戴宜樂

（福建省產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)研究院，福州 350002）

環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)項(xiàng)目的選擇

戴宜樂

（福建省產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)研究院，福州 350002）

介紹低氣壓試驗(yàn)、高低溫試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、IP防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊和碰撞試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)等試驗(yàn)項(xiàng)目的考核目的和相應(yīng)試驗(yàn)參數(shù)，分析上述試驗(yàn)項(xiàng)目的適用范圍。并根據(jù)當(dāng)前產(chǎn)品的發(fā)展?fàn)顩r，簡(jiǎn)單介紹環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目的組合和試驗(yàn)順序。

低氣壓；高溫和低溫；濕熱；IP代碼；振動(dòng)；沖擊和碰撞；鹽霧

考核產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)項(xiàng)目一般可依據(jù)產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)：企標(biāo)/行標(biāo)/國(guó)標(biāo)/國(guó)軍標(biāo)或相應(yīng)適用的標(biāo)準(zhǔn)，電工電子產(chǎn)品總體可參照GB/T 2421.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 概述和指南》、GB/T 2421.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 規(guī)范編制者用信息 試驗(yàn)概要》和GB 2423系列標(biāo)準(zhǔn)。不同類型的試驗(yàn)有其不同的目的，要想讓試驗(yàn)達(dá)到預(yù)定的目標(biāo)，應(yīng)當(dāng)考慮試驗(yàn)項(xiàng)目的完整性、試驗(yàn)條件的合理性、試驗(yàn)項(xiàng)目和試驗(yàn)順序的科學(xué)性以及采用的試驗(yàn)方法和具體試驗(yàn)程序的可重現(xiàn)性四大因素。除試驗(yàn)項(xiàng)目、試驗(yàn)條件、試驗(yàn)程序的選擇和確定及試驗(yàn)方法的選擇，還應(yīng)考慮各試驗(yàn)項(xiàng)目之間相互影響和順序安排，正確排列試驗(yàn)項(xiàng)目的順序，保證試驗(yàn)準(zhǔn)確性和合理性。有關(guān)GB 2423系列標(biāo)準(zhǔn)和環(huán)境試驗(yàn)的相關(guān)國(guó)標(biāo)在實(shí)際應(yīng)用中有著很重要指導(dǎo)意義。下面就實(shí)際產(chǎn)品檢驗(yàn)工作來談?wù)勔恍┬牡谩?/p>

1.見試驗(yàn)項(xiàng)目的選擇及實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用

1.1.氣壓試驗(yàn)

大氣壓的降低對(duì)產(chǎn)品的機(jī)械性能和電氣性能會(huì)有很大影響,有時(shí)會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品的破壞。大氣壓的降低會(huì)導(dǎo)致散熱產(chǎn)品的溫升增加，這是由于大氣密度的降低使散熱產(chǎn)品周圍也將發(fā)生變化。大氣壓的降低對(duì)密封產(chǎn)品也會(huì)產(chǎn)生影響，壓差使密封件破裂造成產(chǎn)品失效。低氣壓對(duì)產(chǎn)品的影響是正常大氣條件下無法模擬的，因此必須進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)。高海拔地區(qū)使用的產(chǎn)品和機(jī)載設(shè)備對(duì)低氣壓試驗(yàn)考核尤為重要。

低氣壓試驗(yàn)可依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB 2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) M：低氣壓試驗(yàn)方法》GB/T 2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》、GB/T 2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》等系列指標(biāo)要求。這些標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試驗(yàn)方法，嚴(yán)酷等級(jí)、試驗(yàn)?zāi)康?，試?yàn)條件都做了具體規(guī)范，低于（86～106）KPa標(biāo)準(zhǔn)大氣壓為低氣壓，氣壓從（1～84）KPa 10個(gè)等級(jí)，相當(dāng)海拔1000m以上，試驗(yàn)時(shí)間可選擇為幾分鐘、2h、4h、16h，若有其它環(huán)境需要可以選擇高溫/低溫/濕熱指標(biāo)，因?yàn)楦邷?低溫和濕熱試驗(yàn)疊加將大大增強(qiáng)低壓試驗(yàn)效果，這樣可以據(jù)產(chǎn)品具體要求更貼切來選擇考核指標(biāo)達(dá)到試驗(yàn)?zāi)康摹Ｈ缧铍姵禺a(chǎn)品密封性的考核，顯示器低氣壓使用考核都常用低氣壓試驗(yàn)。

