遲雷,馬春利,桂明洋
(1.中國(guó)電子科技集團(tuán)公司 第十三研究所,石家莊 050051;2.國(guó)家半導(dǎo)體器件質(zhì)量檢驗(yàn)檢測(cè)中心,石家莊 050051;3.河北諾亞人力資源發(fā)展集團(tuán)有限公司金石分公司,石家莊 050000)
內(nèi)部水汽含量是密封電子元器件的一項(xiàng)重要可靠性指標(biāo),傳統(tǒng)的合格性判據(jù)一般為5 000 ppm,這個(gè)判據(jù)相對(duì)寬松。由于大氣中水汽含量較高,而任何產(chǎn)品的漏率都不可能完全為0,水汽含量會(huì)在產(chǎn)品貯存和工作過(guò)程中緩慢上升,進(jìn)而使某些敏感指標(biāo)發(fā)生偏離,降低這類產(chǎn)品的出廠水汽含量對(duì)提高其長(zhǎng)期可靠性的意義是顯而易見(jiàn)的。國(guó)外先進(jìn)產(chǎn)品的內(nèi)部水汽含量基本能保持在500 ppm以下[1],滿足該指標(biāo)也被視為確保器件不會(huì)因水汽失效的最穩(wěn)妥辦法[2]。隨著國(guó)內(nèi)電子元器件封裝工藝的不斷發(fā)展,許多廠家都不再滿足目前標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的指標(biāo),開(kāi)始革新工藝以進(jìn)一步降低產(chǎn)品的內(nèi)部水汽含量,部分領(lǐng)先產(chǎn)品的內(nèi)部水汽含量也已經(jīng)達(dá)到500 ppm以下的水平,如中電科24所[3,4]、遼陽(yáng)宏宇晶體有限公司[5]、中電科38所[6]、中電科47所[7]都先后報(bào)道過(guò)此類產(chǎn)品的封裝技術(shù),目前也將這類500 ppm以下內(nèi)部水汽含量的產(chǎn)品封裝稱為極低水汽封裝。
極低水汽封裝給水汽含量測(cè)試技術(shù)提出了新的挑戰(zhàn),傳統(tǒng)測(cè)試手段在應(yīng)用于極低水汽封裝時(shí)測(cè)試誤差較大,不能滿足驗(yàn)證新工藝新指標(biāo)的要求。小體積和低含量一直是內(nèi)部水汽含量測(cè)試的兩個(gè)主要技術(shù)難點(diǎn),中電科24所譚驍洪等先后研究了測(cè)試結(jié)果的影響因素(14)、小腔體試驗(yàn)夾具優(yōu)化(41)等內(nèi)容,比較全面地討論了提高精度所需要的試驗(yàn)條件和夾具設(shè)計(jì)原則,但未涉及測(cè)試精度的定量評(píng)估及量值溯源。本文綜合討論現(xiàn)有技術(shù),給出一種簡(jiǎn)便可行的量值溯源方案,以完善極低水汽含量測(cè)試的校準(zhǔn)。
雖然國(guó)軍標(biāo)中規(guī)定了三個(gè)不同的水汽含量測(cè)試程序,但出于精度和效率的實(shí)際情況,國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體檢測(cè)機(jī)構(gòu)的內(nèi)部水汽含量測(cè)試基本全部使用其程序1規(guī)定的質(zhì)譜分析法。其工作原理是利用破損裝置刺穿樣品,將器件內(nèi)部氣體抽入真空腔內(nèi),通過(guò)電極對(duì)氣體進(jìn)行離子化,利用離子在電磁場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)特性按質(zhì)荷比分開(kāi),形成質(zhì)譜,從而得到相關(guān)氣體的組成和體積百分含量,其中也包括水汽含量。
相關(guān)的商用測(cè)試儀器為內(nèi)部氣氛分析儀,其中的核心部分為質(zhì)譜儀,又分為四極質(zhì)譜儀和時(shí)間飛行質(zhì)譜儀,目前國(guó)內(nèi)僅有四極質(zhì)譜儀,時(shí)間飛行質(zhì)譜儀尚不掌握。本文基于四極質(zhì)譜儀開(kāi)展研究,研究?jī)?nèi)容主要為校準(zhǔn)和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù),可以向精度更高的時(shí)間飛行質(zhì)譜儀進(jìn)行推廣。
