丁龍飛，曾水玲

(吉首大學(xué) 信息科學(xué)與工程學(xué)院，湖南 吉首 416000)

0 引 言

電機(jī)磁瓦又稱為永磁鐵氧體磁瓦(簡稱磁瓦)，是汽車、家電行業(yè)廣泛應(yīng)用的電動(dòng)機(jī)的重要組成部分。電機(jī)磁瓦生產(chǎn)過程中因工藝制作技術(shù)和碰撞的影響不可避免會(huì)產(chǎn)生磁瓦缺陷，因此對(duì)磁瓦質(zhì)量的檢測(cè)成為工業(yè)檢測(cè)中的必需流程。近年來基于數(shù)字圖像處理的視覺檢測(cè)方法因其速度快、準(zhǔn)度高、成本低等優(yōu)勢(shì)，逐漸成為缺陷檢測(cè)的主要檢測(cè)方法，并廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)的各個(gè)領(lǐng)域[1-5]。從深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(Convolutional Neural Networks，CNNS)提出后，積極促進(jìn)了計(jì)算機(jī)視覺方向的發(fā)展，讓缺陷檢測(cè)的方式有了新的可能。國內(nèi)外對(duì)基于深度學(xué)習(xí)[6]的缺陷提取技術(shù)進(jìn)行了不同程度的研究。ImageNet競(jìng)賽中，許多優(yōu)秀的網(wǎng)絡(luò)模型已經(jīng)被發(fā)現(xiàn)和突破，自AlexNet[7]的提出，網(wǎng)絡(luò)不斷加深，為獲得更多的特征表現(xiàn)，VGGNet[8]表明了在堆疊形狀相同的卷積塊，通過增加網(wǎng)絡(luò)深度來獲得更多的特征細(xì)節(jié)，對(duì)目標(biāo)檢測(cè)識(shí)別和實(shí)例分割會(huì)產(chǎn)生相對(duì)較好的效果。ResNet[9]將相同的殘差塊疊加起來，以構(gòu)建極深的網(wǎng)絡(luò)體系結(jié)構(gòu)，極大提高了CNNs性能。GoogLeNet[10]的提出表明除了深度外，影響網(wǎng)絡(luò)模型性能的另一個(gè)關(guān)鍵因素是寬度，在CIFAR數(shù)據(jù)集測(cè)試中，寬度甚至可以擁有超過1001層的極深的ResNet網(wǎng)絡(luò)，在網(wǎng)絡(luò)寬度上進(jìn)行改變使網(wǎng)絡(luò)性能確實(shí)得到一定的提升。其中較為典型的網(wǎng)絡(luò)為VGG19[8]、ResNet34、ResNet50、ResNet101等不同寬度的網(wǎng)絡(luò)。而VGG、Inception[11]系列和ResNet系列這三個(gè)網(wǎng)絡(luò)模型在眾多神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中脫穎而出，并在不同的任務(wù)領(lǐng)域都有著優(yōu)異的表現(xiàn)。對(duì)這三個(gè)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行篩選時(shí)，可以看出VGG模型網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)簡單，因此層次較淺，同樣對(duì)于Inception系列模型網(wǎng)絡(luò)來說，又顯得相對(duì)復(fù)雜，而ResNet系列模型相對(duì)于Inception網(wǎng)絡(luò)來說結(jié)構(gòu)簡單，且當(dāng)殘差結(jié)構(gòu)的引入，能夠使得在網(wǎng)絡(luò)深度較大時(shí)不容易產(chǎn)生梯度爆炸和梯度消失等現(xiàn)象，ResNet網(wǎng)絡(luò)模型性能強(qiáng)大，在許多圖像特征提取過程中有著出色的表現(xiàn)，因此也被多次作為眾多神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型的骨干網(wǎng)絡(luò)，更有研究意義。由于在對(duì)缺陷檢測(cè)中對(duì)缺陷圖像進(jìn)行圖像分類時(shí)也要考慮到模型的速度以及精度，該文研究使用ResNe系列網(wǎng)絡(luò)模型中的最流行的ResNet50網(wǎng)絡(luò)模型。

