紀穎婕 葛立宏 苗江霞

[摘要] 目的 利用激光掃描系統(tǒng)定量研究學(xué)齡前兒童吮指習(xí)慣對腭部形態(tài)發(fā)育的影響。方法 通過調(diào)查問卷方式選取有吮指習(xí)慣的兒童（吮指組）和無口腔不良習(xí)慣的兒童（對照組）各20名，取上頜印模，灌制石膏模型，然后激光掃描，三維重建，定點測量腭前后部長寬高等參數(shù)，并計算高寬比、長寬比和腭前后部寬度比。采用t檢驗比較兩組腭部形態(tài)發(fā)育的差異。結(jié)果 吮指組與對照組兒童的腭后部寬度、腭前部長度及高度均有統(tǒng)計學(xué)差異，腭后部及前部的高寬比、長寬比也均有統(tǒng)計學(xué)差異（P<0.05）。吮指組兒童的上腭較對照組兒童相對高拱和窄長。結(jié)論

吮指習(xí)慣會造成學(xué)齡前兒童腭部形態(tài)發(fā)育的一些改變。激光掃描用來測量腭部的空間形態(tài)具有一定的可行性。

[關(guān)鍵詞] 乳牙列； 吮指； 激光掃描； 腭部形態(tài)

[中圖分類號] R 780.2 [文獻標志碼] A [doi] 10.7518/hxkq.2013.04.016

吮指習(xí)慣是兒童時期常見的口腔不良習(xí)慣之一，其在乳牙期和替牙期的發(fā)生率分別為12.4%和22.1%[1]。吮吸在嬰幼兒生長發(fā)育初期有特定的生理意義，但長期特別是持續(xù)到混合牙列期的吮指習(xí)慣，則會造成牙列、牙弓甚至頜骨的異常[2-6]。本研究采用牙激光掃描儀從定量分析的角度來研究吮指對腭部形態(tài)的影響。

1 材料和方法

1.1 研究對象

選取北京市城區(qū)3所幼兒園（中科院第三幼兒園、

空軍指揮學(xué)院幼兒園、航天航空機關(guān)幼兒園）以及部

分就診于北京大學(xué)口腔醫(yī)院兒童口腔科的學(xué)齡前（3～6歲）兒童為研究對象。向看護人發(fā)放調(diào)查問卷，調(diào)查

問卷答案可多選，填好后收回，獲得個人基本資料及

是否具有吮指習(xí)慣、吮指頻率、吮吸手指等信息。

病例納入要求：1）乳牙列的學(xué)齡前兒童；2）吮指組兒童要求至調(diào)查時有頻繁的（≥15次/天）吮指習(xí)慣，并且持續(xù)至少1年，無其他口內(nèi)不良習(xí)慣，如咬指甲、磨牙癥等；對照組兒童要求無吮指等口腔不良習(xí)慣，性別與吮指兒童一致，年齡相差不超過3個月；3）排除做過正畸治療，或有缺失牙、融合牙、多生牙、大面積充填體等其他可能影響牙弓長寬高等因素的兒童；4）口腔衛(wèi)生良好，牙周健康；5）能夠配合操作。吮指組和對照組兒童各納入20名。研究通過了北京大學(xué)生物醫(yī)學(xué)倫理委員會倫理審查（批準號：IRB00001052-09005）。

1.2 激光掃描

由家長知情同意后，清潔兒童口腔，取上頜印模，10 min內(nèi)灌制超硬石膏模型，要求齦緣清晰可辨，否則重新取灌。使用國產(chǎn)D.02-L-3D SCANNER牙模型三維激光掃描儀進行模型的激光掃描，掃描精度為0.05 mm。運用計算機軟件Geomagic Studio 8.0（Raindrop公司，美國）進行處理噪點、剪切牙弓外多余點云、修補片狀缺損以及平均分布點云。如果點云片狀缺損涉及到需測量的范圍，則調(diào)整角度重新掃描。然后通過Imageware 11.0軟件（Siemens公司，德國）進行三維重建（圖1），定點測量各參量值。

1.3 定點測量

具體的定點測量參量如下（圖2）。1）腭后部寬度：上頜第二乳磨牙腭側(cè)齦緣最低點連線的長度（淺藍色線）。2）腭后部高度：通過雙側(cè)上頜第二乳磨牙腭側(cè)齦緣最低點及乳切牙腭側(cè)齦緣最低點連線的中點這三點做基準平面[7-9]（紅色矩形），在基準平面上重新建立坐標系，使x軸和y軸在基準平面上生成垂直于基準平面的z軸，將腭后部寬度這條線段沿z軸投影，在腭蓋上形成一條弧。將弧與腭中縫的交點與腭后部寬度線段中點的連線長度，定義為腭后部高度（綠色線）。3）腭后部長度：上頜第二乳磨牙腭側(cè)齦緣最低點連線中點與切牙乳頭最前端連線的長度（深藍色線）。4）腭前部長、寬、高度：將上頜乳尖牙腭側(cè)齦緣最低點連線的長度定義為腭前部寬度，其他參照點和定點方法類似，測得腭前部長、寬、高的值。各值均由同一個人測得，測量3次取平均值，每次測量相隔至少1周，測量值保留至0.01 mm。需測量的文件用數(shù)字編號，測量者不知道分組情況。

1.4 統(tǒng)計分析

采用SPSS 16.0軟件進行分析，計算腭后部高寬比、腭后部長寬比、腭前部高寬比、腭前部長寬比、腭前后部寬度比等參量，用t檢驗分析吮指組與對照組腭部形態(tài)發(fā)育差異。統(tǒng)計學(xué)差異閾值P=0.05。

