中圖分類號:TN919.85-34;TP391.41 文獻(xiàn)標(biāo)識碼:A 文章編號:1004-373X(2025)16-0105-08
Insulator defect detection network based on improved YOLOv7-tiny
HANXingyu,CHENWeizhen (SchoolofElectricalandElectronicEngineering,WuhanPolytechnic University,Wuhan43oo48,China)
Abstract:Whentheexistingdetectionmethodsidentifysmalldefectsofinsulatorsintransmisionlineimageswithcomplex backgrounds,theobtainedimages have problemssuchascomplexbackgroundenvironmentandsmalldefect size.Inorderto ensurethesafeoperationof transmision lines,aninsulatordefectdetectionnetwork(IDD-Net)basedonYOLOv7-tinyis proposed.Theatention-basedintra-scalefeatureinteraction(AIFI)isintroducedtoandleig-dimensionalfeaturesandreduce computationalcomplexity.Thebidirectional weightedpath featurepyramidnetwork(BPFPN)isusedforthefeaturefusion.The improvementsaremadetothedown-samplingmodule,soastoenhancethenetwork'sperceptualcapabilies.TheFocal-DIoU loss function isused toimproveanchorboxquality.Theresultsshowthat,incomparisonwiththebaselinemodel,theaverage accuracyofIDD-Netisimprovedby4.1%,theaccuracyandrecalareimprovedby2.4%and6.5%,thenumberofparameters and floating-point operations are reduced by 5.8% and 2.3% ,respectively,and the average accuracy for flashover defects is improvedby11.2%.Itdemonstratesthattheproposedmethodhassmallerparameters,beterperformanceand stronger robustness.
Keywords:YOLOv7-tiny;insulatordefectdetection;atention-based intra-scalefeatureinteraction;bidiretionalweighted path featurepyramid network;MCdown-samplingmodule;lightweight network
0 引言
隨著電網(wǎng)規(guī)模的不斷擴(kuò)大,輸電線路架設(shè)所需的面積也在逐漸增長。輸電線路絕緣子在絕緣和機(jī)械支持方面發(fā)揮著至關(guān)重要的作用,其常見缺陷是絕緣體損壞和閃絡(luò)引起的表面缺陷[2-3]。輸電線路上的閃絡(luò)有可能導(dǎo)致區(qū)域性停電,極端情況下會(huì)發(fā)生災(zāi)難性事故,調(diào)查表明,由閃絡(luò)引起的停電事故[4-5]占總停電事故的 47% 。
