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        基于錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)的可擴(kuò)展多模彎曲波導(dǎo)

        2023-08-21 07:34:32林健劉雨瀟符強(qiáng)李軍汪鵬君陳偉偉
        光子學(xué)報(bào) 2023年7期
        關(guān)鍵詞:優(yōu)化結(jié)構(gòu)

        林健,劉雨瀟,符強(qiáng),李軍,汪鵬君,陳偉偉

        (1 寧波大學(xué) 信息科學(xué)與工程學(xué)院, 寧波 315211)

        (2 溫州大學(xué) 電氣與電子工程學(xué)院, 溫州 325035)

        (3 寧波大學(xué) 科學(xué)技術(shù)學(xué)院, 寧波 315300)

        0 引言

        近年來,云計(jì)算、大數(shù)據(jù)等業(yè)務(wù)對(duì)高容量互連的需求迅速增長(zhǎng)。在傳統(tǒng)電互連面臨瓶頸之際,硅基光互連憑其高速、大帶寬和易集成等特點(diǎn)而備受關(guān)注[1-3]。與此同時(shí),為了滿足日益增長(zhǎng)的帶寬需求,各種先進(jìn)的多路復(fù)用技術(shù)[4-7]應(yīng)用而生,如空間分復(fù)用(Spatial-Division-Multiplexing,SDM)、偏振復(fù)用(Polarization-Division-Multiplexing,PDM)、波分復(fù)用(Wavelength-Division-Multiplexing,WDM)和模分復(fù)用(Mode-Division-Multiplexing,MDM) 等。其中,MDM 技術(shù)利用波導(dǎo)支持多種模式傳輸,將信號(hào)搭載至不同光模式上傳輸,可成倍提升傳輸容量[8]。

        多模彎曲波導(dǎo)是模分復(fù)用系統(tǒng)中的關(guān)鍵元器件之一,許多學(xué)者已對(duì)其開展了研究工作。其中,部分學(xué)者使用了各種算法來輔助優(yōu)化多模彎曲波導(dǎo)結(jié)構(gòu)。如2012 年,GABRIELLI L H 等通過變換光學(xué)(Transformation Optics,TO)算法對(duì)可同時(shí)承載3 種最低階橫電(Transverse Electric,TE)模式的傳統(tǒng)多模彎曲波導(dǎo)進(jìn)行優(yōu)化[9]。2017 年,SUN C L 等利用粒子群優(yōu)化(Particle Swarm Optimization,PSO)算法對(duì)彎曲波導(dǎo)的輸入及輸出端波導(dǎo)寬度進(jìn)行優(yōu)化,實(shí)現(xiàn)了TE0和TE1模式的高效傳輸[10]。SUN S 等通過算法進(jìn)行雙自由曲線模型的逆設(shè)計(jì),所制得的多模彎曲波導(dǎo)可支持TE0、TE1、TE2和TE3模式[11]。類似地,還有學(xué)者使用其它曲線模型代替?zhèn)鹘y(tǒng)90°彎曲波導(dǎo)來完成多模傳輸。如JIANG X H 等提出了使用歐拉曲線代替?zhèn)鹘y(tǒng)90°彎曲波導(dǎo)曲線[12],該多模彎曲波導(dǎo)可支持4 種最低階的橫磁(Transverse Magnetic,TM)模式傳輸。除了使用算法對(duì)多模彎曲波導(dǎo)進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì),工藝制造技術(shù)的改進(jìn)也促發(fā)了研究者新的嘗試。XU H N 團(tuán)隊(duì)報(bào)道了一種表面覆蓋聚甲基丙烯酸甲酯(Polymethyl Methacrylate,PMMA)基于超表面結(jié)構(gòu)的多模彎曲波導(dǎo)[13],可同時(shí)支持TM0、TM1、TM2和TM3模式傳輸。此外,還有學(xué)者在多模彎曲波導(dǎo)處引入光子晶體、亞波長(zhǎng)光柵等結(jié)構(gòu)進(jìn)行研究。CHANG W J 等在彎曲波導(dǎo)區(qū)域采用類光子晶體結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)TE0和TE1模式的傳輸[14]。LIU Y J 等也在彎曲波導(dǎo)處刻蝕光子晶體,并通過逆設(shè)計(jì)進(jìn)行仿真優(yōu)化,實(shí)現(xiàn)了可支持TE0、TE1和TE2模式的多模彎曲波導(dǎo)[15]。WU H 等將彎曲波導(dǎo)表面刻蝕形成亞波長(zhǎng)光柵,可支撐TE0、TE1、TE2和TE3模式[16]。GAO S 團(tuán)隊(duì)提出一種基于梯度淺刻蝕槽的多模彎曲波導(dǎo),可支持TE0、TE1、TE2和TE3模式[17]。上述工作中,雖然研究者提出的多模彎曲波導(dǎo)具備良好的性能,但往往只能支持2 至4 種模式進(jìn)行彎曲傳輸,不易拓展至更高階模式。

