魏 蕾

保定吉達(dá)電力建設(shè)集團(tuán)，河北保定 071051

1 泄漏電流實(shí)驗(yàn)注意事項(xiàng)和操作要點(diǎn)

1）高壓回路限流電阻的選擇原則：應(yīng)將短路電流限制在二極管短時(shí)容許的范圍內(nèi)，又不致造成過(guò)大的壓降，并能保證過(guò)流繼電器可靠動(dòng)作。當(dāng)被試品擊穿時(shí)，過(guò)流繼電器應(yīng)在0.02s內(nèi)切斷電源；

2）二極管工作電壓的選擇：在上述半波整流線路中，最高試驗(yàn)電壓不得超過(guò)其額定值的一半；

3）微安表接于高壓側(cè)時(shí)，絕緣支住應(yīng)牢固可靠，防止搖擺倒塌；

4）試驗(yàn)設(shè)備的布置要緊湊、連接線要短，宜用屏蔽導(dǎo)線，既要安全又便于操作，又要有足夠的距離，接地線應(yīng)牢固可靠；

5）應(yīng)將被試品表面擦拭干凈，并加屏蔽，以消除被試品表面臟污帶來(lái)的測(cè)量誤差；

6）能分相試的被試品應(yīng)分相試驗(yàn)，非試驗(yàn)相應(yīng)短路接地；

7）試驗(yàn)電容量小的被試品應(yīng)加穩(wěn)壓電容；

8）試驗(yàn)結(jié)束后，應(yīng)對(duì)被試品進(jìn)行充分放電，最好通過(guò)電阻放電；

9）試驗(yàn)必須符合電氣安全規(guī)程的要求，試驗(yàn)中使用的絕緣工具必須經(jīng)試驗(yàn)合格；

10）按接線圖接好線，并由專人認(rèn)真檢查接線和儀器設(shè)備，當(dāng)確認(rèn)無(wú)誤時(shí)，方可通電及升壓；

11）在升壓過(guò)程中，應(yīng)密切監(jiān)視被試設(shè)備、試驗(yàn)回路及有關(guān)表計(jì)。微安表的讀數(shù)應(yīng)在升壓過(guò)程中按規(guī)定分階段進(jìn)行，且需要一定的停留時(shí)間，以避開(kāi)吸收電流；

12）在測(cè)量過(guò)程中，若有擊穿、閃絡(luò)等異常現(xiàn)象發(fā)生，應(yīng)馬上降壓，以斷開(kāi)電源，并查明原因，詳細(xì)記錄，待妥善處理后，再繼續(xù)測(cè)量；

13）試驗(yàn)完畢，降壓、斷開(kāi)電源后，均應(yīng)對(duì)被試設(shè)備進(jìn)行充分放電。放電前先將微安表短接，并先通過(guò)有高阻值電阻的放電棒放電，然后直接接地；

14）若是三相設(shè)備，同時(shí)應(yīng)該進(jìn)行其他兩相測(cè)量；

15）按照規(guī)定的要求詳細(xì)記錄；

16）直流高壓在200kV及以上時(shí)，盡管試驗(yàn)人員穿絕緣鞋且處在安全距離以外區(qū)域，但由于高壓直流離子空間電場(chǎng)分布的影響，會(huì)使幾個(gè)鄰近站立的人體上帶有不同的直流電位。試驗(yàn)人員不要互相握手或用手接觸接地體等，否則會(huì)有輕微電擊現(xiàn)象，此現(xiàn)象在干燥地區(qū)和冬季較為明顯，但由于能量較小，一般不會(huì)對(duì)人體造成傷害。

2 影響因素和試驗(yàn)結(jié)果的分析

1）高壓連接導(dǎo)線對(duì)地泄漏電流的影響。采用增加導(dǎo)線直徑，減少尖端或加防暈罩、縮短導(dǎo)線、增加對(duì)地距離等措施，可養(yǎng)活對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響；

2）空氣溫度對(duì)表面泄漏電流的影響。必須擦凈表面，并應(yīng)用屏蔽電極；

3）溫度的影響。溫度對(duì)高壓直流試驗(yàn)結(jié)果的影響極為顯著，因此結(jié)所測(cè)得的電流值，均需換算至相同溫度，才能進(jìn)行分析比較；

4）殘余電荷的影響。被試品絕緣中的殘余電荷是否放盡，直接影響泄漏電流的數(shù)值，因此試前對(duì)被試品必須進(jìn)行充分放電。

3 測(cè)量中的異?，F(xiàn)象及初步分析

在電力系統(tǒng)交接和預(yù)防性試驗(yàn)中，測(cè)量泄漏電流時(shí)，常遇到的主要異常情況如下：

1）從微安表中反映出來(lái)的情況

（1）指針來(lái)回?cái)[動(dòng)。這可能是由于電源波動(dòng)、整流后直流電壓的脈動(dòng)系數(shù)比較大以及試驗(yàn)回路和被試設(shè)備有充放電過(guò)程所致。

