田佳懌 杜彪 伍洋 劉勝文
(中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十四研究所, 石家莊 050081)
隨著雷達(dá)、衛(wèi)星通信、射電天文等技術(shù)的飛速發(fā)展,對(duì)高增益、大視場(chǎng)天線的需求日益增加. 多波束天線技術(shù)可以有效地?cái)U(kuò)大天線的視場(chǎng),常見的多波束天線有相控陣天線[1]、反射面天線[2]和介質(zhì)透鏡天線[3]三種. 其中配備相控陣饋源(phased array feed,PAF)的反射面天線結(jié)合了反射面天線的高增益、低成本和相控陣天線波束掃描靈活等優(yōu)點(diǎn),可以形成多個(gè)連續(xù)覆蓋、性能優(yōu)良的波束,有效地?cái)U(kuò)大反射面天線的視場(chǎng)[4-5].
基于PAF饋電的反射面天線正成為研究熱點(diǎn).文獻(xiàn)[6]結(jié)合制冷技術(shù)設(shè)計(jì)出L波段高靈敏度雙極化偶極子PAF,并用于綠岸的射電天文望遠(yuǎn)鏡. 文獻(xiàn)[7]設(shè)計(jì)了一種基于緊饋蝶形偶極子天線的寬帶PAF,基于經(jīng)驗(yàn)其單元間距為0.5個(gè)波長(zhǎng). 文獻(xiàn)[8]和[9]分別為中國(guó)五百米口徑球面射電望遠(yuǎn)鏡(Five-hundred Meter Aperture Spherical Telescope, FAST)設(shè)計(jì)了工作在L波段的PAF,都是通過固定單元間距改變單元數(shù)量,以及固定單元數(shù)量改變單元間距,計(jì)算比較不同參數(shù)下反射面天線性能的方法,來(lái)確定PAF的單元數(shù)量和單元間距. 文獻(xiàn)[10]是在固定單元數(shù)量的情況下,計(jì)算了超方向性單元的單元間距隨射電望遠(yuǎn)鏡巡天速度的變化規(guī)律,以巡天速度最高時(shí)的單元間距作為最優(yōu)單元間距,這與文獻(xiàn)[8]和[9]中確定最優(yōu)單元間距的方法相同,但得到的單元間距并不是最優(yōu)的,僅是小范圍內(nèi)的最優(yōu)值. 文獻(xiàn)[11]和[12]是通過焦面場(chǎng)公式以及Nyquist采樣定理確定單元間距,即采樣頻率大于焦面場(chǎng)空間譜最高頻率的2倍,這樣確定的單元間距能在一定程度上恢復(fù)焦面場(chǎng),但不是最優(yōu)單元間距. 文獻(xiàn)[13]主要針對(duì)小焦徑比的反射面天線,研究天線效率最高時(shí)PAF的單元間距和單元數(shù)量,且只考慮了PAF正方形排布時(shí)的情況,研究了PAF的單元數(shù)量和單元間距對(duì)反射面天線性能的影響,認(rèn)為合成一個(gè)波束的單元數(shù)量為7×7到9×9時(shí),天線的口徑效率最高,但單元數(shù)量過多,造成后端鏈路成本過高. 文獻(xiàn)[14]提出對(duì)于寬帶焦面陣饋源,低頻時(shí)單元間距和單元電尺寸較小,可以工作在PAF模式,多個(gè)單元組陣合成一個(gè)波束;在高頻時(shí),單元間距和單元電尺寸較大,可以工作在饋源陣模式,每個(gè)單元都可獨(dú)立形成一個(gè)波束.上述研究中,PAF的單元間距一般是采用經(jīng)驗(yàn)值或通過焦面場(chǎng)公式和Nyquist采樣定理確定單元間距,還有通過計(jì)算比較PAF取不同參數(shù)時(shí)反射面天線的性能,來(lái)確定PAF的參數(shù). 然而缺少對(duì)PAF的陣列排布、單元間距、單元數(shù)量、焦徑比、掃描角與天線口徑效率之間關(guān)系進(jìn)行系統(tǒng)和深入的研究,且未給出PAF參數(shù)的選取原則,難以指導(dǎo)PAF的設(shè)計(jì).
