邵 濤,李帥康,黃邦斗,章 程
(1.中國科學(xué)院電工研究所,等離子體科學(xué)和能源轉(zhuǎn)化北京市國際科技合作基地,北京 100190;2.中國科學(xué)院大學(xué),北京 100049)
非平衡態(tài)等離子體中電子溫度和離子溫度相差較大,能夠促進一些常規(guī)條件下苛刻的化學(xué)反應(yīng)進行[1-2]。其電子能量較高,氣體溫度偏低,故不易對生物組織造成不利影響[3-4]故非平衡態(tài)等離子體在生物醫(yī)療[5-6]、表面改性[7]、能源轉(zhuǎn)化[8]、環(huán)境治理[9]、流動控制[10]、點火助燃[11]等諸多領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,并展現(xiàn)出良好的應(yīng)用前景。
等離子體產(chǎn)生方式較為多樣化,包括火花放電[12-13]、介質(zhì)阻擋放電[14-15]等?;鸹ǚ烹娮⑷氲降入x子體中的能量較高,產(chǎn)生的電子數(shù)量較多。大氣壓介質(zhì)阻擋放電更為彌散,相對更均勻,但放電功率相對較低。常見的驅(qū)動放電的高壓電源包括直流高壓電源、交流高壓電源、高壓脈沖電源[16]等。直流放電不能驅(qū)動介質(zhì)阻擋放電,交流高壓放電氣體溫度偏高。脈沖放電對負載要求較小,不存在負載匹配問題。
納秒脈沖放電由于上升時間較短,放電通常在超過10倍過電壓下的情況產(chǎn)生。但由于脈沖上升時間和半高寬極短,僅為納秒級,放電發(fā)展的時間極其有限,電子碰撞過程持續(xù)的時間相對較短,放電通道難以熱化,故碰撞出的電子總數(shù)較少,即電子密度較低。電子密度較低,平均約化場強較高,因而電子能量較高,易于產(chǎn)生高能逃逸電子,可產(chǎn)生快速電離波。同時,由于脈寬較窄,放電通道加熱時間在納秒級。放電通道熱化時間很短,難以發(fā)展成為平衡態(tài)等離子體。故納秒脈沖放電的氣體溫度偏低,放電更為彌散,適用范圍更為廣泛。但受限于脈寬較窄,單脈沖能量有限,如果脈沖重復(fù)頻率過低,產(chǎn)生的活性粒子數(shù)量有限。為解決這一困境,提高脈沖重復(fù)頻率勢在必行。國內(nèi)外研究人員也據(jù)此研制了許多脈沖電源。
納秒脈沖電源是產(chǎn)生納秒脈沖放電的基礎(chǔ)。性能優(yōu)異的納秒脈沖電源是當(dāng)前的研究熱點之一。納秒脈沖電源的重要參數(shù)包括輸出電壓幅值、上升時間、脈沖半高寬、脈沖重復(fù)頻率等。其中脈沖重復(fù)頻率和上升時間較為關(guān)鍵,在極大程度上影響著產(chǎn)生的非平衡等離子體的狀態(tài)參數(shù)。近年來,許多研究人員的研究成果提升了脈沖電源的各種參數(shù)性能?;谄齐A躍恢復(fù)二極管技術(shù),以色列研究人員Merensky制作了上升時間短于1 ns,脈沖重復(fù)頻率高達1 MHz的重頻納秒脈沖電源,但其電壓幅值僅有2.2 kV[17]。金屬氧化物場效應(yīng)晶體管通斷速度較快,耐壓較高,可產(chǎn)生重復(fù)頻率較高的脈沖。重慶大學(xué)姚陳果等人據(jù)此研制了脈沖重復(fù)頻率可達10 MHz的脈沖電源,但其電壓幅值不到500 V[18]。韓國研究人員Kim等人據(jù)此研制了電壓幅值可達1.8 kV脈沖電源,其重復(fù)頻率可達1 MHz[19]。中科院電工所李帥康等人報道了輸出電壓幅值可達25 kV,連續(xù)運行重復(fù)頻率可達600 Hz的重頻納秒脈沖電源[16]。磁壓縮技術(shù)可產(chǎn)生電壓幅值較高的電壓脈沖。南京理工大學(xué)李凱等人基于磁壓縮技術(shù)研制了輸出電壓幅值可達70 kV的納秒脈沖電源,但受限于磁芯發(fā)熱,其重復(fù)頻率較低[20]。