人工巡檢是傳統(tǒng)的絕緣子缺陷檢測手段,費(fèi)時(shí)費(fèi)力且依賴巡線人員經(jīng)驗(yàn)。近年來,將無人機(jī)圖像與深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)相結(jié)合已經(jīng)成為主流的絕緣子缺陷檢測方法。目前,絕緣子缺陷檢測方法主要有兩類:第一類是通過多種網(wǎng)絡(luò)級聯(lián)檢測絕緣子缺陷。文獻(xiàn)[6]提出一種兩階段檢測方法,使用YOLOv5實(shí)現(xiàn)絕緣子準(zhǔn)確定位,然后采用DeepLabv 3+ 實(shí)現(xiàn)被定位絕緣子中缺陷的精準(zhǔn)分割和可靠識別。文獻(xiàn)[7]提出將FasterR-CNN檢測網(wǎng)絡(luò)和U-Net分割網(wǎng)絡(luò)級聯(lián),實(shí)現(xiàn)對絕緣子缺陷的檢測。文獻(xiàn)[8]提出一種新的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)級聯(lián)結(jié)構(gòu),用于識別和定位絕緣子缺陷。這類方法網(wǎng)絡(luò)參數(shù)量較大,現(xiàn)在已經(jīng)不是主流。第二類方法是直接進(jìn)行絕緣子缺陷識別和定位。文獻(xiàn)[9]提出一種改進(jìn)的小型絕緣子缺陷檢測網(wǎng)絡(luò),使用BN-CBAM注意力模塊實(shí)現(xiàn)對絕緣子缺陷檢測效果的提高。文獻(xiàn)[10]提出一個(gè)以YOLOv7為基礎(chǔ)的絕緣子檢測網(wǎng)絡(luò),使用GhostNet實(shí)現(xiàn)對網(wǎng)絡(luò)的輕量化。文獻(xiàn)[11]提出一種引入自注意力機(jī)制的改進(jìn)YOLOv4-tiny絕緣子破損識別方法。文獻(xiàn)[12]提出一種集成Ghost模塊的改進(jìn)YOLOv5s絕緣子輕量級檢測方法。上述方法在檢測精度方面都有良好表現(xiàn),但對于閃絡(luò)缺陷關(guān)注過少,檢測速度也不盡如人意;并且為確保安全,無人機(jī)拍攝距離較遠(yuǎn),因此得到的圖像具有缺陷尺度小、背景環(huán)境復(fù)雜等特點(diǎn),無法準(zhǔn)確識別。
針對上述問題,本文選擇以檢測速度見長的YOLOv7-tiny作為基線網(wǎng)絡(luò),在特征融合部分和損失函數(shù)方面進(jìn)行改進(jìn),以提升網(wǎng)絡(luò)特征處理能力和錨框質(zhì)量,為絕緣子缺陷檢測邊緣設(shè)備部署提出了一種新方法。
1 IDD-Net網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)
絕緣子缺陷檢測網(wǎng)絡(luò)(InsulatorDefectDetectionNetwork,IDD-Net)是基于YOLOv7-tiny[13]的絕緣子缺陷檢測網(wǎng)絡(luò),整體結(jié)構(gòu)如圖1所示。
為使網(wǎng)絡(luò)更加輕量化,引入基于注意力的尺度內(nèi)特征交互(Attention-basedIntra-scale FeatureInteraction,AIFI替換原有的SPPCSPC模塊,通過自注意力機(jī)制專注于處理高維特征并減少計(jì)算冗余;為使網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)多層特征融合,有效利用三種特征層的優(yōu)勢,特征融合部分使用雙向加權(quán)路徑特征金字塔網(wǎng)絡(luò)(Bi-directionalWeightedPathFeaturePyramidNetwork,BPFPN),使得邊緣信息得到更好的保留;同時(shí)提出MC下采樣模塊,以增強(qiáng)網(wǎng)絡(luò)感知能力,提高檢測精度;使用Focal-DIoU損失函數(shù)解決正負(fù)樣本不平衡的問題,使回歸過程專注于高質(zhì)量錨框。
圖1IDD-Net整體結(jié)構(gòu)圖
1.1基于注意力的尺度內(nèi)特征交互
