杜 鵬 米清茹 周劍英 張翼飛 滑文強 鄭麗芳 黎 忠
1 (中國科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所 上海 201800)
2 (中國科學(xué)院研究生院 北京 100049)
同步輻射光源,需測定X射線光束線位置,常用的光斑位置探測器(X-ray Beam Position Monitor,XBPM)有刀片式BPM和絲BPM等。刀片式BPM利用X射線在一對刀片上產(chǎn)生的光電流之比與位置的關(guān)系推導(dǎo)出光束中心位置及其變化,直觀性有限;絲 BPM 則測量絲掃描方向上的電流信號,得到光斑的強度分布和位置變化,其受光束寬度和形狀不穩(wěn)定性影響較大,滿足不了實時性較高系統(tǒng)的要求[1,2]。光學(xué)式BPM可測量光束截面尺寸和位置等參數(shù),監(jiān)測其不穩(wěn)定性,具有高精度、全光斑信息、抗干擾能力強、實時性等優(yōu)點。本文介紹在上海同步輻射光源基于EPICS(Experimental physics and Industrial control system)的分布式控制系統(tǒng),獲取熒光靶上產(chǎn)生的可見X光光斑圖像并進行圖像數(shù)據(jù)處理的軟件設(shè)計。
根據(jù)束線位置測量系統(tǒng)的控制和圖像數(shù)據(jù)處理的總體設(shè)計原則,軟件環(huán)境在EPICS平臺上進行開發(fā),利用 MATLAB進行圖像數(shù)據(jù)處理。包括三部分:操作員的界面OPI(Operator interface)、輸入輸出的控制IOC(Input/Output controller)和底層的設(shè)備(Device)[3]。
操作員界面OPI位于系統(tǒng)頂層,具有訪問整個系統(tǒng)能力。通過在人機交換監(jiān)控系統(tǒng)的界面上運行,實現(xiàn)了控制參數(shù)的設(shè)置、回讀、數(shù)據(jù)存檔等功能。操作人員通過人機交換界面實現(xiàn)了對位置測量系統(tǒng)的設(shè)備控制、數(shù)據(jù)處理及結(jié)果的實時顯示。
在位置測量系統(tǒng)中,控制系統(tǒng)的核心是在Linux系統(tǒng)的軟IOC上運行的,向上通過Channel Access與上層OPI進行通信,向下則通過動態(tài)數(shù)據(jù)庫實現(xiàn)對硬件設(shè)備的輸入/輸出。
底層設(shè)備完成束流信號的獲取,主要由 CCD探測器及其數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換模塊等組成。
束線位置測量系統(tǒng)是利用熒光靶束線測量系統(tǒng)和圖像采集處理技術(shù)得到X光束在熒光靶上形成的光斑圖像,通過網(wǎng)絡(luò)將數(shù)字圖像信號輸入計算機,用圖像分析軟件得到光斑的位置、尺寸和強度分布信息。
束線位置測量系統(tǒng)由熒光靶系統(tǒng)、光學(xué)顯微放大系統(tǒng)、圖像讀入系統(tǒng)、軟IOC和OPI組成,圖1為測量系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。X光束打在熒光靶上,形成相應(yīng)的可見光光斑,為獲得足夠大的光斑圖像,并有較大的成像深度,系統(tǒng)采用長焦距顯微鏡,使光斑成像在 CCD探測器上??紤]到測量系統(tǒng)的工作距離(從鏡頭前端面到狹縫距離)和光學(xué)系統(tǒng)的景深,選用最大工作距離為100 mm的連續(xù)變倍體視顯微鏡,顯微鏡的光學(xué)放大倍率選擇×5倍,像元尺寸 6.45 μm×6.45 μm,因此測量系統(tǒng)在物空間的分辨率約為1.4 μm。CCD探測器輸出數(shù)字圖像信號,輸入到計算機進行圖像數(shù)據(jù)處理。EPICS IOC負(fù)責(zé)CCD探測器的控制和圖像數(shù)據(jù)的采集,Client OPI上MATLAB通過與EPICS的接口LabCA讀取IOC通道上的圖像數(shù)據(jù),利用圖像處理函數(shù)計算出光斑的中心位置、面積、長短軸等重要參數(shù),并顯示描述光斑的三維圖像,完成對光斑精確的定量測量。
圖1 XBPM系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖Fig.1 Schematics of the XBPM system.
