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        多變量控制圖及過程能力指數(shù)在生產(chǎn)中的應(yīng)用

        2023-12-02 12:11:16雷彬文龔立雄

        雷彬文 龔立雄

        [摘 要]針對單一控制圖對小波動工序過程不能準(zhǔn)確識別和診斷的問題,提出將多變量T2和MEWMA控制圖結(jié)合起來診斷生產(chǎn)過程的受控情況,再以多變量過程能力指數(shù)進(jìn)一步判定制造企業(yè)的工序過程。以多變量T2、MEWMA控制圖以及規(guī)范區(qū)域?yàn)殚L方形的修正過程能力指數(shù)算法等理論為基礎(chǔ),以某電子企業(yè)主板控制器生產(chǎn)過程為對象,對影響焊接過程質(zhì)量的特性因素進(jìn)行分析?;诼?lián)合多變量T2、MEWMA控制圖及過程能力指數(shù),來診斷生產(chǎn)過程的工序狀態(tài)及影響因素,對樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行了分析和計算。結(jié)果表明:所采用的多變量質(zhì)量診斷算法誤差較小,能有效監(jiān)督和控制生產(chǎn)過程。

        [關(guān)鍵詞]多變量控制圖;過程能力指數(shù);生產(chǎn)過程控制;質(zhì)量診斷

        [中圖分類號]TQ460.6[文獻(xiàn)標(biāo)識碼]A

        控制圖和過程能力指數(shù)是質(zhì)量控制的重要手段,對于降低廢品率、提升產(chǎn)品質(zhì)量和管理水平具有重要作用,已被應(yīng)用到機(jī)械、電子、汽車、化工等多個行業(yè),成為制造企業(yè)在線質(zhì)量診斷和控制方法的技術(shù)支撐[1]。目前,眾多學(xué)者對控制圖和過程能力指數(shù)的研究以單變量和多變量控制圖和過程能力指數(shù)為主,以Shewhart控制圖為基礎(chǔ),關(guān)注過程控制的變異。常用的包括χ2控制圖、T2控制圖、W控制圖。Nijhuis等提出了同時監(jiān)控多變量過程分布特征和過程能力的TC2控制圖[2]。Wu等對過程能力指數(shù)度量問題及應(yīng)用進(jìn)行了綜述,并進(jìn)行了比較研究,指出多個相關(guān)性過程能力指數(shù)的計算和度量是一個值得研究的問題[3]。Pearn等提出了一種估計Taan等所提出的多元過程能力指數(shù)方法,并給出了MPCI置信區(qū)間[4- 5]。Ahmad等基于不合格品率準(zhǔn)則及協(xié)方差距離,提出了一種新的多元過程能力指數(shù),該能力指數(shù)能評價正態(tài)和非正態(tài)過程[6]。羅碧青等在粉末直接壓片工藝中借助過程能力指數(shù),獲得較高性價比的壓片工藝配方[7]。郭佳晟通過蒙特卡洛(Monte Carlo)模擬法分析了WAB控制圖在過程失控時的性能表現(xiàn),并與T2控制圖進(jìn)行比較[8]。此外,部分學(xué)者提出了基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)理論的智能多元質(zhì)量診斷算法[9-10]。但該算法需要大量經(jīng)驗(yàn)和統(tǒng)計數(shù)據(jù)對所構(gòu)建的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行訓(xùn)練,對小樣本數(shù)據(jù)不太適用。T2控制圖在解決質(zhì)量控制和質(zhì)量診斷為題的重要方法,但多變量質(zhì)量特性間存在相關(guān)性,并且多變量單值T2控制圖對小波動敏感性不強(qiáng),影響質(zhì)量診斷的準(zhǔn)確性。本文在T2控制圖的基礎(chǔ)上,引入過程能力指數(shù)和多元指數(shù)加權(quán)移動平均(Multivariate Exponentially Weighted Moving Average,MEWMA)控制圖聯(lián)合診斷制造企業(yè)的生產(chǎn)狀態(tài),并以某制造企業(yè)為案例進(jìn)行了分析,分別采用T2、MEWMA控制圖以及修正區(qū)域?yàn)殚L方形的算法計算多變量過程能力指數(shù),剔除原始數(shù)據(jù)中不合理的數(shù)據(jù),運(yùn)用Xbar-R控制圖進(jìn)一步分析原因,將算法結(jié)論與企業(yè)生產(chǎn)實(shí)際進(jìn)行對比,表明本文所提出的T2、MEWMA控制圖、過程能力指數(shù)聯(lián)合質(zhì)量診斷的方法可行,能廣泛應(yīng)用于制造企業(yè)生產(chǎn)過程的質(zhì)量診斷和控制。

