汪黎棟,茅振華,倪 巍
(浙江省計量科學(xué)研究院,浙江杭州 310013)
激光誘導(dǎo)擊穿光譜(laser-induced breakdown spectroscopy,LIBS)是近幾年逐漸興起的一種光譜檢測技術(shù),它是原子發(fā)射光譜的一種。利用聚焦的激光脈沖作用于材料表面,形成局部高溫,導(dǎo)致局部樣品汽化,致使樣品原子或分子處于激發(fā)狀態(tài)或電離,從而在樣品表面形成等離子體羽輝。等離子體中激發(fā)態(tài)原子和離子等在弛豫過程中部分能量以光的形式輻射出來,這種輻射光帶有明顯的元素特征信息。然而這種特征譜線往往具有很窄的線寬,因此需要通過高分辨率的光譜儀收集、記錄和分析輻射出來的光譜,從而實現(xiàn)對固體、液體和氣體樣品中的化學(xué)元素進(jìn)行定性和定量分析的目的。目前,LIBS技術(shù)應(yīng)用的領(lǐng)域除了傳統(tǒng)的化學(xué)分析之外,還包括如環(huán)境檢測、工業(yè)在線測量、生物技術(shù)、文物保護(hù)、核工業(yè)、深空探測、海洋科學(xué)、表面分析等眾多領(lǐng)域。
文中主要介紹了一種自制的高分辨微型光纖光譜儀。對其光學(xué)結(jié)構(gòu)及硬件實現(xiàn)進(jìn)行了介紹。同時,利用該光譜儀進(jìn)行了鐵合金的LIBS實驗,通過實驗結(jié)果分析該光譜儀的分辨率可用于常規(guī)的LIBS實驗,獲得了較好的結(jié)果。
1.1光路的設(shè)計
光纖光譜儀主要由光和電兩大系統(tǒng)組成(如圖1所示)。在光學(xué)上仍然采用Czerny-Turner成像系統(tǒng)。為了提高儀器的分辨率,光學(xué)系統(tǒng)的光程要比普通光纖光譜儀長。該系統(tǒng)采用110 mm的焦距(準(zhǔn)直鏡與聚焦透鏡)。采用交叉非對稱Czerny-Turner有利于消除系統(tǒng)雜散光,并且減小系統(tǒng)體積,有利于系統(tǒng)微型化的實現(xiàn)[1]。
圖1 CCD光譜儀結(jié)構(gòu)示意圖
待測光由SMA905接口的特種光纖導(dǎo)入光纖光譜儀中。為了達(dá)到0.1 nm及以上的光學(xué)分辨率,需要減小狹縫的寬度。利用鍍膜及腐蝕技術(shù),系統(tǒng)采用了16 μm的光學(xué)狹縫。該系統(tǒng)中,由于狹縫的寬度小于光纖直徑,入射光束寬度即為狹縫的寬度。經(jīng)狹縫限束后的光束經(jīng)凹面準(zhǔn)直鏡準(zhǔn)直后反射到衍射光柵表面上(該系統(tǒng)采用1 800線/mm的平面衍射光柵作為分光器件)。光柵通過色散將待測光按波長的不同在空間分離開來,并投射到凹面收集鏡的表面上,收集鏡將色散光譜反射聚焦到CCD探測器表面轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的電信號輸出[2-3]。各光學(xué)元件均固定在采用LY12 鋁材制成的鋁發(fā)黑盒內(nèi),減少雜散光反射的同時,元件之間的位置也得到精密控制,保證了收集鏡反射光的焦平面落在 CCD的入射窗口上。
1.2狹縫的制作和裝配
狹縫是光纖光譜儀的基本組成部分之一,狹縫的寬度直接影響光纖光譜儀系統(tǒng)的分辨率與靈敏度。較窄的狹縫可以提高分辨率,但光通量較小;另一方面,較寬的狹縫可以增加靈敏度,但會損失掉分辨率。在不同的應(yīng)用要求中,選擇合適的狹縫寬度以便優(yōu)化整個試驗結(jié)果。通常狹縫的寬度不能太寬,在5~400 μm之間,否則會產(chǎn)生干涉且光譜分辨率下降。