整個軟件系統(tǒng)在EPICS架構(gòu)下開發(fā),CCD探測器的設(shè)備驅(qū)動、控制和信號數(shù)據(jù)的交互通過EPICS IOC上areaDetector程序模塊控制,圖像在OPI上用MATLAB進行處理,軟件結(jié)構(gòu)見圖2。運行人員對設(shè)備的控制通過 MEDM 控制面板對底層IOC數(shù)據(jù)記錄的操作來實現(xiàn)。上層應(yīng)用程序如光斑的處理都在MATLAB平臺上開發(fā),通過LabCA接口訪問底層IOC數(shù)據(jù)[4]。
圖2 軟件系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖Fig.2 Architecture of software.
在EPICS平臺上把從CCD探測器中獲取的圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn) EPICS數(shù)據(jù)格式,然后用MATLAB讀取圖像數(shù)據(jù)進行處理。讀取的是 255級的灰度級圖像,每幅圖像有2050×2448個像素,光斑上每一點的強度用該點的灰度值表示。整幅圖像以*.BMP格式的文件儲存在計算機中。通過處理圖像數(shù)據(jù),可計算出束線截面強度中心的位置、束線截面長短軸等。
根據(jù)測量系統(tǒng)的要求,束線位置測量系統(tǒng)軟件設(shè)計實現(xiàn)了如下功能,功能的實現(xiàn)主要依賴于圖像處理的效果。
(1) 實時、動態(tài)地顯示束線截面圖像(理想情況下為橢圓亮斑),刷新頻率為15幀/s。
(2) 能隨時捕獲欲處理的圖像,以*.BMP文件格式存儲。
(3) 由于圖像數(shù)據(jù)信息過大,為實現(xiàn)實時性,只處理圖像感興趣的部分。
(4) 擬合出光斑在X和Y方向上的強度分布曲線,理想情況下為高斯分布。
(5) 計算出光斑強度中心點的位置及光斑長短軸等。
(6) 根據(jù)EPICS分布式系統(tǒng)的特性,實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)測量功能,即一臺服務(wù)器負(fù)責(zé) CCD相機的控制和圖像采集,把中控室中的計算機作為客戶機,通過以太網(wǎng)連接到服務(wù)器,這樣可以在中控室的任何一臺終端上實現(xiàn)束線位置的測量。
2.2.1 噪聲處理
圖像本身會帶有很多噪聲,如背景噪聲、電子學(xué)系統(tǒng)噪聲等,所以需對采集到的圖像進行本底噪聲扣除。因此,在無信號時,采集一幀熒光靶上的圖像作為本底,從獲得的光斑圖像中減去本底中相對應(yīng)各點的灰度值,即可得到去除本底噪聲的圖像數(shù)據(jù)。
另外,為減小圖像噪聲的影響,對圖像進行平滑處理。如圖3所示,選擇5×5的區(qū)域,包含點(i,j)的五邊形、六邊形各4個(圖3a和b),3×3的區(qū)域一個(圖3c)。計算這9個區(qū)域的標(biāo)準(zhǔn)差和灰度平均值,取標(biāo)準(zhǔn)差最小區(qū)域的灰度平均值作為(i,j)灰度。以此為模板對整幅圖像進行處理,得到濾波后的輸出圖像[5]。
圖3 圖像平滑處理算法示意圖Fig.3 Schematics for image smooth processing.
