劉瑩瑩,李明霞,黃志全
(華北水利水電學(xué)院,河南鄭州 450011)
膨脹土主要由強(qiáng)親水性黏土礦物蒙脫石和伊利石組成,是具膨脹結(jié)構(gòu)、多裂隙、強(qiáng)脹縮和強(qiáng)衰減的高塑性黏性土[1]。膨脹土特殊的工程性質(zhì)和復(fù)雜的內(nèi)部結(jié)構(gòu)對(duì)建筑物的破壞常常具有多次反復(fù)和長(zhǎng)期潛在的危險(xiǎn)性,給人類造成巨大的災(zāi)害。要從本質(zhì)上研究膨脹土就必須從微觀方面著手,因?yàn)榕蛎浲梁暧^物理力學(xué)性質(zhì)的變化在根本上取決于其微觀結(jié)構(gòu)。
1925年,Terzaghi首次提出了土的微觀結(jié)構(gòu),但當(dāng)時(shí)由于測(cè)試手段和計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)的限制,過(guò)去對(duì)微觀結(jié)構(gòu)的研究大多以定性分析為主。周宇泉[2]利用微細(xì)結(jié)構(gòu)光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)黏性土壓縮過(guò)程中微細(xì)結(jié)構(gòu)特征參數(shù)的變化進(jìn)行了定量分析。電子顯微鏡,尤其是掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,簡(jiǎn)稱SEM)的出現(xiàn),大大加速了土的微觀結(jié)構(gòu)的研究進(jìn)程。70年代以來(lái),由于電子計(jì)算機(jī)技術(shù)的不斷提高,計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)被引入土的微觀結(jié)構(gòu)研究中,使土的微觀結(jié)構(gòu)定量化分析水平大大提高[3]。本文主要從定性和定量?jī)煞矫鎸?duì)膨脹土的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析。
試驗(yàn)所用膨脹土取自南水北調(diào)中線禹州段新開挖的同一土坑內(nèi),取樣位置埋深約4 m,呈紅褐色,偶見少量鈣質(zhì)結(jié)核。土樣自由膨脹率為42%,屬于弱膨脹土。膨脹土的基本物理性質(zhì)指標(biāo)見表1。
表1 膨脹土的物理性質(zhì)指標(biāo)
在膨脹土的微觀結(jié)構(gòu)研究中,SEM試樣能否如實(shí)反映土的原始結(jié)構(gòu)特征非常關(guān)鍵,這就要靠SEM試樣的制備技術(shù)來(lái)保證。SEM試樣制備方法如下:
1)切樣:在每個(gè)大樣的中間部位或剪切破壞部位取2個(gè)SEM試樣,SEM試樣的上表面要保留土的原來(lái)特性,其它5個(gè)表面可以用小刀刮平,并使下表面與上表面平行,然后對(duì)每個(gè)SEM試樣進(jìn)行編號(hào)。切樣時(shí)最好選在典型破壞面上。
2)烘干:將制好的樣品放在真空干燥箱中進(jìn)行烘干,時(shí)間為24 h。
3)鍍金:將烘干后的樣品每3個(gè)或4個(gè)放在一起,用導(dǎo)電膠帶將其粘到圓形托盤上,并在試樣上表面的邊緣部分也粘上導(dǎo)電膠帶(導(dǎo)電膠帶不宜太寬),目的是增加其導(dǎo)電性,另外還要在圓形托盤的底部標(biāo)上試樣編號(hào),編號(hào)位置要與試樣一一對(duì)應(yīng)。然后將其放在E-1010離子濺射儀中抽真空及鍍金,真空度達(dá)到1~10時(shí)滿足要求,時(shí)間大約3~4 h。
為揭示膨脹土在動(dòng)靜力學(xué)作用下的微觀結(jié)構(gòu)改變,本試驗(yàn)采用日本生產(chǎn)的S-3000 N型微觀掃描電子顯微鏡和E-1010離子濺射儀。
S-3000 N型微觀掃描電子顯微鏡的工作原理是通過(guò)利用一定能量的電子束轟擊經(jīng)過(guò)處理的樣品表面,使其產(chǎn)生隨樣品表面形態(tài)起伏而變化的信號(hào),這些信號(hào)經(jīng)過(guò)探測(cè)、放大、處理后輸送到顯示系統(tǒng),形成樣品被分析區(qū)域的掃描電子圖像[4]。