本文通過分析不同焦徑比和不同掃描角時(shí)反射面天線焦平面場(chǎng)的特性,初步確定了PAF的采樣范圍;深入研究了PAF參數(shù)對(duì)天線口徑效率的影響,給出了PAF的最優(yōu)采樣范圍、單元間距和陣列規(guī)模,用最少的單元數(shù)量實(shí)現(xiàn)最高的口徑效率,提高PAF的性價(jià)比;導(dǎo)出了PAF的單元間距和單元數(shù)量的計(jì)算公式,給出了PAF參數(shù)的選取原則,并通過一個(gè)設(shè)計(jì)實(shí)例驗(yàn)證了本文研究和分析方法的正確性,為PAF的設(shè)計(jì)提供了理論依據(jù).
焦面場(chǎng)分析是進(jìn)行饋源設(shè)計(jì)的重要方法[12,15]. 通過計(jì)算從空間接收的電磁波在天線焦平面形成的場(chǎng)分布,可以得到饋源的位置及其口徑需要實(shí)現(xiàn)的場(chǎng)分布,讓饋源的口徑場(chǎng)與焦面場(chǎng)共軛匹配,從而實(shí)現(xiàn)較高的天線增益.
圖1給出了前饋拋物面天線的焦面場(chǎng)分布圖,D=400λ,f/D=0.6. 當(dāng)均勻平面波軸向入射,經(jīng)拋物面反射后,在焦平面上會(huì)激勵(lì)起一組明暗交替的能量環(huán)分布. 焦點(diǎn)附近的電場(chǎng)最強(qiáng),饋源的相位中心一般在這個(gè)位置.
圖1 拋物面天線的焦面場(chǎng)示意圖Fig. 1 Focal field of parabolic antenna
當(dāng)均勻平面波沿拋物面天線軸向入射時(shí),焦面場(chǎng)的主極化分量可表示為[16]
式中:E0為入射場(chǎng)強(qiáng);D和f分別為天線的口面直徑和焦距;λ為工作波長(zhǎng);J1為一階第一類貝塞爾函數(shù);u0=krfsinθ0,rf為 焦平面上的點(diǎn)到焦點(diǎn)的距離;θ0=2arctan(D/(4f))為反射面邊緣對(duì)饋源的半張角,只與焦徑比有關(guān).
令Eco=0,可得焦面場(chǎng)中零深的位置到焦點(diǎn)的距離為
圖2給出了焦面場(chǎng)各個(gè)零深的位置隨焦徑比f(wàn)/D的變化情況. 可以看出,f/D越大,θ0越小,零深位置到焦點(diǎn)的距離越遠(yuǎn). 如果要采樣焦面場(chǎng)第一零深以內(nèi)的區(qū)域,f /D越大,PAF的采樣范圍就越大.
圖2 零深位置到焦點(diǎn)的距離隨焦徑比的變化Fig. 2 The distance from null position to the focus with f/D
圖3給出了拋物面天線焦面場(chǎng)各環(huán)區(qū)域的能量占比隨焦徑比的變化情況,此時(shí)焦徑比的范圍為0.3~1.7. 可以看出,第一零深以內(nèi)區(qū)域聚集了大部分能量,且焦徑比越大,能量占比越高,特別是f/D≥0.7時(shí),第一零深以內(nèi)能量占80%以上. 因此,對(duì)于大焦徑比的天線,在其第一零深以內(nèi)的區(qū)域進(jìn)行采樣就可以接收到足夠多的能量,而對(duì)于小焦徑比的天線,則需要在更大范圍(第二零深或第三零深)內(nèi)采樣,才能獲取大焦徑比天線接收相同的能量.
圖3 焦面場(chǎng)各區(qū)域能量占比隨焦徑比的變化Fig. 3 Energy in each region of the focal field with f/D
經(jīng)計(jì)算可知,卡塞格倫天線、格里高利天線等雙反射面天線的焦面場(chǎng)分布與相同等效焦徑比的前饋拋物面天線基本一致,故雙反射面天線可等效為前饋拋物面天線來(lái)分析. 此外,焦徑比相同的情況下,不同口徑大小的反射面天線的焦面場(chǎng)分布相同,因此,本文的后續(xù)研究都采用直徑為400λ的前饋拋物面天線來(lái)進(jìn)行分析計(jì)算.