2.2.2 光斑中心定位算法
為提高測量系統(tǒng)的精度,可以從硬件入手,如選用高分辨率CCD。在已知硬件精度情況下,利用目標(biāo)的成像特性,采用亞像素定位技術(shù)提高測量定位的精度。這里采用基于灰度重心法的曲線擬合亞像素定位算法。
先利用灰度重心法找到圖像重心位置:
式中,f(x,y)為圖像的灰度值,x和y分別表示列坐標(biāo)和行坐標(biāo)。找到圖像重心位置后,以該像素點為中心點對水平方向和垂直方向進行曲線擬合。以水平方向為例,設(shè)二次曲線為:
其中,g(x,y)表示此方向的光強分布,由CCD方形孔采樣定理[6],每個像素的輸出灰度值為:
通過重心法求出坐標(biāo)(x0,y0)。令該像素點灰度值為f0x,以該點為中心點,前后各取一個像素點,記為f?1x和f1x。根據(jù)f?1x、f0x和f1x的值,代入式(4),得到關(guān)于二次曲線參數(shù)A、B、C的三元一次方程組:
對公式(5)(6)(7)聯(lián)合求解,計算出二次曲線的參數(shù)A、B、C值:
因此,得到水平方向相對于重心點的亞像素中心為:
則水平方向中心點的絕對位置坐標(biāo)為:
同理,按照上述方法求出垂直方向的亞像素中心為:
2.2.3 光斑的長短軸
由于光斑圖形是類橢圓圖像,需對光斑圖像進行慣量橢圓計算[7]。把光斑圖像的每一個像素視為一個質(zhì)點,各質(zhì)點質(zhì)量均為 1,首先計算光斑圖像的重心,以其為圖像坐標(biāo)系的原點O。按照線性代數(shù)中求特征值方法,確定橢圓二主軸的斜率分別為k和l,可得:
進一步解得慣量橢圓的2個半主軸長p和q分別為:
式中,A=∑yi2、B=∑xi2分別為圖像繞x’、y’軸線的轉(zhuǎn)動慣量,H=∑xiyi,稱作慣性積。
在上海同步輻射光源基于EPICS的分布式控制系統(tǒng)總原則下,光斑位置測量系統(tǒng)探測器的控制和圖像采集也用 EPICS來實現(xiàn)。EPICS系統(tǒng)包括軟IOC、OPI以及在兩者間提供通道訪問的數(shù)據(jù)交換模塊。EPICS采用分層結(jié)構(gòu),每一層相對獨立,訪問數(shù)據(jù)庫記錄不需要知道具體的記錄類型和設(shè)備名,只需知道通道名即可訪問。因此,數(shù)字圖像信號由以太網(wǎng)傳輸?shù)杰汭OC中,由areaDetector應(yīng)用程序模塊轉(zhuǎn)換成 EPICS數(shù)據(jù)格式,通過 Channel Access與上層OPI層通信,表1是測量系統(tǒng)用到的記錄。
表1 測量系統(tǒng)記錄Table 1 Measurement system records.
采用MATLAB R2007編寫束線位置測量系統(tǒng)圖像處理程序,它是一種功能強大的數(shù)值計算、分析和系統(tǒng)建模工具,具有高效的數(shù)值計算和符號計算功能、完備的圖形處理功能以及功能豐富的應(yīng)用工具箱等特點。由 MATLAB與 EPICS數(shù)據(jù)接口LabCA,使 MATLAB實現(xiàn)圖像的讀取、處理、顯示和數(shù)據(jù)的存檔。程序功能模塊分別用于設(shè)備驅(qū)動和控制、圖像獲取和保存、圖像分析處理和顯示,前兩個模塊于IOC中運行,第三個模塊在OPI中運行,這便于程序的維護和更新,同時,程序具有友好的用戶界面,顯示信息直觀、明了。
圖4、5為上海光源BL16B1光束線站測試的光束線位置測量結(jié)果,結(jié)果顯示光斑面積為 882.29 μm2,中心點位置0.204、0.353 mm。圖6是每隔一秒采樣結(jié)果統(tǒng)計的光斑位置波動圖,由圖6可見光斑抖動范圍≤±10 μm可供調(diào)束參考。
光斑中心定位采用亞像素曲線擬合方法,通過MATLAB程序隨機產(chǎn)生一組大小約400×400像素,具有不同形狀、灰度值和中心位置的光斑模擬實際應(yīng)用中遇到的各種采集結(jié)果,然后用曲線擬合法求取光斑的中心坐標(biāo),可得曲線擬合定位精度0.2像素,即0.2×1.4 μm=0.28 μm,軟件功能達到設(shè)計要求,可直觀、可靠和實時地獲取全光斑信息,用于監(jiān)測光束的位置和分布變化。
圖4 圖像處理軟件主要界面Fig.4 The main interface for image processing.
