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        衛(wèi)星AIT階段推進(jìn)系統(tǒng)壓力參數(shù)處理方法

        2010-12-26 14:27:24王慶華王金剛洪曉鵬
        航天器工程 2010年6期
        關(guān)鍵詞:漏率測試數(shù)據(jù)遙測

        王慶華 王金剛 關(guān) 威 洪曉鵬

        (1 北京空間飛行器總體設(shè)計(jì)部,北京 100094)

        (2 北京控制工程研究所,北京 100080)

        (3 北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所,北京 100094)

        1 引言

        衛(wèi)星裝配、總裝與測試(AIT)階段需要對電測產(chǎn)生的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行判讀,檢查測試數(shù)據(jù)是否在設(shè)計(jì)指標(biāo)范圍內(nèi)。同時(shí),為了檢查系統(tǒng)級、分系統(tǒng)級、單機(jī)指標(biāo)測試數(shù)據(jù)在各階段測試的一致性和穩(wěn)定性,需要按照時(shí)間軸縱向?qū)ν粋€(gè)參數(shù)的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行比對。對于多星星座系統(tǒng),還需要對同一個(gè)測試階段同一系統(tǒng)級、分系統(tǒng)級、單機(jī)的同一個(gè)遙測參數(shù)進(jìn)行測試數(shù)據(jù)的橫向比對,以考查各衛(wèi)星系統(tǒng)、分系統(tǒng)、單機(jī)指標(biāo)的一致性和穩(wěn)定性。為方便對海量的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行管理,開發(fā)了衛(wèi)星測試數(shù)據(jù)一致性比對數(shù)據(jù)庫系統(tǒng),通過數(shù)據(jù)接口將測試數(shù)據(jù)導(dǎo)入衛(wèi)星測試數(shù)據(jù)一致性比對系統(tǒng),對每個(gè)遙測參數(shù)制定相應(yīng)的判讀規(guī)則,按照規(guī)則進(jìn)行自動比對和判讀[1]。對于只與自身相關(guān)或只涉及簡單相關(guān)變量的遙測參數(shù),其判讀和比對的規(guī)則相對簡單,但對于涉及復(fù)雜相關(guān)參數(shù)的遙測參數(shù),在制定規(guī)則時(shí),對與之相關(guān)的變量都要考慮其中。推進(jìn)系統(tǒng)壓力參數(shù)與介質(zhì)壓力、環(huán)境壓力、環(huán)境溫度、靜置時(shí)間、壓力傳感器供電電壓及所在管路段的總泄漏率有關(guān),因此在制定判讀和比對規(guī)則時(shí),需要考慮多種情況,對相關(guān)參數(shù)進(jìn)行復(fù)雜的處理和換算,以給出正確的比對和判讀結(jié)論[2]。本文以某雙組元衛(wèi)星為例,給出AIT階段推進(jìn)系統(tǒng)壓力參數(shù)在測試數(shù)據(jù)一致性比對系統(tǒng)中的判讀規(guī)則,作為單星各測試階段時(shí)間軸縱向數(shù)據(jù)以及多星間同一測試階段橫向數(shù)據(jù)比對和判讀的依據(jù),通過該方法還可以間接檢查相應(yīng)管路的氣密性。

        2 整星AIT階段壓力傳感器所測的壓力

        圖1 某雙組元衛(wèi)星推進(jìn)系統(tǒng)原理圖[4]Fig.1 Frame of some bi-propellant propulsion system