通過仿真分析,研究PAF的陣列尺寸和單元間距對(duì)天線口徑效率的影響,進(jìn)而得到PAF參數(shù)和反射面天線性能之間的關(guān)系,總結(jié)最優(yōu)的采樣范圍和單元間距,并推導(dǎo)出最優(yōu)單元數(shù)量的計(jì)算公式.
首先利用GRASP軟件,建立拋物面天線的仿真模型,計(jì)算天線的焦面場(chǎng)分布;然后根據(jù)焦面場(chǎng)分布,初選PAF陣列的參數(shù),包括單元尺寸、單元間距、排布方式和單元數(shù)量,利用共軛場(chǎng)匹配(conjugate field matching, CFM)法算出陣列各單元的激勵(lì)系數(shù);將單元方向圖、激勵(lì)系數(shù)和單元坐標(biāo)輸入GRASP軟件中,建立PAF的模型,計(jì)算得到PAF的輻射方向圖;最后,用該方向圖照射反射面天線,得到天線的口徑效率,來(lái)研究PAF參數(shù)與口徑效率的關(guān)系.
在上述研究方法中,單元型式選取和單元方向圖的計(jì)算是研究的重要環(huán)節(jié)之一. 當(dāng)確定單元型式后,單元方向圖一般通過解析公式或商用電磁仿真軟件計(jì)算得到. 簡(jiǎn)單常用的單元天線方向圖的計(jì)算公式可參考關(guān)于天線理論的教材[17],例如半波振子、矩形波導(dǎo)等;而Vivaldi天線等其他單元,結(jié)構(gòu)較復(fù)雜,其方向圖則需要利用商用軟件計(jì)算. 為了分析方便和總結(jié)規(guī)律,本文的PAF單元采用口面場(chǎng)均勻分布的理想波導(dǎo),其口面位于焦平面上,不考慮單元之間的互耦對(duì)輻射性能的影響,其輻射場(chǎng)可以通過口面場(chǎng)積分公式計(jì)算[17]. 陣列排布方式可選正方形排布和六邊形排布,單元尺寸等于單元間距.
CFM法是通過計(jì)算單元所在位置焦面場(chǎng)的共軛值,確定該單元的激勵(lì)系數(shù),使饋源口面場(chǎng)與天線焦面場(chǎng)匹配,從而獲得最高的天線效率. 此外,波束合成算法、最大方向性算法和最優(yōu)靈敏度算法[18]通過饋源照射反射面天線,計(jì)算天線的輻射方向圖,得到天線的方向性系數(shù)或靈敏度關(guān)于波束合成因子的關(guān)系式,再求導(dǎo)得到最大值. 在不考慮互耦的情況下,本文采用CFM法得到的焦面場(chǎng)采樣的一般規(guī)律與其他兩種方法一致. 在實(shí)際工程設(shè)計(jì)中,如果追求最大方向性或最大靈敏度,可基于本文的初始參數(shù)來(lái)計(jì)算波束合成因子,得到PAF每個(gè)單元的幅度和相位加權(quán)值.
下面利用上述分析方法研究不同焦徑比、不同掃描角時(shí)PAF參數(shù)對(duì)天線口徑效率的影響,總結(jié)最優(yōu)采樣范圍、采樣間隔(單元間距)和單元數(shù)量,給PAF的初始設(shè)計(jì)參數(shù)的選取提供理論依據(jù).
由圖3可知,焦面場(chǎng)第一零深以內(nèi)區(qū)域聚集了68%~84%的能量,首先研究在第一零深以內(nèi)區(qū)域進(jìn)行采樣時(shí),反射面天線能夠?qū)崿F(xiàn)的最高口徑效率以及對(duì)應(yīng)的單元間距.