本文中對(duì)膨脹土的試驗(yàn)分宏觀試驗(yàn)和微觀試驗(yàn)兩方面。宏觀試驗(yàn)分為動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)和靜力學(xué)試驗(yàn)兩種。動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)主要是動(dòng)單剪試驗(yàn),靜力學(xué)試驗(yàn)包括三軸試驗(yàn)和殘余剪試驗(yàn)。三軸試驗(yàn)從3D方面反映土體的微觀結(jié)構(gòu)變化,動(dòng)單剪試驗(yàn)和殘余剪試驗(yàn)從2D方面反映土體的微觀結(jié)構(gòu)變化。為了使試驗(yàn)的結(jié)果具有可比性,以上3種試驗(yàn)采用的土樣均為同一位置同一深度的膨脹土,試驗(yàn)過(guò)程的垂直壓力均設(shè)置為100 kPa。
微觀試驗(yàn)主要是運(yùn)用掃描電子顯微鏡對(duì)原狀膨脹土以及進(jìn)行上述試驗(yàn)后的膨脹土的微觀試樣進(jìn)行掃描,獲得SEM圖片。在對(duì)膨脹土的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行定量分析時(shí),首先利用Matlab圖像處理軟件對(duì)SEM圖片進(jìn)行二值化處理。二值化處理的目的是使圖片中孔隙和顆粒便于區(qū)分,二值化處理后白色部分代表土顆粒,黑色部分代表孔隙。圖1為二值化處理前后的對(duì)比圖。然后再利用Matlab圖像處理軟件對(duì)二值化處理后的圖片進(jìn)行參數(shù)提取,提取的參數(shù)主要有孔隙或顆粒的面積及周長(zhǎng)、長(zhǎng)軸長(zhǎng)度和短軸長(zhǎng)度、長(zhǎng)軸的傾角等[5]。
圖1 SEM圖片二值化處理前后對(duì)比
對(duì)膨脹土的微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析時(shí),主要從定性和定量?jī)蓚€(gè)方面進(jìn)行。
為了使定性分析具有可比性,本文對(duì)原狀土樣和動(dòng)靜力學(xué)試驗(yàn)后的土樣進(jìn)行分析時(shí)統(tǒng)一采用放大1 000倍的SEM圖片。從圖2可以看出:原狀膨脹土顆粒的棱角比較明顯,顆粒大小不均勻,大顆粒中間夾雜著許多小顆粒,顆粒排列毫無(wú)規(guī)律,土體結(jié)構(gòu)性強(qiáng);動(dòng)單剪試驗(yàn)后的顆粒大小均勻,大顆粒消失不見,這是由于試樣在剪切過(guò)程中大顆粒被壓碎成小顆粒的緣故,同時(shí)顆粒的棱角也變得圓滑,顆粒排列依然毫無(wú)規(guī)律;殘余剪試驗(yàn)和三軸試驗(yàn)后的土體結(jié)構(gòu)明顯變?nèi)?,顆粒排列具有明顯定向性,殘余剪試驗(yàn)后的顆粒排列在水平方向具有明顯的定向性,三軸試驗(yàn)后的顆粒排列在垂直方向具有明顯的定向性,圖中箭頭方向代表顆粒的排列方向。
為表述方便,以下各表中用字母Y代表原狀膨脹土,DY代表動(dòng)單剪試樣,CY代表殘余剪試樣,SY代表三軸試樣。
2.2.1 孔隙度nw分析
孔隙度nw表示經(jīng)二值化處理后的SEM圖片中各孔隙面積與總面積的比值。表達(dá)式為
式中,sw為圖片中的孔隙面積,sr為圖片的總面積。
從表2可以看出:原狀土的孔隙度最大,動(dòng)靜力學(xué)試驗(yàn)后孔隙度都變小了,這說(shuō)明試驗(yàn)后土樣都被擠密了。但是動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)后試樣的孔隙度比靜力學(xué)試驗(yàn)后的大,這是因?yàn)閯?dòng)力學(xué)試驗(yàn)過(guò)程中設(shè)置有剪切頻率,剪切在水平方向左右反復(fù)進(jìn)行,而且剪切沿整個(gè)試樣高度,沒有固定的剪切面;而靜力學(xué)試驗(yàn)的剪切在一個(gè)方向進(jìn)行,有固定的剪切面,所以致使在剪切方向的土體更加密實(shí)。
表2 原狀土樣與動(dòng)靜力學(xué)試驗(yàn)后試樣孔隙度對(duì)比
圖2 原狀土樣與動(dòng)靜力學(xué)試驗(yàn)后試樣的SEM圖片
2.2.2 孔隙的豐度C分析
孔隙的豐度C表示孔隙的短軸與長(zhǎng)軸的比值。表達(dá)式為
式中,B,L分別表示孔隙的短軸和長(zhǎng)軸的長(zhǎng)度。
C的大小反映了孔隙在二維平面內(nèi)所展示的形狀特征。豐度C在0~1之間,C值越小,反映孔隙越趨向于長(zhǎng)條形;C值越大,則孔隙越趨向于圓形[6]。本文將豐度C劃分為4個(gè)區(qū)間,分別是0~0.25,0.25~0.50,0.50~0.75及0.75~1.00。豐度 C在0~0.25區(qū)間,代表孔隙為長(zhǎng)條形;在0.25~0.50區(qū)間,代表孔隙接近長(zhǎng)條形;在0.50~0.75區(qū)間,代表孔隙為扁圓形;在0.75~1.00區(qū)間,代表孔隙為圓形。