        因此,本文提出了一種易級(jí)聯(lián)、可擴(kuò)展、基于錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)的多模彎曲波導(dǎo)。通過利用模式等效折射率匹配原理,實(shí)現(xiàn)高階模與基模之間的相互轉(zhuǎn)換,并采用時(shí)域有限差分法和粒子群智能算法,優(yōu)化器件結(jié)構(gòu)參數(shù),提升器件性能。以支持TE0、TE1、TE2、TE3和TE4模式傳輸?shù)亩嗄澢▽?dǎo)為例,詳細(xì)介紹器件的仿真設(shè)計(jì)與參數(shù)優(yōu)化。采用商用的互補(bǔ)式金屬氧化物半導(dǎo)體(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor,CMOS)兼容工藝制備基于錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)的多模彎曲波導(dǎo),并采用垂直耦合測(cè)試平臺(tái)對(duì)其進(jìn)行測(cè)試分析。

        1 器件原理與設(shè)計(jì)

        圖1 所示為基于錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)的多模彎曲波導(dǎo)結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1(a)所示,所提出的多模彎曲波導(dǎo)主要由模式解復(fù)用模塊、模式復(fù)用模塊和彎曲波導(dǎo)模塊組成。其中,模式解復(fù)用模塊和模式復(fù)用模塊是由錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)級(jí)聯(lián)而成。通過增加錐形漸變耦合結(jié)構(gòu),可實(shí)現(xiàn)多模彎曲波導(dǎo)所支撐模式的擴(kuò)展,完成多模式彎曲傳輸功能。器件所支撐模式的數(shù)量主要取決于模式復(fù)用/解復(fù)用模塊可復(fù)用/解復(fù)用模式的數(shù)量。圖1(b)為耦合區(qū)域的細(xì)節(jié)放大圖。圖1(c)是沿A-A′的截面圖。由圖1(c)所示可知,波導(dǎo)芯層為Si,包層為SiO2。其中,波導(dǎo)的厚度H為220 nm。圖2 所示為各個(gè)模式等效折射率隨波導(dǎo)寬度的變化情況?;腎b輸入端口輸入時(shí),由于不滿足等效折射率匹配條件,直接沿著主干波導(dǎo)傳輸,并通過對(duì)稱結(jié)構(gòu)從Ob輸出端口輸出;高階模從Ib輸入端口輸入時(shí),由于在對(duì)應(yīng)的錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)區(qū)域滿足了等效折射率匹配條件,則高階模從主干波導(dǎo)耦合至附近的錐形波導(dǎo),并轉(zhuǎn)化為基模向前傳輸,直至對(duì)稱的錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)區(qū)域轉(zhuǎn)化回高階模,從Ob輸出端口輸出。若以支持TE0、TE1、TE2、TE3、TE4模式傳輸?shù)亩嗄澢▽?dǎo)為例,TE0模式從Ib端口輸入時(shí),由于不滿足等效折射率匹配條件,直接沿著主干波導(dǎo)傳輸,并通過對(duì)稱結(jié)構(gòu)從Ob端口輸出;TE4、TE3、TE2和TE1模式從Ib輸入端口輸入時(shí),由于在Stage4、Stage3、Stage2 和Stage1 處的錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)區(qū)域滿足了等效折射率匹配條件,分別從主干波導(dǎo)耦合至附近的錐形波導(dǎo),并轉(zhuǎn)化為TE0模式向前傳輸,直至對(duì)稱的錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)區(qū)域,依次轉(zhuǎn)化對(duì)應(yīng)的高階模式,沿著主干波導(dǎo)傳輸,并從Ob端口輸出,從而實(shí)現(xiàn)多模彎曲傳輸。

