薛雅心,桂堅(jiān)斌,付 輝,許文進(jìn),龔 青
(中國(guó)兵器裝備集團(tuán)上海電控研究所,上海 200092)
隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步與發(fā)展,特種車輛乘員艙的滅火抑爆系統(tǒng)普遍采用了光學(xué)探測(cè)技術(shù)來(lái)探測(cè)火情[1]。光學(xué)探測(cè)器產(chǎn)品是整車滅火抑爆系統(tǒng)的重要組成部分,目前需求量大。主要功能是及時(shí)采集判斷火焰光并輸出火警信號(hào),其探測(cè)靈敏度、響應(yīng)速度和準(zhǔn)確性直接關(guān)系到系統(tǒng)的運(yùn)行效率和安全性。然而,在長(zhǎng)期實(shí)踐中,光學(xué)探測(cè)器可能會(huì)出現(xiàn)各種故障,如灰塵污染、光信號(hào)偏移、接觸問(wèn)題等,給裝備的正常運(yùn)行帶來(lái)了不良影響。因此,在出廠前對(duì)光學(xué)探測(cè)器進(jìn)行嚴(yán)格的檢測(cè)和監(jiān)測(cè)顯得尤為重要。
目前,光學(xué)探測(cè)器的檢測(cè)方式為通過(guò)人工用萬(wàn)用表逐點(diǎn)測(cè)量的方式,工作量大,判斷故障的技術(shù)難度大,且時(shí)間較長(zhǎng),用工成本高,難免出現(xiàn)錯(cuò)查、漏查現(xiàn)象,直接影響到產(chǎn)品部件的質(zhì)量和可靠性。
為了克服這些難題,本文提出了一種基于LabVIEW 的光學(xué)探測(cè)器板級(jí)檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案,能夠代替人工進(jìn)行光學(xué)探測(cè)器的板級(jí)檢測(cè)。通過(guò)電路板故障診斷技術(shù)實(shí)現(xiàn)光學(xué)探測(cè)器快速故障定位和自動(dòng)判斷,消除人工測(cè)量可能帶來(lái)的錯(cuò)查、漏查的問(wèn)題[2]。該系統(tǒng)具有檢測(cè)速度快、精度高、成本低、自動(dòng)化程度高等優(yōu)勢(shì),為光學(xué)探測(cè)器的制造、檢測(cè)和維護(hù)提供了方便和效率,降低用人成本,確保了產(chǎn)品功能的可靠性,提高了產(chǎn)品的檢測(cè)效率,并為后續(xù)光學(xué)探測(cè)器檢測(cè)維修提供依據(jù)。
基于LabVIEW 的光學(xué)探測(cè)器板級(jí)檢測(cè)系統(tǒng)主要應(yīng)用于光學(xué)探測(cè)器電路板的檢測(cè)中。本系統(tǒng)主要由硬件部分和軟件部分組成,系統(tǒng)框圖如圖1 所示。
圖1 系統(tǒng)框圖Fig.1 System block diagram
硬件部分主要包括信號(hào)采集模塊、信號(hào)調(diào)理模塊、數(shù)據(jù)采集設(shè)備、電源模塊和上位機(jī)等。其中,信號(hào)采集電路通過(guò)測(cè)試裝置專用探針,采集被測(cè)產(chǎn)品上的電壓信號(hào)并傳送至數(shù)據(jù)采集設(shè)備或信號(hào)調(diào)理模塊;信號(hào)調(diào)理電路負(fù)責(zé)對(duì)接收到的原始信號(hào)或數(shù)據(jù)采集設(shè)備輸出的模擬輸出電壓進(jìn)行處理;數(shù)據(jù)采集設(shè)備負(fù)責(zé)模擬電壓信號(hào)和上位機(jī)數(shù)字信號(hào)的相互轉(zhuǎn)化與傳遞。電源模塊將市電轉(zhuǎn)化為直流電,為整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)供電。上位機(jī)上安裝了檢測(cè)軟件,按照設(shè)計(jì)好的程序發(fā)送指令與硬件交互,對(duì)采集到的信號(hào)進(jìn)行分析與處理,并將結(jié)果顯示到界面上。
軟件部分主要為L(zhǎng)abVIEW 軟件平臺(tái),包括數(shù)據(jù)采集處理、故障分析和人機(jī)交互界面設(shè)計(jì)。其中,數(shù)據(jù)采集模塊負(fù)責(zé)對(duì)采集的信號(hào)進(jìn)行數(shù)字化處理,處理模塊負(fù)責(zé)對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和分析,儲(chǔ)存模塊負(fù)責(zé)將處理的結(jié)果儲(chǔ)存到數(shù)據(jù)庫(kù)中,人機(jī)交互界面則為用戶提供了一個(gè)直觀、友好的操作界面,方便用戶對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行操作和監(jiān)控。