YOLOv7-tiny原有的對主干網(wǎng)絡(luò)得到的高維特征進(jìn)行處理的結(jié)構(gòu)是SPPCSPC模塊,它對輸入的特征圖進(jìn)行多尺度的空間金字塔池化,從而得到多個(gè)不同尺度的特征圖,捕捉不同大小的目標(biāo)和場景信息,進(jìn)而提高模型的感受野和特征表達(dá)能力。然而,SPPCSPC模塊的參數(shù)量和計(jì)算量較大,在一些場景下可能會(huì)產(chǎn)生一定的性能瓶頸,因此引人AIFI模塊[4],對所獲得的高維特征進(jìn)行處理,來削減計(jì)算量,提升計(jì)算速度,同時(shí)對網(wǎng)絡(luò)性能也不會(huì)造成過多損害。AIFI的本質(zhì)是Transformer的編碼器部分,其擁有很強(qiáng)的全局建模能力,能學(xué)習(xí)到豐富的全局信息,從而提升模型感知和特征表達(dá)能力。
AIFI整體結(jié)構(gòu)圖如圖2所示,包括前端處理、多頭注意力(Multi-HeadAttention)和前饋神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(FeedForward),前端處理將輸入的二維特征變成向量并嵌入位置編碼(PositionalEncoding),然后交給多頭注意力和前饋神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行處理,最后將輸出調(diào)整回二維,以便于后續(xù)的多尺度特征融合。
1.2 BPFPN特征融合網(wǎng)絡(luò)
在神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中,信息的傳播方式非常重要,YOLOv7-tiny的特征融合結(jié)構(gòu)為路徑聚合特征金字塔網(wǎng)絡(luò)(PathAggregationFeaturePyramidNetwork,PAFPN)[i,該結(jié)構(gòu)對小目標(biāo)檢測效果較差。為此,本文引人加權(quán)雙向特征金字塔網(wǎng)絡(luò)(weightedBi-directionalFeaturePyramidNetwork,BiFPN)的概念,并與PAFPN結(jié)合,提出改進(jìn)的BPFPN。圖3a)、圖3b)所示為PAFPN和BiFPN的結(jié)構(gòu)圖。
圖2AIFI整體結(jié)構(gòu)圖
整個(gè)結(jié)構(gòu)主要部分是多頭注意力,其使用的注意力函數(shù)如下:
圖3三種特征融合結(jié)構(gòu)圖
多頭注意力機(jī)制的實(shí)現(xiàn)并不基于單一的注意力函數(shù),它將查詢(query)、鍵( key )和值(value)投影到一個(gè)低維,投影 h 次(本文 h=8 ),每次都會(huì)獨(dú)立地使用一次注意力函數(shù),然后把每一個(gè)函數(shù)的輸出拼接在一起,得到最終的輸出。
BPFPN首先保留原網(wǎng)絡(luò)的特征傳遞通路,在淺層特征層和深層特征層之間添加兩條跳躍連線,實(shí)現(xiàn)淺層特征和深層特征的融合。在特征融合部分使用的是Concat操作,并不是常規(guī)的Add操作,這有助于網(wǎng)絡(luò)在后續(xù)層中更好地捕獲和利用不同特征之間的關(guān)系,提升模型的表達(dá)能力和泛化性能。為保留更多淺層特征的細(xì)節(jié),避免因Concat操作帶來過大的計(jì)算開銷,連接的是過渡階段淺層特征。因此BPFPN結(jié)合三種不同維度特征圖的優(yōu)勢,提供更高的靈活性和特征豐富度,增強(qiáng)微小缺陷特征的表達(dá),具體結(jié)構(gòu)如圖3c)所示。
在圖3c中,BPFPN的深色節(jié)點(diǎn)采用一種加權(quán)特征融合方式,對于輸人進(jìn)來的不同特征根據(jù)權(quán)重進(jìn)行增強(qiáng)或者抑制,該方法能夠解決由于多個(gè)目標(biāo)重疊而導(dǎo)致識別不準(zhǔn)確的問題。常見的加權(quán)特征融合有三種方法,其中IDD-Net使用的是快速歸一化融合,表達(dá)式如下:
式中: ε 是一個(gè)保證數(shù)值穩(wěn)定的極小值; 是一個(gè)可學(xué)習(xí)的權(quán)重; Ii 表示輸入。式中每個(gè)歸一化權(quán)重的值均處于0~1之間。
