師海玲 陳紅敏 賈 靜

河南省兒童醫(yī)院 鄭州兒童醫(yī)院 鄭州大學(xué)附屬兒童醫(yī)院 鄭州市兒童感染與免疫重點實驗室，河南省鄭州市 450018

小兒高熱驚厥(Febrile Seizure，F(xiàn)S)是目前臨床中常見小兒驚厥性疾病[1]，有研究結(jié)果顯示，F(xiàn)S的臨床中持續(xù)時間低于10～15min時，潛在的癲癇發(fā)作及智能損害與FS無明顯關(guān)系[2]。但也有學(xué)者指出，臨床中FS持續(xù)時間低于10～15min患兒仍可能發(fā)展為反復(fù)發(fā)作或癲癇，甚至可能導(dǎo)致患兒出現(xiàn)性格異常、智能低下等后遺癥[3]。臨床中若患兒出現(xiàn)熱性驚厥后不及時進行干預(yù)和治療，則可能導(dǎo)致患兒病情惡化出現(xiàn)癲癇[4-5]。腦電圖(Electroencephalogram，EEG)是臨床中常見的FS發(fā)作后常規(guī)檢查項目，得到兒科臨床醫(yī)師的共識[6]。雖然美國FS臨床工作指南中不建議使用EEG對單純性FS患兒進行常規(guī)檢查，但也有學(xué)者認為FS患兒出現(xiàn)癲癇后會出現(xiàn)腦部額葉區(qū)EEG異常等[7]。因此熱性驚厥后患兒EEG檢查分析探討EEG異常的熱性驚厥與癲癇發(fā)生的關(guān)系具有十分重要的意義[8]。因而本研究以我院收治的高熱驚厥患兒作為研究對象，探討高熱驚厥患兒額顳葉區(qū)腦電圖特點與癲癇的發(fā)生及神經(jīng)發(fā)育不良的關(guān)系。

1 資料與方法

1.1 一般資料 經(jīng)我院倫理委員會審議并批準，將我院2017年1月—2019年12月間收治的100例符合入組標準的FS患兒作為研究對象，將所有患兒分為EEG正常組(n=63)和EEG異常組(n=37)。選擇標準：(1)符合熱性驚厥相關(guān)的診斷標準[9]；(2)所有患兒均采取EEG掃描檢查；(3)確診高熱驚厥；(4)符合驚厥判定標準[10]；(5)患兒家屬知情并簽署知情同意書。排除標準：(1)存系統(tǒng)性代謝性紊亂的患兒；(2)合并中樞系統(tǒng)感染患兒；(3)合并嚴重肝腎功能障礙患兒；(4)合并有電解質(zhì)紊亂患兒；(5)臨床資料缺失或主動申請退出本研究。

1.2 方法 所有患者均在入組后住院期間FS后1周內(nèi)采用腦電圖儀對患者進行EEG檢查1次，16導(dǎo)鍍銀盤狀電極依照10-20國際系統(tǒng)進行安放和記錄，參考電極為雙側(cè)耳電極，電極使用火棉膠或電極膏涂抹并固定，對受試者睡眠狀態(tài)及事件進行詳細標記和記錄，采用多種導(dǎo)聯(lián)方式對數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換和分析。檢查時間至少為1個完整睡眠周期，時間4～6h，所有操作和分析均由兒科EEG醫(yī)師獨立完成。EEG異常的特征分類主要包括背景活動異常(兩半球間不對稱、低電壓、電靜息、中央?yún)^(qū)正相尖波、暴發(fā)—抑制、彌漫性δ波等)、陣發(fā)性異常(多灶性發(fā)作期圖形、局灶性發(fā)作期圖形、低電壓背景低頻放電、單一節(jié)律發(fā)放)、睡眠結(jié)構(gòu)異常(睡眠結(jié)構(gòu)改變、睡眠周期異常、成熟性異常、腦電活動成熟延遲)。對患兒進行為期1年的隨訪，詳細記錄癲癇發(fā)作情況，并在隨訪1年時行CT掃描檢查，依照三腦室寬度、哈氏值、側(cè)腦室體部指數(shù)、腦室指數(shù)、前角指數(shù)、側(cè)腦室寬度指數(shù)等參數(shù)，參照《中國修訂韋氏兒童智力量表手冊》[11]認知功能評定標準對患兒的神經(jīng)發(fā)育功能進行評估。

2 結(jié)果

2.1 EEG正常組和EEG異常組臨床資料比較 EEG正常組和EEG異常組兩組患兒性別、熱性驚厥持續(xù)時間、熱性驚厥再發(fā)次數(shù)、熱性驚厥再發(fā)、驚厥類型、熱性驚厥家族病史、發(fā)病年齡、癲癇家族病史例等臨床資料無明顯差異(P>0.05)，兩組受試者臨床資料具有可比性。見表1。

2.2 癲癇患兒EEG異常發(fā)生情況調(diào)查結(jié)果 癲癇組FS患兒EEG異常發(fā)生率明顯高于無癲癇組，差異有統(tǒng)計學(xué)意義(P<0.05)，見表2。

