伍儒彬,蔡 瓊
(武漢工程大學(xué) 計(jì)算機(jī)科學(xué)與工程學(xué)院, 湖北 武漢 430074)
1982年,Roger Schark教授在《Dynamic Memory》中提出基于案例推理(Cased-Based Reasoning CBR)技術(shù),并應(yīng)用該技術(shù)開(kāi)發(fā)一個(gè)CBR應(yīng)用系統(tǒng),該系統(tǒng)是一個(gè)簡(jiǎn)答式的專(zhuān)家系統(tǒng).它成為爾后許多CBR系統(tǒng)的模型和研究基礎(chǔ).經(jīng)過(guò)三十年的發(fā)展,CBR的優(yōu)點(diǎn)不斷挖掘,受到越來(lái)越多的學(xué)者和企業(yè)重視.文獻(xiàn)[1]和[2]是將CBR與其它方法進(jìn)行結(jié)合研究;而文獻(xiàn)[3]~[5]則是對(duì)案例庫(kù)的本身維護(hù)及應(yīng)用進(jìn)行研究,總的說(shuō)來(lái)其應(yīng)用領(lǐng)域有:企業(yè)決策,問(wèn)題求解,系統(tǒng)故障診斷,天氣預(yù)報(bào)等方面.而主板維修是主板制造企業(yè)在生產(chǎn)過(guò)程和售后服務(wù)中的一個(gè)必不可少的環(huán)節(jié),對(duì)不良品的處理是不少此類(lèi)企業(yè)必須解決的問(wèn)題,因此,將CBR技術(shù)與原理應(yīng)用到主板維修中探討和研究,以從理論模型上尋求解決問(wèn)題的可能性.
受到人類(lèi)認(rèn)識(shí)事物過(guò)程中的推理記憶啟發(fā),CBR被提出.CBR系統(tǒng)可看成對(duì)過(guò)去類(lèi)似問(wèn)題的回憶,與現(xiàn)有的問(wèn)題作比較,給出解決現(xiàn)有問(wèn)題的方案,也就是一種應(yīng)用之前類(lèi)似的求解策略來(lái)解決當(dāng)前問(wèn)題.它實(shí)質(zhì)是用領(lǐng)域中現(xiàn)有的經(jīng)驗(yàn)通過(guò)推理來(lái)解決問(wèn)題.一般來(lái)說(shuō),CBR的原理圖如圖1所示,它包括兩個(gè)方面:即經(jīng)驗(yàn)重用和經(jīng)驗(yàn)自學(xué)習(xí)[6].經(jīng)驗(yàn)的重用是指對(duì)實(shí)例庫(kù)中有相同或相似的例子作為參考來(lái)解決問(wèn)題;經(jīng)驗(yàn)的自學(xué)習(xí)指的是當(dāng)案例庫(kù)中沒(méi)有滿足的實(shí)例時(shí),通過(guò)適當(dāng)?shù)男薷?,修改后的案例可以解決問(wèn)題,將修改后的案例存入案例庫(kù),作為下次使用的參考.CBR推理如下[7]:
(1)檢索(Retrieve)從案例庫(kù)中搜索相似案例.
(2)重用(Reuse)復(fù)用相似案例并求解當(dāng)前問(wèn)題的解決方法.
(3)修改(Revise)修改解決方法以適應(yīng)解決當(dāng)前問(wèn)題的案例.
(4)保存(Retain)保存新案例以作備用.
圖1 CBR原理圖
從原理圖中可知,案例檢索(Retrieve)是十分關(guān)鍵的一步.需要計(jì)算案例庫(kù)中的案例與問(wèn)題案例的相似程度,從而獲取待解決問(wèn)題的相似案例.它的主要任務(wù)是檢索案例庫(kù),計(jì)算案例庫(kù)中案例與問(wèn)題案例的匹配程度,從而獲得新問(wèn)題的相似案例.
案例重用(Reuse)[7]就是在獲取的案例中重用相似案例的解答來(lái)解決問(wèn)題.簡(jiǎn)單的說(shuō),案例重用分為復(fù)制和調(diào)整兩部分.前者,指的是拷貝(Copy)重用案例的解決方案.后者,指的是用戶(hù)對(duì)過(guò)去案例對(duì)象的信息進(jìn)行分析,來(lái)判斷它與問(wèn)題案例之間的不同,適當(dāng)?shù)恼{(diào)整(Adapt)以進(jìn)行重用過(guò)去案例的適用部分.
