摘 要:設(shè)計(jì)出一種PWM電流控制模式的降壓型DC/DC變換器控制IC。該芯片采用0.6 μm BCD工藝制程 ,芯片內(nèi)部集成了耐壓的DMOS功率開關(guān)管。芯片具有很寬的輸入范圍(6~23 V),寬輸出范圍1.22~21 V,工作溫度范圍為-40~85 ℃;具有可編程軟啟動(dòng)、欠壓保護(hù)、熱關(guān)斷等功能。這款芯片只需少量的外部元件即可實(shí)現(xiàn)3A的降壓型的DC/DC變換,可用于分布式電源系統(tǒng)、電池充電器及線性穩(wěn)壓電源的預(yù)調(diào)節(jié)等。
關(guān)鍵詞:DC/DC;降壓;電流模式;脈寬調(diào)制;保護(hù)電路
中圖分類號(hào):TN432 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:B 文章編號(hào):1004373X(2008)1800404
Designof a Current Mode PWM DC/DC Bust Controller
LV Jie,WU Yuguang
(Microelectronics Institute,Xidian University,Xi′an,710071,China)
Abstract:In the paper,a current mode PWM DC/DC bust controller is desiged.A highvoltage DMOS power switch is integrated in the chip which is fabricated with 0.6 μm BCD process,it is an excellent chip with a wide input voltage range(6~23 V) and a wide output voltage range(1.22~21 V),its operation temperature is -40~85 ℃,it is featured with programmable soft start,under voltage lockout,thermal shutdown and so on,it requires a minimum number of external components to complete 3A bust DC/DC convert.It can be used in distributed power systems,battery charger,preregulator for linear regulators.
Keywords:DC/DC;bust;current mode;pulse width modulation;protection circuit
隨著社會(huì)的發(fā)展,人們?cè)谏詈凸ぷ髦械囊苿?dòng)性越來(lái)越強(qiáng),對(duì)手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)、筆記本電腦等便攜式產(chǎn)品的需求越來(lái)越大;電源是各種電子設(shè)備必不可少的組成部分,性能優(yōu)劣直接關(guān)系到電子設(shè)備的技術(shù)指標(biāo)及能否安全可靠地工作;所有電器和電子設(shè)備都需要電源來(lái)維持自身的正常工作,許多領(lǐng)域例如郵電通訊、軍事裝備、交通設(shè)備、儀器設(shè)備、工業(yè)設(shè)備、家用設(shè)備等方面越來(lái)越多的應(yīng)用開關(guān)電源并取得顯著效益。開關(guān)電源作為高效節(jié)能電源,代表著穩(wěn)壓電源的發(fā)展方向,自1992年來(lái),開關(guān)電源市場(chǎng)以不低于15%的年增長(zhǎng)率持續(xù)增長(zhǎng),隨著計(jì)算機(jī)及其外轉(zhuǎn)設(shè)備市場(chǎng)的發(fā)展及其通信業(yè)的異軍突起,對(duì)電源芯片提出了更高的指標(biāo)要求。這款芯片內(nèi)部集成了DMOS功率器件,DMOS可以在開關(guān)模式下工作,功耗極低,將耐高壓的DMOS和控制電路集成在一塊芯片上,大幅降低了功率損耗,提高了系統(tǒng)性能,大大地簡(jiǎn)化了應(yīng)用電路。
1 電路結(jié)構(gòu)與工作原理
