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        多場(chǎng)耦合研究PCB電鍍銅

        2022-11-15 10:10:36冀林仙王躍峰
        電鍍與精飾 2022年11期
        關(guān)鍵詞:鍍液液面擋板

        冀林仙,王躍峰

        (運(yùn)城學(xué)院物理與電子工程系,山西 運(yùn)城 044000)

        近年來(lái),隨著電子設(shè)備多功能化的發(fā)展,作為電子組裝載體的印制電路板(Printed circuit board,PCB)向著輕、薄、短、小的方向發(fā)展,PCB線寬和線距的要求越來(lái)越小,線路的精度要求也越來(lái)越高[1-2]。電鍍銅作為PCB制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié),鍍層品質(zhì)直接影響電子終端產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性,鍍液的穩(wěn)定性與鍍層的均勻性一直是電鍍銅互連研究的主題[3-5]。

        電鍍銅是一個(gè)復(fù)雜的物理化學(xué)過(guò)程,包括物質(zhì)傳遞(遷移、擴(kuò)散、對(duì)流)過(guò)程、化學(xué)反應(yīng)、傳熱過(guò)程等,它們相互耦合,協(xié)同作用,共同影響銅的沉積。而且,電鍍銅過(guò)程受諸多因素影響,鍍槽構(gòu)型、電場(chǎng)線分布、鍍液傳質(zhì)方式、鍍液組分、基材材質(zhì)與工藝流程等都會(huì)影響鍍層性能[6-9]。然而,采用實(shí)驗(yàn)方法研究電鍍銅過(guò)程需要設(shè)計(jì)這諸多因素條件下的鍍銅過(guò)程,費(fèi)時(shí)費(fèi)力、實(shí)驗(yàn)周期長(zhǎng)、成本高[10-11]。針對(duì)這一現(xiàn)狀,一些數(shù)值模擬軟件被開發(fā),用于電鍍銅的研究,優(yōu)化電鍍銅工藝條件[12-13]。為了提高PCB電鍍銅鍍層均勻性,真實(shí)反映工業(yè)鍍槽的電鍍效果,本文采用多物理場(chǎng)耦合的有限元方法,借助高性能計(jì)算機(jī),探討陰極板間距、液面高度、陽(yáng)極擋板與陰極鍍層均勻性的關(guān)系,并進(jìn)行實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,優(yōu)化電鍍工藝參數(shù)。

        1 電鍍銅數(shù)值模擬

        1.1 電鍍銅模型的構(gòu)建

        PCB電鍍銅測(cè)試板厚為1 mm,高度為800 mm,寬度為600 mm。鍍液組分為120 g/L CuSO4·5H2O、195 g/L H2SO4、65 mg/L Cl-、5 ml/L VF-200加速劑、8 ml/L VF-100抑制 劑、9 ml/L VF-100LR整 平 劑。電鍍銅數(shù)值模擬選取工業(yè)電鍍線一部分構(gòu)建電鍍銅模型,數(shù)值模擬模型如圖1。

        圖1 電鍍銅模型Fig.1 Model of electrodeposited copper

        模型假設(shè):電鍍液是牛頓流體;鍍液傳輸特性(如擴(kuò)散系數(shù),鍍液密度,粘度等)與動(dòng)力學(xué)參數(shù)在銅沉積過(guò)程中保持不變;電鍍體系中,相比銅和硫酸鹽離子,質(zhì)子的濃度非常低,忽略質(zhì)子的物質(zhì)平衡。

        1.2 控制方程與邊界條件

        電鍍銅鍍層厚度由法拉第定律確定,陰極銅沉積量(或鍍層厚度)與電流密度和電流效率呈正比。

        式中:MCu是銅的分子量,ρCu是銅的密度,F(xiàn)為法拉第常數(shù),i為電流密度,t為電鍍時(shí)間,εF是陰極電流效率,n為電極反應(yīng)電子轉(zhuǎn)移數(shù)。

        電鍍銅時(shí),電極表面電流密度與離子通量N密切相關(guān),酸性鍍銅液的離子主要包括Cu2+、H+、SO42-,離子流量滿足Nernst-Planck方程。