脈沖重復(fù)頻率較高時,注入放電能量隨之增加。產(chǎn)生的等離子體能量較高。但重復(fù)頻率較高時,放電通道出現(xiàn)了熱化加重的現(xiàn)象。為產(chǎn)生較大規(guī)模的低溫等離子體,需了解其放電通道熱化現(xiàn)象出現(xiàn)的原因。故開展高重頻納秒脈沖放電特性的研究具有重要的意義。本文使用重復(fù)頻率高壓脈沖驅(qū)動大氣壓火花放電,并研究其放電參數(shù)變化,分析放電狀態(tài)。使用光譜儀測量放電時的光譜,并計算放電時電子溫度隨脈沖重復(fù)頻率的影響。
實驗裝置圖如圖1所示,使用自行研制的高重復(fù)頻率納秒脈沖電源驅(qū)動大氣壓火花放電[21]。電壓幅值為5 kV,脈沖上升時間為12 ns,空載情況下重復(fù)頻率1~100 kHz連續(xù)可調(diào),火花放電時脈沖重復(fù)頻率在1 Hz~30 kHz連續(xù)可調(diào)。脈沖重復(fù)性較好,不同脈沖的各參數(shù)抖動較小,對實驗結(jié)果影響較小。放電時保持上升時間和脈寬不變,只改變脈沖重復(fù)頻率觀察重頻脈沖放電時的等離子體參數(shù)變化。
圖1 實驗裝置示意圖
使用針-針電極放電,電極間隙為1 mm,電極直徑為2 mm。由于放電在納秒級的時間尺度內(nèi)完成,故需使用高采樣率的示波器進行擊穿電壓和擊穿時延的觀測。使用高壓探頭(PINTECH P6028A)和示波器(LeCroy Wave Runner/WR204Xi 2 GHz)配合觀測放電電壓波形,使用羅氏線圈(Pearson 4100)和示波器配合觀測放電電流參數(shù)變化情況。使用光譜儀(復(fù)享光學(xué)PG2000-PRO-3)測量氬氣氣氛中的發(fā)射光譜,并使用玻爾茲曼圖法擬合電子溫度,探究電子溫度隨脈沖重復(fù)頻率的變化。
首先使用針針電極進行放電。火花放電圖像如圖2所示,可以看出發(fā)光較強,放電較為劇烈。圖3為頻率為1 kHz時單個脈沖放電電壓及電流波形,明顯可以看出電壓達到3.79 kV之后發(fā)生擊穿,體現(xiàn)為電壓迅速下降到較小值,同時電流急劇增加。改變放電頻率,觀測了擊穿電壓和擊穿時延隨脈沖重復(fù)頻率的變化情況,進而分析重頻脈沖放電和單個脈沖放電的區(qū)別和聯(lián)系。然后,使用光譜儀觀察不同頻率放電時的發(fā)射光譜,使用玻爾茲曼圖法診斷等離子體電子溫度隨頻率的變化情況。
圖2 納秒脈沖火花放電圖像
t/ns
觀察針-針放電時擊穿電壓和擊穿時延隨頻率的變化情況。放電間隙為1 mm。放電電極為鎢電極。前人也有對重頻放電時的擊穿電壓和擊穿時延開展研究,但受限于電源重頻性能,研究范圍大多集中在5 kHz以下的范圍內(nèi)。實驗觀察了更寬頻率范圍內(nèi)擊穿參數(shù)。
圖4給出了不同頻率下?lián)舸﹨?shù)的變化。結(jié)果顯示擊穿電壓和擊穿時延隨頻率的增加而不斷下降。相比于重復(fù)頻率低于1 kHz的結(jié)果,發(fā)現(xiàn)在更高頻范圍內(nèi)變化趨勢沒有發(fā)生變化,僅是擊穿電壓和擊穿時延下降在15 kHz時出現(xiàn)飽和。
頻率/kHz
由于負載為1 mm針針放電間隙,其體積較小,電容較小,可近似看作阻性。使用電壓乘以電流作為瞬時功率的波形,再對其進行積分得出單脈沖能量。單脈沖能量隨頻率變化的情況如圖5所示。其展現(xiàn)出相對復(fù)雜的趨勢,隨頻率的增加,單脈沖能量先增加,再減小,最后繼續(xù)增加。頻率不同時,記憶效應(yīng)通過影響放電發(fā)展改變脈沖注入能量。
頻率/kHz