圖4給出了PAF采樣焦面場(chǎng)第一零深以內(nèi)區(qū)域的情況下,反射面天線口徑效率隨單元間距的變化規(guī)律,f/D分別為0.5、1、1.5,PAF六邊形排布,當(dāng)單元間距增大時(shí)單元數(shù)量隨之減少. 可以看出:隨著焦徑比增大,最大口徑效率在升高. 在同一焦徑比的情況下,天線能實(shí)現(xiàn)的最大口徑效率是一定的,如f/D=1時(shí),最大口徑效率為81.6%,即使單元間距變小,即采樣點(diǎn)變密,口徑效率也不會(huì)明顯增加;當(dāng)f/D為0.5~1時(shí),最優(yōu)單元間距為0.33λ/sin θ0(0.41λ~0.7λ),即采樣第一零深以內(nèi)區(qū)域時(shí),當(dāng)天線口徑效率達(dá)到最大值時(shí)需要的單元數(shù)量最少時(shí)的單元間距;當(dāng)f/D為1.5時(shí),最優(yōu)單元間距為0.23λ/sin θ0(0.71λ).由此可以得出:最優(yōu)單元間距與焦徑比有關(guān),焦徑比越大,最優(yōu)單元間距也越大;當(dāng)焦徑比固定時(shí),隨著單元間距連續(xù)增大到某些值時(shí),部分單元超出了第一零深以內(nèi)區(qū)域,于是采樣區(qū)域內(nèi)的單元數(shù)量會(huì)突然減少,此時(shí)僅能采樣第一零深以內(nèi)的小部分區(qū)域.因此口徑效率會(huì)出現(xiàn)陡降的現(xiàn)象,隨著單元間距的進(jìn)一步增大,單元數(shù)量不變的PAF采樣第一零深的范圍也在增大,此時(shí)口徑效率會(huì)逐漸增加到最大值.
圖4 采樣第一零深以內(nèi)區(qū)域時(shí)口徑效率隨單元間距的變化Fig. 4 Aperture efficiency with element spacing when sampling in the area within the first null
PAF分別采用六邊形排布和正方形排布以最優(yōu)單元間距采樣第一零深以內(nèi)區(qū)域的情況下,天線的口徑效率是相同的. 圖5給出了采樣第一零深以內(nèi)區(qū)域時(shí)反射面天線的口徑效率隨焦徑比的變化情況.可以看出,焦徑比越大,天線的口徑效率越高,口徑效率的計(jì)算結(jié)果與圖3中焦面場(chǎng)能量占比情況是一致的.
圖5 采樣第一零深以內(nèi)區(qū)域時(shí)口徑效率隨焦徑比的變化Fig. 5 Aperture efficiency with f/D when sampling in the area within the first null
圖6給出了焦徑比在0.3~1.7,PAF采樣第一零深以內(nèi)區(qū)域的情況下六邊形排布和正方形排布的PAF最優(yōu)單元間距隨焦徑比的變化情況. 可以看出,最優(yōu)單元間距與PAF的陣列排布方式有關(guān),工程設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)選取最優(yōu)單元間距更大的排布方式,此時(shí)的單元數(shù)量更少,饋源的性價(jià)比更高. 例如,f/D=0.3~0.7時(shí),PAF應(yīng)采用正方形排布,其最優(yōu)單元間距更大,僅需要4個(gè)單元,而六邊形排布的PAF則需要7個(gè)單元,但它們照射天線時(shí)的天線口徑效率是相同的;f/D=0.7~1.0時(shí),PAF應(yīng)采用六邊形排布,需要7個(gè)單元,而正方形排布的PAF則需要9個(gè)單元;f/D=1.0~1.5時(shí),PAF應(yīng)采用正方形排布,需要16個(gè)單元,而正方形排布的PAF則需要19個(gè)單元. 此外,雖然焦徑比越大,天線的口徑效率越高,但需要的采樣范圍越大,單元數(shù)量就更多. 因此,實(shí)際應(yīng)用中選取焦徑比時(shí),需要考慮上述因素,并非焦徑比越大越好,應(yīng)合理選擇焦徑比以最少單元實(shí)現(xiàn)最高的口徑效率.
圖6 采樣第一零深以內(nèi)區(qū)域時(shí)最優(yōu)單元間距隨焦徑比的變化Fig. 6 Optimal element spacing with f/D when sampling in the area within the first null
圖7給出了PAF的單元數(shù)量為19,采用最優(yōu)單元間距時(shí)不同焦徑比反射面天線的口徑效率. 可以看出,f/D=0.75時(shí),口徑效率最高,此時(shí)PAF采樣焦面場(chǎng)位于第二零深以內(nèi)區(qū)域. 這是因?yàn)楫?dāng)焦徑比大于1.1時(shí),采樣焦面場(chǎng)第一零深以內(nèi)區(qū)域需要的單元數(shù)量更多(19個(gè)單元),而用同樣數(shù)量的單元也可以采樣小焦徑比天線更大范圍的焦面場(chǎng)(如第二零深以內(nèi)區(qū)域),這時(shí)小焦徑比天線就能實(shí)現(xiàn)比大焦徑比天線更高的口徑效率. 因此,進(jìn)一步證明,在設(shè)計(jì)PAF時(shí)應(yīng)綜合考慮焦徑比的選取.