        圖1 提出的多模彎曲波導(dǎo)結(jié)構(gòu)示意圖、細(xì)節(jié)圖、截面圖Fig.1 The schematic diagram of the proposed multimode waveguide bend, a detailed drawing of the tapered coupler, crosssectional view of the coupling region

        圖2 條形硅波導(dǎo)中本征模式等效折射率隨波導(dǎo)寬度變化關(guān)系圖Fig.2 Calculated effective refractive indices of eigenmodes in a silicon strip waveguide changing with the waveguide width

        以優(yōu)化TE0、TE1、TE2、TE3、TE4模式傳輸?shù)亩嗄澢▽?dǎo)為例,進(jìn)行器件設(shè)計(jì)詳細(xì)說明。為了使器件具有良好的性能,在整個(gè)設(shè)計(jì)過程中,通過采用時(shí)域有限差分(Finite Difference Time Domain,F(xiàn)DTD)方法進(jìn)行整體仿真建模,并結(jié)合PSO 算法對(duì)器件結(jié)構(gòu)參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化。如圖1(b)所示,將待優(yōu)化錐形波導(dǎo)等分成N個(gè)長(zhǎng)度為1 μm 的小單元,并將各單元錐形波導(dǎo)的寬度標(biāo)記為Wxy(x=1,2,3,4;y= 1,2,…)。算法優(yōu)化過程中,品質(zhì)因數(shù)(Figure of Merit,F(xiàn)oM)定義為

        式中,TTEi-TE0表示在Stagei錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)區(qū)域,TEi模式轉(zhuǎn)化為TE0模式的轉(zhuǎn)換效率。

        使用PSO 算法的優(yōu)化過程為:1)設(shè)置節(jié)點(diǎn)寬度,即初始化每個(gè)粒子的位置;2)進(jìn)行FDTD 仿真獲得當(dāng)前位置的個(gè)體最優(yōu)值和當(dāng)前節(jié)點(diǎn)全局最優(yōu)值;3)根據(jù)式(2)更新粒子速度;4)根據(jù)式(3)更新粒子當(dāng)前位置,進(jìn)行FDTD 仿真并計(jì)算最優(yōu)值;5)判定FoM 是否最佳,若為最佳則確定粒子位置并進(jìn)入下一節(jié)點(diǎn)循環(huán),否則回到步驟3)。

        式中,Wi表示慣性權(quán)重,Vn表示粒子當(dāng)前速度,C1和C2分別表示自我認(rèn)知率和粒子社交率,rand()是介于0到1 之間均勻分布的隨機(jī)數(shù),bn表示當(dāng)前最佳位置,tn表示粒子當(dāng)前位置,gn示全局最佳位置。考慮到制備工藝的最小特征尺寸,GP選取為150 nm。圖3 所示FoM 與迭代次數(shù)的變化關(guān)系。可見,Stage1、Stage2、Stage3和Stage4 的FoM 值分別在迭代次數(shù)為10、10、11 和11 時(shí)達(dá)到最大。表1 總結(jié)了優(yōu)化后的各階段錐形波導(dǎo)最佳節(jié)點(diǎn)寬度。

        圖3 FoM 隨迭代次數(shù)變化關(guān)系Fig. 3 FoM as a function of the number of iterations

        表1 優(yōu)化后各錐形波導(dǎo)的最優(yōu)節(jié)點(diǎn)寬度Table 1 Optimized widths of the tapered waveguide at each stage

