姬金祖
(北京航空航天大學(xué) 航空科學(xué)與工程學(xué)院,北京100191)
黃大慶
(中國航空工業(yè)集團公司北京航空材料研究院,北京100095)
黃沛霖 魯振毅
(北京航空航天大學(xué) 航空科學(xué)與工程學(xué)院,北京100191)
飛行器隱身技術(shù)是現(xiàn)代戰(zhàn)爭中的一項重要軍事技術(shù),對于提高飛行器的戰(zhàn)場生存力意義重大[1-2].時域有限差分法(FDTD,F(xiàn)inite-Difference Time-Domain)是計算金屬和復(fù)雜介質(zhì)目標(biāo)電磁散射、傳播特性的一種重要方法,在隱身飛機概念設(shè)計、吸波材料設(shè)計等方面具有重要作用[3-5].
用FDTD計算目標(biāo)電磁散射的過程中,一般要把計算區(qū)域分成總場區(qū)和散射場區(qū)兩個區(qū)域[6].總場區(qū)的場量包括入射場和散射場,散射場區(qū)的場量只有散射場,沒有入射場,因此由散射場區(qū)進行遠場外推即可得到目標(biāo)的雷達散射截面RCS(Radar Cross Section)[7].總場區(qū)和散射場區(qū)的邊界為連接邊界,入射場通過連接邊界引入到總場區(qū).
散射體位于總場區(qū)內(nèi),當(dāng)總場區(qū)不存在散射目標(biāo)時,理想情況下散射場區(qū)的場量為0,總場區(qū)只有入射場.但在實際計算過程中,即使總場區(qū)沒有散射目標(biāo),散射場區(qū)的場一般也不會為0,這是因為在連接邊界引入入射場時的數(shù)值計算產(chǎn)生了誤差,導(dǎo)致電磁泄漏.
文獻[8]采用分裂平面波時域有限差分法(SP-FDTD,Splitting Plane Wave FDTD)引入入射場,在一維網(wǎng)格中將場量分裂,建立一維輔助網(wǎng)格和三維網(wǎng)格的色散關(guān)系.文獻[9]在電磁散射計算中使用交錯布置的方法引入入射波,該方法基于分裂場麥克斯韋方程組,擴展了多點輔助入射場的作用.文獻[10]采用一維輔助多點模型,通過CN(Crank-Nicholson)差分方法引入入射波.該方法將二維色散方程投影到一維,使電磁泄漏在時間步長取CFL(Courant Friedrichs Levy)時達到很小.
實際計算表明,時間步長以及電磁波入射方向都對電磁泄漏有一定影響,本文研究這些參數(shù)對電磁泄漏的影響的大小.
計算目標(biāo)電磁散射過程中,F(xiàn)DTD計算區(qū)域一般劃分為總場區(qū)和散射場區(qū),在散射場區(qū)還設(shè)置輻射邊界,用于將近場外推至遠場,進一步計算RCS.FDTD計算區(qū)域劃分如圖1所示.
計算過程中,在連接邊界處引入入射場,在此邊界上的時間迭代公式要做一些修改,以保證該點周圍的環(huán)量均為散射場或均為總場.時間迭代結(jié)束后,散射場區(qū)只有散射場.在輻射邊界根據(jù)等效原理,將電磁場外推至遠場,得到目標(biāo)的RCS.
圖1 FDTD計算區(qū)域劃分
當(dāng)總場區(qū)沒有目標(biāo)時,散射場區(qū)仍然會有電磁場,這是數(shù)值計算誤差引入的電磁泄漏.本文對一維和二維情形采取不同的研究方法.一維情形下,用散射場區(qū)電場的平方和來衡量電磁泄漏的大小.在二維情形下,將散射場區(qū)的電磁場通過遠場外推得到“無目標(biāo)”下的遠場RCS,用這種方法得到的RCS類似于微波暗室的背景電平.研究不同時間步長、入射角度下的遠場RCS來研究電磁泄漏的程度.