校準(zhǔn)使用的標(biāo)準(zhǔn)氣體為已知濃度的目標(biāo)氣體與氮?dú)獾幕旌蠚怏w,各種內(nèi)部氣氛大多采用預(yù)先制備的高壓混合氣體進(jìn)行校準(zhǔn),并可通過(guò)氣體含量計(jì)量溯源,這些高壓氣體壓強(qiáng)可達(dá)10個(gè)大氣壓以上,并在常溫下貯存和使用。內(nèi)部水汽含量與其他氣氛的校準(zhǔn)方式有很大不同,這與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的合格判據(jù)有關(guān),水汽含量的合格判據(jù)為5 000 ppm,常壓下該水汽含量即可在(-5~0)℃發(fā)生凝露,或在常溫和5個(gè)大氣壓下發(fā)生凝露,這使水汽不便于像氫氣、氧氣、甲烷等氣體一樣制備標(biāo)準(zhǔn)含量的高壓混合氣體,否則一旦發(fā)生凝露難以確定出口氣體的水汽含量。
水汽含量校準(zhǔn)使用的標(biāo)準(zhǔn)混合氣體一般采用內(nèi)部分析儀自帶的專用的水汽發(fā)生器實(shí)時(shí)制備,氣源為純氮?dú)?,利用蒸發(fā)器與水汽混合,再通過(guò)露點(diǎn)儀測(cè)定混合氣體的水汽含量。
按照現(xiàn)行國(guó)軍標(biāo)要求,現(xiàn)有質(zhì)譜分析法精度在水汽含量5 000 ppm水平下滿足±10 %,即±500 ppm,該絕對(duì)誤差值已經(jīng)與極低水汽封裝的水汽含量上限相當(dāng),現(xiàn)有設(shè)備主要為滿足該水平的測(cè)試需求設(shè)計(jì)。這在水汽校準(zhǔn)設(shè)備上的表現(xiàn)為,設(shè)備自帶水汽發(fā)生器制備氣體的水汽含量范圍無(wú)法覆蓋到5 000 ppm以下,同時(shí)制備的5 000 ppm水汽混合氣體的穩(wěn)定性也在幾百ppm的水平。即使露點(diǎn)儀的精度能滿足需求,因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)氣體的水汽含量高、穩(wěn)定性不足,也無(wú)法完成500 ppm水平的水汽含量校準(zhǔn)。
獲取極低水汽標(biāo)準(zhǔn)氣體是實(shí)施極低水汽含量校準(zhǔn)的關(guān)鍵,目前500 ppm水平的極低水汽標(biāo)準(zhǔn)氣體的制備主要有三個(gè)技術(shù)方案。
干濕混合法是對(duì)原水汽發(fā)生器實(shí)施改進(jìn),將水汽發(fā)生裝置由蒸發(fā)器改為水汽飽和器,提高水汽含量的控制精度,再通過(guò)濕路與干路的配合,將飽和濕蒸汽與高純氮?dú)饣旌?,降低水汽含量,需要分別采用溫度、壓力探頭和流量計(jì)檢測(cè)濕路、干路的溫度、壓強(qiáng)和流量,最終制備的氣體仍通過(guò)露點(diǎn)儀測(cè)試水汽含量。該方案將水汽含量降低到500 ppm以下,且提高了水汽含量的控制精度,理論上幾乎可以制備常用范圍內(nèi)任意濃度的水汽混合氣體,但實(shí)施成本較高,且裝置自身的誤差來(lái)源較多,要在低濃度下保證出口氣體的穩(wěn)定性,在設(shè)計(jì)加工方面有較高技術(shù)難度。
化學(xué)反應(yīng)法采用氫氧化學(xué)反應(yīng)制備水汽混合氣體。因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)含量的氫氣-氮?dú)饣蜓鯕?氮?dú)饣旌蠚怏w易于儲(chǔ)存和制備,并便于計(jì)量溯源,可以利用氫氣與氧氣在鉑催化劑作用下發(fā)生非可逆化學(xué)反應(yīng)的性質(zhì)制備水汽標(biāo)準(zhǔn)氣體。其中最主要的技術(shù)是將原有的單腔體校準(zhǔn)器改為可以分別容納氫氣和氧氣的雙腔體校準(zhǔn)器,并在其中一個(gè)腔體中置入鉑催化劑。因?yàn)榭諝庵泻醒鯕?,因此裝置中宜先通入氧氣再通入氫氣,為提高反應(yīng)速率,以其中一種混合氣體定標(biāo),并使另一種過(guò)量。該方案簡(jiǎn)單易實(shí)施,但分別需要?dú)錃鈽?biāo)準(zhǔn)氣體和氧氣標(biāo)準(zhǔn)氣體,校準(zhǔn)程序較為繁瑣。
配氣貯存法采用與其他氣氛類似的預(yù)先制備的高壓混合氣體的方式進(jìn)行。配氣方式可以采用各種靜態(tài)或動(dòng)態(tài)配氣法,其中最簡(jiǎn)單的如可以使用注射器配氣法,在高純氮?dú)庵谢烊胍欢康囊簯B(tài)水,水即氣化并與氮?dú)饣旌?,通過(guò)露點(diǎn)儀測(cè)試露點(diǎn)即可標(biāo)定出標(biāo)準(zhǔn)的水汽含量。該方式利用了水汽露點(diǎn)隨濃度變化的特性,因?yàn)橹苽涞幕旌蠚怏w要通過(guò)高壓氣罐貯存和使用,僅可制備極低水汽含量的混合氣體,而不能制備較高濃度的水汽混合氣體,如500 ppm的水汽混合氣體可在10個(gè)大氣壓下保持露點(diǎn)在0 ℃以下,從而能保證在常溫下使用中不會(huì)發(fā)生凝露。