從表3可以看出:膨脹土原狀土樣的孔隙豐度C在0~0.25和0.25~0.50區(qū)間內(nèi)占了94%,平均豐度C為0.28,說(shuō)明膨脹土原狀土樣的孔隙以接近長(zhǎng)條形為主。動(dòng)單剪試驗(yàn)后的孔隙豐度C在0.50~0.75區(qū)間占最多,達(dá)47%,平均豐度為0.62,說(shuō)明動(dòng)單剪試驗(yàn)后的孔隙以扁圓形為主。這是由于在試驗(yàn)過(guò)程中土樣被重復(fù)剪切,顆粒重新排列,顆粒與顆粒之間的孔隙由接近長(zhǎng)條形變?yōu)楸鈭A形。殘余剪試驗(yàn)和三軸試驗(yàn)后的平均孔隙豐度分別為0.47和0.45,介于0.25~0.50之間,說(shuō)明靜力學(xué)試驗(yàn)后的孔隙以接近長(zhǎng)條形為主。
表3 原狀土樣與動(dòng)靜力學(xué)試驗(yàn)后試樣孔隙豐度C分布
2.2.3 顆粒的定向頻率Fi(α)分析
為表示顆粒在某一方向的分布強(qiáng)度,將0°~180°分成n個(gè)區(qū)間,則每一區(qū)間代表的角度范圍α=180°/n,由此可以求出第i個(gè)區(qū)間顆粒的定向頻率,其表達(dá)式為
式中,mi為長(zhǎng)軸方向在第i個(gè)區(qū)間內(nèi)的顆粒個(gè)數(shù),M為長(zhǎng)軸方向在0°~180°區(qū)間內(nèi)的顆??倲?shù)。
圖3 原狀土樣與動(dòng)靜力學(xué)試驗(yàn)后顆粒定向頻率分布
一般情況下認(rèn)為顆粒的長(zhǎng)軸方向代表了顆粒的排列方向。本文在分析顆粒的定向頻率時(shí)用雷達(dá)圖來(lái)進(jìn)行描述。由于數(shù)據(jù)太多,避免在半圓中顯得混亂,本文把360°的圓看作180°,來(lái)分散各個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn),這樣就可以把每一區(qū)間的分布強(qiáng)度清楚表示出來(lái),便于觀察和分析[6]。本文中取 α =10°,則定向角在 0°~180°內(nèi)有18個(gè)區(qū)間。
從圖3可以看出:原狀土和動(dòng)單剪試驗(yàn)后的顆粒定向頻率在各個(gè)區(qū)間的分布比較均勻,大致都在5%~10%之間,說(shuō)明其顆粒排列不具定向性。殘余剪試驗(yàn)后顆粒的定向頻率主要集中在0°~10°,10°~20°,160°~170°及170°~180°這 4 個(gè)區(qū)間,在這4 個(gè)區(qū)間定向頻率的分布大致都在10% ~15%之間,遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其它區(qū)間的分布,說(shuō)明殘余剪試驗(yàn)后顆粒在水平方向具有明顯的定向性。三軸試驗(yàn)后顆粒的定向頻率主要集中在70°~80°,80°~90°,90°~100°及 100°~110°這4個(gè)區(qū)間,這4個(gè)區(qū)間的定向頻率分布大致也都在10%~15%之間,說(shuō)明三軸試驗(yàn)后的顆粒排列在垂直方向具有明顯的定向性。產(chǎn)生這種現(xiàn)象的原因是動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)過(guò)程中設(shè)置有剪切頻率,邊振動(dòng)邊剪切,剪切沿整個(gè)試樣高度進(jìn)行,沒有固定的剪切面;而靜力學(xué)試驗(yàn)的剪切只沿一個(gè)方向進(jìn)行,有固定的剪切面。
1)膨脹土原狀土樣的顆粒棱角比較明顯,顆粒大小不均勻,大顆粒中間夾雜著許多小顆粒,土體結(jié)構(gòu)性強(qiáng);動(dòng)靜力學(xué)試驗(yàn)后顆粒棱角變得圓滑,大顆粒消失不見,顆粒大小比較均勻,土體結(jié)構(gòu)性變?nèi)酢?/p>
2)動(dòng)靜力學(xué)試驗(yàn)后,土的孔隙比都減小了,說(shuō)明在剪切過(guò)程中土體被擠密。
3)動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)后,顆粒排列無(wú)定向性;靜力學(xué)試驗(yàn)后,顆粒排列有明顯定向性。其中殘余剪試驗(yàn)后顆粒在水平方向有明顯定向性,三軸試驗(yàn)后顆粒在垂直方向有明顯定向性。這是由于動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)過(guò)程中設(shè)置有剪切頻率,邊振動(dòng)邊剪切,剪切沿整個(gè)試樣高度進(jìn)行,沒有固定的剪切面;而靜力學(xué)試驗(yàn)的剪切只沿一個(gè)方向進(jìn)行,有固定的剪切面。
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