光譜分辨率(R)是指能被光譜儀分辨開的最小波長差值,狹縫與光譜分辨率的關(guān)系為:
R=(DL/n)×(Ws/Wd)×RF
(1)
式中:DL為光譜覆蓋范圍;n為檢測器像元數(shù);Ws為狹縫寬度;Wd為檢測器寬度;RF為分辨率因子。
傳統(tǒng)的光纖光譜儀狹縫采用機(jī)械方法加工,具有加工困難、體積大、裝配調(diào)試?yán)щy等缺點,隨之帶來的是光纖光譜儀的體積增大,裝配復(fù)雜度增加,很難達(dá)到便攜性的要求。系統(tǒng)采用鍍膜方法制作狹縫,實現(xiàn)了加工簡便、體積小、裝配調(diào)試簡便等優(yōu)點[4]。圖2為狹縫安裝示意圖,通過在矩形石英玻璃基片上鍍膜,制作一定縫寬的狹縫,并將玻璃通過光學(xué)膠固定在圓形銅座上,保證了狹縫與線陣CCD的垂直,使CCD探測器像元能很好的感應(yīng)不同波長處光強(qiáng)。
圖2 狹縫安裝示意圖
系統(tǒng)在CCD的選擇上主要考慮TCD1304和ILX554B。TCD1304具有3 648個有效象元,可以提高一定的分辨率。ILX554B有效像素只有2 048,但靈敏度較高。考慮到液體及部分固體材料的LIBS信號很弱,故最終采用具有較高靈敏度的ILX554B。該探測器有如下特點:有效像素數(shù)2 048個;像素大小 14 μm×56 μm;單 5 V 電源;超高靈敏度;內(nèi)置定時產(chǎn)生程序和時鐘驅(qū)動器;內(nèi)置采樣保持電路;最大時鐘頻率 2 MHz.
ILX554B的內(nèi)部原理框圖如圖3所示。從圖3可以看出從第5腳輸入的時鐘信號φCLK經(jīng)內(nèi)部電路的分頻產(chǎn)生各種脈沖,如采樣保持脈沖、復(fù)位脈沖、兩相轉(zhuǎn)移脈沖等,配合第11腳輸入的φROG使CCD開始工作。
CCD將光信號轉(zhuǎn)換成電信號,每個像素產(chǎn)生1個電信號,電信號的電壓值表征光強(qiáng)的幅值。這樣CCD每進(jìn)行1次光電轉(zhuǎn)換就產(chǎn)生2 048個有效電信號;同時,它將這2 048個像素按位序串行地“封裝”成1個有效數(shù)據(jù)字段,可以在外加時鐘同步信號φCLK和芯片使讀端φROG作用下,從CCD中輸出結(jié)果Vout[5-6]。外加的同步時鐘信號由2087個時鐘脈沖組成,在1個時鐘脈沖作用下,1個電信號被讀出。這2 087個數(shù)據(jù)有以下幾個部分:首部偽數(shù)據(jù)字段(33個數(shù)據(jù))、有效數(shù)據(jù)字段(2048個數(shù)據(jù))、尾部偽數(shù)據(jù)字段(6個數(shù)據(jù)),如圖4所示。
光譜儀的硬件部分一直是一個難點(電路結(jié)構(gòu)框圖如圖5所示),屬于模擬和數(shù)字結(jié)合。模擬部分:因為線陣CCD的驅(qū)動信號為數(shù)字信號,而輸出信號卻是以一種模數(shù)結(jié)合的信號,即模擬信號在一定CLK信號調(diào)制過程輸出。因此光譜儀的硬件系統(tǒng)要做到模擬分開。線陣CCD輸出為視頻信號,通過阻抗匹配電路連接到視頻前端處理芯片AD9826。AD9826是一款適合成像應(yīng)用的完整模擬信號處理器。它采用三通道架構(gòu)設(shè)計,用于對三線彩色CCD陣列的輸出進(jìn)行采樣和調(diào)理。