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        基于FPGA+ARM的永磁同步電動(dòng)機(jī)高精度轉(zhuǎn)速檢測*

        2012-11-24 04:42:06李虎修張承瑞丁信忠于樂華胡天亮
        關(guān)鍵詞:信號(hào)檢測方法

        李虎修,張承瑞,b,丁信忠,于樂華,胡天亮,b

        (山東大學(xué)a.機(jī)械工程學(xué)院;b.高效潔凈機(jī)械制造教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;c.控制科學(xué)與工程學(xué)院,濟(jì)南 250061)

        0 引言

        永磁同步電機(jī)(Permanent Magnet Synchronous Motor,PMSM)具有結(jié)構(gòu)緊湊、高功率密度、高氣隙磁通和高轉(zhuǎn)矩慣性比等優(yōu)點(diǎn),在數(shù)控機(jī)床、工業(yè)機(jī)器人、航空航天等領(lǐng)域逐漸取代了直流伺服系統(tǒng),得到了廣泛應(yīng)用[1-2]。

        永磁同步電機(jī)的高性能控制需要精確的轉(zhuǎn)子的位置和速度信號(hào)去實(shí)現(xiàn)磁場定向控制和速度反饋[3]。此外,在伺服控制系統(tǒng)中,反饋電流的不穩(wěn)定并不是由于PWM噪聲而是由于速度檢測精度的限制引起的[4]。因此,在高性能伺服系統(tǒng)中,永磁同步電動(dòng)機(jī)高精度的速度反饋是實(shí)現(xiàn)高性能運(yùn)動(dòng)控制的重要要求。

        通常電機(jī)轉(zhuǎn)速檢測是通過計(jì)算一定采樣時(shí)間內(nèi)電機(jī)軸端增量式編碼器反饋回的脈沖個(gè)數(shù)來實(shí)現(xiàn)的,然而由于每個(gè)采樣周期內(nèi)存在非完整周期脈沖信號(hào)丟失,尤其是在低速運(yùn)行情況下,這種方法檢測出的轉(zhuǎn)速并不能滿足高性能伺服系統(tǒng)速度控制要求。本文利用FPGA并行處理的優(yōu)勢,同時(shí)檢測編碼器速度反饋信號(hào)完整周期個(gè)數(shù)和非完整周期脈沖長度,消除了非完整周期脈沖信號(hào)丟失對轉(zhuǎn)速檢測精度的影響。在FPGA內(nèi)通過硬件描述語言完成了高精度轉(zhuǎn)速檢測的硬件實(shí)現(xiàn),一方面提高了轉(zhuǎn)速檢測的精度,同時(shí)加快了系統(tǒng)的響應(yīng)速度,通過在伺服電機(jī)速度檢測上的實(shí)際應(yīng)用,并與M/T法檢測出的速度進(jìn)行比較,結(jié)果表明,該方法的轉(zhuǎn)速檢測精度(尤其是低速時(shí))優(yōu)于傳統(tǒng)方法。

        1 常用測速方法分析

        在伺服控制系統(tǒng)中,常用的測速方法有三種:M法、T 法和 M/T 法[5]。

        M法測速是利用在規(guī)定的采樣時(shí)間間隔T內(nèi)編碼器輸出的脈沖個(gè)數(shù)來獲得被測轉(zhuǎn)速。這種方法測量的轉(zhuǎn)速會(huì)產(chǎn)生±1個(gè)編碼器脈沖的計(jì)數(shù)誤差,在低速情況下,隨著轉(zhuǎn)速降低,采樣時(shí)間內(nèi)脈沖個(gè)數(shù)減少,測量誤差將快速增大。因此,M法只有在被測轉(zhuǎn)速或編碼器分辨率較高時(shí),才有較高的測量精度。

        T法測速是通過高頻脈沖來測量兩個(gè)相鄰編碼器脈沖之間的時(shí)間間隔來獲得被測轉(zhuǎn)速,這種方法測量的轉(zhuǎn)速對時(shí)間的測量會(huì)產(chǎn)生±1個(gè)時(shí)鐘周期的計(jì)數(shù)誤差。在高速情況下,隨著轉(zhuǎn)速升高,脈沖時(shí)間間隔變小,測量誤差增大。因此,T法只有在被測轉(zhuǎn)速較低時(shí),有較高的測量精度。