        式中:cj為離子j的濃度,Dj為離子j的擴(kuò)散系數(shù),zj為離子j的電荷數(shù),um,j為離子j的遷移率,φl(shuí)為電勢(shì),u→為鍍液流速。

        陰極電流密度可表示為:

        電極表面電流密度與過(guò)電位密切相關(guān)。電極過(guò)電位包括表面活化過(guò)電位和濃度過(guò)電位。

        電極界面用Butler-Volmer方程描述,陰極電流密度可表示為式(4)。

        式中:0i為交換電流密度,αA與αC分別為陽(yáng)極傳遞系數(shù)與陰極傳遞系數(shù),ηc為陰極過(guò)電位。

        考慮電極上存在的濃度梯度,濃度過(guò)電位是粒子表面濃度的函數(shù),Butler-Volmer方程中引入濃度修正項(xiàng),陰極電流密度表示為式(5)。

        2 結(jié)果與討論

        2.1 電鍍銅均勻性

        PCB電鍍銅完成后,取出測(cè)試板進(jìn)行取樣分析。陰極板上每間隔60 mm取一個(gè)點(diǎn),共81個(gè)點(diǎn)(如圖2)。測(cè)試取樣點(diǎn)的鍍層厚度Xi,計(jì)算COV以評(píng)價(jià)鍍層分布均勻性。

        圖2 測(cè)試板取樣點(diǎn)Fig.2 Sampling points of test plate

        鍍層厚度平均值為式(6)。

        鍍層均勻性用COV數(shù)值評(píng)價(jià),表示為式(7)。

        COV值越小,表明鍍層越均勻。電鍍銅目標(biāo)為COV<6%。

        2.2 陰極板間距對(duì)均勻性的影響

        當(dāng)陰極板間距L為1~50 mm,1800 s時(shí),陰極板表面鍍層厚度與COV隨L變化曲線如圖3所示。從圖3(a)中可以看出,隨著L的增加,數(shù)據(jù)分布范圍加大,離散點(diǎn)增多,表明陰極板表面鍍層厚度不均勻程度加大。陰極板之間有間隙時(shí),其間的電鍍液中存在導(dǎo)電的自由空間,這使電力線在陰陽(yáng)極之間穿行空間擴(kuò)大,電場(chǎng)線易于集中,從而形成陰極板兩側(cè)較高電流密度區(qū)引起較厚的鍍層[14]。圖3(b)為COV值隨L的變化曲線。當(dāng)L較?。?~20 mm)時(shí),隨著L的增加,COV值從1 mm時(shí)的0.05%變化為20 mm時(shí)的0.6%。當(dāng)L從20 mm增加到40 mm,COV值從0.6%增加到7.7%。隨著L的繼續(xù)增加,COV值略微降低,但仍大于7%。這一變化趨勢(shì)表明,當(dāng)L小于20 mm時(shí),陰極板距離的減小有助于提高陰極板表面電流密度分布的均勻性,而獲得較均勻的鍍層。理想情況下,當(dāng)L為0時(shí),鍍槽內(nèi)陰極板可被視為一整塊板,鍍層均勻性最好。但陰極板為零間距時(shí),板在前進(jìn)過(guò)程中會(huì)發(fā)生碰撞,容易引起表面銅層剝離。因此,電鍍銅制程,為了保證電鍍工序的順利進(jìn)行,獲得陰極板表面較均勻的鍍層,陰極板間距L不超過(guò)20 mm。

        圖3 陰極鍍層厚度與COV隨L的變化趨勢(shì)Fig.3 Variation of cathode coating thickness and COV with L

