析

        首先標(biāo)定XL-80干涉儀檢測(cè)系統(tǒng)初始零位,通過(guò)工控機(jī)控制RX10順時(shí)針旋轉(zhuǎn)5°,記下此時(shí)激光干涉儀測(cè)得數(shù)據(jù)為c1,然后控制RX10逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)至激光干涉儀示值為零,再控制工控機(jī)逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)5°,讀取此時(shí)激光干涉儀測(cè)得數(shù)據(jù)為c2。若c1與c2的絕對(duì)值之差小于0.00002°,則標(biāo)記此時(shí)激光干涉儀示值為零的位置為初始零位,否則重復(fù)上述初始零位標(biāo)定過(guò)程。

        表1是利用Renishaw XL-80激光干涉儀系統(tǒng)對(duì)標(biāo)稱示值誤差為0.5″(0~±100″內(nèi))的激光自準(zhǔn)直儀進(jìn)行檢定的數(shù)據(jù)。實(shí)驗(yàn)是根據(jù)式(1)對(duì)激光干涉儀檢定激光自準(zhǔn)直儀示值誤差裝置的可行性與準(zhǔn)確性進(jìn)行驗(yàn)證的。從表1中可以看出,裝置滿足對(duì)激光自準(zhǔn)直儀示值誤差的檢定,裝置采用自動(dòng)化控制過(guò)程,有效地提高了檢定效率。

        表1 檢定實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)

        4 總結(jié)

        本文介紹了一種Renishaw XL-80激光干涉儀系統(tǒng)與Renishaw RX10回轉(zhuǎn)軸校準(zhǔn)裝置組合使用對(duì)激光自準(zhǔn)直儀示值誤差進(jìn)行檢定的方法,簡(jiǎn)述了該裝置的主要組成部件,分析了該方法的基本原理,最后,通過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了該方法的可行性與正確性。與傳統(tǒng)使用多齒分度盤對(duì)自準(zhǔn)直儀示值誤差進(jìn)行檢定相比,使用激光干涉儀系統(tǒng)檢定具有精度高、速度快和可靠性高等優(yōu)點(diǎn)。

        [1]JJG 202—2007 自準(zhǔn)直儀檢定規(guī)程[S]:2007

        [2]吳永紅.自準(zhǔn)直儀示值誤差的一種檢定方法[J].計(jì)量技術(shù),2000(4):39-40

        [3]Renishaw培訓(xùn)教材:http://www.renishaw.com.cn/zh/xl-80-laser-measurement-system-8267

        [4]徐鳳茹.自準(zhǔn)直像視覺(jué)跟蹤測(cè)量關(guān)鍵技術(shù)研究[D]:天津:天津大學(xué),2011

        [5]黃銀國(guó).激光自準(zhǔn)直微小角度測(cè)量基礎(chǔ)技術(shù)研究[D].天津:天津大學(xué),2009

        [6]柯金樸.空間三維坐標(biāo)轉(zhuǎn)換原理及實(shí)現(xiàn).江西測(cè)繪.2008 ,74(3):16-20

        [7]曾文憲,陶本藻.三維坐標(biāo)轉(zhuǎn)換的非線性模型.武漢大學(xué)學(xué)報(bào)(信息科學(xué)版),2003,28(3):566-568

        [8]Chienming,WuandChing,,ShenSu,Nonlniearity in measurements of length by optical interferometry,Meas.Sei.Teehnol.1996:62-68

        [9]羅鈞,萬(wàn)文通,盧嘉江.光電測(cè)量二維微角位移的新方法研究與實(shí)現(xiàn)[J].計(jì)量技術(shù),2008(9):12-15

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