磁瓦缺陷目前的一些算法[12]都是基于Mask-RCNN[13]的2-step模型，通過選取檢測(cè)候選框后再識(shí)別，這樣兩階段訓(xùn)練時(shí)間長，識(shí)別時(shí)間慢，不適合在實(shí)際生產(chǎn)中應(yīng)用。從實(shí)際看電機(jī)磁瓦缺陷檢測(cè)最主要是為了篩選殘次品，以及區(qū)分殘次品的類型，因此端到端模型更適合磁瓦缺陷檢測(cè)任務(wù)。

為防止ResNet50網(wǎng)絡(luò)模型在訓(xùn)練時(shí)產(chǎn)生過擬合現(xiàn)象，在網(wǎng)絡(luò)模型的最后一個(gè)卷積層加入Dropout[14]層，通過網(wǎng)格搜索方法尋找最優(yōu)的超參數(shù)組合確定失活率(Dropout Rate)以及隱藏層新增的神經(jīng)元個(gè)數(shù)。為了使網(wǎng)絡(luò)能夠自動(dòng)學(xué)習(xí)需要注意的每個(gè)特征通道和空間的重要程度，引入注意力模塊(Convolution Block Attention Module，CBAM)[15]，將CBAM模塊加進(jìn)ResNet50網(wǎng)絡(luò)中，對(duì)每個(gè)塊中的卷積輸出引入CBAM模塊。實(shí)現(xiàn)了對(duì)無關(guān)特征的弱化，強(qiáng)調(diào)重要特征，提高了對(duì)磁瓦缺陷分類的準(zhǔn)確率，減少了缺陷檢測(cè)分類的漏檢率和誤檢率。

主要貢獻(xiàn)如下：

(1)提出一個(gè)端到端的目標(biāo)檢測(cè)模型來代替目前常見的兩階段目標(biāo)檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)，簡化檢測(cè)流程。

(2)在ResNet50網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)中引入CBAM模塊，突出重要特征提高對(duì)磁瓦檢測(cè)的準(zhǔn)確性。

(3)引入網(wǎng)格搜索方法來尋找最合適網(wǎng)絡(luò)模型的超參數(shù)，提升系統(tǒng)的性能。

1 殘差神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型ResNet50

殘差網(wǎng)絡(luò)ResNet系列結(jié)構(gòu)是目前深度學(xué)習(xí)中最為典型的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)。所有的殘差網(wǎng)絡(luò)都由殘差塊組成，殘差塊有兩條路徑分支，一種是連接常規(guī)卷積塊路徑，另一種為skip connection捷徑連接路徑，根據(jù)網(wǎng)絡(luò)的捷徑連接路線是否進(jìn)行卷積運(yùn)算分為兩種不同的殘差塊結(jié)構(gòu)，如圖1所示。

圖1 殘差塊網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)

通過圖1的恒等殘差塊(Identity Block)以及卷積殘差塊(Conv Block)，堆疊組成了ResNet50的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)中第二階段到第五階段的卷積層。ResNet50等殘差網(wǎng)絡(luò)模型的第一個(gè)階段都是首先將112×112的圖像進(jìn)行一次7×7的卷積以及一次步長為2的3×3的最大池化下采樣操作，使圖像從112×112變?yōu)?6×56，第二個(gè)階段到第五個(gè)階段，每個(gè)卷積階段分別對(duì)應(yīng)L=[3,4,6,3]個(gè)“1×Conv Block+(L-1)×Identity Block ”的殘差塊組合[16]。除此之外整體網(wǎng)絡(luò)的最后一層為一個(gè)全連接層，因此得到整體網(wǎng)絡(luò)的層數(shù)為：

1+(3+4+6+3)×3+1=50，因此得名ResNet50。ResNet50網(wǎng)絡(luò)模型如圖2所示。

圖2 ResNet50的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)

2 改進(jìn)的ResNet50網(wǎng)絡(luò)模型

2.1 基于ResNet50的結(jié)構(gòu)改進(jìn)