圖5 光斑強度空間分布界面Fig.5 The interface of flare intensity spatial distribution.
圖6 光斑中心位置波動圖Fig.6 Center position movement.
本文介紹了基于EPICS環(huán)境下建立的光學(xué)式同步輻射光束線位置測量系統(tǒng)的圖像處理方法和軟件系統(tǒng)功能及設(shè)計。目前,已在上海光源光束線站上安裝調(diào)試,并實時測量束線光斑的變化,對光束線的位置進行實時監(jiān)測。為線站基于 EPICS光學(xué)式
BPM的開發(fā)積累了經(jīng)驗,該系統(tǒng)可實現(xiàn)BPM的控制、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理、顯示和存檔。
1 李 明, 石 泓, 董淑強, 等. 雙絲型同步輻射光束位置監(jiān)測器的參數(shù)設(shè)計[J]. 核技術(shù), 2009, 32(6): 401–404 LI Ming, SHI Hong, DONG Shuqiang,et al. Parametric design of a double-wire type PBPM for a synchrotron radiation facility[J]. Nucl Tech, 2009, 32(6): 401–404
2 黎 忠. X 射線位置測量系統(tǒng)[C]. 中國科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所, 2007 LI Zhong. X-Ray beam position monitor system[C].Shanghai Institute of Applied Physics, Chinese Academy of Sciences, 2007
3 秦香云, 劉 平, 胡 純, 等. 同步輻射區(qū)光束線位置測量系統(tǒng)的控制和數(shù)據(jù)獲取[J]. 核電子學(xué)與探測技術(shù),2010, 30(2): 236–238 QIN Xiangyun, LIU Ping, HU Chun,et al. The control and data acquirement for X-ray beam position monitor system at Shanghai Synchrotron Radiation Facility[J].Nuclear Electronics & Detection Technology, 2010, 30(2):236–238
4 冷用斌, 周偉民, 袁任賢, 等. 上海光源儲存環(huán)束流位置監(jiān)測系統(tǒng)[J]. 核技術(shù), 2010, 33(6): 402–404 LENG Yongbin, ZHOU Weimin, YUAN Renxian,et al.Beam position monitor system for SSRF storage ring[J].Nucl Tech, 2010, 33(6): 402–404
5 戴 興. 同步光數(shù)據(jù)采集與處理[D]. 中國科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所, 2008 DAI Xing. Data acquisition and process of synchrotron radiation[D]. Shanghai Institute of Applied Physics,Chinese Academy of Sciences, 2008
6 張麗群. 基于相關(guān)法的多重成像亞像素定位算法的研究與實現(xiàn)[D]. 哈爾濱: 哈爾濱工程大學(xué), 2005 ZHANG Liqun. Study on multiple-camera sub-pixel locating algorithm based on correlation[D]. Harbin:Harbin Engineering University, 2005
7 章毓晉. 橢圓匹配法及其在序列細胞圖像 3-D配準(zhǔn)中的應(yīng)用[J]. 中國圖像圖形學(xué)報, 1997, 2(8): 574–577 ZHANG Yujin. Ellipse matching and its application to 3D registration of serial cell images[J]. Journal of Image and Graphics, 1997, 2(8): 574–577