1.2.溫和低溫試驗(yàn)

高溫和低溫試驗(yàn)是最常見的一種環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目。低溫試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生的影響主要使材料變成脆硬性，致使破損開裂，強(qiáng)度降低，潤(rùn)滑作用減小，電子元器件性能引起變化等。高溫試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品的影響主要表現(xiàn)在改變材料的物理性能和尺寸，不同的材料膨脹不一致使零件粘結(jié)，潤(rùn)滑劑外流使?jié)櫥芰p失，電器元器件過熱損壞，電子電路穩(wěn)定性改變等。如對(duì)帶有塑膠件的產(chǎn)品這二項(xiàng)試驗(yàn)就很能夠暴露問題。高溫和低溫試驗(yàn)試驗(yàn)一般安排在一套試驗(yàn)的早期，且為相鄰順序，這樣既能夠考核耐高溫和低溫能力也能夠達(dá)到耐溫變?cè)囼?yàn)的效果。

高溫和低溫試驗(yàn)依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫試驗(yàn)方法》和GB/T 2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫試驗(yàn)方法》。有散熱樣品溫度漸變和非散熱樣品溫度漸變所做的規(guī)定來選擇，分為高溫工作和低溫工作試驗(yàn)、高溫存儲(chǔ)和低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)，據(jù)實(shí)際樣品所屬是否散熱用工作和存儲(chǔ)兩種不同溫度點(diǎn)和產(chǎn)品狀態(tài)來進(jìn)行合適的考量。高溫和低溫工作試驗(yàn)的溫度嚴(yán)酷度一般低于存儲(chǔ)類溫度5～10℃。在實(shí)際檢測(cè)中先進(jìn)行工作試驗(yàn)考核后再做關(guān)機(jī)狀態(tài)下存儲(chǔ)試驗(yàn)，對(duì)于部分大電流、高發(fā)熱的電器產(chǎn)品，其高溫工作試驗(yàn)可以代替高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)，因?yàn)槠涔ぷ鲿r(shí)溫度已經(jīng)超出其存儲(chǔ)溫度極限，故只需進(jìn)行高溫工作試驗(yàn)即可。常見的高溫工作試驗(yàn)溫度有：40℃、50℃，高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)溫度有：50℃、55℃，低溫工作試驗(yàn)溫度有：0℃、－10℃、－20℃。低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)溫度有：－20℃、－40℃，工作試驗(yàn)時(shí)間2h~4h~8h, 存儲(chǔ)試驗(yàn)8h~16h~24h。通常高溫和低溫試驗(yàn)?zāi)軌虮┞冻霎a(chǎn)品的缺陷如：外殼變形，電性能故障不能正常運(yùn)行等，從而達(dá)到整改目的。如產(chǎn)品高溫可靠性試驗(yàn)也是高溫工作試驗(yàn)一種。

高低溫組合也是常見的試驗(yàn)項(xiàng)目，多用來更嚴(yán)酷考核產(chǎn)品內(nèi)外結(jié)構(gòu)性能和電性能。a)溫度沖擊試驗(yàn)－溫度突變Na是目前常用來考核元器件和材料一種試驗(yàn)。高低溫沖擊試驗(yàn)是通過快速溫變來達(dá)到考核產(chǎn)品的目的，因?yàn)閷儆诜枪ぷ鳡顟B(tài)高低溫沖擊試驗(yàn)的指標(biāo)的上、下限多采用高、低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)的上、下限，可參照試驗(yàn)樣品在高、低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)中獲得的的溫度響應(yīng)特性等信息。b)溫度變化試驗(yàn)－溫度漸變Nb常用來考核整機(jī)試驗(yàn)。在試驗(yàn)中產(chǎn)品按要求可處于工作狀態(tài)，因此溫度變化試驗(yàn)的上、下限往往使用高、低溫工作試驗(yàn)的上、下限。這二項(xiàng)試驗(yàn)參照的標(biāo)準(zhǔn)有GB/T 2423.22-2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化》等，根據(jù)實(shí)際要求選擇高溫點(diǎn)和低溫點(diǎn)，滯留時(shí)間，溫變速率，循環(huán)次數(shù)定試驗(yàn)等級(jí)。