在ResNet50模型結(jié)構(gòu)中，參數(shù)的微調(diào)對(duì)訓(xùn)練結(jié)果影響較大。電機(jī)磁瓦缺陷檢測(cè)分類任務(wù)不同于一般的圖像處理分類任務(wù)，在磁瓦缺陷檢測(cè)分類中，檢測(cè)場(chǎng)景較為單一，雖然缺陷類型多但是各類別的缺陷易被識(shí)別，在分類任務(wù)訓(xùn)練中容易對(duì)局部特征產(chǎn)生依賴，導(dǎo)致過擬合現(xiàn)象發(fā)生。為防止此現(xiàn)象發(fā)生，引入隨機(jī)失活(Dropout)網(wǎng)絡(luò)層來加強(qiáng)局部神經(jīng)元的表達(dá)能力，有效解決過擬合問題，提高網(wǎng)絡(luò)的分類精度以及泛化能力。Dropout層的原理是在訓(xùn)練中將一部分隱藏層中的神經(jīng)元按照設(shè)定的丟棄概率(Rate)暫時(shí)失活，以此來降低全連接層中神經(jīng)元之間的密切依賴，減少過擬合現(xiàn)象的發(fā)生。

通過Bernoulli函數(shù)來設(shè)置神經(jīng)元i的隨機(jī)失活向量rj，其中Bernoulli函數(shù)是為了隨機(jī)生成一個(gè)0-1向量，當(dāng)向量為0時(shí)，神經(jīng)元失活；當(dāng)向量為1時(shí)，不對(duì)神經(jīng)元進(jìn)行操作。以此來表示Dropout層中神經(jīng)元i的失活情況，p為存活概率。由r(s)來表示所有神經(jīng)元的失活向量矩陣：

(1)

(2)

(3)

(4)

式(1)和式(2)為神經(jīng)元的隨機(jī)失活處理，式(3)和式(4)為未經(jīng)失活處理的神經(jīng)元的前向傳播計(jì)算公式。

在ResNet50隱藏層中引入Dropout層，隱藏層的神經(jīng)元個(gè)數(shù)和設(shè)定的失活概率會(huì)影響網(wǎng)絡(luò)模型性能，采用網(wǎng)格搜索方法來最終確定對(duì)于Dropout網(wǎng)絡(luò)層最合適的參數(shù)組合。網(wǎng)格搜索法是通過不同的參數(shù)搭配，統(tǒng)計(jì)出每個(gè)參數(shù)組合后的網(wǎng)絡(luò)模型的精準(zhǔn)率和召回率，取訓(xùn)練效果最好的一個(gè)參數(shù)組合作為網(wǎng)絡(luò)的參數(shù)組合，得到最終改進(jìn)的網(wǎng)絡(luò)模型。在網(wǎng)格搜索中，首先根據(jù)訓(xùn)練經(jīng)驗(yàn)來設(shè)置參數(shù)，該文根據(jù)一般網(wǎng)絡(luò)設(shè)置了新增卷積層神經(jīng)元設(shè)置為可供選擇的[0,64,128,256,512,1 024]以及設(shè)置可選擇的失活的概率[0,0.1,0.2,0.3,0.4,0.5,0.6,0.7,0.8,0.9]。當(dāng)失活概率為0時(shí)，即不進(jìn)行失活處理，當(dāng)選擇的新增神經(jīng)元為0時(shí)，即不添加任何新增神經(jīng)元。當(dāng)不為0時(shí)即為簡單的遷移學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)模型。對(duì)于電機(jī)磁瓦缺陷圖像設(shè)置為正樣本，無缺陷圖像設(shè)置為負(fù)樣本。F1-score為分類問題的一個(gè)重要衡量指標(biāo)，它是精確率(precision)和召回率(recall)的調(diào)和平均數(shù)，數(shù)值集中在區(qū)間[0,1]之間,即：

(5)

選用F1-score來評(píng)價(jià)各組合的模型。選取前五個(gè)最優(yōu)的模型輸出組合，如表1所示。

表1 前五個(gè)最優(yōu)組合的模型輸出結(jié)果

由表1可知，對(duì)于該文使用的磁瓦缺陷圖像數(shù)據(jù)，最佳的網(wǎng)絡(luò)組合為Dropout Rate為0.3，隱藏層Dense神經(jīng)元的數(shù)目為256。改進(jìn)后的ResNet50網(wǎng)絡(luò)在最后一層全連接層中加入Dropout層，將最后一層分類變成5類，分別對(duì)應(yīng)電機(jī)磁瓦的五種缺陷類型。改進(jìn)后的ResNet50的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)見圖3。

圖3 改進(jìn)后的ResNet50網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)