        2 仿真結(jié)果與分析

        在完成器件的結(jié)構(gòu)參數(shù)優(yōu)化后,使用FDTD 進(jìn)行整體性能仿真。圖4 是TE0模式、TE1模式、TE2模式、TE3模式和TE4模式在多模彎曲波導(dǎo)中的仿真光路??梢钥闯?,該器件的功能可以很好地執(zhí)行,即當(dāng)TE 高階模式輸入時(shí),先由錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)換為TE 基模,隨后在彎曲波導(dǎo)內(nèi)傳輸,最后通過對(duì)稱的錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)再轉(zhuǎn)換為TE 高階模式后輸出,而TE 基模輸入時(shí),光模式不會(huì)發(fā)生耦合而直接進(jìn)入彎曲波導(dǎo)傳輸,并通過結(jié)構(gòu)對(duì)稱的輸出波導(dǎo)輸出。

        圖4 在1 550 nm 工作波長(zhǎng)處, TE0、TE1、TE2、TE3和TE4輸入模式在所設(shè)計(jì)多模彎曲波導(dǎo)中的仿真光路Fig. 4 Simulated light propagation in the designed multimode waveguide bend with input TE0、TE1、TE2、TE3 and TE4 modes at an operating wavelength of 1 550 nm

        圖5 是所設(shè)計(jì)的多模彎曲波導(dǎo)在1 500 nm 至1 600 nm 波長(zhǎng)范圍內(nèi)的傳輸譜線??芍?,在1 500 nm 至1 600 nm 的波長(zhǎng)范圍內(nèi),當(dāng)輸入TE0模式時(shí),器件的插入損耗(Insertion Loss,IL)低于0.087 dB,串?dāng)_(Crosstalk,CT)低于?20.72 dB;當(dāng)輸入TE1模式時(shí),器件的插入損耗低于0.27 dB,串?dāng)_低于?19.81 dB;當(dāng)輸入TE2模式時(shí),器件的插入損耗低于0.40 dB,串?dāng)_低于?19.60 dB;當(dāng)輸入TE3模式時(shí),器件的插入損耗低于0.78 dB,串?dāng)_低于?20.34 dB;當(dāng)輸入TE4模式時(shí),器件的插入損耗低于0.75 dB,串?dāng)_低于?19.03 dB。插入損耗和串?dāng)_的計(jì)算公式為

        圖5 所設(shè)計(jì)多模彎曲波導(dǎo)的仿真?zhèn)鬏斪V線Fig. 5 Simulated transmission spectra of the designed multimode waveguide bend

        式中,PTEk_Ιutput是在輸入端口處輸入TEk模式的功率值,PTEk_Οutput和PTEj_Οutput是在輸出端口處檢測(cè)到的TEk和TEj模式的對(duì)應(yīng)功率值。

        考慮到實(shí)際制備過程中工藝因素導(dǎo)致器件結(jié)構(gòu)偏差,造成所設(shè)計(jì)多模彎曲波導(dǎo)的性能有所變化,所以需對(duì)器件的工藝容差做進(jìn)一步分析與討論。圖6 表示在1 550 nm 波長(zhǎng)處,各輸入模式在多模彎曲波導(dǎo)內(nèi)傳輸效率與波導(dǎo)寬度偏差ΔW的變化關(guān)系。仿真結(jié)果表明,ΔW由?20 nm 變化到20 nm 的情況下,TE0、TE1、TE2、TE3以及TE4模式的傳輸效率分別保持在88.78%、94.67%、84.76%、93.38%、94.45%以上。由此可以得出,在波導(dǎo)寬度偏差ΔW為±20 nm 的范圍內(nèi),TE1、TE3和TE4模式的傳輸效率受ΔW影響較??;而TE0和TE2受ΔW影響較大,但總體仍在可接受的范圍內(nèi)。

        圖6 在1 550 nm 處,各輸入模式的傳輸效率隨容差ΔW 變化關(guān)系Fig. 6 Transmission efficiency of the designed multimode waveguide bend changing with ΔW at 1 550 nm