表2 癲癇患兒EEG異常發(fā)生情況調(diào)查結(jié)果

2.3 神經(jīng)發(fā)育不良EEG異常發(fā)生情況調(diào)查結(jié)果 神經(jīng)發(fā)育不良組 EEG異常發(fā)生率明顯高于神經(jīng)發(fā)育正常組，差異有統(tǒng)計學(xué)意義(P<0.05)，見表3。

表3 神經(jīng)發(fā)育不良EEG異常發(fā)生情況調(diào)查結(jié)果

2.4 EEG異常與FS患兒癲癇和神經(jīng)發(fā)育不良關(guān)系 EEG異常與FS患兒癲癇和神經(jīng)發(fā)育不良均存顯著正相關(guān)關(guān)系(r=0.732、0.691，P=0.031、0.023<0.05)。

2.5 EEG異常影響癲癇的發(fā)生及神經(jīng)發(fā)育不良的作用 EEG異常是影響FS患兒癲癇和神經(jīng)發(fā)育不良發(fā)生的獨立性威脅因素(P<0.05)，見表4。

表4 EEG異常影響癲癇的發(fā)生及神經(jīng)發(fā)育不良的作用

3 討論

FS是目前臨床中較為常見的小兒時期驚厥性疾病，其臨床研究發(fā)現(xiàn)FS患兒極可能導(dǎo)致出現(xiàn)無熱驚厥或癲癇[12]。FS屬于常見的小兒驚厥類型之一，多數(shù)FS患兒均具較好預(yù)后，一般情況下FS主要出現(xiàn)在上呼吸道感染或其他類型感染性疾病初期，且FS臨床發(fā)病機制尚未揭示[13]。目前相關(guān)研究顯示，感染、遺傳、發(fā)熱、年齡因素均是導(dǎo)致FS發(fā)生和發(fā)展的重要因素[14]。FS患兒主要臨床表現(xiàn)為突發(fā)全身性或局限性肌群強直性或陣攣性抽搐，患者常伴隨出現(xiàn)意識障礙，但一般情況下發(fā)作時間較短，且發(fā)病前可能伴隨出現(xiàn)咳痰、發(fā)熱、咳嗽等呼吸道癥狀或急性感染癥狀[15]。

臨床上FS患兒發(fā)作后常采用血生化、腦電圖等檢查方案分析，并盡可能排除導(dǎo)致驚厥發(fā)生的疾病，其中EEG是最為常見也十分準確的診斷癲癇的方法，并對指導(dǎo)臨床中抗癲癇藥的應(yīng)用具有明確的指導(dǎo)意義[16]。有研究指出，F(xiàn)S可能導(dǎo)致長期增強腦內(nèi)海馬神經(jīng)元興奮性，導(dǎo)致海馬硬化、損傷、萎縮導(dǎo)致患者出現(xiàn)癲癇[17]。研究資料顯示，F(xiàn)S患兒發(fā)作后EEG異常率波動性大，且目前臨床中并未將EEG作為單純性FS發(fā)作后常規(guī)檢查方法[18]。雖然目前臨床中EEG異常與癲癇出現(xiàn)的相關(guān)性存較大爭議，但EEG異常與患兒長期預(yù)后質(zhì)量的關(guān)系也未見報道。研究表明，癲癇樣放電和局灶性慢波均是FS患兒出現(xiàn)癲癇的主要威脅因素，其中額葉區(qū)EEG異常是患兒臨床長期預(yù)后出現(xiàn)不良事件的重要威脅因素之一[19]。

本組研究結(jié)果顯示，癲癇組FS患兒EEG異常發(fā)生率明顯高于無癲癇組，神經(jīng)發(fā)育不良組FS患兒EEG異常發(fā)生率明顯高于神經(jīng)發(fā)育正常組。進一步分析FS患兒EEG異常與癲癇和神經(jīng)發(fā)育不良的關(guān)系發(fā)現(xiàn)，EEG異常與FS患兒癲癇和神經(jīng)發(fā)育不良均存顯著正相關(guān)關(guān)系，且多因素分析發(fā)現(xiàn)，EEG異常是影響FS患兒癲癇和神經(jīng)發(fā)育不良發(fā)生的獨立性威脅因素。額顳葉區(qū)EEG異常多提示FS患兒出現(xiàn)腦損傷，且可能伴隨出現(xiàn)急性海馬損傷，導(dǎo)致海馬萎縮，進而引起癲癇發(fā)作或神經(jīng)發(fā)育不良。此外，動物實驗研究結(jié)果表明，EEG異常的FS大鼠模型其腦內(nèi)神經(jīng)元減少情況并不明顯，但海馬區(qū)神經(jīng)元超微結(jié)構(gòu)細胞皺縮，嗜銀深染且電子密度增高，因而可能出現(xiàn)急性神經(jīng)元損傷，導(dǎo)致長期增強海馬神經(jīng)元興奮性，進而誘發(fā)癲癇發(fā)作和神經(jīng)發(fā)育不良。

綜上所述，高熱驚厥患兒額顳葉區(qū)腦電圖異常與癲癇和神經(jīng)發(fā)育不良均存顯著正相關(guān)關(guān)系，且是影響FS患兒癲癇和神經(jīng)發(fā)育不良發(fā)生的獨立性威脅因素。但本研究隨訪周期較短，且未對患兒出現(xiàn)癲癇及神經(jīng)發(fā)育不良的深入機制進行系統(tǒng)性探討，有待后續(xù)深入追蹤和分析。