案例修改(Revise)[7]是指對(duì)案例檢索得到的相似案例的解決方案進(jìn)行修改以解決新問(wèn)題的過(guò)程.案例修改通常包括方案評(píng)價(jià)和修正兩個(gè)方面,它涉及到復(fù)雜的領(lǐng)域知識(shí),評(píng)價(jià)和修正一般需要人為的進(jìn)行干預(yù),由人機(jī)交互產(chǎn)生結(jié)果.
案例保存(Retain)[7]是為將來(lái)解決問(wèn)題保留可能有用的經(jīng)驗(yàn)部分.
在主板生產(chǎn)過(guò)程中(主板生產(chǎn)流程如圖2所示),因料件,制程,周轉(zhuǎn),人為等原因可能造成主板的不良.故而,不良品維修在生產(chǎn)中是一個(gè)不可回避的環(huán)節(jié).而維修的成本除設(shè)備,料件是可預(yù)知的,其人力成本是波動(dòng)的,同時(shí)對(duì)交貨期限也帶來(lái)一定影響.維修經(jīng)驗(yàn)可否復(fù)用和推廣是管理者思考的問(wèn)題.首先了解一般主板工作的基本條件:(1)電壓供電正常,(2)接地信號(hào)良好,(3)時(shí)鐘頻率信號(hào)準(zhǔn)確,(4)主要數(shù)據(jù)信號(hào),控制信號(hào)正常,(5)Reset信號(hào)正常.如上述條件滿足,則主板能正常開(kāi)機(jī),但可能有其它功能性不良,如:打印機(jī)接口功能失效,USB接口功能失效等.其次,受工作時(shí)間,個(gè)人認(rèn)知和學(xué)習(xí)水平的限制,維修經(jīng)驗(yàn)是一個(gè)模糊的概念.
圖2 主板生產(chǎn)流程圖
企業(yè)為使成本變得更可控,交貨期限符合合同要求,ICT(in circuit test,線路板內(nèi)路測(cè)試)測(cè)試應(yīng)運(yùn)而生,但其高昂的價(jià)格和需要專(zhuān)人維護(hù),增加了企業(yè)的生產(chǎn)成本.假若產(chǎn)品的訂單量可觀,其產(chǎn)品成本增加是微量的(例如:500萬(wàn)片的訂單增加的設(shè)備和人工成本為1 000萬(wàn)元,則單個(gè)產(chǎn)品的價(jià)格上升2元/片,成本價(jià)格上漲是可接受的),但隨著產(chǎn)品多樣性和客制化程度的深入,更多的企業(yè)選擇人工維修.
主板維修的最終結(jié)果有兩種.一種是找出原因維修成良品;另一種是無(wú)法找出不良原因,申請(qǐng)報(bào)廢(兩個(gè)特例:PCB斷線,氧化亦屬于此列.)為便于研究,約定:將每一塊不良主板都作為一個(gè)案例分析,同時(shí)人為誤判(測(cè)試人員將良品判定為不良)不作研究.
在基于框架表示的案例推理中,框架表述應(yīng)清晰,簡(jiǎn)潔,其難點(diǎn)是所建立的框架怎樣才能全面表述案例.一般來(lái)說(shuō),主板維修的案例表示有以下內(nèi)容:(1)案例的基本信息,(2)案例的特征,(3)案例的解決方法和結(jié)果.
主板維修過(guò)程中,有一種不良現(xiàn)象為:不開(kāi)機(jī).按維修的一般流程如圖,以不開(kāi)機(jī)現(xiàn)象為例,用框架表示法表達(dá)知識(shí),并進(jìn)行推理.
由前述的主板工作條件可知,可能造成主板不開(kāi)機(jī)的原因如下:(1)供電電壓不正常,(2)接地信號(hào)不良,(3)時(shí)鐘頻率信號(hào)錯(cuò)誤,(4)主要數(shù)據(jù)信號(hào),控制信號(hào)不正常,(5)Reset信號(hào)不正常.
依據(jù)維修的特點(diǎn),采用框架知識(shí)表示方法表達(dá)如下:
框架名:不開(kāi)機(jī)(代碼001)
主板ID號(hào):W1232456789
主板架構(gòu):Intel 845系列
主板所屬機(jī)種:A機(jī)種
主要電壓:
查詢(xún)電壓判斷子框架進(jìn)行處理,(結(jié)果為正?;虿徽?