        圖7 表示1 550 nm 波長(zhǎng)處,各輸入模式在多模彎曲波導(dǎo)內(nèi)傳輸效率與波導(dǎo)高度偏差ΔH的變化關(guān)系。當(dāng)ΔH由?20 nm 變化到20 nm,TE0、TE1、TE2、TE3、TE4模式的傳輸效率分別保持在90.17%、93.52%、85.71%、91.59%、92.18%以上。通過分析比較,在容差ΔH為±20 nm 的范圍內(nèi),TE1、TE3和TE4模式的傳輸效率受ΔH影響較??;而TE0和TE2受ΔH影響較大。為了考慮波導(dǎo)寬度偏差ΔW和波導(dǎo)高度偏差ΔH同時(shí)作用時(shí)對(duì)器件性能的影響,將波導(dǎo)寬度容差ΔW設(shè)置為20 nm,將波導(dǎo)厚度容差ΔH設(shè)置為?20 nm,進(jìn)行仿真分析。結(jié)果表明,在1 550 nm 工作波長(zhǎng)處,TE0~TE4模式的傳輸效率分別為69.25%、70.23%、57.68%、68.66%、67.52%。由此可見,波導(dǎo)寬度偏差ΔW和波導(dǎo)高度偏差ΔH同時(shí)發(fā)生變化對(duì)于器件的性能影響較大。

        圖7 在1 550 nm 處,各輸入模式的傳輸效率隨容差ΔH 變化關(guān)系Fig. 7 Transmission efficiency of the designed multimode waveguide bend changing with ΔH at 1 550 nm

        3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果與分析

        所設(shè)計(jì)基于錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)的多模彎曲波導(dǎo)采用商用的兼容CMOS 工藝進(jìn)行制備[18]。圖8 是在高倍電子顯微鏡下拍攝的多模彎曲波導(dǎo)圖像,包括一個(gè)5×5 通道的多模彎曲波導(dǎo)和一對(duì)基于級(jí)聯(lián)錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)的模式復(fù)用器/解復(fù)用器。該器件在垂直耦合測(cè)試平臺(tái)上進(jìn)行測(cè)試,具體步驟為:1)將載物臺(tái)調(diào)整到合適位置,調(diào)整并固定光源,調(diào)整顯微鏡焦距;2)放置芯片,調(diào)整放大倍數(shù)使其在電腦上呈現(xiàn)清晰的像;3)將輸入光纖對(duì)接寬帶光源,并將輸出光纖連接功分器后再分別對(duì)接光功率計(jì)和光譜儀;4)移動(dòng)光纖位置使之對(duì)準(zhǔn)芯片上的輸入輸出耦合光柵;5)掃描然后記錄功率計(jì)和光譜儀的數(shù)據(jù)。圖9 是所制備的多模彎曲波導(dǎo)的光功率傳輸譜線。采用可調(diào)諧半導(dǎo)體激光器(SANTEC TSL-550)和多端口光功率計(jì)(SANTEC MPM-210)對(duì)器件性能進(jìn)行表征。當(dāng)光束從端口輸入時(shí),分別測(cè)量各個(gè)端口接收到的傳輸譜線,并通過一對(duì)基于級(jí)聯(lián)錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)的模式復(fù)用器/解復(fù)用器的透射光譜進(jìn)行歸一化。在1 520 nm 到1 600 nm 波長(zhǎng)范圍內(nèi),當(dāng)輸入TE0 模式時(shí),器件的插入損耗低于1.71 dB,串?dāng)_低于?10.60 dB;當(dāng)輸入TE1 模式時(shí),器件的插入損耗低于3.04 dB,串?dāng)_低于?11.35 dB;當(dāng)輸入TE2 模式時(shí),器件的插入損耗低于2.9 dB,串?dāng)_低于?10.92 dB;當(dāng)輸入TE3 模式時(shí),器件的插入損耗低于3.16 dB,串?dāng)_低于?10.35 dB;當(dāng)輸入TE4 模式時(shí),器件的插入損耗低于4.00 dB,串?dāng)_低于?11.45 dB。

