馮俊賢 劉元昀 楊新華 孫曉麗 李家棟
(中國(guó)人民解放軍白求恩醫(yī)務(wù)士官學(xué)校 河北石家莊 050081)
電位滴定的數(shù)據(jù)處理方法主要有E-V曲線法、一階微分作圖法和二階微分計(jì)算法。這些方法均需要大量的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行作圖或計(jì)算,所得結(jié)果為滴定曲線上變化之最大點(diǎn),并非理論上的化學(xué)計(jì)量點(diǎn)。為此,Johansson及Gran提出了兩點(diǎn)滴定法[1-2]。國(guó)內(nèi)學(xué)者也有類似研究,倪永年對(duì)此進(jìn)行了評(píng)述[3]。作者曾導(dǎo)出簡(jiǎn)便的兩點(diǎn)電位滴定法計(jì)算公式,并用于電位滴定數(shù)據(jù)的處理,獲得滿意結(jié)果[4]。文獻(xiàn)[4]處理電位滴定數(shù)據(jù)時(shí),需要先判定滴定突躍范圍,并在突躍前選定兩點(diǎn)用于計(jì)算。對(duì)于在終點(diǎn)附近以等體積間隔進(jìn)行的滴定,此法較為簡(jiǎn)便;而對(duì)于非等體積間隔的滴定,應(yīng)用還有不便之處。本文在兩點(diǎn)電位滴定法的基礎(chǔ)上,依據(jù)分析誤差要求,設(shè)計(jì)了等電位間隔法,用于處理電位滴定數(shù)據(jù)。經(jīng)對(duì)文獻(xiàn)數(shù)據(jù)和實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理,結(jié)果與二階微分法一致。
在文獻(xiàn)[4]中,討論了電位滴定的化學(xué)計(jì)量點(diǎn)可由兩點(diǎn)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)確定:
(1)
此式即確定電位滴定化學(xué)計(jì)量點(diǎn)的兩點(diǎn)法計(jì)算公式,適用于常見反應(yīng)類型。式中ΔE是加入V1、V2體積滴定液時(shí)兩點(diǎn)電位差,S是指示電極響應(yīng)斜率,Ve是化學(xué)計(jì)量點(diǎn)體積。
式(1)的前提條件是兩點(diǎn)必須在計(jì)量點(diǎn)之同一側(cè)。應(yīng)用計(jì)量點(diǎn)前兩點(diǎn)計(jì)算時(shí),ΔE取正值;用計(jì)量點(diǎn)后兩點(diǎn)計(jì)算時(shí),ΔE取負(fù)值。對(duì)于酸堿滴定,可用ΔpH代替式中的ΔE/S,公式形式不變。
方法的誤差主要由兩點(diǎn)位置確定,經(jīng)推導(dǎo),得到以下計(jì)算式:
(2)
式(2)中T為方法的誤差;P1=V1/Ve×100%,稱為第一測(cè)量點(diǎn)的滴定百分?jǐn)?shù)。
由式(2)可知,第一測(cè)量點(diǎn)滴定百分?jǐn)?shù)P1及兩點(diǎn)電位差ΔE對(duì)方法誤差有較大影響。P1越接近100%,兩點(diǎn)電位差越大,誤差就越小。表1列出了不同條件下的誤差計(jì)算結(jié)果。
計(jì)算結(jié)果表明,當(dāng)?shù)谝粶y(cè)量點(diǎn)滴定百分?jǐn)?shù)小于85%時(shí),需要較大的電位間隔才可使方法的誤差T≤0.1%。對(duì)于滴定突躍較小的測(cè)定,有使第二點(diǎn)落入滴定突躍范圍的可能;當(dāng)P1≥90%,電位間隔ΔE在30~40mV之間即可滿足T≤0.1%。故在處理電位滴定數(shù)據(jù)時(shí),電位間隔以30~40mV較為合理。在此條件下,指示電極響應(yīng)斜率S的取值對(duì)計(jì)算結(jié)果影響很小。在實(shí)際使用時(shí),S的取值可根據(jù)指示電極和測(cè)定溫度確定。
表1 不同條件下的誤差計(jì)算結(jié)果
依據(jù)上述理論,設(shè)計(jì)電位滴定數(shù)據(jù)的等電位間隔處理程序:將初始點(diǎn)記為第一點(diǎn)(V1,E1),間隔30~40mV選取第二點(diǎn)(V2,E2);將兩組數(shù)據(jù)代入兩點(diǎn)法公式,計(jì)算計(jì)量點(diǎn)體積Ve和誤差T,若T≤0.1%,數(shù)據(jù)處理結(jié)束。否則,將(V2,E2)記作(V1,E1),再間隔30~40mV選點(diǎn)并記為(V2,E2),重新計(jì)算Ve和T,直至得到符合誤差要求的計(jì)算結(jié)果。
應(yīng)用Excel軟件可使等電位間隔法處理電位滴定數(shù)據(jù)變得非常簡(jiǎn)單。
在文獻(xiàn)[5-7]中,第一組記錄數(shù)據(jù)定義為(V1,E1),以約30mV的電位間隔選取實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),依照等電位間隔法終點(diǎn)識(shí)別程序進(jìn)行處理,直至得到符合誤差要求的計(jì)算結(jié)果。同時(shí)用二階微分法對(duì)文獻(xiàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。兩方法所得結(jié)果及比較見表2。
表2 等電位間隔滴定法與二階微分法結(jié)果比較
由文獻(xiàn)數(shù)據(jù)處理結(jié)果可知,使用少數(shù)幾組滴定數(shù)據(jù),即可用等電位間隔滴定法得到符合誤差要求的計(jì)算結(jié)果,且與二階微分法計(jì)算結(jié)果一致。
表3 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理結(jié)果及比較
實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,等電位間隔法只需要少數(shù)幾組滴定數(shù)據(jù)即可識(shí)別滴定化學(xué)計(jì)量點(diǎn),較二階微分法快速簡(jiǎn)便,且所得結(jié)果為理論上的化學(xué)計(jì)量點(diǎn)預(yù)測(cè)值,結(jié)果可靠。此方法可直接用于電位滴定。
[1] Johansson A,Gran G.Analyst,1980,105:802
[2] Gran G,Johansson A.Analyst,1981,106:231
[3] 倪永年,金玲.分析化學(xué),1996,24(10):1219
[4] 馮俊賢,李素娟,郄文娟,等.分析化學(xué),2002,30(3):337
[5] 徐佩佩.儀器分析.北京:海洋出版社,1991
[6] 于如嘏.分析化學(xué)(下冊(cè)).北京:人民出版社,1986
[7] 繆征明.儀器分析.北京:機(jī)械工業(yè)出版社,1984