        2.3 液位對(duì)均勻性的影響

        液位也會(huì)影響電鍍銅鍍層均勻性,用H表示液面與陰極板上邊緣間的距離。圖4為L(zhǎng)為20 mm時(shí),陰極鍍層厚度與COV隨H的變化趨勢(shì)。從圖4(a)可以看出,隨H的增加,鍍層分布范圍變寬,離散點(diǎn)增加,陰極表面鍍層越不均勻。陰極板上部自由導(dǎo)電空間的加大使得邊緣電場(chǎng)線分布密集,電流密度較大,銅沉積速度快形成較厚鍍層。當(dāng)陰陽(yáng)極板盡可能占據(jù)整個(gè)電鍍液深度時(shí),避免了邊緣效應(yīng),陰極表面電流密度與鍍層厚度分布更為均勻。因此,當(dāng)陰陽(yáng)極板剛好處于鍍液中,陰極板鍍層均勻性最好。圖4(b)表明,隨著H的增加,COV值加大。H為0~30 mm時(shí),COV值增加緩慢,從0.6%逐步增加為2.37%。H較小時(shí),陰極表面由于相對(duì)均勻分布的電流密度而使得鍍層均勻性較好。當(dāng)陰陽(yáng)極剛好處于液面時(shí),鍍層均勻性最好。當(dāng)H大于30 mm時(shí),COV值變 化較大。H為30 mm時(shí),COV值為2.37%。H為50 mm時(shí),COV值為14.2%。COV數(shù)值越大,鍍層均勻性越差。陰極板上部較高的液位使導(dǎo)電自由空間增大,邊緣效應(yīng)引起電場(chǎng)線分布集中,形成較高電流密度區(qū),引起陰極板上部較厚的鍍層,使COV值增大,鍍層均勻性變差。對(duì)于工業(yè)電鍍生產(chǎn)線,為了獲得均勻性較好的鍍層,需控制陰極板上部液位小于30 mm。除此之外,為了提高PCB鍍層均勻性,常在電鍍槽中加入陽(yáng)極擋板[15]。陽(yáng)極擋板改變了鍍液導(dǎo)電自由空間的電場(chǎng)線分布,避免了邊緣效應(yīng),這有利于形成較為均勻的鍍層。

        圖4 陰極鍍層厚度與COV隨H的變化趨勢(shì)Fig.4 Variation of cathode coating thickness and COV with H

        2.4 陽(yáng)極擋板對(duì)均勻性的影響

        加入陽(yáng)極擋板的電鍍槽,用h表示陽(yáng)極擋板高度。當(dāng)陰極板間距為20 mm,液面距陰極上邊緣20 mm時(shí),陰極鍍層與COV隨h變化趨勢(shì)如圖5所示。圖5清晰表明,h對(duì)陰極銅層的均勻性有較大的影響。不加陽(yáng)極擋板時(shí),COV值為1.46。加入陽(yáng)極擋板后,隨著h的增加,COV值變小,即陰極表面鍍層變得更加均勻。當(dāng)陽(yáng)極擋板高度為30 mm時(shí),COV值為1.25。陽(yáng)極擋板分開了導(dǎo)電自由空間,并改變了槽內(nèi)空間電場(chǎng)分布,通過(guò)限制邊緣處的電場(chǎng)使得陰極表面電流密度分布均勻,從而形成均勻的鍍層[16-18]。隨著陽(yáng)極擋板的繼續(xù)加大,COV值變化不大。但h超過(guò)50 mm時(shí),h的繼續(xù)加大引起了COV值變大,即空間電場(chǎng)線的不均勻分布,使得陰極鍍層不均勻程度加大。因此,電鍍銅時(shí),增加陽(yáng)極擋板可以提高陰極鍍層的均勻性。為了提高鍍層的均勻性,需要選擇合適大小的陽(yáng)極擋板。模型使用的鍍槽,合適的陽(yáng)極擋板高度為30~50 mm。

        圖5 陰極鍍層厚度與COV隨h的變化趨勢(shì)Fig.5 Variation of cathode coating thickness and COV with h

        3 電鍍銅實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證

        3.1 儀器與材料

        雙面覆銅板、電鍍液(組分同上)、龍門電鍍線、金相顯微鏡、磨片機(jī)、銅厚測(cè)試儀。

        3.2 電鍍銅實(shí)驗(yàn)