圖7 混合采樣第一和第二零深以內(nèi)區(qū)域時(shí)口徑效率隨焦徑比的變化Fig. 7 Aperture efficiency with f/D when mixed sampling in the area within the first null and second null
上述研究?jī)H針對(duì)軸向波束,而PAF是用作多波束天線的饋源,因此,還需重點(diǎn)研究掃描波束的情況.圖8給出了掃描波束的焦面場(chǎng),f/D分別為0.35、0.5和0.7,平面波沿與反射面天線軸線夾角0、2、4、6、8、10個(gè)波束寬度斜入射. 可以看出,焦徑比越大,各零深的圓半徑越大,相同掃描角度的波束對(duì)應(yīng)焦面場(chǎng)到焦點(diǎn)的距離越遠(yuǎn),且其散焦的程度越輕.
圖8 掃描波束的焦面場(chǎng)分布Fig. 8 Focal field of scanning beams
在f/D較小的情況下(f/D<0.7),波束的口徑效率較低,偏軸波束對(duì)應(yīng)的焦面場(chǎng)散焦更嚴(yán)重,僅采樣第一零深以內(nèi)區(qū)域不能滿足天線效率要求,需要擴(kuò)大采樣范圍. 圖9和圖10分別給出了反射面天線口徑效率和最優(yōu)單元間距與焦徑比的關(guān)系曲線,此時(shí)PAF采樣范圍為第二和第三零深以內(nèi). 可以看出,焦徑比越大,口徑效率越高,這與圖6中第一零深以內(nèi)采樣時(shí)口徑效率與焦徑比的變化規(guī)律一樣. 從圖10看出,最優(yōu)單元間距與采樣范圍有關(guān),采樣范圍越大,最優(yōu)單元間距越大,且六邊形排布比正方形排布的單元間距要大,此時(shí)選六邊形排布方式為最優(yōu).
圖9 采樣第二或第三零深以內(nèi)區(qū)域時(shí)口徑效率隨焦徑比的變化Fig. 9 Aperture efficiency with f/D when sampling in the area within the second null or third null
圖10 采樣第二或第三零深以內(nèi)區(qū)域時(shí)最優(yōu)單元間距隨焦徑比的變化Fig. 10 Optimal element spacing with f/D when sampling in the area within the second null or third null
圖11給出了PAF分別采樣第一、二、三零深以內(nèi)區(qū)域的情況下,要使口徑效率分別大于60%和70%,反射面天線能夠?qū)崿F(xiàn)的最大掃描角度隨焦徑比的變化情況,其中最大掃描角度為半功率波束寬度(half power beam width, HPBW)的 倍 數(shù)(按 70λ/D估算). 可以看出:同樣的采樣范圍,焦徑比越大,最大掃描角度越大;同一焦徑比,采樣范圍越大,最大掃描角度越大;同一焦徑比和同樣的采樣范圍,要求的效率越高,最大掃描角度就越小.
圖11 不同口徑效率下最大掃描角度隨焦徑比的變化Fig. 11 Maximum scanning angle with f/D at different aperture efficiency
當(dāng)單元尺寸小于單元間距時(shí),通過計(jì)算可知,天線的口徑效率與單元尺寸等于間距時(shí)得到的結(jié)果基本一致,因此本文的研究成果也可指導(dǎo)由單元尺寸小于間距的單元組成PAF的設(shè)計(jì).
通過饋源的偏焦,反射面天線可實(shí)現(xiàn)波束掃描,通過PAF照射反射面天線可同時(shí)形成多個(gè)相互交疊的波束,實(shí)現(xiàn)連續(xù)的大視場(chǎng)覆蓋. 研究反射面天線的焦面場(chǎng)范圍,可確定PAF的尺寸. 圖12給出了反射面天線波束偏轉(zhuǎn)示意圖.
圖12 反射面天線波束偏轉(zhuǎn)示意圖Fig. 12 Diagram of Beam deflection of reflector antenna
焦面場(chǎng)大小可根據(jù)波束偏轉(zhuǎn)因子(beam deviation factor, BDF)進(jìn)行估算[19]:
式中:θb和 θf(wàn)分別為波束偏轉(zhuǎn)角和饋源偏置角;d為饋源橫向偏離焦點(diǎn)的距離;k為與f和d相關(guān)的系數(shù),取值0.3~0.7.