1.3.熱試驗(yàn)

濕熱試驗(yàn)是用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品的耐濕熱能力，在濕熱條件下，試樣的金屬材料易受到腐蝕和某些材料因吸水而變形，電器產(chǎn)品絕緣性能受影響而不能正常工作等。為了評(píng)價(jià)樣品防潮材料防潮作用，依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 2423.3-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》和GB/T 2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h＋12h）》要求,對(duì)于密封或半密封的產(chǎn)品，如果吸附和吸收起主要作用，則使用恒定濕熱試驗(yàn)。如果主要是凝露影響產(chǎn)品的性能或由呼吸現(xiàn)象加速水蒸氣的滲透作用，常采用交變濕熱試驗(yàn)。恒定濕熱和交變濕熱的選用可根據(jù)產(chǎn)品的類型而定。有滲透而無呼吸作用時(shí)，可根據(jù)產(chǎn)品的類型及其應(yīng)用，試驗(yàn)結(jié)果基本一致時(shí)，應(yīng)采用恒定濕熱試驗(yàn)。如多數(shù)計(jì)算機(jī)類產(chǎn)品大都采用恒定濕熱試驗(yàn)考核，電氣成套設(shè)備則多用交變濕熱試驗(yàn)考核。

恒定濕熱試驗(yàn)通常分為濕熱工作試驗(yàn)和濕熱存儲(chǔ)試驗(yàn)兩種不同溫度點(diǎn)和相對(duì)濕度的試驗(yàn)，濕熱存儲(chǔ)試驗(yàn)比濕熱工作試驗(yàn)的溫度點(diǎn)和相對(duì)濕度高，試驗(yàn)時(shí)間一般為48h。交變濕熱試驗(yàn)是高濕度和溫度循環(huán)變化的組合，一般有2種嚴(yán)酷等級(jí)，高溫點(diǎn)是40℃和55℃，一個(gè)循環(huán)周期是24h,據(jù)需要選擇循環(huán)周期數(shù)。

1.4.P防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)

IPXX防護(hù)等級(jí)（防固體物質(zhì)侵入、灰塵、、水(雨)侵入）表示產(chǎn)品外殼防護(hù)等級(jí)，有關(guān)IPXX等級(jí)一系列物體試具、防塵和防水試驗(yàn)是考核產(chǎn)品外殼和殼內(nèi)設(shè)備對(duì)環(huán)境條件的防護(hù)措施及防止與外殼外部危險(xiǎn)運(yùn)動(dòng)部件的接觸。這也是常見的一種樣品外殼密封性能考核手段。

防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)GB 4208-2008《外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）》要求，第一位特征數(shù)字X：（1~6）是對(duì)固體異物包括灰塵進(jìn)入的防護(hù)等級(jí)，從1~4防止固體異物進(jìn)入到5/6防灰塵，防異物等級(jí)逐漸提高。IP5X 和IP6X防塵試驗(yàn)是防止灰塵進(jìn)入樣品產(chǎn)生灰塵覆蓋層和嚴(yán)重的磨蝕，從而考核其密封性能。第二位特征數(shù)字X：（1~8）是外殼防進(jìn)水的防護(hù)等級(jí)，從1~4防滴水、淋水、濺水到5/6防噴水及7/8防潛水，防水等級(jí)逐漸提高，一般IPX5和IPX6防噴水試驗(yàn)比較常見的嚴(yán)酷試驗(yàn)等級(jí)。進(jìn)行防水試驗(yàn)的帶機(jī)殼的產(chǎn)品，試驗(yàn)后不得進(jìn)水產(chǎn)生有害影響，從而考核其密封性能。一般把防塵、防水試驗(yàn)放置在高溫試驗(yàn)之后，這樣可以考核產(chǎn)品是否在高溫中發(fā)生形變，更有效反映在溫度影響下的密封性能。

1.5.動(dòng)試驗(yàn)