一維情形下電磁場微分方程具有最簡單的形式,設(shè)電磁波傳播方向為z,電場方向為x,磁場方向為y,則電磁波在真空中傳播的微分方程如式(1)所示.
式中,Ex為電場強度;Hy為磁場強度;μ0為真空磁導(dǎo)率;ε0為真空介電常數(shù).設(shè)c為真空中光速,令,結(jié)合真空中光速公式,將上式改寫成較簡單的形式,如式(2)所示.
式(2)顯得更加簡單、對稱,本文涉及的電場、磁場也均采用上式簡單、對稱的形式.
用一階Mur吸收邊界條件在兩個端點進行截斷.采用一階差分格式,對微分方程進行離散.將計算區(qū)域劃分成100個網(wǎng)格,在距邊界20個網(wǎng)格處設(shè)置連接邊界條件.將ex在網(wǎng)格離散點處采樣,hy在網(wǎng)格中點處采樣,則得到101個ex離散點和100個 hy離散點,設(shè)離散點為 ex(i,n)和hy(i,n),其中,i表示網(wǎng)格點編號,n表示時間步.設(shè)入射波為正諧波,波長為λ.
設(shè)網(wǎng)格長度為Δz,時間步長為Δt,定義空間網(wǎng)格因子為 fs=z/λ,時間網(wǎng)格因子為 ft=Δz/(cΔt).根據(jù)色散條件和穩(wěn)定性條件的要求,fs應(yīng)大于15,一維情形下ft應(yīng)大于1.fs主要與色散誤差相關(guān),而本文主要研究時間網(wǎng)格因子ft的影響,故fs一律取為20.
用fs、ft表示真空中電磁波傳播的差分格式,如式(3)所示.
該差分格式將介電常數(shù)、磁導(dǎo)率、網(wǎng)格尺寸、時間步長等參數(shù)用空間網(wǎng)格因子和時間網(wǎng)格因子進行歸一化,形式更加簡潔,便于編寫程序和進行相應(yīng)的計算.
設(shè)電磁波傳播方向為從左向右,設(shè)置不同時間網(wǎng)格因子,對比計算結(jié)果.運行1000個時間步后,兩種情形下電場分布對比如圖2所示.
圖2 不同時間網(wǎng)格因子電場分布
由圖2可見,ft的取值對電磁泄漏影響嚴(yán)重.ft=1時,電磁泄漏最小,散射場區(qū)電場強度基本為0.而ft=10時,電磁泄漏導(dǎo)致散射場區(qū)電場強度有較大起伏.
為定量研究ft對電磁泄漏的影響,以散射場區(qū)的電場平方和來表征泄漏的能量.取ft的值從1到10,間隔為1,分別計算其電磁泄漏能量.電磁泄漏能量隨時間網(wǎng)格因子的變化如圖3所示.
由計算結(jié)果可得,當(dāng) ft=1時,泄漏能量為 1.5179×10-29,非常接近 0,可以認(rèn)為此時泄漏能量很小,可以忽略不計.由圖3可得,泄漏能量基本隨ft的增加而增加.當(dāng)ft<4時,泄漏能量增加很快,但當(dāng)ft>4時,能量泄漏增加很慢,基本保持在0.06 到0.07 之間.
圖3 電磁泄漏能量隨時間網(wǎng)格因子的變化
下面研究ft在1到2之間變化時,電磁泄漏的變化情況.ft步長取為0.1,計算結(jié)果如圖4所示.
圖4 電磁泄漏隨時間網(wǎng)格因子的變化
由圖4可見,時間網(wǎng)格因子在1到2之間變化時,電磁泄漏能量基本上線性增加.
可見,在一維FDTD中,時間網(wǎng)格因子在滿足穩(wěn)定性條件的基礎(chǔ)上,取值應(yīng)盡量小,即接近于1.