2.2 在ResNet50模型中增加注意力機(jī)制模塊

增強(qiáng)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)性能的方式有許多，前些年，許多神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)通過增加神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的層數(shù)來強(qiáng)化性能，也有使用更大的卷積核來增加感受野獲得更多的圖像細(xì)節(jié)，以此來提高網(wǎng)絡(luò)性能。目前最為普遍和實(shí)用的提高網(wǎng)絡(luò)性能的方式為注意力機(jī)制。SE-Net[16]首次提出了通道注意力，其有效機(jī)制可以建立不同特征之間的空間相關(guān)性，提高了神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型性能。隨后，基于SE-Net模型，注意力機(jī)制CBAM被提出，CBAM與SE-Net的區(qū)別在于CBAM增加了空間注意力模塊，用包含通道注意力和空間注意力兩個(gè)模塊的網(wǎng)絡(luò)來提高網(wǎng)絡(luò)的性能。CBAM的結(jié)構(gòu)如圖4所示。

CBAM模塊首先將輸入的特征圖通過一個(gè)通道注意力模塊，得到加權(quán)結(jié)果之后，再經(jīng)過空間注意力模塊，通過加權(quán)得到最終的特征圖。在磁瓦缺陷檢測(cè)中無關(guān)重要的背景不是需要關(guān)注的目標(biāo)，只需要把更大的權(quán)重分配給缺陷特征，將注意力集中在缺陷特征，因此通過CBAM模塊來提升提取缺陷特征的能力。而對(duì)于CBAM模型中的通道注意力模塊，需要經(jīng)過兩個(gè)全連接層來構(gòu)成通道間的相關(guān)性，再經(jīng)過Sigmoid非線性激活函數(shù)產(chǎn)生每個(gè)通道的權(quán)重，雖然這個(gè)做法會(huì)有效降低維度但卻會(huì)導(dǎo)致局部信息丟失，使精度下降。分析后決定將兩個(gè)全連接層用1×1的卷積層代替，增強(qiáng)通道間的相關(guān)性，減少局部信息丟失現(xiàn)象。改進(jìn)后的注意力機(jī)制網(wǎng)絡(luò)[17]如圖5所示。

圖4 CBAM結(jié)構(gòu)

圖5 改進(jìn)后的注意力機(jī)制結(jié)構(gòu)

改進(jìn)的注意力機(jī)制具體表示為：

M1=Mc(F)?F

(6)

M2=Ms(Mc(F)?F)

(7)

F′=M1?M2

(8)

式中，F(xiàn)∈C×H×W為輸入特征圖，C、H、W分別表示特征圖的通道數(shù)、高和寬；Mc∈C×1×1和Ms∈1×H×W分別表示通道注意力模塊和空間注意力模塊；?σ表示逐元素乘法；M1表示特征圖F與MC進(jìn)行矩陣乘法運(yùn)算，M2表示特征圖F與Ms進(jìn)行矩陣乘法運(yùn)算。F′∈C×H×W為最終輸出。

對(duì)于通道注意力Mc∈C×1×1，經(jīng)過全局最大池化和平均池化，分別記為和隨后經(jīng)過卷積計(jì)算得到權(quán)重C1Dk，并對(duì)C1Dk的兩個(gè)輸出進(jìn)行權(quán)重計(jì)算，最后經(jīng)過一層Sigmoid激活函數(shù)得到最終的通道注意力特征圖，用數(shù)學(xué)方式表示為：

(9)

對(duì)于空間注意力Ms∈1×H×W，第一步本模塊的輸入特征圖使用的是經(jīng)過通道注意力模塊后得到的特征圖，再經(jīng)過兩個(gè)池化操作得到的結(jié)果分別記為1×H×W和第二步將和合并，變成一個(gè)含有雙通道的特征；第三步使用了7×7的卷積核將含有兩個(gè)通道的特征圖降維，變成了單通道。這樣做的目的是為了使得維度前后一樣，方便特征的融合；最后經(jīng)過Sigmoid激活后輸出最終的空間注意力特征權(quán)值[18]。可簡單描述為：

通過改進(jìn)的ResNet50和增加的CBAM模塊得到整個(gè)融合注意力機(jī)制的殘差網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)，整體的電機(jī)磁瓦缺陷檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)模型如圖6所示。

圖6 融合注意力機(jī)制的殘差網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)