每個通道均由輸入箝位電路、相關(guān)雙采樣器(CDS)、偏移DAC和可編程增益放大器(PGA)組成,并通過多路復(fù)用方式接入一個高性能16位ADC。系統(tǒng)只采用其中的一個通道作為AD轉(zhuǎn)換通道即可實現(xiàn)多種不同模式的16位AD轉(zhuǎn)換。數(shù)字部分:AD轉(zhuǎn)換輸出即為數(shù)字部分,相對而言,數(shù)字部分由于其抗干擾能力強(qiáng),信號要求較模擬部分要低。但是同時為了防止數(shù)字信號部分的噪聲通過地層傳播到模擬部分,數(shù)模兩部分的地層采用分割處理。數(shù)字部分主要包括了線陣CCD的驅(qū)動和控制電路、USB 2.0接口與cortex-M3對數(shù)據(jù)的處理。經(jīng)16位AD轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號傳遞給cortex-M3(采用Philips生產(chǎn)的LPC1768芯片,以下簡稱M3),M3將光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行去噪算法后進(jìn)行緩沖,最后通過USB 2.0接口(采用Cypress半導(dǎo)體公司的USB控制芯片CY7C68013A)傳遞給PC機(jī)進(jìn)行處理顯示光譜分布和數(shù)據(jù)。
圖3 ILX554B內(nèi)部電路框圖
圖4 ILX554B時序圖
圖5 CCD光譜儀電路結(jié)構(gòu)框圖
系統(tǒng)采用Visual Studio 2008作為軟件開發(fā)工具,開發(fā)出光纖光譜儀的光譜測試軟件,測試界面如圖6所示。
圖6 光纖光譜儀測試界面
該軟件具有一般光纖光譜儀的功能,包括積分時間、平均次數(shù)及boxcar次數(shù)的設(shè)置修改。同時為了滿足LIBS的應(yīng)用,還開辟了脈沖發(fā)生與外部觸發(fā)功能。軟件流程圖如圖7 所示[7-8]。
脈沖發(fā)生器功能:LIBS研究一般需要脈沖激光器,目前大多采用外部觸發(fā)模式的Nd:YAG激光器,需要外部輸入脈沖信號。同時該脈沖信號還可以方便激光信號與光譜儀采集的設(shè)置。因此,本系統(tǒng)將脈沖發(fā)生與光譜采集集成在該設(shè)備一體,可以實現(xiàn)對LIBS光譜數(shù)據(jù)的精確控制與采集。
圖7 光纖光譜儀軟件流程圖
同時,該軟件還具有波長定標(biāo)的功能。系統(tǒng)進(jìn)行定標(biāo)時采用了多種標(biāo)準(zhǔn)金屬樣品的特征光譜作為定標(biāo)波長,采用多項式擬合及最小二乘法進(jìn)行了定標(biāo)。金屬樣品的特征波長采用實測結(jié)合NIST標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫的辦法實現(xiàn)。
4.1光譜測試
實驗中,采用A、B兩塊鐵合金樣品,成本分別為樣品A:1.6%Mn、0.1%V,其它為Fe;B:約17~18%Cr、2%Mn、2%Mo、9%N,其它為Fe.采用鐳寶公司的脈沖型Nd:YAG激光器作為激勵源(Dawa-200)。實驗系統(tǒng)如圖8所示。
圖8 LIBS測試實驗圖
在該測試中采用SMA905接口的多模光纖進(jìn)行實驗,光纖的一端對準(zhǔn)待測光源,另一端連接在光纖光譜儀的SMA905接口上,光纖光譜儀通過USB接口將采集的數(shù)據(jù)傳送到PC機(jī)實現(xiàn)數(shù)據(jù)的處理和顯示。測試中使用樣品A作為參照,測得的光譜圖如圖9所示。
