尚小姣 賈耀麗

1.葉縣人民醫(yī)院NICU (河南 平頂山 467200)

2.平頂山市第一人民醫(yī)院新生兒重癥監(jiān)護(hù)病房 (河南 平頂山 467200)

新生兒低血糖是臨床常見的代謝性疾病，具有發(fā)病率高、病因多等特點(diǎn)，患兒體內(nèi)葡萄糖生成和消耗失衡，導(dǎo)致腦組織能量缺乏，易并發(fā)腦損傷[1]。低血糖腦損傷的風(fēng)險(xiǎn)因素較多，開展深入分析和探討，有利于防治工作順利進(jìn)行。由于該病的癥狀表現(xiàn)不明顯，臨床上多采用影像學(xué)檢查的方式對(duì)患兒進(jìn)行診斷，磁共振成像(MRI)具有較高的軟組織分辨率，且無輻射危害，能夠反映患兒腦損傷情況，分析相關(guān)影像學(xué)特征，可幫助醫(yī)生更準(zhǔn)確地診斷疾病[2-3]。本研究通過對(duì)154例低血糖新生兒進(jìn)行回顧性分析，旨在探討新生兒低血糖導(dǎo)致的腦損傷的風(fēng)險(xiǎn)因素及影像學(xué)特征，詳情如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料回顧性分析2020年8月至2021年7月我院收治的154例低血糖新生兒的臨床資料，均符合《美國新生兒低血糖管理指南》[4]中的診斷標(biāo)準(zhǔn)，其中男性83例，女性71例，胎齡32～41個(gè)月，平均胎齡(37.52±2.37)個(gè)月，分娩方式：順產(chǎn)131例，剖宮產(chǎn)23例。

1.2 研究方法

1.2.1MRI檢查 使用飛利浦1.5T磁共振掃描儀對(duì)患兒進(jìn)行檢查，設(shè)置參數(shù)為：層間隔2.0mm，厚度4.0mm，矩陣256×192～512×512，視野220×220cm，磁共振擴(kuò)散加權(quán)成像(DWI)、經(jīng)T1加權(quán)像(T1WI)、矢狀面T2加權(quán)像(T2WI)任一異常則視為腦損傷。

1.2.2 資料收集 收集患兒性別、胎齡、分娩方式、有無圍產(chǎn)期缺氧、有無喂養(yǎng)困難、有無驚厥、有無腦電圖(EEG)異常、母親是否合并妊娠糖尿病、低血糖持續(xù)時(shí)間等。

1.2.3 血清指標(biāo)檢查 抽取患兒晨起空腹靜脈血3mL，離心半徑10cm，離心速度3000r/min，離心時(shí)間10min，分離血清，使用酶聯(lián)免疫吸附法檢測腦紅蛋白(NGB)、神經(jīng)元特異性烯醇化酶(NSE)水平。

1.3 統(tǒng)計(jì)學(xué)方法采用SPSS 25.0統(tǒng)計(jì)學(xué)軟件，計(jì)量資料用(±s)描述，組間比較行t檢驗(yàn)，計(jì)數(shù)資料用[n(%)]描述，組間比較行χ2檢驗(yàn)，影響因素采用單因素與Logistic多因素回歸分析，P＜0.05說明差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。

2 結(jié) 果

2.1 新生兒低血糖導(dǎo)致的腦損傷的單因素分析154例低血糖新生兒中，共27例發(fā)生腦損傷，發(fā)病率為17.53%。兩組性別、分娩方式比較差異無統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P＞0.05)；與未發(fā)生組比較，發(fā)生組早產(chǎn)、圍產(chǎn)期缺氧、喂養(yǎng)困難、驚厥、EEG異常、母親合并妊娠糖尿病、低血糖持續(xù)時(shí)間＞24h、NGB水平≥150mg/L、NSE水平≥50μg/L的患兒占比均更高(P＜0.05)，見表1。

表1 新生兒低血糖導(dǎo)致的腦損傷的單因素分析

2.2 新生兒低血糖導(dǎo)致的腦損傷的Logistic多因素回歸分析以單因素分析存在統(tǒng)計(jì)學(xué)差異的因素作為自變量，以低血糖腦損傷作為因變量，分別進(jìn)行賦值，見表2。建立Logistic多因素回歸模型，發(fā)現(xiàn)胎齡(OR=1.902)、圍產(chǎn)期缺氧(OR=1.781)、喂養(yǎng)困難(OR=2.395)、驚厥(OR=12.366)、EEG異常(OR=15.251)、母親合并妊娠糖尿病(OR=8.793)、低血糖持續(xù)時(shí)間(OR=8.156)、NGB水平(OR=2.935)、NSE水平(OR=2.411)是影響低血糖腦損傷發(fā)生的獨(dú)立危險(xiǎn)因素(P＜0.05)，見表3。

表2 變量賦值表

表3 新生兒低血糖導(dǎo)致的腦損傷的Logistic多因素回歸分析

2.3 新生兒低血糖導(dǎo)致的腦損傷的影像學(xué)特征分析27例低血糖腦損傷患兒均存在頂枕部頭皮層受累，DWI均表現(xiàn)為高信號(hào)，其中14例(51.85%)患兒T1WI、T2WI均正常信號(hào)，2例(7.41%)T1WI正常信號(hào)、T2WI高信號(hào)，2例(7.41%)T1WI低信號(hào)、T2WI正常信號(hào)，9例(33.33%)。T1WI低信號(hào)、T2WI高信號(hào)。