芯片的總體電路結(jié)構(gòu)如圖1所示,該芯片共有8個(gè)引腳,BS為高電平門驅(qū)動(dòng)的升壓輸入端,它為高壓N溝道MOS開關(guān)管提供驅(qū)動(dòng);IN為電壓輸入端;SW為開關(guān)電源輸出端,它是為外部電路提供功率的輸出節(jié)點(diǎn);GND是接地端;FB為反饋輸入端;COMP是補(bǔ)償節(jié)點(diǎn),在它與地之間接一個(gè)串聯(lián)的RC網(wǎng)絡(luò)來(lái)補(bǔ)償調(diào)節(jié)控制環(huán)路;EN是使能端,它是一個(gè)數(shù)字輸入,可以打開或關(guān)斷芯片:為高時(shí),芯片可正常工作;為低時(shí),芯片關(guān)斷;當(dāng)芯片自啟動(dòng)時(shí),使EN懸空即可;SS是可編程軟啟動(dòng)電路的控制端,在它與地之間接一個(gè)電容便可控制軟啟動(dòng)的周期;如不需軟啟動(dòng),則懸空SS端。
這款芯片具有很寬的輸入范圍,它能將輸入范圍為6~23 V的電壓降低至1.22 V,并且能夠提供高達(dá)3 A的負(fù)載電流。它采用電流控制模式來(lái)調(diào)節(jié)輸出電壓,電流控制模式有2個(gè)反饋回路:一個(gè)是電壓反饋回路,通過分壓電阻在FB監(jiān)測(cè)輸出電壓,通過內(nèi)部的誤差比較器與基準(zhǔn)電壓相比較,將誤差信號(hào)放大最后傳送至電流比較器的一端;另一個(gè)是電流環(huán),芯片通過采樣開關(guān)管的電流產(chǎn)生一個(gè)與流過開關(guān)電流成比例的電壓,經(jīng)過電流靈敏放大器與振蕩器的斜波信號(hào)相疊加,將信號(hào)傳送至電流比較器的另一端;由于流過開關(guān)管的電流通常很大,這款芯片的電流限流為3.5 A,這樣采樣電阻造成的功耗是非??捎^的。常為了減少采樣電阻的功耗,通常采用的采樣電流為與開關(guān)管并聯(lián)的小尺寸管子的電流。
由于采用的是電流控制模式,本身就具備電流限制功能,因此不需要另外設(shè)置電流限制電路,當(dāng)流過開關(guān)管的電流增加時(shí),一個(gè)正比于該電流的電壓就和振蕩器產(chǎn)生的斜波信號(hào)相疊加,當(dāng)這個(gè)電壓超過誤差比較器的輸出電壓時(shí),RS鎖存器將會(huì)置零,并且關(guān)斷開關(guān)管。另外由于采用電流控制模式,芯片具有快速的暫態(tài)響應(yīng)。
芯片的主要模塊為振蕩器、誤差放大器、電流靈敏放大器、欠壓保護(hù)電路、過熱保護(hù)電路、軟啟動(dòng)電路、RS鎖存器等。由于篇幅的限制,本文將著重介紹誤差放大器、振蕩器、欠壓保護(hù)電路、過熱保護(hù)電路。
2 芯片主要電路模塊的設(shè)計(jì)及分析
2.1 誤差放大器模塊
誤差放大器是將最終輸出的反饋電壓與基準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較,放大兩者的差值,并將結(jié)果送至電流比較器,其結(jié)果與振蕩器產(chǎn)生的方波一起輸入至RS鎖存器中,產(chǎn)生PWM控制信號(hào),控制開關(guān)管的開啟與關(guān)斷。誤差放大器的具體電路結(jié)構(gòu)如圖2所示。
該電路是一個(gè)不帶補(bǔ)償?shù)娜?jí)運(yùn)算放大器,由于雙極管的失調(diào)電壓較MOS管要小,整個(gè)電路除了電流源外均采用雙極管。其中一、二級(jí)為差分輸入級(jí),第三級(jí)將雙端的差分信號(hào)變?yōu)閱味溯敵鲂盘?hào)。最后由于COMP端的輸出電阻很大,結(jié)果導(dǎo)致了很大的時(shí)間常數(shù),為了減少輸出電阻,經(jīng)過一個(gè)共集極輸出到電流比較器,這樣可以提高電路的響應(yīng)速度。M1~M6 構(gòu)成一個(gè)恒流源,其中M3為負(fù)反饋,穩(wěn)定2條支路中的電流,這個(gè)恒流源為M6,M7提供穩(wěn)定的鏡像電流;由于輸入端電壓較低,在1.2~1.3 V左右,Q3,Q4容易進(jìn)入截止區(qū),為了防止它們截止,影響第一級(jí)的放大和失調(diào),在電路中,Q1,Q2采用共集極輸入、射極輸出,將輸入信號(hào)先提升一個(gè)PN結(jié)的電壓,然后再送給Q3,Q4放大;從而提高了電路的輸入電壓范圍;在高增益放大器中,輸出共模電平對(duì)器件的特性和失配相當(dāng)敏感,而且不能通過差動(dòng)反饋來(lái)達(dá)到穩(wěn)定,因此必須增加共模反饋網(wǎng)絡(luò)檢測(cè)2個(gè)輸出端的共模電平,在圖2中,R3,R5為第二級(jí)運(yùn)放提供共模反饋;當(dāng)反饋電壓FB與設(shè)定的帶隙基準(zhǔn)電壓1.22 V相等時(shí),電路輸出低電平,當(dāng)FB高于基準(zhǔn)電壓時(shí),便產(chǎn)生一個(gè)高電平,使鎖存器置位,輸出電壓及反饋電壓下降,直至FB與1.22 V相等;反之亦然。