（2）指針周期性擺動(dòng)。這可能是由于回路存在反充電所致，或者是被設(shè)備絕緣不良產(chǎn)生周期性放電造成的。

（3）指針突然沖擊。若向小沖擊，可能是電源回路引起的；若向大沖擊，可能是試驗(yàn)回路或被試設(shè)備出現(xiàn)閃絡(luò)或產(chǎn)生間歇性放電引起的。

（4）指針批示數(shù)值隨溫度時(shí)間而發(fā)生變化。若逐漸下降，則可能是由于充電電流或被試設(shè)備表面絕緣電阻上升所致；若逐漸上升，往往是被試設(shè)備絕緣老化引起的。

（5）測(cè)壓用微安表規(guī)則擺動(dòng)。這可能是由于測(cè)壓電阻斷線或接觸不良所致。

（6）指針?lè)粗?。這可能是由于被試設(shè)備經(jīng)測(cè)壓電阻放電所致。

（7）接好線后，未加壓時(shí)，微安表有指示。這可能是外界干擾太強(qiáng)或地電位抬高引起的。

遇到上述（3）、（4）兩種情況時(shí)，一般應(yīng)立即降低電壓，停止測(cè)量，否則可能導(dǎo)致被試設(shè)備擊穿。

2）從泄漏電流數(shù)值上反映出來(lái)的情況

（1）泄漏電流過(guò)大。這可能是由于測(cè)量回路中各設(shè)備的絕緣狀況不佳或屏蔽不好所致，遇到這種情況，應(yīng)首先對(duì)試驗(yàn)設(shè)備和屏蔽進(jìn)行認(rèn)真檢查，如電纜電流偏大應(yīng)先檢查屏蔽。若確認(rèn)無(wú)上述問(wèn)題，則說(shuō)明被試設(shè)備絕緣不良。

（2）泄漏電流過(guò)小。這可能是由于線路接錯(cuò)，屏蔽線處理不好，微安表保護(hù)部分分流或有斷脫現(xiàn)象所致。

（3）當(dāng)采用微安表在低壓側(cè)讀數(shù)，且用差值法消除誤差時(shí)，可能會(huì)出現(xiàn)負(fù)值。這可能是由于高壓引線過(guò)長(zhǎng)、空載時(shí)電暈電流大所致。因此高壓引線應(yīng)當(dāng)盡量粗、短、無(wú)毛刺。

3）晶體管的異常情況

在泄漏電流測(cè)量中，有時(shí)發(fā)生晶體管擊穿現(xiàn)象，這是由于晶體管選擇不當(dāng)、均壓不良或質(zhì)量不佳所致。防止晶體管擊穿，首先應(yīng)正確選擇晶體管，使晶體管不致在反向電壓下?lián)舸?；其次是采用并?lián)電阻的方法對(duì)晶體管進(jìn)行均壓，若每個(gè)晶體管工作電壓為5kV時(shí)，每個(gè)并聯(lián)電阻常取為2MΩ。

4 測(cè)量結(jié)果的分析判斷

對(duì)某一電氣設(shè)備進(jìn)行泄漏電流測(cè)量后，應(yīng)對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行認(rèn)真、全面地分析，以判斷設(shè)備的絕緣狀況。

對(duì)泄漏電流測(cè)量結(jié)果分析、判斷可從以下幾個(gè)方面著手：

1）與規(guī)定值比較。泄漏電流的規(guī)定值就是其允許的標(biāo)準(zhǔn)，它是在生產(chǎn)實(shí)踐中根據(jù)積累多年的經(jīng)驗(yàn)制訂出來(lái)的，一般能說(shuō)明絕緣狀況。對(duì)于一定的設(shè)備，具有一定的規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)。這是最簡(jiǎn)便的判斷方法。

2）比較法。這與測(cè)量絕緣電阻的判斷方法相類似。但是，在分析泄漏電流測(cè)量結(jié)果時(shí)，還常采用不對(duì)稱系數(shù)（三相之中的最大值和最小什的比）進(jìn)行分析、判斷。一般說(shuō)來(lái)不對(duì)稱系數(shù)不大于2。

3）i L=f(u)曲線法。利用泄漏電流和外加電壓的關(guān)系曲線即i L=f(u)曲線可以說(shuō)明絕緣在高壓下的狀況。如果的試驗(yàn)電壓下，泄漏電流與電壓的關(guān)系曲線是一近似直線，那就說(shuō)明絕緣沒(méi)有嚴(yán)重缺陷；如果是曲線，而且形狀陡峭，則說(shuō)明絕緣有缺陷。

[1]趙新德，邵瑰瑋，李景祿.試驗(yàn)室絕緣子泄漏電流測(cè)量方法研究.電瓷避雷器，2007(6).

[2]毛穎科，關(guān)志成，王黎明，姜欣斌.外絕緣泄漏電流最大值和相對(duì)濕度關(guān)系研究.2007中國(guó)電機(jī)工程學(xué)會(huì)高電壓專委會(huì)學(xué)術(shù)年會(huì)2007中國(guó)電機(jī)工程學(xué)會(huì)高電壓專委會(huì)學(xué)術(shù)年會(huì)論文集，2007.