3 實(shí)驗(yàn)及分析

3.1 實(shí)驗(yàn)環(huán)境

實(shí)驗(yàn)環(huán)境：Win10系統(tǒng)，Inter i5-9300H處理器，NVIDIA GeForce RTX 2060顯卡兩張， Python 3.6，Pytorch環(huán)境，CUDA10.1。在訓(xùn)練過程中，選擇能夠高效計(jì)算的Adam優(yōu)化器，學(xué)習(xí)率設(shè)置為1e-4，選擇交叉熵?fù)p失函數(shù)(Cross-entropy)作為損失定義函數(shù)，批大小為16，迭代次數(shù)為100次。

3.2 數(shù)據(jù)集

采用的開源數(shù)據(jù)集來自文獻(xiàn)[19]，在整個(gè)數(shù)據(jù)集中，共有五種磁瓦缺陷圖像以及無缺陷的樣本1 335張，其中有氣孔缺陷115張，破損缺陷85張，裂紋57張，磨損32張，無缺陷952張，起層94張。在數(shù)據(jù)集中的正負(fù)樣本比例為2∶5。訓(xùn)練集與測(cè)試集比為7∶3。

3.3 評(píng)價(jià)指標(biāo)

常見的評(píng)價(jià)指標(biāo)主要有精準(zhǔn)率(precision)、召回率(recall)、平均精確率(average precision，AP) 以及平均精確率均值(mean average precision，mAP)。

在缺陷檢測(cè)中進(jìn)行分類任務(wù)時(shí)，需要對(duì)圖像進(jìn)行不同的分類，因此使用mAP更符合需要。mAP的值越大，表示該模型的定位與識(shí)別的準(zhǔn)確率越高。其定義如公式(11)所示:

(11)

使用全類平均準(zhǔn)確率(mAP)作為評(píng)價(jià)指標(biāo)，對(duì)所有種類求其平均精準(zhǔn)度能夠合理地反映網(wǎng)絡(luò)的性能。

3.4 結(jié)果分析

為選取最優(yōu)的ResNet結(jié)構(gòu)，將不同層數(shù)的ResNet網(wǎng)絡(luò)在磁瓦缺陷檢測(cè)數(shù)據(jù)集上進(jìn)行訓(xùn)練，選取其中訓(xùn)練表現(xiàn)最好的ResNet系列網(wǎng)絡(luò)。使用ResNet18、ResNet34、ResNet50在磁瓦缺陷數(shù)據(jù)集中進(jìn)行訓(xùn)練，實(shí)驗(yàn)對(duì)比如表2所示。

表2 前五個(gè)最優(yōu)組合的模型輸出結(jié)果

由表2可知，ResNet50在磁瓦缺陷檢測(cè)分類任務(wù)中的表現(xiàn)最好，在沒有改進(jìn)的情況下缺陷類別檢測(cè)準(zhǔn)確度達(dá)到了96.92%，高于其他層數(shù)的ResNet模型，決定選取ResNet50模型作為整個(gè)網(wǎng)絡(luò)模型的骨干網(wǎng)絡(luò)，并在其基礎(chǔ)上進(jìn)行改進(jìn)和實(shí)驗(yàn)。首先在ResNet50模型中加入CBAM模塊，通過增加通道注意力模塊和空間注意力模塊，增強(qiáng)了缺陷特征提取能力, 提高原網(wǎng)絡(luò)模型的性能，將此ResNet50-CBAM模型訓(xùn)練后觀察訓(xùn)練效果，ResNet50-CBAM模型的訓(xùn)練收斂效果如圖7所示，經(jīng)過100個(gè)epoch，網(wǎng)絡(luò)模型收斂程度明顯好于原ResNet50網(wǎng)絡(luò)。

圖7 改進(jìn)的ResNet50與原網(wǎng)絡(luò)損失下降曲線

在ResNet50-CBAM模型的基礎(chǔ)上，將Dropout層加入ResNet50-CBAM的最后一層中的全連接層，防止訓(xùn)練過程中過擬合現(xiàn)象的發(fā)生，在訓(xùn)練中各類缺陷檢測(cè)的精準(zhǔn)度如表3所示。