        1 多變量控制圖及過程能力指數(shù)

        1.1 多變量T2控制圖

        統(tǒng)計量表達(dá)式:

        使用T2控制圖可以同時監(jiān)視兩個或多個相關(guān)變量的過程位置是否受控制。此控制圖是 Xbar 控制圖和單值控制圖的多變量形式。

        1.2 MEWMA控制圖

        多元指數(shù)加權(quán)移動平均(MEWMA)控制圖是用來對多變量過程X分布中心微小偏移進(jìn)行統(tǒng)計監(jiān)控的控制圖。MEWMA控制圖表達(dá)式為:

        式中,R為P維對角矩陣,對角矩陣元素為ri(0i<1,i=1,2,…,p)。

        1.3 多變量過程能力指數(shù)

        要進(jìn)行過程能力分析,首先必須確定關(guān)鍵質(zhì)量特征值,然后判斷其數(shù)值的特性,最后按照計量值型、計數(shù)值型相對應(yīng)的過程能力分析方法步驟進(jìn)行分析[12]。

        2 案例分析及應(yīng)用

        2.1 案例背景及影響質(zhì)量因素

        某電子企業(yè)主要生產(chǎn)品牌豆?jié){機(jī)主板控制器。近期,該主板控制器生產(chǎn)過程中出現(xiàn)了質(zhì)量缺陷有所回升的不良趨勢,因而需從5M1E綜合分析,找出影響質(zhì)量的具體原因。其主板控制器生產(chǎn)流程如圖2所示。

        工序中,點(diǎn)紅膠、ICT測試(In Circuit Tester,自動在線測試儀)為關(guān)鍵工序,規(guī)定回流焊、波峰焊為特殊工序。該企業(yè)統(tǒng)計數(shù)據(jù)表明:造成該企業(yè)產(chǎn)品缺陷比例最高的是材料不良,這需要與供應(yīng)商溝通,加強(qiáng)對供應(yīng)商的管控;其次是拉絲短路,該缺陷占比30%左右,是質(zhì)量控制的重點(diǎn)。拉絲短路不良現(xiàn)象的主要原因存在于波峰焊工序中,波峰焊工序的錫爐溫度、助焊劑比例和波峰頻率等都有可能是關(guān)鍵因素。影響波峰焊質(zhì)量的重要因素有短路、焊錫球、虛焊、空洞、拉尖等。圖3魚骨圖呈現(xiàn)了波峰焊缺陷的影響因素。

        從文獻(xiàn)[13-14]了解到,在焊接過程中影響焊點(diǎn)焊接質(zhì)量的主要因素有:波峰高度、軌道傾角、傳送速度、錫爐溫度、預(yù)熱溫度以及助焊劑比重。因此,本文將以選定此豆?jié){機(jī)主板控制器波峰焊工序中點(diǎn)焊的助焊劑比例x1、預(yù)熱溫度x2、焊錫液面高度x3、軌道傾角x4和波峰寬度x5這5個質(zhì)量特性作為分析的對象。根據(jù)經(jīng)驗(yàn),后3個質(zhì)量特性存在著自相關(guān)性,因此重點(diǎn)對其進(jìn)行過程能力計算分析。

        2.2 原始數(shù)據(jù)及控制圖分析

        本文研究的數(shù)據(jù)來源于案例企業(yè)某品牌豆?jié){機(jī)主板控制器的生產(chǎn)實(shí)際數(shù)據(jù),經(jīng)統(tǒng)計分析和整理而成。重點(diǎn)對具有自相關(guān)性的x3、x4、x5數(shù)據(jù)進(jìn)行質(zhì)量控制圖和質(zhì)量特性計算,并與原文進(jìn)行對比分析。x3、x4、x5原始數(shù)據(jù)如表2所示。

        可以看出用幾何平均法計算出的多元過程能力指數(shù)為1.058>1,滿足基本要求,但并不是每個質(zhì)量特性均滿足要求。而用差異系數(shù)算法求解的多元過程能力指數(shù)為0.9801<1,說明過程能力一般,不滿足基本要求。因此,還需進(jìn)一步對存在相關(guān)性的3個質(zhì)量特性進(jìn)行分析和判別。