振動(dòng)試驗(yàn)是最常見力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)，目的是確定試驗(yàn)樣品在使用或運(yùn)輸期間可能經(jīng)受諧波形式的振動(dòng)或隨機(jī)振動(dòng)等條件時(shí)出現(xiàn)的機(jī)械薄弱環(huán)節(jié)和性能下降情況，振動(dòng)主要產(chǎn)生于各類運(yùn)輸工具上的旋轉(zhuǎn)力、脈動(dòng)力和擺動(dòng)力，也可能由機(jī)械或地震現(xiàn)象引起。可用來確定樣品結(jié)構(gòu)完好性和研究樣品動(dòng)態(tài)特性。

振動(dòng)試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品的影響主要表現(xiàn)在緊固件的松動(dòng),密封失效出現(xiàn)裂紋和斷裂,帶電元件間接觸和短路,導(dǎo)線摩擦等。會(huì)加速破壞電子元件的焊接和結(jié)構(gòu)，嚴(yán)重時(shí)會(huì)振掉元件。由振動(dòng)引起的應(yīng)力的累積結(jié)果可能在其它環(huán)境條件(如高溫、低溫、濕度等)的共同作用下影響設(shè)備性能?？梢娺@項(xiàng)試驗(yàn)的重要性。

振動(dòng)試驗(yàn)分為正弦振動(dòng)和隨機(jī)振動(dòng)，如圖1所示。

對(duì)于正弦振動(dòng)試驗(yàn)來說，整機(jī)產(chǎn)品振動(dòng)試驗(yàn)頻率范圍多在低頻段，如計(jì)算機(jī)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)GB/T 9813-2000《微型計(jì)算機(jī)通用規(guī)范》最嚴(yán)酷等級(jí)3組規(guī)定頻率范圍為（10~58~10）Hz ，振幅為0.15mm；（58~150~58）Hz，加速度20m/s2；58Hz是交越頻率。元器件和材料振動(dòng)試驗(yàn)頻率范圍則多為高頻段，如高頻率點(diǎn)達(dá)到(1000~3000)Hz。通常試驗(yàn)參數(shù)可依據(jù)GB/T 2423.10-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc:振動(dòng)（正弦）》來選擇。

隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)多用于運(yùn)輸產(chǎn)品考核，一般運(yùn)輸條件考核選用低頻段、低能量加速度譜密度值；劇烈運(yùn)動(dòng)產(chǎn)品如飛機(jī)上使用產(chǎn)品則選用高頻段、高能量加速度譜密度值來考核，依據(jù)GB/T 2423.56-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則》來選定頻率范圍，加速度譜密度和持續(xù)時(shí)間。

1.6.擊試驗(yàn)和碰撞試驗(yàn)

沖擊試驗(yàn)和碰撞試驗(yàn)屬于力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)。對(duì)產(chǎn)品的影響是產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力，這些應(yīng)力使樣品立即損壞損傷，主要表現(xiàn)在材料疲勞,電性能損傷、結(jié)構(gòu)松動(dòng)和零部件磨損等。

圖1.

沖擊試驗(yàn)?zāi)M設(shè)備和元器件在使用或運(yùn)輸中可能受到少數(shù)非重復(fù)性機(jī)械沖擊的效應(yīng)，揭示應(yīng)用中經(jīng)受非重復(fù)性機(jī)械沖擊試樣機(jī)械弱點(diǎn)和性能下降情況，來確定樣品結(jié)構(gòu)完好性。沖擊試驗(yàn)的指標(biāo)由加速度、脈沖持續(xù)時(shí)間、沖擊次數(shù)三個(gè)參數(shù)來確定，波形選用半正弦波。沖擊試驗(yàn)加速度值較高，沖擊次數(shù)短一般規(guī)定每方向3次或每面3次，可參照標(biāo)準(zhǔn)GB 2423.5-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊》選擇合適的嚴(yán)酷等級(jí)。

碰撞試驗(yàn)?zāi)M設(shè)備和元器件在使用或運(yùn)輸中可能受到的類似重復(fù)性機(jī)械沖擊的效應(yīng)，揭示重復(fù)性機(jī)械沖擊所引起累積損傷和性能下降情況，用來確定樣品結(jié)構(gòu)完好性。碰撞試驗(yàn)的指標(biāo)由加速度、脈沖持續(xù)時(shí)間、碰撞次數(shù)三個(gè)參數(shù)來確定，波形選用半正弦波。碰撞試驗(yàn)加速度值較低，碰撞次數(shù)較長(zhǎng)常見的有規(guī)定每方向1000次，可參照GB 2423.6-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞》選擇合適的嚴(yán)酷等級(jí)。