復(fù)位信號(hào):
查詢(xún)復(fù)位信號(hào)判斷子框架進(jìn)行處理,(結(jié)果為正常或不正常)
時(shí)鐘頻率信號(hào):
查詢(xún)時(shí)鐘信號(hào)判斷子框架進(jìn)行處理,(結(jié)果為正?;虿徽?
接地信號(hào):
查詢(xún)接地信號(hào)判斷子框架進(jìn)行處理,(結(jié)果為正?;虿徽?
數(shù)據(jù)信號(hào):
查詢(xún)數(shù)據(jù)信號(hào)判斷子框架進(jìn)行處理,(結(jié)果為正?;虿徽?
維修時(shí)間:2010年12月20日×?xí)r×分
維修工程師ID號(hào):Y0012
維修處理結(jié)果:由子框架返回一個(gè)結(jié)果或多個(gè)結(jié)果
該框架中,主板ID號(hào),主板架構(gòu),主板所屬機(jī)種,維修時(shí)間,維修工程師ID號(hào)的信息均由企業(yè)的SFIS(Shop-Floor Information System 現(xiàn)場(chǎng)信息整合系統(tǒng))系統(tǒng)導(dǎo)入.由于造成不開(kāi)機(jī)的原因眾多,因此分成多個(gè)子系統(tǒng)來(lái)完成該框架的描述,每個(gè)子系統(tǒng)檢測(cè)某一方面的特性并給出處理辦法和結(jié)果.
以下列出三個(gè)子框架,電壓判斷子框架,復(fù)位信號(hào)判斷子框架,時(shí)鐘頻率信號(hào)判斷子框架來(lái)作分析:
框架名:電壓判斷處理
主板ID號(hào):W1232456789
主板架構(gòu):Intel 845系列
電壓Vcore: 電壓范圍值,典型電路
電壓Vcc 1.5 V:電壓范圍值,典型電路
電壓Vcc 2.5 V:電壓范圍值,典型電路
電壓Vcc 1.8 V:電壓范圍值,典型電路
電壓Vcc 3.3 V:電壓范圍值,典型電路
。。。。。。 。。。。。。
判斷與處理結(jié)果:某電壓值不正常,更換電子元件
(如MOS管)后正?;蛩须妷褐嫡?/p>
(結(jié)果返回到上一級(jí)調(diào)用框架)
在電壓判斷子框架中,主要判斷各類(lèi)電壓的供給是否正常.圖3是Vcore電壓供電電路,用示波器檢測(cè)Vcore電壓,測(cè)量A,B兩點(diǎn)的電壓值,其中Vcore的值應(yīng)處在A點(diǎn)與B點(diǎn)的值之間,若A、B兩點(diǎn)的值為零或過(guò)高,則CPU不能正常工作,首先確定A與B兩點(diǎn)對(duì)應(yīng)的場(chǎng)效應(yīng)管工作是否正常,再確定HIP芯片是否工作正常,最后再判斷ISL芯片是否工作正常.若判定某一芯片工作不正常,應(yīng)取下,再判斷是否對(duì)其它的連接芯片或電子元件造成損壞.若圖3中HIP損壞有可能造成A點(diǎn)的場(chǎng)效應(yīng)管損壞.
圖3 Vcore電壓供電電路
圖4是將Vcc3電壓轉(zhuǎn)為Vcc1.5,用以提供Vcc1.5電壓,電路中只用到一個(gè)電子元件,判斷過(guò)程與外部聯(lián)系不大,只需要確定Vcc3電壓正常,此時(shí)Vcc1.5不正常,則考慮圖中電壓轉(zhuǎn)換元件是否損壞.圖4中Vout的計(jì)算公式為
Vout=1.25*(1+R2/R1)+50 μA*R2
圖4 Vcc3電壓轉(zhuǎn)Vcc1.5電路
框架名:復(fù)位信號(hào)判斷處理
主板ID號(hào):W1232456789
主板架構(gòu):Intel 845系列
復(fù)位信號(hào)1:PCI復(fù)位信號(hào),典型電路
復(fù)位信號(hào)2:ISA復(fù)位信號(hào),典型電路
復(fù)位信號(hào)3:南橋復(fù)位信號(hào),典型電路
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判斷與處理結(jié)果:某復(fù)位信號(hào)不正常,更換電子元件
(如南橋)后正?;蛩袕?fù)位信號(hào)正常
(結(jié)果返回到上一級(jí)調(diào)用框架)
在復(fù)位信號(hào)判斷子框架中,主要判斷兩方面:是否有復(fù)位信號(hào)和有復(fù)位信號(hào)時(shí)信號(hào)正常與否,找到PCI槽位的第11 PIN進(jìn)行確認(rèn),而ISA復(fù)位信號(hào)則是在ISA槽位第2 PIN進(jìn)行確認(rèn),而南橋的復(fù)位信號(hào)一般都有延伸出來(lái),如圖5所示,只要在對(duì)應(yīng)的芯片連接上找到該P(yáng)IN腳,在開(kāi)機(jī)時(shí)進(jìn)行檢測(cè).