偏轉(zhuǎn)角最大為θbmax的波束,對(duì)應(yīng)的饋源相位中心到焦點(diǎn)的距離為
一般來(lái)說d?f,即θf(wàn)很小,(tanθf(wàn))′=sec2θf(wàn)≈1,所以
根據(jù)焦面場(chǎng)的采樣面積和PAF最優(yōu)單元間距可以計(jì)算所需的單元數(shù)量. 圖13給出了PAF陣列正方形和六邊形排布的示意圖,圖中黑色正方形表示二維掃描波束對(duì)應(yīng)的焦面場(chǎng)輪廓,邊長(zhǎng)為圖中的de為最優(yōu)單元間距,排布方式不同時(shí)de的取值是不同的,應(yīng)按照?qǐng)D6和圖10確定. 陣列中間一行的單元數(shù)量為
圖13 PAF陣列排布示意圖Fig. 13 PAF array layout diagram
式中,[x]表示取x的整數(shù)部分. PAF整個(gè)陣列的單元數(shù)量為
根據(jù)上面的研究結(jié)果,PAF參數(shù)選取原則總結(jié)如下:
1) 焦徑比和采樣范圍. 根據(jù)工程中天線口徑效率和掃描范圍或者視場(chǎng)的要求,由圖11確定天線的焦徑比和PAF的采樣范圍.
2) 排布方式和單元間距. 根據(jù)焦徑比和采樣范圍,由圖6和圖10確定PAF的排布方式和單元間距,選擇最優(yōu)單元間距較大的排布方式,此時(shí)對(duì)應(yīng)的單元數(shù)量更少,性價(jià)比更高.
3) 單元數(shù)量. 通過式(6)計(jì)算對(duì)應(yīng)焦面場(chǎng)的大小,然后根據(jù)上面確定的單元間距,通過式 (8)計(jì)算整個(gè)陣列所需的單元數(shù)量.
下面給出一個(gè)C頻段9 m拋物面天線PAF饋源設(shè)計(jì)實(shí)例,天線主要技術(shù)指標(biāo)如表1所示.
表1 9 m天線主要技術(shù)指標(biāo)Tab. 1 Performance specifications for the 9 m antenna
根據(jù)天線主要技術(shù)指標(biāo)和本文的PAF參數(shù)選取原則,介紹PAF的設(shè)計(jì)和天線的仿真性能.
首先確定天線的焦徑比. 通常邊緣兩個(gè)波束交疊處的增益最低,4 GHz時(shí),假設(shè)波束?3 dB交疊,則每個(gè)波束的效率需大于88.58%,不容易實(shí)現(xiàn);假設(shè)波束?2 dB交疊,每個(gè)波束的效率需大于70.36%,比較容易實(shí)現(xiàn). 掃描角度5倍HPBW(4 GHz)到9倍HPBW(7 GHz). 根據(jù)圖11,焦徑比取0.5,PAF采樣焦面場(chǎng)第二零深以內(nèi)區(qū)域時(shí),天線口徑效率大于70%的最大掃描角度為7.2倍HPBW,口徑效率大于60%的最大掃描角度在10倍HPBW以上,可以滿足上述要求.
根據(jù)圖10的結(jié)果,六邊形排布的PAF最優(yōu)單元間距比正方形大,所需單元數(shù)量少,因此PAF設(shè)計(jì)采用六邊形排布方式;按5.5 GHz中心頻率確定單元間距,de=0.42λ/sin θ0=28.6 mm,根據(jù)式 (8),單元數(shù)量N=109,其中19個(gè)單元合成一個(gè)波束. 單元采用方波導(dǎo),內(nèi)部填充介電常數(shù)為3.6的介質(zhì).
圖14給出了CST仿真軟件中建立的PAF模型,其中紅色六邊形框分別標(biāo)注了軸向波束和邊緣波束對(duì)應(yīng)的19個(gè)單元. 將采用CFM法計(jì)算的陣列激勵(lì)系數(shù)代入CST,得到陣列合成方向圖,最后將陣列方向圖導(dǎo)入GRASP照射反射面天線計(jì)算天線性能. 圖15給出了陣中單元的駐波性能,可以看到,單元在工作頻帶內(nèi)的駐波比小于1.6,而且除了陣列邊緣處的單元1、6外,其他單元的駐波比都小于1.5.
