據(jù)《Scientia Horticulturae》的一篇研究報道（http://dx.doi.org/10.1016/j.scienta.2014.08.019），來自南非斯泰倫布什大學(xué)的Simeon Hengari等人研究了蘋果果實不同發(fā)育期果皮光合系統(tǒng)對中度光合有效輻射下熱脅迫的響應(yīng)。

供試條件下的光合有效輻射為500 μmol/m·s， 研究人員研究 了 30、35、40、45 和50℃熱脅迫對花后50、95和150天澳洲青蘋、富士和Cripps’Pink蘋果果皮光合系統(tǒng)的傷害。光損傷程度通過檢測每個果實發(fā)育期光系統(tǒng)Ⅱ的最大光利用效率 (Fv/Fm)進行評估。結(jié)果表明，光損傷的臨界溫度為45℃。果實發(fā)育期間果皮脅迫前的Fv/Fm沒有變化。隨著果實發(fā)育，果皮蠟質(zhì)層厚度和葉綠素a/葉綠素b的比值升高，氣孔密度、總酚、類胡蘿卜素、葉綠素含量下降。果皮的生化和解剖特性間沒有顯著關(guān)系，高溫脅迫引起了Fv/Fm的改變。不同發(fā)育時期果皮光合系統(tǒng)對高溫的敏感性沒有顯著差異。上述結(jié)果表明，蘋果果皮光合系統(tǒng)對高溫敏感，且熱脅迫損傷貫穿整個果實發(fā)育期。