李兆太 王成森 陳華生
南京金陵檢測(cè)工程有限公司 江蘇南京 210000
TOFD檢測(cè)技術(shù)與RT檢測(cè)技術(shù)對(duì)比
李兆太 王成森 陳華生
南京金陵檢測(cè)工程有限公司 江蘇南京 210000
通過(guò)對(duì)含有多種缺陷的53塊試件進(jìn)行TOFD檢測(cè)和RT檢測(cè),將兩種檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行比對(duì),從而得出哪種檢測(cè)方法更為有效。
TOFD檢測(cè)技術(shù) RT檢測(cè)技術(shù) 對(duì)比
TOFD檢測(cè)(又稱衍射時(shí)差法超聲檢測(cè))是目前較為先進(jìn)的一種檢測(cè)技術(shù),它能夠全程記錄檢測(cè)過(guò)程的參數(shù)和圖像,可存檔、可追溯,檢測(cè)靈敏度高。JB/T4730.10-2010《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第10部分 衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)已于2010.12.15實(shí)施,TSG R0004-2009《固定式壓力容器安全監(jiān)察規(guī)程》和GB150.4-2011《壓力容器 第4部分 制造、檢驗(yàn)和驗(yàn)收》標(biāo)準(zhǔn)均已明確規(guī)定TOFD檢測(cè)法可以替代RT檢測(cè)法。
TOFD檢測(cè)技術(shù)是一種新的檢測(cè)方法,雖然上述標(biāo)準(zhǔn)對(duì)該方法已經(jīng)認(rèn)可,但該方法與RT檢測(cè)相比,其檢測(cè)能力是否有優(yōu)勢(shì),很多業(yè)主和設(shè)計(jì)人員希望有較為深入的了解。通過(guò)用大量的含有自然缺陷的焊接試件,采用這兩種方法分別進(jìn)行檢測(cè)的實(shí)驗(yàn),將兩種檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行比較,得出對(duì)比結(jié)論。
制作大量多種規(guī)格的焊縫中含有裂紋、未焊透、未熔合、氣孔、夾渣等多種缺陷的試件。對(duì)比試驗(yàn)共制作了8種規(guī)格(厚度分別為:12、20、22、28、33、45、65、90mm)累計(jì) 53塊焊接試件。
分別用TOFD檢測(cè)法與RT檢測(cè)法對(duì)每塊試塊進(jìn)行檢測(cè),將所得RT底片與TOFD圖譜分別進(jìn)行評(píng)定,將所得結(jié)果進(jìn)行對(duì)比,得出對(duì)比結(jié)論。
根據(jù)JB/T4730.10-2010標(biāo)準(zhǔn),對(duì)8種規(guī)格的試件,編制了TOFD檢測(cè)工藝,主要工藝參數(shù)(見(jiàn)表1)。
根據(jù)JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn),對(duì)8種規(guī)格的試件,編制了RT檢測(cè)工藝,主要工藝參數(shù)(見(jiàn)表2)。
將RT底片和TOFD檢測(cè)圖譜進(jìn)行比對(duì)和評(píng)定,比對(duì)結(jié)果(見(jiàn)表 3)。
表1 TOFD檢測(cè)主要參數(shù)
表2 RT檢測(cè)主要工藝參數(shù)
通過(guò)53塊焊接試件的TFOD與RT檢測(cè)結(jié)果對(duì)比,得出如下結(jié)果:
表3 RT檢測(cè)結(jié)果與TOFD檢測(cè)結(jié)果比對(duì)表(單位:mm)
(1)缺陷檢出率
在比對(duì)的53塊焊接試件中TOFD檢測(cè)出115處缺陷,RT檢測(cè)出95處缺陷,相對(duì)于TOFD檢測(cè)結(jié)果,RT檢測(cè)有20處缺陷漏檢。
(2)缺陷長(zhǎng)度
兩種檢測(cè)方法都發(fā)現(xiàn)的95處缺陷中,有68處缺陷兩者的測(cè)量結(jié)果相差小于10mm,但是,一般來(lái)看,TOFD較RT檢測(cè)結(jié)果略長(zhǎng);有27處缺陷TOFD檢測(cè)的長(zhǎng)度較RT檢測(cè)的長(zhǎng)度大于10mm以上;
原因分析:RT漏檢缺陷20處和對(duì)缺陷長(zhǎng)度的測(cè)量短于TOFD法,這是RT檢測(cè)技術(shù)的靈敏度所決定的,對(duì)于開(kāi)口很小的裂紋缺陷,射線檢測(cè)法的靈敏度是無(wú)法達(dá)到的;對(duì)于裂紋尖端,因其開(kāi)口較小,射線檢測(cè)的靈敏度也不能達(dá)到,因此其測(cè)量長(zhǎng)度較TOFD會(huì)短。
通過(guò)TOFD與RT檢測(cè)結(jié)果對(duì)比,表明TOFD檢測(cè)法的靈敏度和缺陷檢出率高于射線檢測(cè)法。
TE682
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1672-9323(2012)05-0088-02
2012-07-20)