圖14 PAF的CST仿真模型Fig. 14 PAF model in CST
圖15 陣中單元駐波比Fig. 15 VSWR of elements
天線的性能如圖16和表2所示. 圖16給出了天線分別在低、中、高三個(gè)頻率的掃描方向圖. 當(dāng)軸向波束的19個(gè)單元工作時(shí),其他位置的單元激勵(lì)系數(shù)為零,此時(shí)反射面天線的波束指向0°;當(dāng)邊緣波束的19個(gè)單元工作時(shí),其他位置的單元激勵(lì)系數(shù)為零,此時(shí)反射面天線的波束指向?yàn)?.85°. 表2給出了天線在掃描范圍內(nèi)各頻點(diǎn)的口徑效率和最低增益,軸向波束的口徑效率大于72%,邊緣波束的口徑效率大于51%,最低增益大于48 dBi,滿足指標(biāo)要求. 因此,根據(jù)本文焦面場(chǎng)采樣方法選取PAF的設(shè)計(jì)參數(shù)是可行的.
圖16 天線方向圖Fig. 16 Antenna pattern
表2 天線各頻點(diǎn)的口徑效率和最低增益Tab. 2 Aperture efficiency and minimum gain at each frequency point
考慮到成本問題以及饋源對(duì)反射面的遮擋,在滿足指標(biāo)要求的情況下,PAF的規(guī)模一般設(shè)計(jì)得盡可能小. 由于邊緣波束對(duì)應(yīng)的焦面場(chǎng)出現(xiàn)散焦情況,部分能量擴(kuò)散到采樣區(qū)域以外,所以上述邊緣波束的口徑效率相比軸向波束低了10%~20%,邊緣波束的效率可以通過增加單元數(shù)量進(jìn)而擴(kuò)大采樣范圍來(lái)提升. 圖17給出了7 GHz時(shí)將合成一個(gè)波束的單元數(shù)量增加至37個(gè)單元后天線的方向圖. 可以看出,通過增加單元數(shù)量,增大PAF的采樣范圍,天線的增益明顯增高,邊緣波束的效率由51.5%提升至56.2%.
圖17 單元數(shù)量對(duì)7 GHz邊緣波束方向圖的影響Fig. 17 Effect of element number on edge beam pattern at 7 GHz
采用介質(zhì)填充波導(dǎo)單元的PAF作饋源時(shí),天線的口徑效率相比理想波導(dǎo)情況低了10%,這主要是由于陣中單元之間互耦引起阻抗失配造成的. 圖18給出了單元間互耦對(duì)天線方向圖的影響,此時(shí)無(wú)互耦的計(jì)算條件是將單元方向圖、激勵(lì)系數(shù)和單元坐標(biāo)輸入到GRASP軟件計(jì)算得到PAF方向圖照射反射面天線,不考慮單元之間的互耦. 可以看出,不考慮互耦的情況下,天線的增益明顯增高,5.5 GHz時(shí)軸向波束的增益由53.0 dBi提高到了53.6 dBi,此時(shí)效率為84.6%,7 GHz時(shí)邊緣波束的增益由53.5 dBi提高到了54.2 dBi,此時(shí)效率為60.5%,與采用理想波導(dǎo)得到的結(jié)果是一致的.
圖18 單元間互耦對(duì)天線方向圖的影響Fig. 18 Effect of mutual coupling between elements on antenna pattern
本文通過對(duì)反射面天線焦面場(chǎng)的分析,研究了PAF設(shè)計(jì)參數(shù)的選取方法,給出了PAF最優(yōu)單元間距與焦徑比的關(guān)系曲線,導(dǎo)出了PAF單元數(shù)量的計(jì)算公式,可以由反射面天線焦徑比和需要的視場(chǎng)大小或波束掃描范圍確定PAF初始參數(shù). 給出了一個(gè)9 m多波束天線C頻段PAF設(shè)計(jì)實(shí)例,天線在?3°~3°的掃描范圍內(nèi)口徑效率大于51%,最低增益大于48 dBi,滿足指標(biāo)要求,驗(yàn)證了本文分析與初步設(shè)計(jì)的正確性,可用于指導(dǎo)PAF的工程設(shè)計(jì).