        某雙組元衛(wèi)星推進(jìn)系統(tǒng)原理如圖1所示。在系統(tǒng)中高壓氣路、氧路、燃路分別裝有一個(gè)壓力傳感器,通過壓力傳感器的遙測參數(shù)獲取相應(yīng)管路中壓力情況,三個(gè)壓力傳感器所在部分管路的配置情況如圖中線框部分所示。其中位于高壓氣路的壓力傳感器為高壓壓力傳感器PT1,在管路系統(tǒng)設(shè)計(jì)上,它直接與高壓氣瓶相通,因此它所測量的壓力就代表氣瓶的壓力[3](如圖1中虛線框所示)。另外兩個(gè)壓力傳感器分別位于氧化劑貯箱和燃燒劑貯箱的下游(圖1中實(shí)線框所示),編號分別為PT2 和PT3,氧路和燃路部件配置完全對稱。以氧路壓力傳感器PT2為例(圖1中左邊實(shí)線框),它位于兩組常閉電爆閥之間,其上游氧箱液口的常閉電爆閥PV16,在加注前地面起爆,下游的兩個(gè)并聯(lián)的常閉電爆閥PV2 和PV11,在星箭分離后起爆。為了防止加注過程中推進(jìn)劑和管路中氣體混雜,導(dǎo)致姿控推力器點(diǎn)火時(shí)推力不連續(xù)或無推力,貯箱的液口端設(shè)置了一個(gè)低壓常閉電爆閥PV 16,在加注前對圖中實(shí)線框部分的管路抽真空后起爆為常開狀態(tài),然后再進(jìn)行推進(jìn)劑加注。為了保證加注后至星箭分離前,氧化劑能夠與燃燒劑及發(fā)動機(jī)系統(tǒng)完全隔離,保證地面加/排推進(jìn)劑操作簡便安全,提高系統(tǒng)在發(fā)射過程中的安全性、可靠性,在壓力傳感器下游、發(fā)動機(jī)系統(tǒng)上游設(shè)置了一組并聯(lián)的常閉電爆閥PV2 和PV11。因此,在整星AIT階段,貯箱與壓力傳感器之間的通路沒有打通之前,即在衛(wèi)星加注之前,壓力傳感器PT2所測得的壓力,只代表圖中實(shí)線框所示的介于兩組低壓常閉電爆閥之間的局部管路壓力,衛(wèi)星加注后至在軌運(yùn)行期間它們才反映貯箱的壓力[4]。

        3 整星AIT階段推進(jìn)系統(tǒng)管路密封性要求及充壓要求

        推進(jìn)系統(tǒng)的密封性要求分為系統(tǒng)級密封要求和單點(diǎn)密封要求。系統(tǒng)級密封要求包括氣路和液路密封性要求。系統(tǒng)級密封性要求的檢測方法為被測系統(tǒng)在密閉的收集室靜置一定時(shí)間,通過系統(tǒng)外環(huán)境檢測氣體濃度的變化,來計(jì)算得到系統(tǒng)級漏率指標(biāo)[5]。單點(diǎn)密封包括焊接點(diǎn)和螺接點(diǎn)密封,一般情況下焊接點(diǎn)的密封效果優(yōu)于螺接點(diǎn),因此推進(jìn)系統(tǒng)管路的連接,原則上采用焊接,對于系統(tǒng)測試試驗(yàn)過程中,可能產(chǎn)生拆裝操作或加排工質(zhì)的連接點(diǎn)一般采用螺接。焊接點(diǎn)的漏率在10-4Pa·L/s 量級以下,螺接點(diǎn)漏率在10-3Pa·L/s 以下。單點(diǎn)的漏率通過氦質(zhì)譜儀檢測[5]。

        整星AIT階段推進(jìn)系統(tǒng)的靜置存儲壓力一般為0.2M Pa。在氣路聯(lián)試、力學(xué)試驗(yàn)、檢漏等試驗(yàn)時(shí),才根據(jù)具體要求給相關(guān)管路及壓力容器充壓。試驗(yàn)完成后,系統(tǒng)中仍保留0.2M Pa 的保護(hù)氣體。在整星電測期間推進(jìn)系統(tǒng)充壓按照存儲壓力設(shè)置,即0.2M Pa。