2 結(jié)果

2.1 基本情況

吮指組20名兒童中，男孩9名，女孩11名，年齡范圍3歲11個月～5歲10個月，平均4歲4個月。吮指習(xí)慣：除2名兒童未填外，吸吮拇指者最多，為56%（10/18），其次為食指44%（8/18），中指11%（2/18），示指和小指均為6%（1/18）。對照組兒童性別構(gòu)成同吮指組，年齡范圍3歲10個月～6歲，平均4歲6個月。

2.2 各測量項目及比值

2組腭前后部的長寬高度測量值見表1。與對照組相比，吮指組腭后部寬度減小，腭前部長度和高度均增加，具有統(tǒng)計學(xué)差異（P<0.05）。說明吮指兒

童的腭后部變窄，腭前部形態(tài)變長且高聳。

2組腭前后部各項目的比值見表2。吮指組腭后部高寬比和長寬比高于對照組，具有統(tǒng)計學(xué)差異（P<

0.05），說明吮指組兒童的上腭后部較對照組兒童相對高窄，整個上腭相對窄長。吮指組腭前部高寬比和長寬比高于對照組，具有統(tǒng)計學(xué)差異（P<0.05），說明吮指兒童乳尖牙前部分上腭較對照組兒童相對高拱和窄長。吮指組與對照組的腭前后部寬度比未見統(tǒng)計學(xué)差異。

3 討論

牙模型三維激光掃描儀具有非接觸式、快速省時、精確度高、可定量、數(shù)據(jù)易于儲存和調(diào)用方便、操作簡單等優(yōu)點，與手工直接測量相比具有較高的可靠性和穩(wěn)定性[10-12]。其最突出的優(yōu)點是該系統(tǒng)

能與逆向工程軟件結(jié)合使用將被測物體表面形態(tài)數(shù)字化，可隨意提取模型表面任意點的三維坐標，求

出任意線距、角度、面積、線與線及面與面之間的幾何參數(shù)，這是用傳統(tǒng)手工測量方法，如角規(guī)測量法、銅絲法根本無法實現(xiàn)的。本研究借鑒了一些正畸學(xué)擴弓的定量研究[7-9]，同時兼顧儀器的性能[10-12]，

并排除乳磨牙萌出高度和乳尖牙磨耗的影響，采用齦緣最低點來規(guī)定各參量的標志點，更能反映出基骨形態(tài)的特點。

關(guān)于吮指習(xí)慣造成錯畸形的研究，常見的是前牙開、深覆蓋、后牙反，磨牙Ⅱ類關(guān)系[2-6]等。

雖然臨床醫(yī)生也發(fā)現(xiàn)吮指兒童有腭蓋高拱的特點，但國內(nèi)外相關(guān)文獻中很少有腭部三維測量和形態(tài)的描述。本研究以雙側(cè)第二乳磨牙腭側(cè)齦緣最低點連線作為腭后部寬度，結(jié)果表明吮指組的腭后部寬度為（27.16±2.17） mm，對照組為（28.52±2.41） mm，二者之間具有統(tǒng)計學(xué)差異。Cozza等[13]研究了80名混合牙列期仍有非營養(yǎng)性吮吸習(xí)慣的兒童，以雙側(cè)上頜第一磨牙中央窩連線作為上頜牙弓的寬度在石膏模型上測量，結(jié)果顯示吮指組的上牙弓寬度明顯窄于對照組，認為非營養(yǎng)性吮吸習(xí)慣會造成上牙弓的縮窄。Warren等[14]和Yemitan等[15]將長期吮指的乳牙列兒童根據(jù)吮指持續(xù)時間由短至長分為5個亞組，發(fā)現(xiàn)隨吮指時間延長，上頜牙弓寬度有縮小的趨勢，吮指時間長于4年時會出現(xiàn)上頜牙弓寬度明顯縮窄。

本研究中，腭后部寬度、腭前部長度和高度在兩組間比較時有統(tǒng)計學(xué)差異，這與臨床上所見吮指兒童上頜前突、腭部高窄的表現(xiàn)是一致的。其原因可能是：在吮指過程中，下頜和舌體下降，上頜內(nèi)側(cè)缺乏橫向肌張力作用，再加上吮吸動作時頰肌的力量和手指的撬桿作用，使前牙深覆蓋，腭蓋高拱[2]。本研究同時還分析了腭部的高寬比和長寬比，因為比值相對于絕對值更能反映出形態(tài)上的差別，又能降低個體發(fā)育差異的影響。吮指組腭后部高寬比和腭前部高寬比、長寬比都較對照組大，但比值上相差并不大，因此其并不一定具有臨床意義。

在吮吸行為中，吮吸手指、持續(xù)時間、強度和頻度的不同都可能會影響本研究的結(jié)果，但由于樣本量的限制，本研究并未對這些因素分亞組進行分析。本研究中，持續(xù)至4歲以后的吮指習(xí)慣已經(jīng)對骨的發(fā)育造成影響?？紤]到口腔不良習(xí)慣破除后，牙弓和頜骨的發(fā)育在兒童的生長發(fā)育期會有一定的“自我修正”作用[16]，因此，有吮指習(xí)慣兒童的家長在兒童4歲時要引起重視，積極破除該不良習(xí)慣。如果錯過了該時期，到恒牙期后可能需要更復(fù)雜更高風險的治療。

本研究表明：延長的吮指習(xí)慣會造成乳牙期腭部形態(tài)發(fā)育上的一些改變，使腭部形態(tài)高拱和窄長。同時，三維激光掃描系統(tǒng)定量測量腭部形態(tài)具有一定的可行性。

致謝：北京大學(xué)口腔醫(yī)學(xué)院計算機中心王勇工程師、趙一姣老師及北京大學(xué)第一醫(yī)院臨床藥理基地李雪迎老師對本研究給予了幫助，特此感謝！

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（本文編輯 李彩）