統(tǒng)計(jì)學(xué)處理應(yīng)寫(xiě)明所用的統(tǒng)計(jì)學(xué)軟件及版本，對(duì)文中數(shù)據(jù)資料采取的數(shù)據(jù)表達(dá)形式，如正態(tài)分布且方差齊的計(jì)量資料采用±s表示，非正態(tài)或方差不齊時(shí)采用M（P25，P75）表示；不可采用±S、±s、Mean±SD等表示。計(jì)數(shù)資料可以采用例（%）形式表示。

如文中采用了統(tǒng)計(jì)學(xué)檢驗(yàn)時(shí)，應(yīng)交代文中相應(yīng)內(nèi)容所采用的統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)方法的具體名稱。在使用時(shí)，應(yīng)根據(jù)研究的設(shè)計(jì)類型、資料性質(zhì)及作者的分析目的選擇恰當(dāng)?shù)姆椒ǎ缗鋵?duì)資料的t檢驗(yàn)、兩獨(dú)立樣本資料的t檢驗(yàn)、單因素方差分析（包括進(jìn)一步采用的兩兩比較的方法，如LSD-t法、SNK-q法、Bonferroni法及Dunnett-t法等）、重復(fù)測(cè)量資料的方差分析、卡方檢驗(yàn)、秩和檢驗(yàn)、Ridit分析、Pearson相關(guān)、Spearman相關(guān)、多重線性回歸、Logistic回歸、Cox回歸等。統(tǒng)計(jì)量t為英文小寫(xiě)，F(xiàn)檢驗(yàn)為英文大寫(xiě)，卡方為希文小寫(xiě)χ2，積差相關(guān)系數(shù)為英文小寫(xiě)r，等級(jí)相關(guān)系數(shù)為英文小寫(xiě)rs，樣本例數(shù)用英文小寫(xiě)n，概率用英文大寫(xiě)P。以上統(tǒng)計(jì)量均使用斜體表示。統(tǒng)計(jì)量（t值、F值、χ2等）和P值一般保留3位小數(shù)。若P值很小時(shí)，一般不寫(xiě)P=0.000，而應(yīng)為P<0.001。