圖9 樣品A光譜圖
從NIST標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫中找出部分樣品所含的特征譜線與實際測試波長進(jìn)行了對比[9],對比結(jié)果如表1所示。
表1 樣品A幾個特殊波長與標(biāo)準(zhǔn)波長對比
4.2數(shù)據(jù)分析
通過對測得數(shù)據(jù)的處理和分析,得到光纖光譜儀的性能參數(shù)。
4.2.1波長準(zhǔn)確度
波長準(zhǔn)確度是光譜儀中的重要參數(shù),保證波長準(zhǔn)確度不僅是光纖光譜儀能夠準(zhǔn)確測試樣品的前提,也是保證分析結(jié)果準(zhǔn)確的前提,更是保證模型能夠準(zhǔn)確傳遞的前提。如果儀器的波長準(zhǔn)確度不能保證,則不同測定光譜就會因儀器波長的移動(即X軸發(fā)生了平移),而使整組光譜數(shù)據(jù)產(chǎn)生偏移,進(jìn)而造成分析結(jié)果的誤差。一般用波長誤差,即測定時儀器顯示的波長值和分光系統(tǒng)實際輸出的單色光的波長值之差來表示:
波長誤差=測試波長-實際波長
(2)
測試結(jié)果如表1所示,從表中可看出其最大波長誤差為0.05 nm,從已獲得的測試結(jié)果來看,波長準(zhǔn)確度優(yōu)于0.05 nm.
4.2.2像元分辨率
像元分辨率是指光譜儀探測器單個像元所代表的光譜范圍,表征了儀器所能提供的最小采樣間隔。光纖光譜儀中光譜在CCD探測器上是均勻分布的,光譜范圍除以像元位數(shù)即可得像元分辨率。
該光纖光譜儀測試可見光光譜范圍為335~455 nm,對應(yīng)像元數(shù)為2 048位,由此得到光譜儀像元分辨率為
Δx=(455-335)/2 048≈0.058 nm/pixel
(3)
4.2.3光譜帶寬
光譜帶寬是指譜線的空間寬度(即線色散)所對應(yīng)的光譜寬度,表征了儀器分辨光譜的能力。目前國際上采用的光譜帶寬測量方法主要為“譜線輪廓法”,即對待測光進(jìn)行光譜掃描,繪出該光譜的輪廓,光譜線強(qiáng)度輪廓曲線的二分之一高度處的譜帶寬度為光譜帶寬。用于光譜帶寬測試的光源一般要求為線性光源,或者在離所測譜線20 nm范圍內(nèi)最好無其他譜線?;谶@個原則。對于光纖光譜儀而言,由于閃耀波長等其它因素綜合決定,系統(tǒng)的中心波長光譜帶寬會優(yōu)于邊緣的光譜帶寬。由于LIBS光譜譜線非常豐富,20 nm范圍內(nèi)都有較多光譜系,故選用了強(qiáng)度較大且位于整個光譜范圍邊緣處的404.58 nm的光譜帶寬作為光纖光譜儀的光譜帶寬。通過對數(shù)據(jù)的擬合及分析得到光譜帶寬為404.65 nm~404.55 nm=0.10 nm.因此證明該光譜儀的光譜帶寬優(yōu)于0.1 nm[10]。
通過對高分辨光纖光譜儀的結(jié)構(gòu)介紹和數(shù)據(jù)計算分析可知,該光譜儀系統(tǒng)具有體積小、質(zhì)量輕、攜帶方便、造價低以及可以在多種環(huán)境下使用等優(yōu)點,具有很高的應(yīng)用價值。經(jīng)測試,儀器的波長準(zhǔn)確度優(yōu)于0.05 nm,閃耀波長處的波長分辨率可達(dá)0.1 nm,可以用于一般的LIBS檢測研究。
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