周愛國,陳焱鑫,彭少華,王 俊
(贛州有色冶金研究所,江西 贛州 341000)
早在1875年,Hillebrand和Norton用熔鹽電解法制備出了Pr-Nd合金,1975年美國在氟化物熔鹽體系中電解氧化物制備了稀土混合金屬[1]。目前電解槽大型化及金屬質(zhì)量高純化成為國內(nèi)各研究院所與稀土冶煉企業(yè)研究的熱點。張選旭重點研究了電解法制備金屬釹時產(chǎn)生鎢、鉬、碳、氧等雜質(zhì)的原因[2]。李建兵等對6 000A電解槽生產(chǎn)鐠釹合金碳含量的控制方法進行了分析[3]。文章針對10kA電解槽生產(chǎn)鐠釹合金過程中,出現(xiàn)原料的硅含量超標,分析了二氧化硅對金屬質(zhì)量、電流效率爐況的影響,提出了減小原料負面影響的措施。
由高頻開關電源提供10~15kA的直流電;自行設計的10kA稀土金屬熔鹽電解槽,槽體砌筑完成后烘干;裝上鎢陰極與石墨陽極,然后投氟化物,即氟化鐠釹∶氟化鋰為(9~10)∶1,起弧升溫,在1 000~1 100℃時,緩慢添加氟化物至電解所需的液面高度。主要工藝參數(shù):陰極電流密度4.5~6.5A/cm2,陽極電流密度1~3A/cm2;極間距約為10cm;氧化鐠釹加入量為26~34kg/h;采用虹吸方式出爐,每4h出一爐,視爐況適量補加電解質(zhì)。
生產(chǎn)中使用的主要原材料有:氧化鐠釹(純度≥99%);氟化鐠釹(純度≥98%,含二氧化硅0.92%~1.2%,鋁、鈣、鎂等其他雜質(zhì)含量均小于0.05%);氟化鋰(工業(yè)級)。由于采用氟化氫銨法生產(chǎn)氟化鐠釹,反應容器為陶制器皿,進入產(chǎn)品中的雜質(zhì)以二氧化硅為主,還有少量的鋁硅酸鹽。
根據(jù)國標GB/T 12690.7—2003,采用紅外分光光度法檢測鐠釹合金的硅含量。以爐次為橫坐標,合金中硅的質(zhì)量百分數(shù)、補加電解質(zhì)的量分別為主、次縱坐標,作圖1。斜線為線性回歸所得硅含量與爐次關系曲線。
由圖1可以看出,前3爐鐠釹合金的硅含量在0.05%以上,到第5爐合金的硅含量降至0.05%以下,第8爐鐠釹合金的硅含量劇增至0.098%,第9、第10、第12、第13、第15爐的硅含量圍繞0.05%上下大幅波動,第16爐以后合金的硅含量大多在0.02%~0.05%范圍內(nèi)波動,只有第24、第34、第42、第43、第50、第57爐鐠釹合金的硅含量超過0.05%??傮w上鐠釹合金的硅含量隨電解時間的增加呈現(xiàn)減小趨勢。起初新電解槽有縫隙,有一定的滲漏,加入電解質(zhì)量較大,第16爐后視爐況補加電解質(zhì),部分爐次補加量較大,其對應合金的硅含量出現(xiàn)劇增。
綜上可得,由氟化物帶入電解槽內(nèi)的硅富集及一次性補加過量電解質(zhì)造成電解槽內(nèi)的硅濃度升高,最終導致合金的硅含量出現(xiàn)劇增。當補加氟化物較少時,產(chǎn)品的硅含量有著明顯改善,因此可低溫電解以減少電解質(zhì)揮發(fā),從而減小電解質(zhì)補加量。
圖1 各爐合金的硅含量
利用式(1)計算生產(chǎn)各爐鐠釹合金的電流效率。
式中:η為電流效率;Q為實際金屬量,g;C為電化當量,g/(A·h),鐠釹合金的電化當量為1.7836g/(A·h);I為電流強度,A;t為電解時間,h。
圖2 各爐次的電流效率
以爐次為橫坐標,電流效率、電解質(zhì)補加量分別為主、次縱坐標作圖2,虛斜線為線性回歸所得電流效率與爐次的曲線關系。
由圖2可知電流效率與補加電解質(zhì)的量成反比,在每6~8爐的區(qū)間內(nèi)出現(xiàn)電流效率先增大后減小,波動頻率與硅含量類似,總體表現(xiàn)為增大趨勢。一次性加入大量電解質(zhì)時電流效率劇降,最低為57.4%。