表3 同網(wǎng)絡(luò)模型在各類缺陷的精準(zhǔn)度對(duì)比

由表3可知，在訓(xùn)練過程中，模型在氣孔(Blowhole)和破損(Break)兩類缺陷分類中的識(shí)別準(zhǔn)確度達(dá)到了非常高的水平，而在磨損(Fray)中的檢測(cè)精準(zhǔn)度較低。結(jié)合圖7和表4，對(duì)實(shí)驗(yàn)進(jìn)行對(duì)比分析。實(shí)驗(yàn)中對(duì)ResNet50模型，分別引入了CBAM模塊和Dropout層，改進(jìn)后的ResNet50模型相比較原網(wǎng)絡(luò)mAP值提升了1.3%，在一定程度上提升了識(shí)別精準(zhǔn)度。

實(shí)驗(yàn)證明，在加入CBAM模塊后，網(wǎng)絡(luò)模型收斂能力得到了明顯提升。CBAM模塊主要作用是增強(qiáng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)缺陷類型的特征提取能力，降低漏檢率和誤檢率，提升網(wǎng)絡(luò)的性能。最后增加Dropout層，在ResNet50-CBAM模塊中增加了Dropout層。由表3可知，在網(wǎng)絡(luò)中加入Dropout層后，整體網(wǎng)絡(luò)對(duì)各個(gè)類別的精準(zhǔn)度有不同程度的提升。通過pytorch內(nèi)置的計(jì)時(shí)工具和同步工具profile的percall函數(shù)，測(cè)試了在每個(gè)epoch中，改進(jìn)的ResNet50-CBAM所使用時(shí)間比原模型平均多了78 ms，相較于性能的提升可以忽略不計(jì)。

原ResNet50-CBAM網(wǎng)絡(luò)在各類缺陷檢測(cè)中的mAP為0.955 6，改進(jìn)的ResNet50-CBAM的mAP達(dá)到0.969 2，比原網(wǎng)絡(luò)提高了1.3%。

在訓(xùn)練過程中的精準(zhǔn)度對(duì)比見圖8?？梢暂^為清楚地看到，改進(jìn)的網(wǎng)絡(luò)有效提高了網(wǎng)絡(luò)性能，但還是存在一定的誤檢。綜合看來，改進(jìn)的網(wǎng)絡(luò)相對(duì)于原網(wǎng)絡(luò)在性能上取得了一定的提升。

圖8 ResNet50-CBAM改進(jìn)前后準(zhǔn)確度對(duì)比

4 結(jié)束語

提出一個(gè)端到端的目標(biāo)檢測(cè)模型來代替目前常見的兩階段目標(biāo)檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)，簡化檢測(cè)流程。采用ResNet50網(wǎng)絡(luò)模型作為backbone，針對(duì)訓(xùn)練中耗時(shí)長且較為依賴局部特征容易發(fā)生網(wǎng)絡(luò)模型過擬合導(dǎo)致分類精度下降的問題，提出在全連接層中加入Dropout層防止過擬合現(xiàn)象的發(fā)生，并通過網(wǎng)格搜索法來尋找最優(yōu)的超參數(shù)組合，確定增加的隱藏層神經(jīng)元個(gè)數(shù)和失活率(Dropout Rate)。為了讓網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)重點(diǎn)放在缺陷特征上，增加注意力模塊CBAM來加強(qiáng)網(wǎng)絡(luò)性能。CBAM模塊是一個(gè)輕量級(jí)的模塊，帶來的計(jì)算復(fù)雜度基本上可以忽略不計(jì)，通過空間注意力模塊和通道注意力模塊來強(qiáng)調(diào)重要特征，提高了對(duì)磁瓦缺陷分類的準(zhǔn)確率，減少了缺陷檢測(cè)分類的漏檢率和誤檢率，簡化了以往的二階段模型。實(shí)驗(yàn)表明在磁瓦缺陷檢測(cè)中，改進(jìn)的ResNet50模型比原模型mAP值高了1.3% ，在實(shí)際應(yīng)用中也能夠在工業(yè)流程中有效去除有缺陷的電機(jī)磁瓦。后續(xù)可以將模型反應(yīng)速度做得更快，并且能精準(zhǔn)地對(duì)不同的缺陷進(jìn)行識(shí)別分類，之后也能在此基礎(chǔ)上對(duì)模型進(jìn)行更多的改善。