圖3c)中 P3,P4,P5 表示特征提取網(wǎng)絡(luò)不同尺度的特征, P4out?P5out 節(jié)點(diǎn)的數(shù)學(xué)表達(dá)式如下:
式中: Conv 表示卷積操作,但具體在網(wǎng)絡(luò)中更為復(fù)雜;
cat表示特征拼接操作; Ptd 表示中間輸出節(jié)點(diǎn)特征; Pout
表示高維輸出節(jié)點(diǎn)特征; Sin 是淺層過渡節(jié)點(diǎn)輸出特征;
Wi 表示對應(yīng)特征所占據(jù)的權(quán)重; σε 為保證數(shù)值穩(wěn)定的極小值,本文取 0.000 1 。
1.3 MC下采樣模塊
在以特征金字塔為特征融合結(jié)構(gòu)的網(wǎng)絡(luò)中,下采樣模塊是重要的組成部分,它有助于減少特征圖的空間尺寸,從而降低計(jì)算量并提取更高層次的語義信息。常見的下采樣模塊是一個(gè)卷積核大小為 3×3 、步長為 2×2 的卷積或者一個(gè)步長為 2×2 的最大池化,在原特征提取網(wǎng)絡(luò)中只是使用簡單的卷積操作來降低特征圖的尺寸,實(shí)現(xiàn)下采樣。
在YOLOv7中,使用的下采樣結(jié)構(gòu)為MP下采樣模塊,具體結(jié)構(gòu)如圖4a)所示,它組合使用卷積和池化進(jìn)行下采樣,旨在充分利用兩種方式的優(yōu)勢來提高特征信息的提取效率,增強(qiáng)模型的不變性。
基于MP下采樣模塊的思想,本文提出MC下采樣模塊用于特征融合階段,結(jié)構(gòu)如圖4b)所示。它保留MP模塊組合使用卷積和池化進(jìn)行下采樣的思想,直接將兩條分支輸出堆疊,然后使用 1×1 卷積控制所得特征維度。特征融合階段的下采樣操作之前,所得的特征已經(jīng)過多次處理,因此刪除冗余的 1×1 卷積來減少特征處理次數(shù)。
圖4兩種下采樣模塊結(jié)構(gòu)圖
1.4 Focal-DIoU損失函數(shù)
YOLOv7-tiny網(wǎng)絡(luò)的損失由三部分組成,分別是坐標(biāo)回歸損失、目標(biāo)置信度損失、類別置信度損失。整體損失函數(shù)為:
Lloss=λ1Lbox+λ2Lobj+λ3Lcls
式中: Lbox 表示坐標(biāo)回歸損失,是對特征點(diǎn)的回歸參數(shù)判斷; Lobj 表示目標(biāo)置信度損失,是對特征點(diǎn)是否包含物體的判斷; Lcls 表示類別置信度損失,是對特征點(diǎn)所包含物體種類的判斷; λ1,λ2,λ3 是平衡系數(shù)。
目標(biāo)置信度損失和類別置信度損失均采用二分類交叉熵?fù)p失函數(shù)進(jìn)行計(jì)算,坐標(biāo)回歸損失采用CIoU18損失函數(shù)來計(jì)算,公式如下:
式中:IoU表示預(yù)測框和真實(shí)框的交并比; 表示兩個(gè)中心點(diǎn)之間的歐氏距離; ∣c∣ 表示最小包閉區(qū)的對角線長度; α 表示權(quán)重函數(shù); u 用來度量寬高比的一致性;wgt,hgt 表示真實(shí)框的寬和高; w,h 表示預(yù)測框的寬和高。
由于anchor-base的局限性,YOLOv7-tiny會(huì)帶來正負(fù)樣本不平衡的問題,影響模型的整體訓(xùn)練。因此,引人FocalLoss[的思想對 DIoU[20] 損失函數(shù)進(jìn)行改進(jìn),得到Focal-DIoU損失函數(shù)來提升錨框質(zhì)量,優(yōu)化正負(fù)樣本不均衡問題,使回歸過程專注于高質(zhì)量錨框。其整體數(shù)
學(xué)表達(dá)式為:
LFocal-DIoU=IoUγLDIoU
式中: LDIoU 表示DIoU損失函數(shù); γ 是控制異常值抑制程度的參數(shù),本文取值0.5。
2 實(shí)驗(yàn)相關(guān)工作
2.1實(shí)驗(yàn)軟硬件環(huán)境及數(shù)據(jù)集
為了在公平條件下比較改進(jìn)前后的網(wǎng)絡(luò),本文的計(jì)算機(jī)環(huán)境設(shè)置和超參數(shù)設(shè)置如表1所示。
表1實(shí)驗(yàn)環(huán)境配置