沖擊和碰撞試驗(yàn)在溫度試驗(yàn)和振動(dòng)試驗(yàn)之后進(jìn)行，可以暴露溫度、振動(dòng)和沖擊/碰撞綜合環(huán)境作用下的失效，可以使氣候環(huán)境產(chǎn)生缺陷更顯現(xiàn)。沖擊驗(yàn)和碰撞試驗(yàn)可以針對(duì)具體情況選其中一項(xiàng)進(jìn)行試驗(yàn)，沖擊試驗(yàn)和碰撞試驗(yàn)量級(jí)與振動(dòng)試驗(yàn)量級(jí)相比并不嚴(yán)酷，那么沖擊和碰撞試驗(yàn)可以從試驗(yàn)序列中去掉。

1.7.霧試驗(yàn)

鹽霧試驗(yàn)是最常見一種大氣腐蝕試驗(yàn)，對(duì)考核使用在沿海產(chǎn)品、海上船載設(shè)備抗腐蝕能力尤為重要。實(shí)際檢驗(yàn)考核的有產(chǎn)品的外殼（涂層）、電路板焊點(diǎn)、金屬結(jié)構(gòu)件和配件等，因?yàn)辂}的沉積和滲透會(huì)有潛在的破壞作用，產(chǎn)生腐蝕失效或短路，據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 2423.17-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧》規(guī)定的指標(biāo)：溫度（35±2）℃，濃度（5±1）%氯化鈉溶液，PH值（6.5~7.2），選擇噴霧時(shí)間做中性鹽霧試驗(yàn)，時(shí)間長(zhǎng)短根據(jù)樣品的材料和鍍層決定，時(shí)間越長(zhǎng)嚴(yán)酷等級(jí)越高。若有要求交變鹽霧試驗(yàn)可據(jù)GB/T 2423.187-2000《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Kb:鹽霧，交變（氯化鈉溶液）》要求，中性鹽霧試驗(yàn)與濕熱試驗(yàn)結(jié)合選擇X組指標(biāo)進(jìn)行試驗(yàn)。

值得注意的是鹽霧試驗(yàn)樣品應(yīng)與其它試驗(yàn)的樣品分開，不能用同一樣品，否則試驗(yàn)結(jié)果不好界定。

如綜上所述試驗(yàn)外，還有一些試驗(yàn)如：跌落試驗(yàn)、太陽輻射試驗(yàn)（光照試驗(yàn)）、霉菌試驗(yàn)等就不一一贅述?？己水a(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)能力就要選擇合適的項(xiàng)目和指標(biāo)，才能達(dá)到有效目的。

2.關(guān)各試驗(yàn)項(xiàng)目的順序和組合

為了更全面有效考核產(chǎn)品，試驗(yàn)的組合形式愈來愈多，各種試驗(yàn)條件交替或同時(shí)施加試驗(yàn)樣品，考察產(chǎn)品承受能力和弱點(diǎn)?，F(xiàn)在環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目的組合形式的開展就增加許多，有高低溫沖擊、高低溫循環(huán)、交變濕熱、交變鹽霧、交變溫濕度、溫度—低氣壓、溫度—濕度—低氣壓、高溫—振動(dòng)、低溫—振動(dòng)、溫度—濕度—振動(dòng)、溫度—低氣壓—振動(dòng)等以上多個(gè)環(huán)境因素中的二綜合、三三綜合、四綜合及多綜合試驗(yàn)等。各類組合試驗(yàn)方法和指標(biāo)可以參照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，如國(guó)標(biāo)GB/T 2423.34-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)》、GB/T 2423.35-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱的試驗(yàn)樣品低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)》、GB/T 2423.36-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱的試驗(yàn)樣品高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)》、GB/T 2423.102-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合》、GB/T 2423.60-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合》等都有明確說明和規(guī)定。

圖2.

