石朝毅 , 張玉鈞 , 殷高方 , 王志剛 ,2, 肖 雪 ,趙南京 ,劉文清
(1.中科院 安徽光學(xué)精密機(jī)械研究所 國(guó)家環(huán)境光學(xué)監(jiān)測(cè)技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,安徽 合肥 230031;2.揚(yáng)州大學(xué) 環(huán)境科學(xué)與工程學(xué)院,江蘇 揚(yáng)州 225009)
雪崩光電二極管(APD)具有很高的靈敏度和內(nèi)部增益,可大大提高探測(cè)系統(tǒng)的探測(cè)靈敏度和信噪比,因而在微弱光電信號(hào)測(cè)量系統(tǒng)中得到了廣泛應(yīng)用。但同時(shí)它也有一個(gè)很大的缺點(diǎn),即增益隨溫度變化,因而應(yīng)用時(shí)需做偏壓溫度補(bǔ)償,以保證APD的增益恒定[1-2]。但現(xiàn)有的補(bǔ)償方法中,或需要微處理器進(jìn)行控制,或電路設(shè)計(jì)比較復(fù)雜。由此,文中提出了一種基于DS3501的APD偏壓溫度補(bǔ)償電路,可以自動(dòng)實(shí)現(xiàn)APD偏壓精確補(bǔ)償,無需微處理器控制,簡(jiǎn)化了電路設(shè)計(jì)。
SILICON-SENSOR公司AD系列APD的增益Gain由偏置電壓UR與UBR的比值k決定,k越大,增益越大。但是,APD的擊穿電壓UBR受溫度影響,溫度系數(shù)為0.45 V/℃,在偏置電壓UR不變的情況下,UBR隨溫度發(fā)生變化,導(dǎo)致出現(xiàn)波動(dòng)[3-4],如圖1所示。APD增益的變化將直接影響到光信號(hào)的測(cè)量,導(dǎo)致測(cè)量值出現(xiàn)較大誤差。
由以上分析可知,當(dāng)溫度發(fā)生變化從而引起擊穿電壓UBR變化時(shí),需調(diào)整偏置電壓UR,使保持不變,以保證APD增益Gain恒定。假設(shè)溫度時(shí),APD擊穿電壓為UBRO,偏置電壓為URO,可得偏壓計(jì)算公式:
圖1 APD增益曲線Fig.1 APD gain curve
以此公式為基礎(chǔ),設(shè)計(jì)APD偏壓溫度補(bǔ)償電路。
DS3501是一款7位、非易失(NV)數(shù)字電位器,端到端電阻為10 kΩ,可通過I2C接口對(duì)其進(jìn)行編程設(shè)置。內(nèi)置溫度傳感器和對(duì)應(yīng)的模/數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC),溫度傳感器帶有一個(gè)36字節(jié)的NV查找表(LUT),以存儲(chǔ)不同溫度下對(duì)應(yīng)的輸出阻值,每4℃的溫度區(qū)間對(duì)應(yīng)一個(gè)阻值,覆蓋溫度范圍-40~+100℃。
DS3501原理框圖如圖2所示。芯片具有3種工作模式:Default模式,LUT模式和LUT Adder模式。Default模式最簡(jiǎn)單,抽頭位置直接由控制器通過I2C總線控制;LUT模式和LUT Adder模式都是通過LUT查找表控制抽頭位置,二者的區(qū)別在于:LUT Adder模式中,抽頭寄存器WR中的值等于LUT查找表的輸出值加上初始值寄存器IVR中的值,而LUT模式中則不加IVR中的值。以上3種模式中,系統(tǒng)上電時(shí),抽頭寄存器WR默認(rèn)讀取初始值寄存器IVR中的值作為初始值。
本設(shè)計(jì)通過配置相關(guān)寄存器使DS3501工作于LUT模式,電位器的抽頭位置直接由LUT的輸出控制。如圖2所示,芯片以周期TFRAME查詢溫度傳感器的輸出,將ADC轉(zhuǎn)化后的溫度值存貯于溫度寄存器(0Ch),根據(jù)此溫度確定一個(gè)地址值并存儲(chǔ)于LUT地址寄存器LUTAR(08h),讀取LUT查找表中對(duì)應(yīng)地址內(nèi)的阻值并存入抽頭寄存器WR(09h),實(shí)現(xiàn)抽頭位置的自動(dòng)調(diào)整。這一特性使得僅通過此芯片就可以完成對(duì)APD的偏壓溫度補(bǔ)償,而不用借助微處理器進(jìn)行計(jì)算和控制,簡(jiǎn)化了電路設(shè)計(jì)。其中,LUT查找表中的存儲(chǔ)的阻值由APD的性能參數(shù)及環(huán)境溫度決定。同時(shí),溫度值還可通過I2C總線由主機(jī)讀取。
圖2 DS3501原理框圖Fig.2 Block diagram of DS3501
偏壓溫度補(bǔ)償電路[5]如圖3所示,將DS3501的RH、RL和RW在外部連接成分壓器形式,RW端電壓可方便地通過下式計(jì)算:
其中,WR為十進(jìn)制表示的寄存器WR中的值。
設(shè)計(jì)中的高壓模塊為線性升壓模塊,放大倍數(shù)為80倍,即:
根據(jù)電路設(shè)計(jì),得:
因此,通過改變寄存器WR中的值,就可以獲得不同的偏置電壓。
圖3 偏壓溫度補(bǔ)償電路Fig.3 Bias voltage compensation circuit
參數(shù)設(shè)計(jì)需要滿足以下兩點(diǎn)要求:
1)為保證偏壓溫度補(bǔ)償?shù)木?,必須?ΔVRW<ΔVadj,即相鄰兩檔電阻對(duì)應(yīng)的VRW的變化值小于Vadj的最小變化值;
2)工業(yè)環(huán)境溫度一般為-40~+85℃,因此該電路必須能在-40~+85℃范圍內(nèi)進(jìn)行APD偏壓溫度補(bǔ)償。
查APD手冊(cè)得:22℃時(shí),APD擊穿電壓UR=153 V,為了保證APD工作在較大的放大倍數(shù),同時(shí)受溫度影響又相對(duì)較小,取偏置電壓UR=122.4 V,即k=0.8。
由(1)、(3)式得:
因?yàn)镈S3501每4℃溫度區(qū)間對(duì)應(yīng)一個(gè)阻值,因此ΔT=4,故 Vadj=0.018。
因此需要有:
同時(shí),在-40~+85 ℃范圍內(nèi),由(1)、(3)式得:
電路參數(shù)設(shè)計(jì)必須滿足(6)、(7)式所示條件。
取 VADD=12 V,R1=100 k,R2=10 k, 得 ΔVRW=0.007 9,1.000<Vadj<2.000,滿足(6)、(7)式。 根據(jù)確定的參數(shù),由(1)、(4)式得:
由(8)式計(jì)算出不同溫度下對(duì)應(yīng)的WR的值,并轉(zhuǎn)換成十六進(jìn)制,通過I2C總線[6]寫入DS3501的查找表LUT對(duì)應(yīng)地址中,芯片就可以根據(jù)溫度傳感器的溫度控制抽頭位置,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)偏壓的控制。
根據(jù)電路選取的參數(shù),由(4)、(8)式得:
根據(jù)(9)式可以計(jì)算得到某溫度下偏置電壓UR的理論值。
為了測(cè)試電路的補(bǔ)償效果,在不同的溫度下測(cè)量一組偏置電壓UR,將其與理論值進(jìn)行相關(guān)性分析,相關(guān)系數(shù)為0.999 67,斜率為1.002 48,標(biāo)準(zhǔn)偏差為0.006 64,具有較好的一致性,如表1及圖4所示。
表1 偏置電壓理論值與測(cè)量值對(duì)照表Tab.1 Compare of theoretical value and measured value of bias voltage
圖4 偏置電壓理論值與測(cè)量值關(guān)系曲線Fig.4 Relation curve of theoretical value and measured value of bias voltage
將該溫度補(bǔ)償電路應(yīng)用于熒光法溶解氧測(cè)量?jī)x,在一組不同溫度下,分別用APD偏壓補(bǔ)償前和補(bǔ)償后的測(cè)量?jī)x測(cè)量同一濃度的溶解氧(8.15 mg/L),測(cè)量結(jié)果如表2及圖5所示,補(bǔ)償前測(cè)量值最大相對(duì)誤差為4.17%,標(biāo)準(zhǔn)偏差為0.160 6,補(bǔ)償后測(cè)量最大相對(duì)誤差為0.98%,標(biāo)準(zhǔn)偏差為0.038 8,可見,儀器性能指標(biāo)得到了較大的提升,且具有較好的精確度及穩(wěn)定性。
通過實(shí)驗(yàn)測(cè)試可見,本文設(shè)計(jì)的基于DS3501的APD偏壓溫度補(bǔ)償電路,能夠根據(jù)環(huán)境溫度準(zhǔn)確自動(dòng)補(bǔ)償APD偏置電壓,較好的滿足了溶解氧測(cè)量系統(tǒng)對(duì)APD測(cè)量精度的要求,具有優(yōu)良的性能和很好的實(shí)用性。
表2 偏壓補(bǔ)償前后同一溶解氧濃度測(cè)量結(jié)果對(duì)比(mg/L)Tab.2 Measured value of dissolved oxygen before and after compensation(mg/L)
圖5 偏壓補(bǔ)償前后同一溶解氧濃度測(cè)量值曲線Fig.5 Curve of measured value of dissolved oxygen before and after compensation
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