        4 推進(jìn)系統(tǒng)壓力參數(shù)比對和判讀方法

        4.1 計(jì)算公式

        推進(jìn)系統(tǒng)共有5個(gè)壓力參數(shù),其中高壓壓力傳感器有一個(gè)遙測參數(shù)PJ1,氧箱壓力傳感器PT2 有兩個(gè)遙測參數(shù)PJ2 和PJ4,燃箱壓力傳感器PT3 有兩個(gè)遙測參數(shù)PJ3 和PJ5。5個(gè)壓力參數(shù)中PJ4 和PJ5為精遙測參數(shù),在壓力低于1M Pa時(shí),只顯示為1個(gè)常數(shù),不顯示真值。整星地面測試階段,壓力傳感器段管路一般充壓0.2M Pa,因此,在進(jìn)行測試數(shù)據(jù)判讀時(shí),不對PJ4 和PJ5 進(jìn)行比對和判讀。

        對于一般遙測參數(shù)的判讀和比對,通常是給出參數(shù)的正常值范圍,首先,看測量值是否在正常值范圍內(nèi),其次,看歷次測量參數(shù)的變化是否穩(wěn)定收斂。對于壓力遙測參數(shù),由于其受所充介質(zhì)壓力、介質(zhì)所處的環(huán)境溫度、外界環(huán)境壓力、靜置時(shí)間及所在管路段的總泄漏率有關(guān),單從遙測參數(shù)的測量值上看,通常是不收斂的,并且由于上述因素的影響,測量值的差別可能很大,因此在制定判讀和比對規(guī)則時(shí),不能簡單給一個(gè)參數(shù)的范圍或者按照趨勢收斂進(jìn)行正確性判讀,需要對相關(guān)參數(shù)進(jìn)行相應(yīng)的處理和換算。公式(1)給出壓力傳感器遙測參數(shù)一致性比對和判讀的處理方法。

        式(1)中Pt0為t0時(shí)刻壓力傳感器遙測參數(shù)測量值,單位M Pa;

        P(t0+Δt)為(t0+Δt)時(shí)刻壓力傳感器遙測參數(shù)測量值,單位MPa;

        Tt0為t0時(shí)刻介質(zhì)所處的環(huán)境溫度,單位K;

        T(t0+Δt)為(t0+Δt)時(shí)刻介質(zhì)所處的環(huán)境溫度,單位K;

        V為與壓力傳感器連通的管路及壓力容器的總體積,單位L;

        Δt為前后兩次測量的時(shí)間差,單位s;

        QWi為第i條焊縫的漏率,單位Pa·L/s;

        QSj為第j個(gè)螺接點(diǎn)的漏率,單位Pa·L/s;

        i為該段管路上的焊縫條數(shù);

        j為該段管路上的螺接點(diǎn)個(gè)數(shù)。

        公式(1)考慮了壓力傳感器所在部分管路的總漏率及環(huán)境溫度的差異。對于工程應(yīng)用,根據(jù)具體情況可對公式(1)進(jìn)行簡化計(jì)算。

        4.2 管路總漏率的選取

        壓力傳感器段管路上焊接點(diǎn)數(shù)量大約有20個(gè),螺接點(diǎn)2個(gè):一個(gè)是壓力傳感器螺接點(diǎn),一個(gè)是加排閥螺接點(diǎn)。加排閥的螺紋密封是加排閥與系統(tǒng)外部間的密封,對應(yīng)漏率為加排閥的外漏率QS1。整星AIT階段對加排閥的操作較多,為防止反復(fù)擰緊加排閥螺帽致使加排閥球頭密封面或密封螺紋損傷,AIT階段加排閥采用材料硬度較小的工藝堵帽密封,且擰緊力矩受限,實(shí)測其密封效果一般為QS1小于1×10-2Pa·L/s。加排閥內(nèi)部還有一道彈簧密封,介于系統(tǒng)高壓部分和螺紋密封形成的低壓腔之間,與系統(tǒng)外部不接觸,對應(yīng)漏率為加排閥的內(nèi)漏率QMV內(nèi),實(shí)測結(jié)果一般小于3×10-2Pa·L/s。在加排閥沒有擰螺帽時(shí),彈簧密封便與系統(tǒng)外接觸,加排閥的內(nèi)漏率水平,也就代表了加排閥向系統(tǒng)外泄漏工質(zhì)的情況。根據(jù)多顆衛(wèi)星統(tǒng)計(jì)結(jié)果,焊接點(diǎn)漏率一般小于1×10-5Pa·L/s,壓力傳感器螺接點(diǎn)漏率一般小于1×10-5Pa·L/s,由此看出,加排閥的外漏率QS1對壓力傳感器所在的管路部分漏率貢獻(xiàn)最大,比其他所有連接點(diǎn)的總漏率要大2~3個(gè)數(shù)量級。因此,在采用公式(1)進(jìn)行計(jì)算時(shí)總漏率可以近似只考慮加排閥的漏率QS1。有