        2.3 進(jìn)一步討論

        原始數(shù)據(jù)的樣本子組容量為1。為更進(jìn)一步研究多變量控制圖,在80組原始數(shù)據(jù)基礎(chǔ)上隨機(jī)生成一組數(shù)據(jù),使得樣本子組容量為5。在后面的多變量控制圖與過程能力指數(shù)研究中選取30組數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。x3、x4、x5(即焊錫液面高度x3、軌道傾角x4、波峰寬度x5)3個質(zhì)量特性數(shù)據(jù)的正態(tài)性檢驗(yàn)見圖4,說明隨機(jī)生成的部分?jǐn)?shù)據(jù)對研究結(jié)論影響極小,可以作為小樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步分析和討論。

        步驟1. T2、MEWMA控制圖及相關(guān)性變量的Xbar-R控制圖

        將新的數(shù)據(jù)分成30組,求解每組的平均值、樣本方差、統(tǒng)計量T2,利用Minitab做T2控制圖。30組數(shù)據(jù)中每組數(shù)據(jù)均值如表3所示。

        設(shè)30個樣本均值

        因此,計算樣本統(tǒng)計量T2如表4所示。

        由該企業(yè)生產(chǎn)背景得α=0.05,又n=5,p=3,查F分布表得F0.05(3,118)=2.68;此時上控制線UCL=3×29×4118×2.68=7.90,得到T2、MEWMA控制圖(圖5)。T2控制圖中點(diǎn)13和點(diǎn)16出界,需要剔除重新計算。

        圖6可以看出:多容量樣本數(shù)據(jù)為30組時,x3均值-極差控制圖都正常;x4的均值-極差圖第16個點(diǎn)超出3個標(biāo)準(zhǔn)差,均值圖中后14個點(diǎn)落在中心線兩側(cè)的C區(qū)內(nèi)(在實(shí)際生產(chǎn)過程控制中此時應(yīng)增加抽樣點(diǎn)來判斷過程是否異常),極差圖中有超過連續(xù)9點(diǎn)在中心線同側(cè),也是造成第一次使用T2控制圖第16個點(diǎn)異常的原因;x5均值圖正常,極差圖中有連續(xù)9點(diǎn)在中心線同側(cè)。

        步驟2. 剔除不合格數(shù)據(jù),重新計算T2和MEWMA控制圖以及Xbar-R控制圖

        剔除12、13、16組數(shù)據(jù)后,剩下的27組數(shù)據(jù)重新計算

        樣本協(xié)方差矩陣均值

        計算控制上限為7.92。則T2、MEWMA、Xbar-R控制圖。

        圖7中,27組多容量樣本繪制的T2控制圖所有打點(diǎn)值均在控制限范圍內(nèi),此時過程基本處于受控狀態(tài)。而自相關(guān)的x3、x4、x5變量組的 MEWMA控制圖也顯示過程基本處于穩(wěn)定,說明剔除不合格的數(shù)據(jù)后,該生產(chǎn)過程處于基本穩(wěn)定狀況,但是仍有時出現(xiàn)波動狀態(tài)。

        圖8中,x3均值-極差圖過程穩(wěn)定;x4極差圖中第11點(diǎn)超出3個標(biāo)準(zhǔn)差,考慮該點(diǎn)所代表的樣本數(shù)據(jù)抽樣取值時的合理性,或是記錄數(shù)據(jù)有誤,或是抽樣時存在某個不合格樣品;x5極差圖后12點(diǎn)有連續(xù)9點(diǎn)在同一側(cè)。

        T2控制圖經(jīng)過2次控制限調(diào)修生產(chǎn)過程處于基本穩(wěn)定狀態(tài)。從各樣本數(shù)據(jù)的單值圖中可知,經(jīng)過剔除3組數(shù)據(jù)后,均值圖處于基本受控狀態(tài),但極差圖在后12組數(shù)據(jù)中有連續(xù)9點(diǎn)在中心線同側(cè),需要進(jìn)一步分析原因。而數(shù)據(jù)中x3、x4、x5分別是影響波峰焊點(diǎn)焊質(zhì)量的焊錫液面高度、軌道傾角、波峰寬度,在控制圖分析的過程中可以獲悉,軌道傾角的極差圖總是有連續(xù)9點(diǎn)在中心線同側(cè),這可能是由于在用角度規(guī)測試讀取數(shù)時存在著人為地讀數(shù)誤差;波峰寬度和焊錫液面高度是用專用儀器測量,讀取數(shù)據(jù)較精確,可以從專用儀器感知軌道傾角方面來提高軌道傾角的準(zhǔn)確性,但是也要注意儀器的保護(hù),避免儀器疲勞導(dǎo)致測量不準(zhǔn)確。