圖5 復(fù)位信號(hào)邏輯示意圖
框架名:時(shí)鐘頻率信號(hào)判斷處理
主板ID號(hào):W1232456789
主板架構(gòu):Intel 845系列
時(shí)鐘頻率信號(hào)1:14.318M,典型電路
時(shí)鐘頻率信號(hào)2:PCICLK33M,典型電路
時(shí)鐘頻率信號(hào)3:USBCLK48M,典型電路
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判斷與處理結(jié)果:某復(fù)位信號(hào)不正常,更換電子元件
(如晶振)后正?;蛩袕?fù)位信號(hào)正常
(結(jié)果返回到上一級(jí)調(diào)用框架)
在時(shí)鐘頻率信號(hào)判斷處理子框架中,主要用來(lái)判斷各類(lèi)時(shí)鐘頻率信號(hào)是否正常.如圖6所示的電路,首先確認(rèn)晶振Y是否工作正常(一般為14.318 MHz,具體以實(shí)際電路為參照),再來(lái)判斷各種時(shí)鐘頻率信號(hào)是否正常,最后延伸到各終端電路.在圖6所示的電路中,若CLK信號(hào)不正?;蛭刺峁r(shí)鐘頻率信號(hào),而晶振Y,接地和電壓工作正常,就可判定為ICS芯片不良.
圖6 時(shí)鐘頻率信號(hào)電路
現(xiàn)假若某片主板不開(kāi)機(jī)送至維修站,維修工程師按一般流程進(jìn)行檢測(cè),確定原因所在.當(dāng)其基本工作電壓正常,而某一個(gè)時(shí)鐘信號(hào)(假設(shè)14.318)不正常,利用設(shè)備進(jìn)行檢測(cè),確認(rèn)為PCB斷線,則進(jìn)入“主板報(bào)廢審批”(參考主板報(bào)廢審批框架).(或確認(rèn)為提供14.318頻率的晶振不良,更換料件后再進(jìn)行維修判斷,返回到不開(kāi)機(jī)框架里至少有一條14.318時(shí)鐘信號(hào)不良,更換晶振后時(shí)鐘信號(hào)正常)
框架名:主板報(bào)廢審批
主板ID號(hào):W1232456789
主板架構(gòu):Intel 845系列
主板所屬機(jī)種:A機(jī)種
申請(qǐng)報(bào)廢時(shí)間:2010年12月20日×?xí)r×分
申請(qǐng)報(bào)廢工程師ID號(hào):Y0012
申請(qǐng)報(bào)廢原因:無(wú)法維修或PCB斷線,氧化
審批處理結(jié)果:同意(產(chǎn)品轉(zhuǎn)報(bào)廢庫(kù))
不同意(產(chǎn)品轉(zhuǎn)不良品待分析庫(kù))
(結(jié)果返回到調(diào)用框架)
將CBR引用到主板維修中是一種探討和嘗試,基于CBR的知識(shí)學(xué)習(xí)模式是增量,不斷擴(kuò)大的,特別是造成主板不良現(xiàn)象的原因有多種.一方面,能不斷的積累經(jīng)驗(yàn)和知識(shí),對(duì)后續(xù)的案例提供解決方法和思維模式,為新手的培訓(xùn)提供了平臺(tái)和幫助,并有利于維修工程師提高工作效率;另一方面,若無(wú)限制的將所有案例都保存,必將增加新案例尋求解決方案時(shí)的檢索成本,同時(shí)運(yùn)行效率下降.又因?yàn)橹靼寰S修的記錄必須全面保存下來(lái),以便于以后的品質(zhì)追蹤,所以如何全面的保留解決方案且具有較高的運(yùn)行效率有待深究,這將是下一個(gè)階段的研究方向和重點(diǎn).
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