高春光,高曉星,趙永祥
(山西大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院 精細(xì)化學(xué)品教育部工程研究中心,山西 太原 030006)
錫/硅復(fù)合氧化物常用作催化劑或催化劑載體,一般采用后處理法[1~4]及水熱法[5]制備。
溶膠-凝膠過程制備復(fù)合氧化物較傳統(tǒng)的固態(tài)反應(yīng)過程有明顯的特點(diǎn):反應(yīng)條件溫和、過程參數(shù)調(diào)控方便、復(fù)合物混合均勻、復(fù)合程度高。溶膠-凝膠過程分為水解溶膠-凝膠過程及非水解溶膠-凝膠過程。目前,關(guān)于水解溶膠-凝膠過程的研究報(bào)道較多,而非水解溶膠-凝膠過程制備復(fù)合氧化物的研究較少[6],特別是非水解溶膠-凝膠過程制備錫/硅復(fù)合氧化物尚未見報(bào)道。
作者在此以無水四氯化錫和正硅酸乙酯為前驅(qū)物、環(huán)己烷為溶劑,在無氧無水條件下采用非水解溶膠-凝膠過程制備錫/硅復(fù)合氧化物,并對(duì)制得的材料進(jìn)行表征分析。
無水四氯化錫(SnCl4)、正硅酸乙酯(TEOS)、環(huán)己烷(鈉絲回流除水)等均為分析純。
X-粉末衍射儀(XRD,Bruker D8 Advance X-ray diffractometer),高分辨率透射電鏡(TEM,JEM-2000EX),紅外光譜(FTIR,Bruker Tensor 27),N2物理吸附分析儀(Micromeritics ASAP-2020)。
在通N2的雙排管無氧無水條件下,先將一定量的TEOS與環(huán)己烷充分混合于圓底燒瓶中;然后逐滴加入已稱量好的SnCl4(原料Sn/Si摩爾比為1∶2);在30 ℃反應(yīng)5~6 h后,出現(xiàn)淡粉紅色沉淀,持續(xù)反應(yīng)48 h后,靜置分層;去上清,將沉淀于60 ℃下減壓除去溶劑,置于烘箱中,于100 ℃干燥得淡粉紅色固體,再于500 ℃煅燒3 h得淡黃色產(chǎn)物。對(duì)產(chǎn)物進(jìn)行TEM分析、N2物理吸附分析、XRD分析及FTIR分析。
以無水SnCl4和TEOS為前驅(qū)物、環(huán)己烷為溶劑,在原料Sn/Si摩爾比為1∶2、反應(yīng)溫度為30 ℃、焙燒溫度為500 ℃的無氧無水條件下,采用非水解溶膠-凝膠過程制備了錫/硅復(fù)合氧化物,產(chǎn)率為31.3%,Sn/Si摩爾比為7.4∶1。
反應(yīng)前后Sn/Si摩爾比的不同,是因?yàn)椋涸诜撬馊苣z-凝膠過程中,由于前驅(qū)物SnCl4和TEOS反應(yīng)活性的差異,導(dǎo)致其發(fā)生配體交換反應(yīng)[1,7~9]時(shí)產(chǎn)生大量的Sn-O-Sn鍵,只有較少的Si-O-Si鍵和Sn-O-Si鍵產(chǎn)生,使得產(chǎn)物中硅含量大大降低(Sn/Si摩爾比由1∶2升至7.4∶1)。
文獻(xiàn)[9]報(bào)道的SiO2-ZrO2和SiO2-TiO2復(fù)合氧化物同樣是采用鹵化物與硅氧烷(醇鹽)的無氧無水路線制備的,但其采用的硅前驅(qū)物是活性較高的異丙氧基硅烷,其產(chǎn)物中的Si/M值主要由原料的配比控制。而本實(shí)驗(yàn)中,產(chǎn)物Sn/Si摩爾比要遠(yuǎn)大于原料Sn/Si摩爾比,產(chǎn)物中錫的流失量不大,主要是硅流失了,可以推測(cè)大量硅前驅(qū)物沒有反應(yīng),這主要是由于TEOS活性低造成的。盡管如此,本實(shí)驗(yàn)仍然獲得了具有Sn-O-Si雜鍵的錫/硅復(fù)合氧化物,500 ℃焙燒后仍能檢測(cè)到Sn-O-Si雜鍵的紅外吸收。
圖1 錫/硅復(fù)合氧化物的TEM照片
由圖1可看出,具有規(guī)則外形輪廓的完整晶粒不多,大多為邊緣圓滑的顆粒,直徑在10 nm左右,且大多有明顯的晶格條紋(圖1b),這些可歸屬為氧化錫的晶粒,無定形的應(yīng)為氧化硅。圖1b中A是均勻的細(xì)條紋結(jié)構(gòu),而B則是在細(xì)條紋結(jié)構(gòu)中疊加有粗條紋結(jié)構(gòu),且粗條紋方向與細(xì)條紋方向基本呈一定的角度,明顯地與A晶粒不同。可以推測(cè),這是由于硅的摻雜,導(dǎo)致了氧化錫晶粒的不完整。
圖2為500 ℃焙燒后錫/硅復(fù)合氧化物的N2物理吸附等溫線。
圖2 錫/硅復(fù)合氧化物的N2吸附等溫線
由圖2可計(jì)算出:錫/硅復(fù)合氧化物的比表面積(BET法)為22.58 m2·g-1、平均孔徑(BJH吸附分支)為14.3 nm、比孔容僅為0.047 cm3·g-1。從吸附等溫線可推測(cè)主要是由顆粒堆積形成的孔。
a.500 ℃ b.300 ℃ c.200 ℃
由圖3可看出,錫/硅復(fù)合氧化物中的氧化錫經(jīng)歷了從無定形到結(jié)晶的變化過程。
圖4 不同焙燒溫度所得錫/硅復(fù)合氧化物的FTIR圖譜
由圖4可看出,200 ℃、400 ℃、500 ℃、600 ℃下焙燒得到的錫/硅復(fù)合氧化物的紅外光譜主要是氧化硅和氧化錫的特征峰。200 ℃時(shí),623 cm-1處歸屬為Sn-O-Si鍵[10]的特征峰并不明顯;當(dāng)焙燒溫度升高到400 ℃、500 ℃時(shí),該峰明顯增強(qiáng);當(dāng)焙燒溫度繼續(xù)升高至600 ℃時(shí),該峰又有所減弱但并未消失。
以無水四氯化錫和正硅酸乙酯為前驅(qū)物、環(huán)己烷為溶劑,在無氧無水條件下采用非水解溶膠-凝膠過程制得了錫/硅復(fù)合氧化物,產(chǎn)率為31.3%。該復(fù)合氧化物為10 nm左右的顆粒,Sn/Si摩爾比為7.4∶1,比表面積為22.58 m2·g-1,平均孔徑為14.3 nm,比孔容為0.047 cm3·g-1,主要是顆粒堆積孔,主要組分為氧化錫晶體和無定形氧化硅,500~600 ℃焙燒時(shí)仍有Sn-O-Si雜鍵存在。
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