下面研究二維情形下的電磁泄漏.為保證穩(wěn)定性,二維情形ft的下限是計算區(qū)域網(wǎng)格數(shù)為160×160,連接邊界到吸收邊界距離為20個網(wǎng)格,外推邊界到吸收邊界為10個網(wǎng)格.fs與一維情形相同,取為20.電磁波在真空中傳播,無散射體時,不涉及到邊界條件,故橫磁波 TM(Transverse Magnetic)和橫電波TE(Transverse Electric)沒有本質(zhì)區(qū)別.本文以TM波為例來進行分析研究.
入射角度定義為入射波來波方向與水平線夾角,逆時針為正,如圖5所示.
ft取1.5 和10 兩個值,φ 取0°和45°,計算不存在散射目標(biāo)時的遠場雙站RCS,得到4條曲線.雙站角為0°~359°,步長1°.將4條曲線在一張圖上進行對比,如圖6所示.二維RCS單位為m,在圖中換算為對數(shù)值,單位為dBm
圖5 入射角度示意圖
圖6 無目標(biāo)下遠場雙站RCS
上面計算的RCS可以理解為類似微波暗室的“背景電平”.由上圖可見,斜向45°照射時雙站RCS明顯小于正入射時雙站RCS,一定程度上反映了斜向入射情況下電磁泄漏要小于正入射.將360個雙站RCS值進行算術(shù)平均,RCS均值表如表1所示.
表1 雙站RCS全向均值統(tǒng)計 dBsm
由表1可知,入射角45°下RCS遠低于入射角0°,ft=1.5時 RCS遠低于 ft=10.可見,ft與入射角對電磁泄漏影響很大,且由表1可知其差別甚至接近30 dB.
下面研究ft對電磁泄漏的影響.計算過程中取入射角45°,ft取值從 1.5 到10,步長 1.5,其他參數(shù)同前.RCS均值隨ft的變化曲線如圖7所示.
圖7 RCS均值隨ft變化
由圖7可知,ft從1.5 變化到2.5,RCS均值迅速增加,而ft超過2.5之后,RCS均值的變化區(qū)域平緩,逐漸趨于一個固定的值,最后維持在約-18 dB左右.ft取值接近穩(wěn)定性條件,可使遠場RCS降低約30 dB.
二維情形下電磁泄漏與入射角度也密切相關(guān).下面研究隨入射角度變化的影響,網(wǎng)格劃分同上.由于對稱性,入射角取為0°~45°就能夠代表所有的情形.入射角步長取為5°.
用遠場外推方法計算雙站RCS,雙站RCS均值隨入射角的變化如圖8所示.
圖8 雙站RCS均值隨入射角度的變化
由圖8可見,雙站RCS均值隨入射角度增大而減小.在入射角較小時,雙站RCS均值隨入射角改變比較緩慢,入射角大于15°后,雙站RCS均值改變逐漸加快.當(dāng)入射角為45°時,達到最小值,約-37 dB.不同的入射角雙站RCS均值差別可達30 dB.
本文用不同的衡量方法對一維、二維情形下連接邊界導(dǎo)致的電磁泄漏進行了研究,主要結(jié)論如下:
1)為減小電磁泄漏,時間步長在滿足穩(wěn)定性要求的前提下,應(yīng)越小越好.在二維情形下,時間步長過大引起的電磁泄漏可比時間步長接近穩(wěn)定性條件時大30 dB.電磁泄漏隨時間步長變化的趨勢先慢后快,時間網(wǎng)格因子小于2時,基本呈線性關(guān)系.時間網(wǎng)格因子大于3后,電磁泄漏隨時間步長的增加緩慢變化,趨于穩(wěn)定
2)入射角對電磁泄漏也有很大影響.當(dāng)入射波斜入射到連接邊界時,不同的入射角對電磁泄漏也有很大影響.當(dāng)入射角與計算邊界成斜角時,電磁泄漏較小.對于正方形區(qū)域,入射角度45°時電磁泄漏最小.垂直入射和斜入射時,電磁泄漏隨入射角度變化較為緩和,其他角度變化較劇烈.
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