張賢高,陳 佶,張 歡
(南方科技大學(xué)物理系,廣東深圳 518055)
工業(yè)生產(chǎn)中對溫度的控制非常普遍,利用熱電偶的電子元件制成電測溫度儀表是一種常用的方法。熱電偶溫度計能直接測量溫度,并把溫度信號轉(zhuǎn)換成電信號,通過電氣儀表將被測物體溫度轉(zhuǎn)換為指針信號或數(shù)字信號[1]。因生產(chǎn)發(fā)展的需要,有些領(lǐng)域需要用到極低溫度(低于-40℃)或者極高溫度(超過800℃),這些溫度范圍都讓普通溫度計望塵莫及。而且有的工業(yè)領(lǐng)域?qū)乜叵到y(tǒng)的精準(zhǔn)度也有一定的要求,甚至要精確到小數(shù)點后幾位。隨著材料科學(xué)的發(fā)展,熱電偶溫度計具有精度高(可達(dá)10-3℃)、可測范圍廣(從-180℃到+2000℃)等優(yōu)點,這是酒精或水銀溫度計不具備的。因此,熱電偶廣泛應(yīng)用于工業(yè)電測溫控系統(tǒng)中,對于這類基于熱電偶的測量儀表,標(biāo)定熱電偶熱電勢隨溫度的變化特性關(guān)系非常必要。但是在實際標(biāo)定測量中,不可避免地會產(chǎn)生誤差,因此適當(dāng)?shù)恼`差分析方法在電測與儀表的設(shè)計中非常重要[2]。
本研究通過標(biāo)定和測量熱電偶溫度特性關(guān)系試驗中產(chǎn)生的系統(tǒng)誤差,詳細(xì)分析產(chǎn)生的原因并探討糾正方法。
熱電偶的測溫原理來自于塞貝克效應(yīng)。1821年,Seebeck發(fā)現(xiàn):將兩種不同成分的金屬導(dǎo)體連接在一起,形成閉合電路,如果兩端有溫度差,電路中會產(chǎn)生電流,這種效應(yīng)稱為塞貝克效應(yīng)[3]。該電流與溫度有關(guān),相應(yīng)產(chǎn)生的電勢差后來就成為熱電勢。熱電勢的大小與溫度差有關(guān)。隨著材料科學(xué)的不斷發(fā)展,利用塞貝克效應(yīng),在某溫度下通過電壓表讀出相應(yīng)的熱電勢,相當(dāng)于把測量的溫度轉(zhuǎn)換成電壓值記錄下來,然后通過標(biāo)定出熱電偶熱電勢與溫度的關(guān)系,就知道需要表征的溫度。
圖1給出了由兩種不同成分的金屬導(dǎo)電絲A和B構(gòu)成的熱電偶示意圖。通過點焊技術(shù),將A、B導(dǎo)電絲的兩個端點相互連接,構(gòu)成一個閉合電路。如果將兩端點分別置于不同的溫度T1和T2,由于塞貝克效應(yīng),電路回路中會產(chǎn)生熱電動勢,也稱為溫差電動勢[4]。
圖1 熱電偶結(jié)構(gòu)
熱電動勢的大小除了和A、B導(dǎo)電絲的兩個端點的溫度有關(guān)以外,還與A、B導(dǎo)電絲的自身材料有關(guān)。塞貝克效應(yīng)雖然在很早就被發(fā)現(xiàn),但是一直沒有得到廣泛的應(yīng)用,關(guān)鍵原因是材料科學(xué)的發(fā)展尚未跟上。
隨著材料科學(xué)的發(fā)展,可用于熱電偶的鉑銠、鎳鉻、銅鎳等合金材料相繼出現(xiàn),用于特殊環(huán)境溫度下的熱電偶也不斷出現(xiàn)。根據(jù)所用材料種類的不同,熱電偶的種類主要有S、R、B、N、K、E、J、T等。不同分度的熱電偶適用范圍略有不同,本試驗采用所有熱電偶中使用最廣泛的K分度號熱電偶,其特點是抗氧化性能強,長期使用溫度1000℃,短期1200℃。
一般說,熱電偶的熱電動勢和溫差的關(guān)系非常復(fù)雜,若取二級近似,可表為如下形式:
式中:T2為熱端溫度;T1是冷端溫度;而c、d是電偶系數(shù),它們的大小僅決定于組成電偶的材料。粗略測量時,可取一級近似。
本試驗使用的儀器有高精度電壓表(精度達(dá)到0.001 mV)、溫度控制儀、K分度和E分度熱電偶。圖2為本試驗裝置結(jié)構(gòu)示意圖,將熱電偶熱端置于溫控儀中,將自由端置于冰水混合物中,測試的溫度從5℃開始,溫度每增加5℃,測量并記錄熱電勢的大小,直到100℃止。然后用熱電勢作縱坐標(biāo),溫度作橫坐標(biāo),畫出熱電勢隨溫度變化的特性曲線。
圖2 試驗裝置圖
試驗測量分別得到K型和E型熱電偶在不同溫度下的熱電勢,并對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。圖3給出了熱電偶的溫度特性圖,紅色散點圖表示K型熱電偶的熱電勢。從圖3可以看出,在很小的溫度范圍內(nèi),測量的結(jié)果呈現(xiàn)線性分布,符合一級近似的規(guī)律。通過直線擬合,得到K分度熱電偶的電偶系數(shù)C=0.043(mV/℃)。該結(jié)果與廠家給定的電偶系數(shù)比較接近,但熱電勢的測量結(jié)果與參考值(如圖中的紅色虛線曲線)進(jìn)行對比,發(fā)現(xiàn)有0.2 mV的誤差。