該檢測(cè)裝置用于測(cè)試光學(xué)探測(cè)器采集控制線路板與電源驅(qū)動(dòng)線路板功能是否滿足產(chǎn)品要求。該檢測(cè)裝置操作簡(jiǎn)單,使用方便,安全性高,可提高生產(chǎn)效率,降低人工成本。
原始信號(hào)采集電路是負(fù)責(zé)生成并采集光學(xué)探測(cè)器線路板的測(cè)試點(diǎn)電壓。通過(guò)信號(hào)調(diào)理將原始信號(hào)進(jìn)行降壓處理,將其轉(zhuǎn)化為數(shù)據(jù)采集設(shè)備可以直接測(cè)量的電壓;或?qū)?shù)據(jù)采集設(shè)備的模擬輸出電壓進(jìn)行放大處理,使其具備一定的負(fù)載能力。在設(shè)計(jì)信號(hào)調(diào)理電路時(shí),需要考慮到信號(hào)的穩(wěn)定性和精度,為了保證信號(hào)的穩(wěn)定性,采用了高精度的運(yùn)放進(jìn)行信號(hào)放大,并使用了高精度的電阻進(jìn)行電壓分壓。同時(shí),為了提高信號(hào)的精度,還使用了高精度的ADC 進(jìn)行信號(hào)采集。
數(shù)據(jù)采集設(shè)備采用NI USB-6001,該數(shù)據(jù)采集設(shè)備有8 路AI、2 路AO、13 路DIO,具有較高的精度和較大的分辨率和采樣率,確保采樣電壓的準(zhǔn)確性。通過(guò)USB 口就能實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)與被測(cè)部件的數(shù)據(jù)傳遞,是一種低成本的多功能DAQ 設(shè)備。作用是將采集到的模擬信號(hào)傳輸給LabVIEW 軟件平臺(tái)進(jìn)行處理,或?qū)abVIEW 軟件平臺(tái)編輯好的信號(hào)轉(zhuǎn)化為模擬信號(hào)輸出至信號(hào)調(diào)理模塊。
被測(cè)產(chǎn)品生成的在數(shù)據(jù)采集設(shè)備量程內(nèi)的小電壓信號(hào)直接連接至數(shù)據(jù)采集設(shè)備,大電壓由信號(hào)調(diào)理模塊進(jìn)行降壓處理,轉(zhuǎn)化為數(shù)據(jù)采集設(shè)備可直接測(cè)量的電壓。數(shù)據(jù)采集設(shè)備生成的模擬輸出信號(hào)負(fù)載能力較弱,為滿足驅(qū)動(dòng)能力,需要由信號(hào)調(diào)理電路放大處理。同時(shí),電源模塊還具有過(guò)流保護(hù)和過(guò)壓保護(hù)功能,以確保系統(tǒng)的安全性。
檢測(cè)系統(tǒng)的軟件采用LabVIEW 進(jìn)行編寫(xiě)。LabVIEW是美國(guó)國(guó)家儀器公司的創(chuàng)新軟件產(chǎn)品,是一種基于G 語(yǔ)言圖形化編程的測(cè)試系統(tǒng)軟件,廣泛地被工業(yè)界、學(xué)術(shù)界和研究實(shí)驗(yàn)室所接受,視為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)采集和儀器控制軟件[4,5]。
通過(guò)檢測(cè)軟件對(duì)采集到的信號(hào)進(jìn)行后續(xù)分析和處理,并將結(jié)果顯示到界面上。用戶可直接通過(guò)界面信息,判斷被測(cè)產(chǎn)品的狀態(tài)。
軟件部分主要包括數(shù)據(jù)采集處理、故障分析和人機(jī)交互界面設(shè)計(jì),下面將分別對(duì)這3 個(gè)模塊進(jìn)行詳細(xì)介紹。