本文數(shù)據(jù)集共818張絕緣子缺陷檢測樣本,一部分來自百度飛漿平臺高壓輸電線路絕緣子缺陷檢測數(shù)據(jù)集,另外一部分來自于公開網(wǎng)絡(luò)下載的絕緣子缺陷圖像數(shù)據(jù)集(IDID)[21],其中訓(xùn)練集588張,驗(yàn)證集66張,測試集164張。數(shù)據(jù)集中有3類標(biāo)簽,分別是insulator(絕緣子)、damage(破損)和flashover(閃絡(luò))。
2.2 評價(jià)指標(biāo)
目標(biāo)檢測領(lǐng)域評價(jià)指標(biāo)如表2所示。
召回率計(jì)算公式為:
精確率計(jì)算公式為:
式中:TP表示被網(wǎng)絡(luò)預(yù)測為正類的正樣本;FP表示被網(wǎng)絡(luò)預(yù)測為正類的負(fù)樣本;FN表示被網(wǎng)絡(luò)預(yù)測為負(fù)類的正樣本。
表2各項(xiàng)評價(jià)指標(biāo)
P-R曲線以召回率為橫軸,精確率為縱軸構(gòu)成,該曲線是對不同置信度閾值下精確率和召回率的直觀表示。平均精度均值 (mAP) 是對所有類別的AP值求和后取平均值,用于評估模型在各類別上的綜合檢測性能。其計(jì)算公式如下:
式中: P(R) 表示 P-R 曲線; C 是類別總數(shù)。
3實(shí)驗(yàn)及結(jié)果分析
3.1消融實(shí)驗(yàn)
3.1.1不同下采樣模塊的對比實(shí)驗(yàn)
為研究不同下采樣模塊對網(wǎng)絡(luò)檢測精度的影響,本文將卷積下采樣、MP下采樣以及MC下采樣分別作為YOLOv7-tiny和IDD-Net這兩種網(wǎng)絡(luò)中的下采樣模塊進(jìn)行對比實(shí)驗(yàn),實(shí)驗(yàn)結(jié)果如表3所示。
表3兩組下采樣模塊性能對比 %
通過表3可以看出,在這兩組實(shí)驗(yàn)中使用MC下采樣模塊的網(wǎng)絡(luò)效果最優(yōu), mAP50 最高,對于閃絡(luò)缺陷檢測效果更好。因此,本文提出的MC下采樣模塊有著更好的性能。
3.1.2不同損失函數(shù)的對比實(shí)驗(yàn)
本文對常用的損失函數(shù)CIoU、GIoU22]、EIoU23]DIoU進(jìn)行改進(jìn),得到Focal-CIoU、Focal-GIoU、Focal-EIoU和Focal-DIoU這四種變體。表4是這8種損失函數(shù)在添加AIFI模塊、BPFPN、MC下采樣模塊條件下的性能比較。表4結(jié)果顯示Focal-DIoU損失函數(shù)在mAP和閃絡(luò)缺陷檢測效果上均優(yōu)于另外7種損失函數(shù),絕緣子和破損缺陷的平均精度也在前列。本文出發(fā)點(diǎn)是對閃絡(luò)缺陷的檢測,因此選擇Focal-DIoU損失函數(shù)。根據(jù)公式(7)和公式(10)可以看出CIoU是在DIoU的基礎(chǔ)上改進(jìn)得來的,但是在本文中DIoU的效果比CIoU效果好。這表明,沒有單一的損失函數(shù)在所有數(shù)據(jù)集上都優(yōu)于其他損失函數(shù)。因此,應(yīng)根據(jù)數(shù)據(jù)集的具體特征和需求選擇合適的損失函數(shù)
表4不同損失函數(shù)性能對比 %
圖5是網(wǎng)絡(luò)損失函數(shù)改進(jìn)前后,CIoU和Focal-DIoU訓(xùn)練損失值對比圖。在300個(gè)Epoch中,F(xiàn)ocal-DIoU損失值一直小于CIoU且收斂更快,反映出Focal-DIoU損失函數(shù)有著更好的錨框質(zhì)量,使網(wǎng)絡(luò)能夠更好地更新參數(shù),提高網(wǎng)絡(luò)性能。
圖5損失函數(shù)改進(jìn)前后的訓(xùn)練損失值對比圖
3.1.3不同模塊的消融實(shí)驗(yàn)
為驗(yàn)證IDD-Net的檢測性能,在表1的環(huán)境下進(jìn)行消融實(shí)驗(yàn),具體實(shí)驗(yàn)結(jié)果見表5。
表5消融實(shí)驗(yàn)結(jié)果