2.2 振蕩器模塊
這款芯片的振蕩器采用雙振蕩周期工作模式,當(dāng)電路正常工作時(shí),該模塊為系統(tǒng)提供一個(gè)穩(wěn)定的振蕩頻率為385 kHz的脈沖信號(hào),以及用于斜坡補(bǔ)償?shù)娜遣ㄐ盘?hào);當(dāng)芯片在應(yīng)用中由于輸出短路,造成FB端電壓始終為低電平,使得鎖存器在開關(guān)管流過很大電流時(shí)也不能正常置位。由于開關(guān)管流過的電流很大,最大可達(dá)3.5 A,開關(guān)管可能被燒毀。為此設(shè)計(jì)了頻率反饋比較器,當(dāng)FB為低電位時(shí),振蕩器以42 kHz的頻率振蕩,由于此時(shí)對(duì)電容的充電電流減小,整個(gè)芯片的時(shí)鐘頻率變地很?。s為正常情況下的1%),這樣在同樣情況下,開關(guān)管導(dǎo)通的時(shí)間變短,從而對(duì)開關(guān)管實(shí)施保護(hù)。振蕩器的簡(jiǎn)化示意圖如圖3所示。
在該電路圖中,VBIAS為偏置電壓,F(xiàn)FCout為頻率比較器的輸出,SLOPE為斜坡補(bǔ)償電路提供三角波,V1.0,V0.25是利用電阻對(duì)基準(zhǔn)電壓分壓得到的1 V和0.25 V的電壓,OSCOUT為振蕩器的輸出,圖中的LOGIC MODULE為多級(jí)反相器,用于電路中的信號(hào)延時(shí)。N1和N2產(chǎn)生的電流經(jīng)過鏡像電流源對(duì)電容進(jìn)行充電。P8,N10和P9,N11組成2組傳輸門,當(dāng)振蕩器輸出高電平的時(shí)候,右邊的傳輸門導(dǎo)通,當(dāng)電容上的電壓超過這個(gè)值時(shí),振蕩器翻轉(zhuǎn),此時(shí)右邊的傳輸門關(guān)斷,左邊的導(dǎo)通,如此反復(fù),交替與電容上的電壓比較。正常工作時(shí),圖1中的頻率比較器輸出高電平,當(dāng)輸出短路時(shí),比較器輸出低電平,使得N2管截止,通過改變對(duì)電容充電的電流的大小來(lái)改變振蕩器的周期。
2.3 欠壓保護(hù)電路
芯片在實(shí)際的工作中不能保證其輸入電壓始終在額定的最小電壓之上,當(dāng)芯片的輸入電壓低于額定值時(shí),欠壓保護(hù)電路便將芯片自動(dòng)關(guān)斷。為了防止輸入電壓附近振蕩而引起芯片頻繁的啟動(dòng)與關(guān)斷,這里設(shè)計(jì)的該保護(hù)電路具有一定的遲滯特性。一般的遲滯比較器通常是設(shè)置2個(gè)閾值電壓,采用2個(gè)比較器與采樣電壓相比較不同,通過設(shè)置1個(gè)正反饋,只需1個(gè)比較器即可完成此功能。電路中設(shè)有使能端,將使能端置零時(shí),可強(qiáng)制關(guān)斷芯片;將UVEN懸空芯片正常工作;具體電路如圖4所示。
圖4中的電壓Vdd是一個(gè)在低6 V跟隨輸入電壓上升,在電源電壓高于5 V時(shí)保持恒定的數(shù)字電壓源,當(dāng)Vdd高于額定電壓時(shí),LOCK輸出高電平,此時(shí)電路正常工作;當(dāng)Vdd低于額定電壓的時(shí)候,LOCK輸出低電平,通過控制鎖存器關(guān)斷功率MOS管。VBIAS為偏置電壓,N1,P1構(gòu)成恒流源電路,P1與P2,P3,P6構(gòu)成MOS電流鏡式電流源,電流比為其寬長(zhǎng)比。當(dāng)UVEN為零時(shí),Q2的基極被嵌位在約0.6 V,經(jīng)過Q2的be結(jié)使得A點(diǎn)電位為低電平,從而關(guān)斷開關(guān)管;當(dāng)UVEN懸空時(shí)電路正常工作。R1,R2,R3的分壓為比較器的A點(diǎn)提供與Vdd有一定比值的電壓。比較器的另一端為基準(zhǔn)電壓1.22 V。N2 起正反饋的作用,當(dāng)Vdd值正常時(shí),LOCK輸出為高電平;當(dāng)Vdd為低于閾值的某值時(shí),LOCK為低電平,此時(shí)N2導(dǎo)通,使A端電位進(jìn)一步降低,使LOCK保持在低電平上。經(jīng)cadence仿真,此電路具有良好的遲滯特性,在對(duì)電路從2.4~2.9 V進(jìn)行掃描時(shí),遲滯量為340 mV左右,基本滿足設(shè)計(jì)要求。
2.4 熱保護(hù)電路