除了以上單一或組合環(huán)境試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品的考核外，環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目的順序?qū)Ξa(chǎn)品影響是很大的。因此要重視選擇排列順序?？筛鶕?jù)產(chǎn)品的特性和使用要求來排列合理項(xiàng)目順序。要考慮所側(cè)重的因素，是考慮各項(xiàng)環(huán)境試驗(yàn)影響效果還是考慮環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目之間相互影響，還是疊加效應(yīng)。國(guó)標(biāo)GB/T 2421.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 概述和指南》、GB/T 2421.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 規(guī)范編制者用信息 試驗(yàn)概要》提供了電工電子產(chǎn)品一般環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目順序：低溫、高溫、溫度劇變、沖擊、振動(dòng)、空氣壓力、交變濕熱、恒定濕熱、腐蝕（鹽霧）、IP防護(hù)等級(jí)（防塵、固體物質(zhì)侵入、水(雨)侵入），國(guó)軍標(biāo)GJB l50《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》和美軍標(biāo) MIL－STD－810C 中也提供的不同類別設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目的順序?？梢栽谶@些順序的基礎(chǔ)上結(jié)合各種原則和考慮因素設(shè)計(jì)各類產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目順序，各種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和企標(biāo)也是參照以上試驗(yàn)順序來擬定的，評(píng)價(jià)某項(xiàng)試驗(yàn)和其它環(huán)境因素的累積作用時(shí)，一般首先進(jìn)行這項(xiàng)試驗(yàn)。如果想要盡可能利用各試驗(yàn)作用之間的疊加效應(yīng)，就要看前后試驗(yàn)損傷是否會(huì)擴(kuò)展，是否能暴露組合效果。若評(píng)價(jià)一項(xiàng)試驗(yàn)?zāi)芰υ诮?jīng)受極端氣候因素或力學(xué)試驗(yàn)后是否失去作用,則在這些試驗(yàn)后進(jìn)行該項(xiàng)試驗(yàn)。我們?cè)趯?shí)際檢測(cè)通常采用一套電類產(chǎn)品常規(guī)環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)順序如圖2。

按這套試驗(yàn)就可大致評(píng)價(jià)出一般電類產(chǎn)品承受環(huán)境適應(yīng)性的能力。以上試驗(yàn)項(xiàng)目順序僅供參考，可據(jù)實(shí)際需要項(xiàng)目可進(jìn)行添加或刪減，試驗(yàn)順序合理調(diào)換以達(dá)到最有效試驗(yàn)效果。

3.結(jié)

總之環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目發(fā)展很快，形式多樣，名目繁多，只有合理選擇并參照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)定好嚴(yán)酷等級(jí)，并合理排列好各試驗(yàn)項(xiàng)目順序才能達(dá)到預(yù)想效果。

[1] GB/T 2421.1-2008，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 概述和指南[S].

[2] GB/T 2421.2-2008，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 規(guī)范編制者用信息 試驗(yàn)概要[S].

[3] GB/T 9813-2000，微型計(jì)算機(jī)通用規(guī)范[S].

[4] GB 2423.21-2008，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) M：低氣壓試驗(yàn)方法[S].

[5] GB/T 2423.1-2001，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) A：低溫試驗(yàn)方法[S].

[6] GB/T 2423.2-2001，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) B：高溫試驗(yàn)方法[S].

[7] GB/T 2423.3-2006，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)[S].

[8] GB/T 2423.4-2008，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h+12h）[S].

[9] GB 4208-2008，外殼防護(hù)等級(jí)（IP代碼）[S].

[10] GB/T 24 23.10-2008，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）[S].

[11] GB/T 2423.56-2006，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fh：寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)字控制）和導(dǎo)則[S].

[12] GB 2423.5-1995，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊[S].

[13] GB 2423.6-1995，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞[S].

[14] GB/T 24 23.17-2008，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka：鹽霧[S].

How to Choose the Test Items of Environmental Adaptability

DAI Yi-le
（Fujian Inspection and Research Institute for Product Quality，F(xiàn)uzhou 350002）

The assessment aim and the corresponding parameters of the environmental test items(eg. Low air pressure test, dry heat and cold test, damp heat test, degress of protection provied by enclosure,vibration test, shock and bump test, salt mist test). Analyze applicable scope of the test items. And according to the situation of the current product, introduce the order and combination of the test items.

low air pressure；dry heat and cold；damp heat；IP code；vibration；shock and bump；salt mist

TM206

A

1004-7204（2012）03-0034-05

戴宜樂，工程師，主要從事電子電器產(chǎn)品環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試工作。