實(shí)驗(yàn)1為基線網(wǎng)絡(luò),作為后續(xù)實(shí)驗(yàn)的對比參照;實(shí)驗(yàn)2中AIFI模塊的加人使模型的參數(shù)量和浮點(diǎn)運(yùn)算量均降低,減輕模型的復(fù)雜度,雖然 mAP50 略有降低但在后續(xù)實(shí)驗(yàn)中可以體現(xiàn)AIFI模塊使模型學(xué)習(xí)到更為豐富的全局信息,擁有更好的特征表達(dá)能力;實(shí)驗(yàn)3、4、5添加單獨(dú)模塊,均使網(wǎng)絡(luò)有一定的性能提升;實(shí)驗(yàn)6中一起使用AIFI模塊和BPFPN, mAP50 提升 1.5% ,相比較使用單個(gè)模塊時(shí),性能提升更為直觀,因此AIFI模塊對于整體網(wǎng)絡(luò)的特征表達(dá)有著極大的增強(qiáng)作用;實(shí)驗(yàn)7在實(shí)驗(yàn)6的基礎(chǔ)上添加MC下采樣模塊,精確率、召回率均有提升, mAP50 提升 1.4% ;實(shí)驗(yàn)8把損失函數(shù)更改為Focal-DIoU,精確率略有下降,但召回率得到進(jìn)一步提升,mAP50 提升 1.2%。
從表5可知改進(jìn)后網(wǎng)絡(luò)的 mAP50 由 77.0% 提升到81.1% ,提升 4.1% ,精確率和召回率分別提高 2.4% 和6.5% ,參數(shù)量和浮點(diǎn)運(yùn)算量分別減少 5.8% 和 2.3% ,特別是閃絡(luò)缺陷這一類別, AP50 閃絡(luò)提升 11.2% ,反映對于中小尺度的目標(biāo),網(wǎng)絡(luò)的檢測能力大幅度增強(qiáng)。綜上所述,將4種改進(jìn)方案進(jìn)行整合,可以達(dá)到預(yù)期的改進(jìn)效果,顯著增強(qiáng)網(wǎng)絡(luò)檢測絕緣子閃絡(luò)缺陷上的性能。
3.2 對比實(shí)驗(yàn)
3.2.1 不同目標(biāo)檢測網(wǎng)絡(luò)的對比實(shí)驗(yàn)
為驗(yàn)證本文提出的IDD-Net優(yōu)勢,將該方法與當(dāng)前主流的目標(biāo)檢測網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行比較。這些對比網(wǎng)絡(luò)包括Faster R - CNN[24]、SSD[25]、YOLOv4 - tiny[26]、YOLOv5s、YOLOv7-tiny、YOLOv8n,性能對比詳情見表6。
表6不同網(wǎng)絡(luò)性能對比
由表6可以看出,與現(xiàn)階段主流檢測網(wǎng)絡(luò)相比,IDD-Net的絕緣子破損和閃絡(luò)缺陷的 AP50 均高于其他網(wǎng)絡(luò),檢測速度也達(dá)到 180f/s ,滿足實(shí)時(shí)檢測需求。
3.2.2 多種環(huán)境下的比較實(shí)驗(yàn)
本文的數(shù)據(jù)集都是在較為理想的環(huán)境中拍攝獲得的,為了驗(yàn)證IDD-Net在不同的自然天氣下具有良好的性能,進(jìn)行了模擬自然天氣的對比實(shí)驗(yàn)。本文中的數(shù)據(jù)集使用Imgaug圖像增強(qiáng)庫進(jìn)行處理,在雨、霧和不同光照度下生成4種類型的數(shù)據(jù)集,以模擬自然環(huán)境對網(wǎng)絡(luò)性能的影響。
表7是不同網(wǎng)絡(luò)在不同環(huán)境中的 mAP50 對比結(jié)果。從表中可以看出,IDD-Net在不同的自然天氣下仍然具有最好的檢測結(jié)果,展示了相對于其他網(wǎng)絡(luò)的性能優(yōu)越性。表8是不同環(huán)境中不同網(wǎng)絡(luò)的 mAP50 降低程度。從表中可以看出,較大的網(wǎng)絡(luò),如FasterR-CNN和SSD性能下降較少,表明其具有更好的魯棒性,其他輕量級網(wǎng)絡(luò)性能變化較大,魯棒性較差。從中也可以看出IDD-Net犧牲了YOLOv7-tiny的魯棒性來提升網(wǎng)絡(luò)檢測效果,但仍比其他輕量級網(wǎng)絡(luò)具有更好的魯棒性。
表7不同網(wǎng)絡(luò)在不同環(huán)境下的性能對比 %
表8不同環(huán)境中不同網(wǎng)絡(luò)的 mAP50 下降百分比