在以上方法中,以配氣貯存法最為簡(jiǎn)便可靠,本文采用配氣貯存法實(shí)施500 ppm水平的水汽含量校準(zhǔn)。
獲取極低水汽標(biāo)準(zhǔn)氣體后,標(biāo)準(zhǔn)化的校準(zhǔn)流程是否適用于極低水汽含量的校準(zhǔn)仍需要進(jìn)行驗(yàn)證,部分測(cè)試條件也需要進(jìn)一步規(guī)范以適應(yīng)極低水汽封裝測(cè)試的高精度需求,需開(kāi)展實(shí)際校準(zhǔn)和測(cè)試,分析結(jié)果。
水汽含量校準(zhǔn)測(cè)試過(guò)程中需要控制的條件主要有校準(zhǔn)器溫度、背景壓強(qiáng)、標(biāo)準(zhǔn)氣體出口流速。這些條件在所有校準(zhǔn)和測(cè)試過(guò)程中都保持盡可能穩(wěn)定以降低誤差。
使用的水汽標(biāo)準(zhǔn)氣體濃度為514 ppm(±2 %),校準(zhǔn)過(guò)程共進(jìn)行了10次,預(yù)先置入一個(gè)基于經(jīng)驗(yàn)的校準(zhǔn)修正量,校準(zhǔn)結(jié)果如表1所示。
表1 500 ppm水汽含量校準(zhǔn)結(jié)果(單位:ppm)
傳統(tǒng)上水汽含量校準(zhǔn)選擇3次連續(xù)測(cè)試結(jié)果,取其平均值與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行倍率修正,根據(jù)以上結(jié)果分析極低水汽測(cè)試是否需要更多校準(zhǔn)次數(shù)?,F(xiàn)分別將每2次、3次、4次、5次連續(xù)校準(zhǔn)結(jié)果取平均值,統(tǒng)計(jì)其平均值的方差和極差
如表2所示,多次測(cè)量取平均值的方式確實(shí)可以有效降低校準(zhǔn)偏差,使校準(zhǔn)結(jié)果趨于集中。隨著校準(zhǔn)次數(shù)增加,標(biāo)準(zhǔn)差和極差都呈下降趨勢(shì),2次校準(zhǔn)以上取平均值的結(jié)果標(biāo)準(zhǔn)差都在10 ppm以下,但受偶然因素影響,并不嚴(yán)格單調(diào)遞減。從目前的結(jié)果看,實(shí)際校準(zhǔn)中采用3次校準(zhǔn)即可,與5 000 ppm水平的校準(zhǔn)原則無(wú)明顯差別。按照上述結(jié)果估計(jì),并考慮標(biāo)準(zhǔn)氣體本身的精度,目前上述方案在500 ppm水平下的校準(zhǔn)精度已能達(dá)到±20 ppm左右。
表2 不同校準(zhǔn)次數(shù)結(jié)果統(tǒng)計(jì)(單位:ppm)
圖1 一種化學(xué)反應(yīng)法制備水汽標(biāo)氣的裝置原理圖
選用典型的極低水汽封裝產(chǎn)品10只,高溫貯存16小時(shí)后測(cè)試,重新進(jìn)行3次校準(zhǔn)后根據(jù)校準(zhǔn)結(jié)果代入新的修正系數(shù),再額外使用校準(zhǔn)器執(zhí)行測(cè)試程序驗(yàn)證1次,本次校準(zhǔn)結(jié)果非常穩(wěn)定,在此基礎(chǔ)上進(jìn)行實(shí)際樣品的測(cè)試,校準(zhǔn)結(jié)果與測(cè)試結(jié)果如表3所示。
表3 極低水汽封裝校準(zhǔn)與測(cè)試結(jié)果(單位:ppm)
測(cè)得的產(chǎn)品指標(biāo)分布在(103~317)ppm范圍內(nèi),均低于500 ppm的水汽含量設(shè)計(jì)指標(biāo),由此結(jié)果可知,本文校準(zhǔn)和測(cè)試程序可以完成500 ppm以下極低水汽封裝產(chǎn)品的指標(biāo)驗(yàn)證。
本文總結(jié)了現(xiàn)有的基于質(zhì)譜分析法的水汽含量校準(zhǔn)和測(cè)試方法,分析了應(yīng)用于極低水汽測(cè)試時(shí)的局限性。介紹了目前主流的三種500 ppm極低水汽標(biāo)準(zhǔn)氣體的制備方法,包括干濕混合法、化學(xué)反應(yīng)法和配氣貯存法,比較了其優(yōu)劣勢(shì)。采用配氣貯存法提供500 ppm水汽標(biāo)準(zhǔn)氣體校準(zhǔn)內(nèi)部氣氛分析儀,比較了2~5次不同校準(zhǔn)次數(shù)對(duì)校準(zhǔn)結(jié)果離散性的影響。結(jié)果表明原水汽含量5 000 ppm水平下,3次校準(zhǔn)取平均值的方式仍然適用于500 ppm極低水汽,最終選取典型產(chǎn)品進(jìn)行實(shí)樣測(cè)試,得到的水汽含量為(103~317)ppm,滿足低于500 ppm水汽含量的產(chǎn)品測(cè)試需求。