數(shù)據(jù)采集處理模塊主要負(fù)責(zé)對(duì)光學(xué)探測(cè)器產(chǎn)生的原始數(shù)據(jù)進(jìn)行采集,將采集到的信號(hào)進(jìn)行數(shù)字化處理。通過(guò)NI USB-6001 將電壓信號(hào)發(fā)送至LabVIEW 軟件平臺(tái)后,采用LabVIEW 自帶的DAQmx 數(shù)據(jù)采集模塊進(jìn)行信號(hào)采集,并對(duì)采集到的信號(hào)進(jìn)行處理,包括濾波、放大、去噪等操作。其中,濾波操作主要用于去除信號(hào)中的噪聲,放大操作主要用于增強(qiáng)信號(hào)的強(qiáng)度,去噪操作主要用于去除信號(hào)中的雜波,最后將處理后的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到數(shù)據(jù)庫(kù)中,以備后續(xù)的故障分析和數(shù)據(jù)分析使用。
為了判斷光學(xué)探測(cè)器線路板檢測(cè)點(diǎn)位的數(shù)據(jù)是否正常,需要設(shè)計(jì)一個(gè)故障分析模塊,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和判斷,確定是否故障以及故障原因。在故障分析過(guò)程中,需要對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,確定是否存在異常數(shù)據(jù)??梢允褂肔abVIEW 中的數(shù)據(jù)分析模塊,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析、頻譜分析等處理,確定是否存在異常數(shù)據(jù)。在確定存在異常數(shù)據(jù)后,需要對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步地分析和診斷,并判斷是否存在故障。通過(guò)使用LabVIEW 中的邏輯模塊編寫(xiě)相應(yīng)的判斷程序?qū)Ξ惓?shù)據(jù)進(jìn)行診斷,可以判斷出故障的類型和位置,確定故障原因。判斷故障后,通過(guò)故障提示與報(bào)警,可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)和處理故障,保證系統(tǒng)的正常運(yùn)行。
人機(jī)交互界面直接面向用戶,需要設(shè)計(jì)一個(gè)直觀、友好的界面,將各個(gè)功能模塊分布在不同的區(qū)域,方便用戶進(jìn)行操作和監(jiān)控。在界面中,添加相應(yīng)的按鈕控件,能夠?yàn)橛脩籼峁┎僮骺刂乒δ?,包括啟?dòng)、停止、復(fù)位等操作。通過(guò)將采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和故障分析后顯示在文本框、波形圖表等控件上,以便用戶更加直觀地了解系統(tǒng)的運(yùn)行情況和光學(xué)探測(cè)器電路板的故障情況。
圖2 為光學(xué)探測(cè)器板級(jí)檢測(cè)軟件的人機(jī)交互界面。待測(cè)電壓點(diǎn)為光學(xué)探測(cè)器線路板中7 個(gè)待測(cè)點(diǎn)位,在待測(cè)電壓點(diǎn)附近標(biāo)注了該點(diǎn)位的電壓正常范圍,在單擊“電壓采集”后,系統(tǒng)會(huì)實(shí)時(shí)對(duì)光學(xué)探測(cè)器進(jìn)行電壓采集,將采集到的電壓值輸出至“電壓采集值”中,若有點(diǎn)位故障則標(biāo)紅顯示,同時(shí)與電壓正常范圍進(jìn)行對(duì)比,以判斷故障等級(jí)。
圖2 人機(jī)界面Fig.2 Human machine interface
板級(jí)檢測(cè)系統(tǒng)的軟件流程如圖3 所示,包括系統(tǒng)初始化、電壓檢測(cè)、紫外脈沖檢測(cè)、火警信號(hào)檢測(cè)和結(jié)果顯示。具體步驟為:
圖3 軟件檢測(cè)流程Fig.3 Software testing process
1)系統(tǒng)初始化:即對(duì)電壓檢測(cè)、紫外脈沖檢測(cè)和火警信號(hào)檢測(cè)3 個(gè)模塊的歷史數(shù)據(jù)清空,所有布爾按鈕初始化。
2)電壓檢測(cè):?jiǎn)螕簟半妷簷z測(cè)”按鈕,即可采集到線路板當(dāng)前電壓值,并對(duì)電壓值做出判斷。當(dāng)所有電壓值均在范圍內(nèi),則顯示“PASS”(綠)且各采樣值右側(cè)指示燈亮綠燈。若任一電壓值超范圍,則顯示“FAIL”(紅),且該采樣值右側(cè)指示燈亮紅燈,表示不通過(guò)。