        圖8 制作的多模彎曲波導(dǎo)顯微圖像Fig. 8 Microscopic image of the fabricated multimode waveguide bend

        圖9 制備的多模彎曲波導(dǎo)的傳輸譜線Fig. 9 Measured transmission spectra of the fabricated multimode waveguide bend

        通過仿真和實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)分析可以發(fā)現(xiàn)兩者結(jié)果有所不同。一方面,由于光源帶寬的限制,測(cè)試所得帶寬略小于仿真所得帶寬;另一方面,導(dǎo)致性能差距的因素主要來自于實(shí)際制備器件時(shí)的工藝誤差。波導(dǎo)內(nèi)壁非均勻的粗糙程度導(dǎo)致散射損耗,實(shí)際波導(dǎo)的寬度偏離最佳值,以及波導(dǎo)刻蝕厚度的變化導(dǎo)致模式之間的轉(zhuǎn)化和耦合能力下降,從而使實(shí)物測(cè)試的性能大打折扣。

        表2 描述的是所提出的多模彎曲波導(dǎo)和已報(bào)道的多模彎曲波導(dǎo)性能對(duì)比情況??梢园l(fā)現(xiàn),本文所提出的多模彎曲波導(dǎo)具有較大的工作帶寬和最多的模式承載數(shù)量,并且該器件還可通過級(jí)聯(lián)拓展繼續(xù)增加所承載的模式數(shù)量;有較小的有效半徑,可以更加緊湊地完成集成光路系統(tǒng)中的器件部署;但是受工藝制作水平的限制,實(shí)際測(cè)試的插入損耗和串?dāng)_偏大,可通過進(jìn)一步提升工藝制作水平來改善器件的插入損耗和串?dāng)_。

        表2 多模彎曲波導(dǎo)性能對(duì)比情況Table 2 A comparison of the presented multimode waveguide bend with other reported multimode waveguide bends

        4 結(jié)論

        本文提出、設(shè)計(jì)并分析了一種易級(jí)聯(lián)、可擴(kuò)展、基于錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)的多模彎曲波導(dǎo)結(jié)構(gòu)。通過利用等效折射率匹配原理,在錐形漸變耦合結(jié)構(gòu)區(qū)域,實(shí)現(xiàn)高階模式與基模的相互轉(zhuǎn)化,繼而完成多模彎曲傳輸功能。以同時(shí)支持TE0、TE1、TE2、TE3和TE4模式的多模彎曲波導(dǎo)為例,通過時(shí)域有限差分方法結(jié)合粒子群優(yōu)化算法優(yōu)化器件結(jié)構(gòu)參數(shù),減小器件的插入損耗和降低模間串?dāng)_。仿真結(jié)果表明,在1 500 nm 至1 600 nm波長(zhǎng)范圍內(nèi),當(dāng)輸入TE0、TE1、TE2、TE3和TE4模式時(shí),所設(shè)計(jì)多模彎曲波導(dǎo)的插入損耗均低于0.78 dB,串?dāng)_均小于?19.03 dB;測(cè)試結(jié)果顯示,在1 520 nm 到1 600 nm 的波長(zhǎng)范圍內(nèi),制備所得器件的插入損耗均低于4.00 dB,串?dāng)_均小于?10.35 dB。通過優(yōu)化制備工藝,可進(jìn)一步減少插入損耗并降低模間串?dāng)_。設(shè)計(jì)的多模彎曲波導(dǎo)是模分復(fù)用系統(tǒng)中的關(guān)鍵元件之一,有望集成其它元件,以應(yīng)用于片上光互連,提升傳輸容量。

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        模具制造(2019年3期)2019-06-06 02:10:54
        論《日出》的結(jié)構(gòu)
        創(chuàng)新治理結(jié)構(gòu)促進(jìn)中小企業(yè)持續(xù)成長(zhǎng)
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