圖3 熱電偶的溫度特性曲線
為了弄清楚試驗結(jié)果的重復(fù)性,對E型熱電偶的數(shù)據(jù)也進(jìn)行了相同的處理,其結(jié)果如圖3藍(lán)色部分。E型與K型熱電偶都呈現(xiàn)相同的特點,同一溫度下的測量值比參考值低0.2 mV左右。
為分析熱電勢產(chǎn)生誤差的原因,從熱電偶中產(chǎn)生的熱電動勢的構(gòu)成分析。一般而言,熱電動勢由兩部分組成:一部分是由于A和B兩種不同材料的點接觸導(dǎo)致的接觸電動勢;另一部分是A和B兩種不同材料的兩個端點所處的溫度差導(dǎo)致的溫差電動勢[5]。
要形成電流一定要有電子的定向移動。首先,分析第一部分接觸電動勢。當(dāng)A、B兩種不同導(dǎo)體相互接觸,由于兩種不同材料對應(yīng)有不同的自由電子濃度,兩者的自由電子擴散速度也不同,最終的效果就是高濃度的自由電子一方向低濃度的自由電子一方作定向移動,這一點類似于半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)的電子擴散。如果用nA和nB分別表示A和B兩種不同材料的自由電子濃度,并假設(shè)nA>nB,則導(dǎo)體A向?qū)wB擴散的電子數(shù)目大于導(dǎo)體B向?qū)wA擴散的電子數(shù)目,宏觀上看,相當(dāng)于導(dǎo)體A失去電子多一些,留有更多的正電荷,因此顯正電。反而言之,導(dǎo)體B由于得到更多的負(fù)電荷而顯負(fù)電。于是,在A、B兩種不同導(dǎo)體的接觸面上形成一個內(nèi)建電場,場強的方向由A指向B,如圖4(a)所示。由于擴散的電子受到內(nèi)建電場力的作用,反過來會阻礙電子的擴散,最終得到的內(nèi)建電場和電子的擴散會達(dá)到一種動態(tài)平衡。因此,這個內(nèi)建電場可以視為在兩種不同材料導(dǎo)體相互接觸時形成的接觸電勢差。該接觸電勢的大小與導(dǎo)體材料、結(jié)點的溫度有關(guān),表示為[6]:
其次,分析第二部分溫差電動勢。對于處于不同的溫度場T1、T2中的導(dǎo)體,假設(shè)T1>T2,溫度高的地方,電子運動的速度就快,具有的動能較大;相反,溫度較低的地方,自由電子具有的動能較小,運動的速度較小。因此,從宏觀上看,溫度高的一端,會失去更多的電子,這端顯正電,反而言之,溫度較低的一端顯負(fù)電,見圖4(b)。這樣也會在導(dǎo)體熱冷兩端形成一個自建電場,電場方向由熱端指向冷端。類似于接觸電動勢的分析過程,它們兩個端點之間也會達(dá)到某個動態(tài)平衡。因此,這個內(nèi)建電場可以視為由于導(dǎo)體兩端的溫度差產(chǎn)生了溫差電動勢,表示為:
圖4 熱電偶產(chǎn)生電動勢原理
熱電偶產(chǎn)生的熱電勢是由兩種導(dǎo)體的總接觸電勢和總湯姆遜電勢組成,即
無論是接觸電動勢還是溫差電動勢,電子的擴散都需要達(dá)到特定的動態(tài)平衡,肯定需要一定時間來完成這個物理過程。假設(shè)在測量過程中,不停地升高溫度,但上述兩個動態(tài)平衡尚未達(dá)到,就進(jìn)行下一個測數(shù)點。因此,在升溫測量時,熱電動勢相對于溫度的變化呈現(xiàn)延遲性,測量結(jié)果略低于參考值。
通過分析產(chǎn)生延遲性的原因,本研究認(rèn)為,如果完成升溫測量以后,再來一次降溫測量,在相同的溫度點記錄熱電動勢的結(jié)果。由于上述分析的延遲性,降溫測量的熱電動勢值會略高于理論參考值。為此,進(jìn)行試驗驗證,將溫度從105℃開始下降,從100℃開始測量,每隔5℃記錄一次對應(yīng)的熱電勢,然后分析數(shù)據(jù),如圖5(a)所示。
圖5 熱電動勢的升溫、降溫測量結(jié)果及平均值
在標(biāo)定熱電偶的溫度特性試驗中,由于熱電勢隨溫度變化有延遲效應(yīng)導(dǎo)致產(chǎn)生系統(tǒng)誤差,測量結(jié)果與理論參考值有偏差。改進(jìn)試驗以后,分別測一次升降和降溫過程的熱電動勢并求平均值,其測量結(jié)果與參考理論值一致。說明利用正延遲和負(fù)延遲相互抵消的改進(jìn)方法,可以盡可能地消除由于延遲性導(dǎo)致的系統(tǒng)誤差。該方法對標(biāo)定現(xiàn)代電測溫控系統(tǒng)及儀表中的熱電偶溫度特性有一定的應(yīng)用。