3)紫外脈沖檢測(cè)。以“連續(xù)采樣”的采集模式對(duì)紫外脈沖電壓進(jìn)行采集,將采集到的紫外脈沖還原,動(dòng)態(tài)顯示在波形圖表中。單擊“紫外脈沖檢測(cè)”按鈕,紫外管工作電壓采樣電路斷開(kāi),有火時(shí)可觀察到紫外脈沖并動(dòng)態(tài)顯示到波形圖表中。單擊“停止紫外測(cè)試”,保留當(dāng)前波形。
4)火警信號(hào)檢測(cè):?jiǎn)螕簟盎鹁盘?hào)檢測(cè)”按鈕,開(kāi)始采集TP1 的電壓,此時(shí)顯示“TP1 信號(hào)無(wú)輸出”。若5s 內(nèi)TP1 無(wú)輸出,則紫外管工作電壓采樣電路恢復(fù)正常,程序終止。5s 內(nèi)TP1 電壓一旦達(dá)到要求,則立即顯示“TP1 信號(hào)輸出正?!?。
5)復(fù)位。單擊“復(fù)位”按鈕,軟件界面初始化,紫外管工作電壓采樣電路恢復(fù)。
為了驗(yàn)證本檢測(cè)系統(tǒng)的準(zhǔn)確性和實(shí)用性,通過(guò)萬(wàn)用表和該檢測(cè)軟件分別對(duì)光學(xué)探測(cè)器的電路板進(jìn)行了檢測(cè),得到檢測(cè)數(shù)據(jù)見(jiàn)表1。測(cè)量精度常用相對(duì)誤差δ來(lái)衡量[3],計(jì)算公式為:
表1 通過(guò)板級(jí)檢測(cè)系統(tǒng)測(cè)量10次TP1電壓值的結(jié)果Table 1 Results of 10 TP1 voltage measurements using a board level detection system
其中,xi為被測(cè)量的測(cè)量結(jié)果,x0為標(biāo)準(zhǔn)值。
以TP1 點(diǎn)為例,電壓正常范圍為3.56V ~3.90V,上電后,通過(guò)標(biāo)定的萬(wàn)用表檢測(cè)電壓為3.75V,表1 為通過(guò)板級(jí)檢測(cè)系統(tǒng)測(cè)量10 次TP1 電壓值的結(jié)果。
經(jīng)過(guò)上述驗(yàn)證,證明該板級(jí)檢測(cè)系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確地采集光學(xué)探測(cè)器產(chǎn)生的電壓值并顯示出來(lái),與萬(wàn)用表測(cè)試出來(lái)的結(jié)果誤差值均小于±0.7%??梢缘贸?,板級(jí)檢測(cè)系統(tǒng)的電壓測(cè)量精度高,結(jié)果準(zhǔn)確。
為了驗(yàn)證測(cè)試效率,表2 為10 次板級(jí)檢測(cè)系統(tǒng)和人工手動(dòng)檢測(cè)的時(shí)間對(duì)比結(jié)果。板級(jí)檢測(cè)系統(tǒng)測(cè)試流程平均耗費(fèi)時(shí)間為66s,遠(yuǎn)小于通過(guò)萬(wàn)用表手動(dòng)測(cè)試的204s,可在實(shí)驗(yàn)和生產(chǎn)中替代萬(wàn)用表對(duì)光學(xué)探測(cè)器的點(diǎn)位進(jìn)行監(jiān)控和檢測(cè)。
表2 10次板級(jí)檢測(cè)系統(tǒng)和人工手動(dòng)檢測(cè)的時(shí)間對(duì)比結(jié)果Table 2 Time comparison results of 10 board level detection systems and manual detection
基于LabVIEW 的光學(xué)探測(cè)器板級(jí)檢測(cè)系統(tǒng)是一種高效、精確、可靠的檢測(cè)裝置。該系統(tǒng)采用了高精度的硬件電路和LabVIEW 軟件平臺(tái),以實(shí)現(xiàn)對(duì)光學(xué)探測(cè)器電路板的精確檢測(cè)和分析,可以快速高效地檢測(cè)和定位光學(xué)探測(cè)器電路板異常。同時(shí),該系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單,使用方便,經(jīng)過(guò)實(shí)驗(yàn)和測(cè)試,證明了該系統(tǒng)具有良好的穩(wěn)定性和精度,可提高生產(chǎn)效率和自動(dòng)化檢測(cè)工作的程度,降低人工成本,為光學(xué)探測(cè)器的生產(chǎn)和研發(fā)提供了非常重要的支持。該系統(tǒng)在光學(xué)探測(cè)器電路板的生產(chǎn)和質(zhì)量控制中具有顯著作用,為光學(xué)探測(cè)器的生產(chǎn)和改進(jìn)提供了重要支撐。