4結(jié)論
為實(shí)現(xiàn)對輸電線路絕緣子缺陷的智能檢測以及邊緣設(shè)備的部署,針對絕緣子缺陷背景復(fù)雜、缺陷尺寸小等問題,本文提出一種基于YOLOv7-tiny的輕量級絕緣子缺陷檢測網(wǎng)絡(luò)IDD-Net。
該網(wǎng)絡(luò)與現(xiàn)階段主流檢測網(wǎng)絡(luò)相比,絕緣子缺陷檢測效果均優(yōu)于其他網(wǎng)絡(luò),檢測速度也達(dá)到實(shí)時(shí)檢測標(biāo)準(zhǔn),并且參數(shù)量較小,方便部署到無人機(jī)等邊緣設(shè)備。但是魯棒性略有不足,這是輕量級網(wǎng)絡(luò)普遍面臨的挑戰(zhàn),希望未來的工作能在這方面做出貢獻(xiàn)。
注:本文通訊作者為陳為真。
參考文獻(xiàn)
[1]ODOA,MCKENNAS,F(xiàn)LYNND,etal.Aerial imageanalysis using deep learning forelectrical overhead line network asset management[J].IEEEaccess,2021(2):146281-146295.
[2]OGBONNAVE,POPOOLA PI,POPOOLAO M,etal.A comparativestudyon the failureanalysisoffield failed high voltage composite insulator core rods and recommendation of composite insulators: a review [J]. Engineering tailure analysis, 2022,138:106369.
[3] GAO S,QIU G,YANGJ,etal.Self-explosion defect detection method of glass insulator based on YOLOv4 [C]// 2021 IEEE Sustainable Power and Energy Conference (iSPEC).[S.l.]: IEEE,2021: 3686-3689.
[4]WANG R, ZHANG M,JIANG Y,et al.Prediction model of insulator contamination degree based on adaptive mutation particle swarm optimisation and general regression neural network [J]. The journal of engineering,2019(16):1423-1428.
[5] ZHANG Z, JIANG X,SUN C,et al. Study of the influence of test methods on DC pollution flashover voltage of insulator strings and its flashover process [J]. IEEE transactions on dielectrics and electrical insulation,2010,17(6):1787-1795.
[6]魏良玉,鄒國鋒,趙新宇,等.面向航拍圖像的絕緣子弱特征缺 陷兩階段檢測方法[J].國外電子測量技術(shù),2023,42(10):25- 34.
[7] LI X,SU H,LIU G. Insulator defect recognition based on global detection and local segmentation [J]. IEEE access, 2020, 8: 59934-59946.
[8] TAO X, ZHANG D,WANG Z, et al. Detection of power line insulatordefectsusingaerialimagesanalyzedwith convolutional neural networks[J].IEEE transactionson systems,man,and cybernetics:systems,2020,50(4):1486- 1498.