        測(cè)試板經(jīng)除油、水洗、微蝕、水洗、酸洗、電鍍銅后,取出烘干,測(cè)量板面銅層厚度,計(jì)算COV。

        影響電鍍銅均勻性的因素包括幾何因素與電化學(xué)因素。幾何因素包括鍍槽形狀、陽(yáng)極形狀、陰陽(yáng)極距離及相對(duì)位置,輔助擋板等。實(shí)驗(yàn)中保持鍍液組分和濃度不變,選取陰極板間隙A、液位高度B、浮架遮擋高度C三個(gè)因素作為試驗(yàn)因素,每個(gè)因素取三個(gè)水平得到試驗(yàn)因素-水平表1。

        表1 因素-水平表Tab.1 Factor-level table

        電鍍銅實(shí)驗(yàn)選取L9(34)正交表安排實(shí)驗(yàn),將COV作為指標(biāo)評(píng)價(jià)電鍍銅層的性能,分析這些因素對(duì)電鍍銅均勻性的影響,并優(yōu)化電鍍銅工藝。

        3.3 結(jié)果分析

        正交實(shí)驗(yàn)結(jié)果和極差分析結(jié)果列于表2。

        表2 電鍍銅實(shí)驗(yàn)結(jié)果與極差分析結(jié)果Tab.2 Experimental results of copper electrodeposition and range analysis results

        極差R的數(shù)值大小表明,這三個(gè)因素對(duì)鍍層均勻性的影響程度為C>B>A,指標(biāo)因素如圖6所示。從圖6可以看出,當(dāng)掛板間隙小于10 mm,液面高度小于10 mm時(shí),對(duì)鍍層均勻性影響較小。隨著掛板間隙與液面高度的持續(xù)增加,導(dǎo)電自由空間的加大,使陰極板邊緣電場(chǎng)線集中,引起較大電流密度,形成較厚的鍍層,導(dǎo)致COV值變大,即鍍層均勻性變差。輔助擋板對(duì)鍍層均勻性的影響較大,工業(yè)電鍍銅需要根據(jù)鍍槽選擇合適的浮架位置,以保證陰極表面鍍層的均勻性[19-20]。這一結(jié)論和數(shù)值仿真獲得的結(jié)論相符合,證明采用多物理場(chǎng)耦合的有限元方法進(jìn)行電鍍銅的仿真是行之有效的。以COV值為電鍍銅均勻性評(píng)價(jià)指標(biāo),優(yōu)化的電鍍參數(shù)為A2B1C2。

        圖6 電鍍銅指標(biāo)-因素圖Fig.6 Index-factor diagram for copper electrodeposition

        選取陰極板間隔為10 mm,液面高度為5 mm,浮架遮擋高度為15 mm,進(jìn)行電鍍銅實(shí)驗(yàn),獲得陰極表面鍍層厚度分布如圖7所示。統(tǒng)計(jì)鍍層厚度得到COV值為4.7%,這一結(jié)果達(dá)到了工業(yè)電鍍銅工藝鍍層均勻性要求。

        圖7 鍍層厚度統(tǒng)計(jì)分布Fig.7 Statistical distribution of coating thickness

        4 結(jié)語(yǔ)

        電鍍銅作為PCB制程一道重要的工序,鍍層質(zhì)量的好壞直接影響電路板的外觀和性能。本文采用多物理場(chǎng)耦合的有限元方法討論了PCB電鍍銅的鍍層均勻性,陰極板間距、液面高度、陽(yáng)極擋板都會(huì)影響陰極表面電流密度與鍍層分布。陰極板間距越小,鍍層分布越均勻,陰極板間距應(yīng)小于20 mm。液面高度也會(huì)影響鍍層分布的均勻性。為了獲得均勻性較好的鍍層,需控制陰極板上部液位小于30 mm。而且,鍍槽內(nèi)增加陽(yáng)極擋板可以調(diào)整槽內(nèi)電場(chǎng)線分布,改善陰極板表面電流密度分布,從而提高鍍層均勻性。進(jìn)一步設(shè)計(jì)了正交實(shí)驗(yàn),對(duì)電鍍銅參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化,選取陰極板間隔為10 mm,液面高度為5 mm,浮架遮擋高度為15 mm,陰極COV值為4.7%,這一結(jié)論為工業(yè)電鍍銅研究提供了一定的理論與實(shí)踐指導(dǎo)。

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