        步驟3 多變量過程能力指數(shù)計算

        這里仍采用規(guī)范區(qū)域?yàn)殚L方形的多變量過程能力的計算公式。分布中心與規(guī)范中心不重合。

        進(jìn)而求得:

        最后得到修正的過程能力指數(shù)為1.0196。根據(jù)表1過程能力評定標(biāo)準(zhǔn),仿真過程處于基本穩(wěn)定狀態(tài),但過程能力一般。應(yīng)該在保持現(xiàn)有生產(chǎn)情況下,繼續(xù)用控制圖或其他有效手段對過程進(jìn)行嚴(yán)格監(jiān)督和控制,嚴(yán)格檢查產(chǎn)品質(zhì)量,防止出現(xiàn)過程能力大幅下滑。就單個變量而言,x3需要強(qiáng)化質(zhì)量控制檢驗(yàn)、分析變異原因,進(jìn)而采取有效的措施;x4處于一個理想狀態(tài),需要繼續(xù)保持;x5處于一種中風(fēng)險狀態(tài),需要增加檢驗(yàn)頻次,找到變異原因并消除,提高過程能力值。

        分別對原始數(shù)據(jù)和多容量組數(shù)據(jù)采用幾何平均法、差異系數(shù)法、規(guī)范區(qū)域?yàn)殚L方形修正法的多變量過程能力指數(shù)進(jìn)行計算。表4對各種多變量過程能力指數(shù)計算方法進(jìn)行了比較。

        由表4可知,幾何平均法計算的多變量過程能力指數(shù)比采用差異系數(shù)法和規(guī)范區(qū)域?yàn)殚L方形的修正法要大。幾何平均法是一種早期求解多變量過程能力指數(shù)的計算方法,其計算求得的過程能力指數(shù)值偏大,不太適合多變量過程能力指數(shù)的求解。本文采用的規(guī)范區(qū)域?yàn)殚L方形的修正法,計算結(jié)果跟差異系數(shù)法求得結(jié)果比較接近,也最接近真實(shí)的實(shí)際情況。同時,本文針對原始子組容量為1的數(shù)據(jù)計算結(jié)果與隨機(jī)生成的子組容量為5的仿真計算的多變量過程能力指數(shù)進(jìn)行了對比,對比結(jié)果除了幾何平均法誤差較大外,其余兩種計算方法基本一致,這也說明隨機(jī)生成的數(shù)據(jù)是有效的,而多容量樣本分組也是多變量質(zhì)量控制圖的要求。

        3 結(jié)論

        本文采用規(guī)范區(qū)域?yàn)殚L方形的修正法計算了生產(chǎn)過程能力指數(shù),通過案例研究對控制圖和過程能力指數(shù)的分析,使得工序過程一直處于統(tǒng)計受控狀態(tài),以提高產(chǎn)品質(zhì)量。

        1)多變量T2、MEWMA控制圖能較好地對工序狀態(tài)進(jìn)行診斷,及時發(fā)現(xiàn)過程異常波動,并能對工藝過程質(zhì)量進(jìn)行初步分析,找出其中失控的原因。

        2)多變量過程能力指數(shù)計算方法很多,但早期根據(jù)單變量過程能力指數(shù)采用幾何平均法求得的多變量過程能力指數(shù)偏大,會影響生產(chǎn)過程能力的判斷。本文采用規(guī)范區(qū)域長方形修正法計算多變量過程能力指數(shù)誤差較小,能有效監(jiān)督和控制生產(chǎn)過程。

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        Research on Multivariate Control Chart and Process Capability

        Index Applied for Manufacturing Process

        LEI Binwen1,GONG Lixiong2

        (School of Mechanical Engineering, Hubei Univ. of Tech., Wuhan 430072, China)

        Abstract:Aiming at problems that single control charts cant accurately find and diagnose small swing of process, the paper proposed to joint multivariate T2 and MEWMA control chart to diagnose manufacturing process state, and judged the production process state by multivariate process capability index. First, it analyzed multivariate T2 and MEMWA control chart & revision process capability index that norm district is rectangular, and then targeted at an electronic enterprise motherboard controller manufacturing process, focused on the analysis of factors affecting welding process quality. Moreover, it proposed method that jointed multivariate T2and MEWMA control chart & process capability index diagnosed production state, respectively analyzed influencing factors of process quality. Result shows that the multivariate quality diagnose error proposed in the paper is small, and can effectively monitor and control manufacturing process.

        Keywords:Multivariate control chart;Process capability index;Manufacturing process control;MEMWA chart;Quality diagnosis

        [責(zé)任編校:張 眾]

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