[9] GAO Z, YANG G,LI E,et al. Novel feature fusion modulebased detector for small insulator defect detection [J].IEEE sensors journal,2021,21(15): 16807-16814.
[10]黨宏社,許勃,張選德.融合多尺度特征的輕量級YOLOv7絕 緣子缺陷檢測算法[J].電瓷避雷器,2023(6):187-195.
[11] HAN G,HE M,ZHAO F,et al. Insulator detection and damage identification based on improved lightweight YOLOv4 network[J].2021 International conference onenergy engineering and power systems,2021,7: 187-197.
[12] LIU C,YI W,LIU M,et al.A lightweight network based on improvedYOLOv5sforinsulatordefectdetection[J]. Electronics,2023,12(20): 4292.
[13]WANG CY,BOCHKOVSKIY A,LIAOHYM.YOLOv7: trainablebag-of-freebies sets new state-of-the-art for real-time object detectors[Cl//2023IEEE/CVF Conferenceon Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR).[S.l.]: IEEE,2023:7464-7475.
[14] LVW,ZHAO Y,XU S,et al.DETRs beat YOLOs on realtime object detection [EB/OL].[2023-01-11]. https://blog.csdn net/qq_42591591/article/details/141994763.
[15] VASWANI A, SHAZEER N,PARMAR N,et al. Attention is all you need [Ul// Proceedings ot the S1st International Conference on Neural Information Processing Systems.Red Hook,NY,USA: Curran Associates Inc., 2017: 6000-6010.
[16] LIU S,QI L,QIN H,et al.Path aggregation network for instance segmentation [C]// 2018 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition.[S.l.]:IEEE,2018: 8759-8768.
[17]TAN M,PANG R,LE Q V.EfficientDet:scalableand effcient object detection [Cl// 2020 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR).Seatle, USA: IEEE, 2020: 10778-10787.
[18] ZHENG Z,WANG P,REN D,et al.Enhancing geometric factors in model learning and inference for object detection andinstancesegmentation[J].IEEEtransactionson cybernetics,2022,52(8): 8574-8586.
[19]LIN TY,GOYAL P,GIRSHICK R,etal. Focal loss for dense object detection [C]//2O17 IEEE International Conferenceon Computer Vision (ICCV). Venice, Italy: IEEE,2017:2999 - 3007.
[20] ZHENG Z,WANGP,LIU W,et al.Distance-IoU loss: faster andbetter learning for bounding box regression [EB/OL]. [2023-02-07]. https://arxiv.org/pdf/1911.08287.
[21]LEWISD,KULKARNI P.Insulator defect detection [EB/OL]. [2023-04-11]. https://dx.doi.org/10.21227/vkdw-x769.
[22]REZATOFIGHI H,TSOI N,GWAK J,et al.Generalized intersection over union:a metric and a loss for bounding box regression [C]// 2O19 IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR). [S.l.]: IEEE,2019: 658-666.
[23]ZHANGYF,RENW,ZHANG Z,etal.Focal and efficient IOUlossforaccurateboundingboxregression[J]. Neurocomputing,2022, 506:146-157.
[24] REN S,HE K,GIRSHICK R,et al. Faster R-CNN: towards real-time object detection with region proposal networks [J]. IEEEtransactionsonpatern analysisand machine intelligence,2017,39(6): 1137-1149.
[25] LIU W,ANGUELOV D, ERHAN D,et al. SSD: single shot multibox detector[M]//LEIBEB,MATASJ,SEBE N,et al. Computer Vision-ECCV 2016. Cham: Springer,2016: 21-37.
[26]BOCHKOVSKIY A,WANG C Y,LIAO H Y M. YOLOv4: optimal speed and accuracy of object detection [EB/OL]. [2021- 05-11]. https://arxiv.org/pdf/2004.10934.
[27] SHEN -PEI Z,XI L,BING -CHEN Q,et al. Research on insulator fault diagnosis and remote monitoring system based on infrared images [J]. Procedia computer science,2017,109: 1194-1199.