        M/T法測速是將M法和T法結(jié)合起來,既檢測采樣時(shí)間間隔內(nèi)編碼器輸出的脈沖個(gè)數(shù),又檢測該采樣時(shí)間間隔內(nèi)高頻脈沖的個(gè)數(shù)。該方法在高速時(shí),相當(dāng)于M法測速;在低速時(shí),相當(dāng)于T法測速。因此M/T法具有較高的速度測量范圍,并可獲得較高的檢測精度。M/T測速方法的原理圖如圖1所示。

        圖1 M/T測速方法原理圖

        檢測時(shí)間Td是采樣周期內(nèi)編碼器第一個(gè)脈沖跟最后一個(gè)脈沖之間的時(shí)間間隔;M1是在這個(gè)采樣周期內(nèi)編碼器輸出脈沖的個(gè)數(shù)。另外,如果在這個(gè)采樣周期內(nèi)高頻脈沖的個(gè)數(shù)是M2,則計(jì)算出的電機(jī)平均速度是:

        其中,Z是編碼器倍頻后每轉(zhuǎn)輸出的脈沖總數(shù);f0是高頻脈沖的頻率;Tt是實(shí)際檢測時(shí)間并且Tt=M2/f0。

        根據(jù)式(1)可得每個(gè)采樣周期編碼器輸出的脈沖個(gè)數(shù)為:

        在用M/T法速度檢測時(shí),由于只采樣編碼器脈沖信號(hào)的上升沿或下降沿,采樣周期的開始和結(jié)束時(shí)刻并不一定位于編碼器脈沖的上跳沿或下降沿,所以在每個(gè)采樣周期內(nèi)會(huì)存在首尾兩個(gè)編碼器脈沖信號(hào)的非完整周期,在計(jì)算電機(jī)轉(zhuǎn)速時(shí)該方法最大會(huì)有±1個(gè)編碼器脈沖信號(hào)的誤差,則根據(jù)式(2)可得采用M/T法速度檢測最大誤差率為:

        取采樣周期是4ms,編碼器分辨率是2,500p/r,則根據(jù)式(3)可畫出M/T法速度檢測時(shí)由于首尾非完整周期脈沖信號(hào)的丟失引起的最大速度檢測誤差率曲線如圖2所示。

        圖2 最大速度檢測誤差率曲線

        根據(jù)圖2分析可以看出,M/T測速方法在電機(jī)轉(zhuǎn)速大于100r/min較高的速度范圍內(nèi)具有較高的檢測精度。因此,在伺服控制系統(tǒng)中,電機(jī)轉(zhuǎn)速檢測最廣泛應(yīng)用的是M/T法[6-7]。然而,在低速情況下,由于無法測出非完整周期脈沖信號(hào)的長度,隨著電機(jī)轉(zhuǎn)速的下降,非完整周期脈沖信號(hào)所占的比例增大,轉(zhuǎn)度檢測精度將快速的下降,傳統(tǒng)的M/T法的轉(zhuǎn)速檢測精度完全不能滿足高性能伺服系統(tǒng)的控制要求。為滿足高性能伺服系統(tǒng)對速度反饋的要求,本文對傳統(tǒng)的M/T法進(jìn)行擴(kuò)展,將每個(gè)采樣周期內(nèi)首尾兩個(gè)非完整編碼器脈沖信號(hào)檢測出來,用于速度計(jì)算,以提高速度檢測精度。

        2 高精度速度檢測方法

        目前,得益于微控制器(microprogrammed control unit,MCU)先進(jìn)的接口技術(shù),許多微控制器具有專用的編碼器接口,該接口可以根據(jù)正交光電編碼器的速度和方向自動(dòng)的計(jì)數(shù)編碼器脈沖值然后計(jì)算電機(jī)轉(zhuǎn)速,并且在普通的速度范圍內(nèi)具有比較高的檢測精度。

        然而由于這種專用編碼器接口只能采集完整脈沖信號(hào)的個(gè)數(shù),無法實(shí)現(xiàn)對非完整脈沖長度的檢測。為了滿足高性能伺服系統(tǒng)對速度反饋精度的要求,設(shè)計(jì)了一種基于FPGA+ARM的永磁同步電動(dòng)機(jī)高精度轉(zhuǎn)速檢測方法,該方法是M/T速度檢測方法的擴(kuò)展應(yīng)用,具有更高的轉(zhuǎn)速檢測精度,在此稱其為擴(kuò)展M/T速度檢測法。