3 討 論

新生兒低血糖腦損傷作為一種由低血糖引起的并發(fā)癥，不僅會(huì)影響中樞神經(jīng)發(fā)育，還可能造成嚴(yán)重的神經(jīng)系統(tǒng)后遺癥，對(duì)患兒未來的生活、學(xué)習(xí)造成不利影響[5-6]。隨著影像學(xué)技術(shù)的發(fā)展，MRI、EEG等方法逐漸被應(yīng)用到低血糖腦損傷診斷中，早期診斷有助于醫(yī)生盡早開展治療，預(yù)防后遺癥的出現(xiàn)[7]。

通過Logistic多因素回歸分析結(jié)果發(fā)現(xiàn)，影響低血糖腦損傷發(fā)病率的獨(dú)立危險(xiǎn)因素較多，主要包括：(1)胎齡(OR=1.902)：早產(chǎn)兒在子宮內(nèi)的發(fā)育時(shí)間更短，體內(nèi)肝糖原儲(chǔ)備較少，且早產(chǎn)兒的糖原形成和分解能力差、生活能力不足，更易發(fā)生低血糖腦損傷[8]。(2)圍產(chǎn)期缺氧(OR=1.781)：圍產(chǎn)期缺氧會(huì)導(dǎo)致葡萄糖無氧酵解，無法被身體組織正常吸收，同時(shí)全身組織受到缺氧影響，能量消耗增加，使得低血糖腦損傷風(fēng)險(xiǎn)升高[9]。(3)喂養(yǎng)困難(OR=2.395)：存在喂養(yǎng)困難的新生兒飲食量不足，無法從食物中攝取足夠能量，更易發(fā)生低血糖腦損傷。(4)驚厥(OR=12.366)：若新生兒發(fā)生驚厥，可導(dǎo)致肌肉陣攣，增加對(duì)葡萄糖的消耗，且驚厥會(huì)影響腦組織正常代謝，繼而誘發(fā)或加重低血糖腦損傷。(5)EEG異常(OR=15.251)：EEG能夠客觀反映神經(jīng)細(xì)胞功能狀態(tài)，EEG異常則提示神經(jīng)細(xì)胞受損，需要考慮患兒是否存在低血糖腦損傷[10]。(6)母親合并妊娠糖尿病(OR=8.793)：母親合并妊娠糖尿病會(huì)導(dǎo)致新生兒體內(nèi)胰島素水平偏高，難以維持正常血糖水平，母體高血糖可造成胎兒慢性缺氧和能源儲(chǔ)備不足，加之新生兒出生后母體葡萄糖供應(yīng)中斷，使得低血糖腦損傷的發(fā)生風(fēng)險(xiǎn)進(jìn)一步升高[11-12]。(7)低血糖持續(xù)時(shí)間(OR=8.156)：低血糖會(huì)導(dǎo)致新生兒腦細(xì)胞對(duì)能量的攝取減少，無法維持正常生理活動(dòng)，進(jìn)而誘發(fā)腦損傷，低血糖維持的時(shí)間越長，新生兒發(fā)生腦損傷的風(fēng)險(xiǎn)越大[13]。(8)NGB水平(OR=2.935)：NGB主要存在于腦組織內(nèi)，當(dāng)新生兒腦組織受損后，細(xì)胞膜穩(wěn)定性下降，NGB大量進(jìn)入血液循環(huán)，導(dǎo)致血清NGB水平升高，因此，若新生兒NGB水平異常，需要考慮低血糖腦損傷[14]。(9)NSE水平(OR=2.411)：NSE主要存在于腦神經(jīng)元、神經(jīng)內(nèi)分泌細(xì)胞中，腦損傷可導(dǎo)致NSE釋放入血，進(jìn)而出現(xiàn)水平升高，可將其作為低血糖腦損傷的風(fēng)險(xiǎn)因素之一[15]。

本研究結(jié)果中，27例低血糖腦損傷患兒均存在頂枕部頭皮層受累，DWI均表現(xiàn)為高信號(hào)，其中14例患兒T1WI、T2WI均正常信號(hào)(51.85%)，2例T1WI正常信號(hào)、T2WI高信號(hào)(7.41%)，2例T1WI低信號(hào)、T2WI正常信號(hào)(7.41%)，9例T1WI低信號(hào)、T2WI高信號(hào)(33.33%)。究其原因，低血糖腦損傷患兒腦組織能量供應(yīng)不足，腦細(xì)胞出現(xiàn)損傷、水腫，腦組織水分子運(yùn)動(dòng)隨即發(fā)生變化，導(dǎo)致MRI信號(hào)表現(xiàn)異常，而頂枕部頭皮層的神經(jīng)元和突觸較多，對(duì)葡萄糖需求更大，因而此處的信號(hào)異常最為明顯[16-17]。

綜上所述，胎齡、圍產(chǎn)期缺氧、喂養(yǎng)困難、驚厥、EEG異常、母親合并妊娠糖尿病、低血糖持續(xù)時(shí)間、NGB、NSE水平等均與新生兒低血糖導(dǎo)致的腦損傷存在密切關(guān)系，其主要影像學(xué)特征為頂枕部頭皮層DWI和T1WI、T2WI信號(hào)異常，臨床需要及時(shí)采取針對(duì)性措施，以減少新生兒腦損傷的發(fā)生。