        考慮極限,即取沒有工藝堵帽的情況,此時(shí)加排閥向系統(tǒng)外的泄漏按加排閥的內(nèi)漏率QMV內(nèi)進(jìn)行計(jì)算,有關(guān)系式QMV 內(nèi)≥QS1,于是,公式(1)進(jìn)行推導(dǎo)可以簡化為

        以某星氧路壓力傳感器遙測參數(shù)PJ2為例,A階段某月5日14:00:00 電測時(shí)Pt0=0.161MPa,B 階段當(dāng)月15日14:00:00 電測時(shí),P(t0+Δt)=0.149MPa,環(huán)境溫度一致,QMV內(nèi)取≤3×10-2Pa·L/s,管路體積取30ml。按照公式(3)計(jì)算,考慮管路的正常泄漏時(shí),計(jì)算兩個(gè)時(shí)間點(diǎn)之間的壓差為0.864MPa(公式不等號右邊),而實(shí)際壓差僅為0.012MPa(公式不等號左邊),因此,認(rèn)為PJ2 雖然在變化,但加排閥的正常泄漏足以引起這個(gè)變化,是正常的。

        將公式(1)進(jìn)行推導(dǎo),即可得到該段管路的總漏率表達(dá)式

        上述算例按照公式(4)計(jì)算得到該段管路總漏率為4.2×10-4Pa·L/s,小于加排閥的內(nèi)漏率3×10-2Pa·L/s。因此認(rèn)為該段管路的泄漏情況正常。

        4.3 常溫下判讀方法的簡化

        常溫常壓下環(huán)境溫度的波動,對壓力參數(shù)的影響較小,可以忽略,壓力參數(shù)的判讀方法可以簡化為

        對于氣容大的管路系統(tǒng),溫度變化對氣體壓力的影響較小[6],因此,在非常溫狀態(tài)時(shí),也可以采用公式(5)進(jìn)行計(jì)算,比如熱試驗(yàn)時(shí),高壓壓力傳感器遙測參數(shù)的判讀,可以按照公式(5)進(jìn)行;當(dāng)氣容小時(shí),溫度對壓力的影響顯著。特別是氧箱和燃箱下游的壓力傳感器所在的管路,體積只有30ml 左右,在熱試驗(yàn)時(shí),由溫度引起的壓力變化在0.05M Pa 以上,不能忽略溫度的影響。

        4.4 環(huán)境壓力對壓力參數(shù)的影響

        衛(wèi)星氧箱壓力傳感器和燃箱壓力傳感器選用雙膜片壓阻式壓力傳感器,其中一個(gè)膜片測介質(zhì)壓力P1,另一個(gè)膜片測環(huán)境壓力P0,二者做減法,得到壓力傳感器的測量壓力P[7]。因此環(huán)境壓力對壓力傳感器的遙測參數(shù)也有影響。

        當(dāng)環(huán)境壓力為大氣環(huán)境時(shí),P0為當(dāng)?shù)丨h(huán)境大氣壓,當(dāng)熱試驗(yàn)時(shí),環(huán)境壓力為真空罐的壓力,近似為0M Pa。在不考慮管路泄漏的情況下,衛(wèi)星從大氣環(huán)境到進(jìn)入真空環(huán)境,氧箱壓力傳感器和燃箱壓力傳感器的遙測參數(shù),會增大一個(gè)當(dāng)?shù)丨h(huán)境大氣壓。熱試驗(yàn)的罐前測試和進(jìn)入真空罐的測試數(shù)據(jù)比對,采用公式(6)作為判據(jù)。