起爐時發(fā)現(xiàn)爐底沉積大量泥狀物,兩三天后固化。此后每隔10~18爐,爐底出現(xiàn)高黏度的糊狀物,掏出這些物質(zhì)后爐底黏稠度變小。另外一臺電解槽采用含硅量小于0.05%的電解質(zhì),其他原料及操作條件相同,爐底黏度在第30~40爐后才變大。說明原料中二氧化硅與鋁硅酸鹽富集后使電解質(zhì)黏度變大,低溫時容易結(jié)底。特別是生成高熔點的SiC造成永久性結(jié)底,嚴重影響操作。
硅進入合金的途徑有:(1)硅離子還原為單質(zhì)進入合金;(2)二氧化硅沉至槽底直接污染產(chǎn)品。根據(jù)文獻[3-4],熔鹽電解氧化鐠釹制備鐠釹合金過程中,Nd2O3在熔鹽中直接電解,Pr6O11在熔鹽中先發(fā)生預還原反應生成Pr2O3再電解。采用石墨作陽極,陽極生成CO與CO2氣體。SiO2在熔鹽中與氟離子反應主要生成SiF62-,Si4+在陰極上析出單質(zhì)硅,陽極主要析出CO[5]。雖然高溫時Si—O—C體系存在SiO2、SiO、Si、SiC、C、CO等物質(zhì),副反應多,但主要反應還是SiO2與C生成單質(zhì)硅與一氧化碳的還原反應[6]。列出各反應式(表1),查相關物質(zhì)熱力學數(shù)據(jù)[7]。由于所有反應在敞口電解槽內(nèi)發(fā)生,可視為恒壓,應用式(2)近似計算各反應在1 300K時的吉布斯自由能。
利用式(3)計算理論分解電壓:
表1為氟化物體系熔鹽電解制備鐠釹合金過程中,生成鐠釹合金及硅的主要反應及理論分解電壓。
表1 各反應的理論分解電壓
從表1可以看出在1 300K時,SiO2與C反應的比Nd2O3、Pr2O3與C反應的更小,電解時Si先于鐠釹析出。這從理論上論證了二氧化硅主要通過還原成單質(zhì)硅的形式進入鐠釹合金中,造成硅含量超標。一次性補加過量電解質(zhì)會沉底,造成槽底硅濃度劇增,加劇了硅離子的還原,相當一部分電流將用于還原Si,嚴重影響電流效率。
(1)在活性石墨陽極下,1 300K時SiO2與C生成Si、CO的反應比Nd2O3、Pr2O3與C生成Nd、Pr、CO2、CO的反應更容易發(fā)生。鐠釹合金的硅超標主要是原料中的SiO2被還原成Si造成的。
(2)電解質(zhì)中高含量的SiO2降低了電流效率,不利于節(jié)能降耗。
(3)硅化合物在電解槽內(nèi)富集使電解質(zhì)黏度增大,甚至結(jié)底,嚴重影響爐況。
(4)電解生產(chǎn)鐠釹合金要嚴控原料SiO2含量。以下措施可減小氟化物中SiO2的不利影響:低溫電解,多次少量補加電解質(zhì),多撈渣。另外可通過提高產(chǎn)量來減小合金的硅質(zhì)量分數(shù)。
[1]徐光憲.稀土:中冊[M].第2版.北京:冶金工業(yè)出版社,1976,97-98.
[2]張選旭.電解法生產(chǎn)金屬釹中非稀土雜質(zhì)分析[J].江西有色金屬,1998,12(3):41-43.
[3]李建兵,萬 軍,陳虎兵,等.電解槽生產(chǎn)鐠釹合金過程中碳含量的控制[J].稀有色金屬快報,2008,27(11):41-43.
[4]張小聯(lián),賴華生.金屬鐠電解制備反應機理淺析[C]//中國稀土學會第四屆學術年會論文集.北京:中國稀土學會,2001,212-215.
[5]Boen R,Bouteillon J.The electro and position of silicon in fluoridemelts[J].JournalofAppliedElectrochemistry,1983,(13):277-288.
[6]李勇輝,明大增,李志祥,等.以二氧化硅為硅源制備純硅的方法[J].化工生產(chǎn)與技術,2010,17(6):35-38.
[7]葉大倫.實用無機物熱力學數(shù)據(jù)手冊[M].北京:冶金工業(yè)出版社,1981,154-934.