功率器件的輸出功率不僅受到電學(xué)性能的限制,還受到熱學(xué)性能的限制,為了防止功率DMOS管在高溫下被永久性的損壞,這里設(shè)計(jì)這個(gè)模塊,當(dāng)芯片內(nèi)部溫度過高時(shí),該模塊會(huì)產(chǎn)生一個(gè)高電平,將鎖存器置位,關(guān)斷DMOS管。
圖5中,R1,R2左端為帶隙基準(zhǔn)電路;P5,R4,Q4是基準(zhǔn)源的啟動(dòng)電路;P1,P2,P4組成鏡像電流源,bias為芯片內(nèi)部的一個(gè)偏置電壓;R1,R2,R3組成一個(gè)電壓分壓網(wǎng)絡(luò)。正常情況下,R2,R3的電壓為300 mV左右,Q1和Q2均截止,因PN結(jié)的正向?qū)妷壕哂胸?fù)的溫度系數(shù),當(dāng)溫度上升的時(shí)候,他們的正向?qū)妷合陆?,?dāng)溫度超過設(shè)計(jì)溫度的時(shí)候,Q1和Q2導(dǎo)通,向R3灌入一個(gè)電流,抬高了Q5的基極電壓;此時(shí)由于Q5的正向?qū)妷阂步档停瑥亩鴮?shí)現(xiàn)了邏輯翻轉(zhuǎn),使觸發(fā)器翻轉(zhuǎn),關(guān)斷MOS管,實(shí)現(xiàn)了熱保護(hù)功能。
3 版圖設(shè)計(jì)中提高可靠性的一些措施
(1) 由于該芯片內(nèi)置了面積龐大的功率DMOS管,簡(jiǎn)化了外圍電路、方便了應(yīng)用、提高了集成度、但是也存在一些問題,不斷開關(guān)的功率管引入了電磁干擾,同時(shí)也成為一個(gè)很大的熱源,集成電路芯片溫度升高,將會(huì)引起許多電學(xué)參數(shù)的變化。因此在版圖中需要充分考慮熱分布的合理布局,為防止結(jié)溫過高,在整個(gè)芯片上發(fā)熱器件的布局分布要均衡,不使熱量過分集中,功率較大的管子面積要設(shè)計(jì)地很大,容易受溫度影響的模塊如帶隙基準(zhǔn)等要遠(yuǎn)離發(fā)熱元件。大功率器件盡可能分布在芯片的四周。
(2) 對(duì)于數(shù)?;旌系募呻娐窞榱朔乐箶?shù)模信號(hào)的相互干擾,影響電路的可靠性,電源和地線要設(shè)計(jì)成樹枝狀結(jié)構(gòu),數(shù)字和模擬部分的電源和地線應(yīng)盡可能單獨(dú)設(shè)計(jì),到電源和地線的壓焊塊時(shí)才匯合,集中連在一起。
4 仿真和試驗(yàn)結(jié)果
本文中提出的電路采用無(wú)錫晶芯0.6 μmBCD工藝的設(shè)計(jì)規(guī)則設(shè)計(jì)了版圖,圖6是DC/DC變換器的轉(zhuǎn)換效率隨負(fù)載電流的變化曲線,此時(shí)的輸入電壓為10 V、儲(chǔ)能電感為15 μH、濾波電容為10 μF、輸出電壓由上至下分別為5 V,3.3 V,2.5 V。可見輸入電壓一定的情況下,輸出電壓高時(shí),芯片效率較高。
參 考 文 獻(xiàn)
[1]李靖.中國(guó)開關(guān)電源市場(chǎng)的分析\\.電工技術(shù)雜志,2000(2):4445,53.
[2]畢查德·拉扎維.模擬CMOS集成電路設(shè)計(jì)\\.西安:西安交通大學(xué)出版社,2003.
[3]Deng Haifei,Duan Xiaoming,Nick Sun,et al.Monolithically Integrated Boost Converter Based on 0.5μm CMOS Process\\.IEEE Trans.on Power Electronics,2005,20(3):628638.
[4]Harry J M Veendrick.Shortcircuit Dissipation of Static CMOS Circuitry and Its Impact on the Design of Buffer Circuits\\.IEEE Journal of SolidState Circuits,1984,SC19(4):468473.
[5]Tsung Sum Lee,TaiHua Chen.Two MOSFETC
Lowvoltage Fully Differential VoltageControlled Oscillators for Frequency Tuning\\.Circuits and Systems,2002 AsiaPacific Conference,2002,1:237240.
作者簡(jiǎn)介 呂 杰 男,山東煙臺(tái)人,碩士研究生。主要從事模擬集成電路設(shè)計(jì)和電源管理芯片的研究。
吳玉廣 男,江蘇大悟人,西安電子科技大學(xué)微電子學(xué)院教授。主要從事專用集成電路和功率集成電路的設(shè)計(jì)研究。