        衛(wèi)星高壓壓力傳感器選用的是單膜片壓阻式壓力傳感器,只有一個(gè)測介質(zhì)壓力P1的膜片,壓力傳感器的測量壓力P 等于介質(zhì)壓力P1[7]。因此環(huán)境壓力對壓力傳感器的遙測參數(shù)不產(chǎn)生影響。

        大氣壓力隨海拔高度的增加而減小[8],在不考慮管路泄漏的情況下,衛(wèi)星從海拔低的地方運(yùn)至海拔高的地方,壓力傳感器的遙測參數(shù)也會相應(yīng)增加。

        4.5 壓力傳感器供電電壓對壓力參數(shù)的影響

        壓阻式壓力傳感器的測量原理是將硅膜片的機(jī)械應(yīng)變ε變成電阻值變化,從而引起測量電路輸出電壓的變化[9]。測量電路是典型的惠斯登電橋,如圖2所示。

        圖2 壓阻式壓力傳感器測量電路Fig.2 Acircuit of Wheatstone bridge used in piezoresistive pressure transducer

        假設(shè)電源電壓為E ,輸出電壓為U ,當(dāng)被測壓力加在膜片上時(shí)電阻R1和R3處于正應(yīng)力區(qū),阻值增大,電阻R2和R4處于負(fù)應(yīng)力區(qū),阻值變小。則輸出電壓可以表示為[10]

        由公式(7)可以看出,給壓力傳感器供電的電源電壓對輸出電壓有直接影響,而壓力傳感器的輸出電壓與測量壓力之間呈線性關(guān)系,因此供電電壓的變化將影響壓力測量值。在供電電源不變的情況下,該因素可以不考慮。

        4.6 其他影響壓力參數(shù)比對結(jié)果的因素

        在按照時(shí)間縱向數(shù)據(jù)對壓力傳感器的遙測參數(shù)進(jìn)行一致性比對和判讀時(shí),需要注意的是兩次壓力監(jiān)測之間應(yīng)沒有進(jìn)行過壓力傳感器遙測系數(shù)的修改,并且沒有進(jìn)行過加排閥的操作。

        5 結(jié)束語

        本文結(jié)合某雙組元衛(wèi)星推進(jìn)系統(tǒng)的設(shè)計(jì),分析了AIT階段壓力傳感器所測管路壓力的特性,結(jié)合衛(wèi)星選用的壓阻式壓力傳感器的特點(diǎn),考慮介質(zhì)壓力、環(huán)境壓力、環(huán)境溫度、靜置時(shí)間、管路泄漏、供電電壓等多種因素對壓力遙測參數(shù)一致性比對結(jié)果的影響,在理想氣體狀態(tài)方程的基礎(chǔ)上加以推導(dǎo),結(jié)合工程應(yīng)用實(shí)際,總結(jié)出AIT階段衛(wèi)星雙組元推進(jìn)系統(tǒng)壓力傳感器遙測參數(shù)的處理方法,為星上數(shù)據(jù)比對和判讀提供判讀依據(jù),以指導(dǎo)工程應(yīng)用。該方法運(yùn)算簡單,不需要借助工具,計(jì)算精度能夠滿足工程使用要求,同時(shí)起到間接檢查管路氣密性的作用。

        References)

        [1]趙峰.基于衛(wèi)星數(shù)據(jù)判讀的一種方法[C]//第十六屆全國測試與故障診斷技術(shù)研討會.成都:中國計(jì)算機(jī)自動測量與控制技術(shù)協(xié)會,2007:225-229

        [2]總裝備部軍事訓(xùn)練教材編輯工作委員會.遙測數(shù)據(jù)處理[M].北京:國防工業(yè)出版社,2002:127,345-348

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        [8]U.S Standard Atmosphere 1976[EB/OL].U.S Government Printing Office,Washington,D.C.,1976,http://nssdc.gsfc.nasa.gov/

        [9]郭明威.壓阻式壓力傳感器溫度誤差的數(shù)字補(bǔ)償技術(shù)[J].儀表技術(shù)與傳感器.2008(5):76-77

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