        2.1 測速系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡介

        該速度檢測方法充分利用FPAG并行運(yùn)行的優(yōu)勢與ARM控制器信號(hào)處理和數(shù)據(jù)計(jì)算的優(yōu)勢,將FPGA與ARM結(jié)合起來進(jìn)行高精度速度檢測。該方法利用FPGA的并行運(yùn)行方式既檢測采樣周期內(nèi)編碼器速度反饋信號(hào)完整周期個(gè)數(shù)又檢測非完整周期長度,從而彌補(bǔ)了傳統(tǒng)只使用ARM進(jìn)行速度檢測無法檢測非完整周期長度的問題,充分提高了速度檢測精度。然后將檢測出的編碼器信號(hào)通過SPI總線通訊傳給ARM,然后利用ARM的計(jì)算能力以及控制能力計(jì)算出電機(jī)實(shí)際轉(zhuǎn)速從而實(shí)現(xiàn)其他的控制功能,其系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如圖3所示。

        圖3 速度檢測結(jié)構(gòu)框圖

        2.2 測速原理

        FPGA進(jìn)行編碼器脈沖信號(hào)檢測的原理如圖4所示。

        圖4 FPGA檢測編碼器脈沖信號(hào)原理圖

        其中Tt即為速度采樣周期;tn1、tn2分別為采樣周期內(nèi)首尾兩個(gè)非完整脈沖長度;Tm、Tn+1分別為兩個(gè)非完整脈沖的整脈沖長度;Tn-1、Tn為采樣周期內(nèi)最后兩個(gè)完整脈沖長度;Mn為采樣周期內(nèi)完整脈沖的個(gè)數(shù);T'n+1為上一采樣周期內(nèi)最后一個(gè)非完整脈沖長度。

        該方法進(jìn)行編碼器脈沖檢測時(shí),需要五個(gè)計(jì)數(shù)器同時(shí)工作,計(jì)數(shù)首尾兩個(gè)非完整脈沖長度tn1、tn2的計(jì)數(shù)器T1、T3;計(jì)數(shù)采樣周期內(nèi)完整脈沖個(gè)數(shù)Mn的計(jì)數(shù)器T2;計(jì)數(shù)采樣周期內(nèi)最后兩個(gè)完整脈沖長度Tn-1、Tn的計(jì)數(shù)器 T4、T5。其中計(jì)數(shù)器 T2以編碼器脈沖信號(hào)上升沿為計(jì)數(shù)時(shí)鐘,其他計(jì)數(shù)器都以FPGA系統(tǒng)時(shí)鐘為計(jì)數(shù)時(shí)鐘。此時(shí)將充分發(fā)揮FPGA并行運(yùn)行的優(yōu)勢。具體檢測過程為:

        當(dāng)采樣周期開始信號(hào)到來,打開計(jì)數(shù)器T1并檢測編碼器脈沖信號(hào)上升沿,上升沿到來,關(guān)閉計(jì)數(shù)器T1,同時(shí)打開計(jì)數(shù)器 T2、T3、T4和 T5。計(jì)數(shù)器 T2在整個(gè)采樣周期內(nèi)采樣編碼器脈沖上升沿的個(gè)數(shù),在采樣周期結(jié)束時(shí)關(guān)閉計(jì)數(shù)器;計(jì)數(shù)器T3打開后,隨時(shí)檢測編碼器脈沖的上升沿,檢測到上升沿將計(jì)數(shù)器清零重新檢測直到采樣周期結(jié)束關(guān)閉計(jì)數(shù)器;計(jì)數(shù)器T4、T5打開后,檢測到倒數(shù)第二個(gè)跟最后一個(gè)編碼器脈沖上升沿時(shí)分別關(guān)閉計(jì)數(shù)器T4、T5。

        將以上計(jì)數(shù)器的值實(shí)時(shí)的通過SPI總線通訊傳給ARM進(jìn)行速度計(jì)算,則得出的速度為:

        由于速度環(huán)的采樣頻率遠(yuǎn)高于等效轉(zhuǎn)矩Te的變化頻率,故可認(rèn)為等效轉(zhuǎn)矩Te在一個(gè)采樣周期內(nèi)不變,即:

        由牛頓第二定律可得:

        其中,J為電機(jī)等效轉(zhuǎn)動(dòng)慣量;α為電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)角加速度。

        聯(lián)合式(5)和(6)可得:

        即在每個(gè)采樣周期內(nèi)可近似的看做電機(jī)的轉(zhuǎn)動(dòng)加速度是恒定不變的,則Tn+1可以通過前兩個(gè)脈沖信號(hào)的變化估計(jì)出來,即:

        將式(5)和(9)代入式(4)得:

        3 實(shí)驗(yàn)分析

        為將該方法與傳統(tǒng)M/T法進(jìn)行速度檢測精度對比,建立包含兩套速度檢測方法的實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。具體實(shí)驗(yàn)配置框圖如圖5所示。

        圖5 實(shí)驗(yàn)平臺(tái)配置框圖

        本文實(shí)驗(yàn)平臺(tái)由高性能永磁同步伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、帶有以太網(wǎng)接口的速度檢測系統(tǒng)兩套、上位機(jī)一臺(tái)組成。高性能交流伺服驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)由控制板控制,使永磁同步電機(jī)輸出恒定轉(zhuǎn)速,永磁同步電機(jī)軸端裝有2,500線的正交編碼器用于速度反饋;速度檢測系統(tǒng)的以太網(wǎng)接口用于FPGA跟上位機(jī)通訊,可實(shí)現(xiàn)將檢測出的電機(jī)轉(zhuǎn)速上傳到上位機(jī),并實(shí)時(shí)的做出電機(jī)反饋速度波形;兩套速度檢測系統(tǒng)采用不同的速度檢測方法用于對比試驗(yàn),一套采用M/T法實(shí)現(xiàn)速度檢測,將編碼器信號(hào)與ARM專用編碼器接口相接,直接進(jìn)行電機(jī)速度檢測,然后將檢測出的電機(jī)轉(zhuǎn)速通過SPI總線通訊傳給FPGA,然后通過以太網(wǎng)接口將數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔粰C(jī);另一套采用擴(kuò)展M/T速度檢測方法,將編碼器信號(hào)與FPGA直接相連接,通過FPGA檢測編碼器脈沖信號(hào),然后將檢測出的脈沖信號(hào)通過SPI總線通訊傳給ARM進(jìn)行速度計(jì)算,然后將計(jì)算出的電機(jī)轉(zhuǎn)速重新通過SPI總線傳給FPGA,然后通過以太網(wǎng)接口將數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔粰C(jī)。

        圖6所示試驗(yàn)結(jié)果顯示傳統(tǒng)M/T法速度檢測方法與擴(kuò)展M/T速度檢測方法速度檢測精度。圖6a顯示在電機(jī)以100r/min轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),兩種方法的速度檢測結(jié)果。圖6b顯示在電機(jī)以50r/min轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),兩種方法的速度檢測結(jié)果。其中ωM/T為使用M/T法測量出的速度;ωNew為使用擴(kuò)展M/T法測量出的速度。

        圖6 不同速度下的速度檢測結(jié)果

        圖7實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示了在±100r/min速度指令下的速度響應(yīng)和速度檢測精度。

        圖7 ±100r/min速度指令下的速度檢測結(jié)果

        試驗(yàn)結(jié)果顯示,在低速下使用M/T方法,由于編碼器非完整周期脈沖信號(hào)的誤差,速度檢測結(jié)果波動(dòng)較大。相比之下,由于同時(shí)檢測完整周期信號(hào)個(gè)數(shù)和非完整周期脈沖信號(hào)的長度,擴(kuò)展M/T速度檢測方法仍舊能夠比較精確地進(jìn)行速度檢測。

        由實(shí)驗(yàn)結(jié)果可知,擴(kuò)展M/T速度檢測方法能夠精確的檢測出采樣周期內(nèi)首尾兩個(gè)非完整周期脈沖信號(hào)的長度,并用于電機(jī)轉(zhuǎn)速度計(jì)算,具有較寬的測速范圍以及較高的速度檢測精度。因此該方法對于提高交流伺服系統(tǒng)速度反饋精度以及速度控制性能具有重要的意義。

        4 結(jié)束語

        本文首先分析了常用的速度測量方法M/T速度檢測法,從M/T法的原理入手分析每個(gè)采樣周期內(nèi)的首尾兩個(gè)非完整編碼器脈沖信號(hào)對轉(zhuǎn)速檢測精度的影響。為了消除這種影響,設(shè)計(jì)了擴(kuò)展M/T速度檢測法。該方法同時(shí)檢測采樣周期內(nèi)編碼器速度反饋信號(hào)完整周期個(gè)數(shù)和非完整周期脈沖長度,對于消除速度檢測誤差,提高速度檢測的精度具有重要的意義。

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