納秒脈沖放電由于脈寬較窄,放電通道加熱時間也相應(yīng)較短。電場能量主要用于電子加速,離子由于質(zhì)量較大,加速較為緩慢。故電子溫度和離子溫度相差較大,等離子體狀態(tài)為非平衡態(tài)。為進一步驗證納秒脈沖放電產(chǎn)生的等離子體為非平衡態(tài)等離子體,觀測了納秒脈沖放電時產(chǎn)生的光譜。使用玻爾茲曼圖法擬合電子溫度。根據(jù)文獻中的結(jié)果,電子從能級i躍遷到能級j時,滿足下式[22-23]。
(1)
λ/nm
根據(jù)式(1)擬合出玻爾茲曼圖,擬合結(jié)果如圖7所示,可見數(shù)據(jù)點比較分散,相距較遠,故擬合結(jié)果比較可信。然后根據(jù)直線斜率計算出不同頻率放電時的電子溫度,如圖8所示。當(dāng)脈沖重復(fù)頻率小于5 kHz時,電子溫度為~2.5 eV,而10 kHz以上時,電子溫度降低至~0.8 eV。由于火花放電典型氣體溫度在700~3000 K之間[24],故此時電子溫度(8 000~30 000 K)遠高于氣體溫度,此時放電仍為典型的非平衡態(tài)等離子體。電子能量和溫度正相關(guān),電子溫度較高表明電子能量較高。
-(Ei-Ej)/k
λ/nm
高重復(fù)頻率下脈沖放電中擊穿電壓和擊穿時延下降與記憶效應(yīng)有關(guān)[1]。先前脈沖放電產(chǎn)生的電荷具有一定的壽命,殘余在電極間隙中。殘余電荷提供了電子崩發(fā)生的初始電荷,使放電更容易發(fā)生,降低了間隙的絕緣強度,表現(xiàn)為擊穿電壓和擊穿時延下降。放電產(chǎn)生的帶電粒子中,電子速度較快,壽命極短,對后續(xù)放電產(chǎn)生的影響較小,正離子壽命較長,對后續(xù)脈沖電場起到一定的畸變作用。
記憶效應(yīng)對脈沖注入放電的能量具有較為復(fù)雜的影響。當(dāng)頻率較低時(<5 kHz),記憶效應(yīng)粒子殘余較少,記憶效應(yīng)比較弱,放電難以發(fā)生。記憶效應(yīng)隨著頻率的增加而不斷加強,間隙絕緣強度變?nèi)?,放電越來越容易發(fā)生,擊穿時間越來越早。在相同寬度的脈沖情況下,放電發(fā)生的越早,放電持續(xù)的時間就越長,故而放電持續(xù)時間變長,單脈沖注入放電的能量增加。當(dāng)頻率在5~15 kHz之間,記憶效應(yīng)較為顯著,擊穿電壓大幅下降。擊穿電壓較小時,放電電流峰值也較小,導(dǎo)致放電功率下降。進而單脈沖能量變小。表現(xiàn)為記憶效應(yīng)不利于能量注入。當(dāng)頻率大于15 kHz時,擊穿電壓下降趨勢出現(xiàn)飽和現(xiàn)象,故單脈沖能量表現(xiàn)為緩慢增加。
根據(jù)玻爾茲曼圖法擬合電子溫度,發(fā)現(xiàn)電子溫度整體較高,明顯高于常規(guī)火花放電的氣體溫度[24]。據(jù)此可知重頻納秒脈沖放電產(chǎn)生的等離子體為非平衡態(tài)等離子體。由于放電發(fā)生時刻提前,放電持續(xù)時間增加,放電電流增加,即放電間隙總的電子數(shù)量增加,平均到每個電子上的能量變小。放電頻率變高時,殘余到下一次脈沖的電子數(shù)量增加,則在下一次放電初期有更多的電子崩同時發(fā)展,相當(dāng)于同樣的能量分散到更多的電子上,單個電子分得的能量變小。10 kHz左右時,等離子體電子溫度急劇下降,對比發(fā)現(xiàn)單脈沖注入能量也出現(xiàn)下降現(xiàn)象。這是由于在該頻率范圍內(nèi)殘余電荷導(dǎo)致?lián)舸╇妷合陆?,不利于脈沖能量的注入。
本文研究了高重復(fù)頻率納秒脈沖放電特性和電子密度與電子溫度等等離子體參數(shù),脈沖重復(fù)頻率范圍為1 kHz~30 kHz,得到主要結(jié)論如下:
(1)放電擊穿電壓和擊穿時延隨脈沖重復(fù)頻率的增加而不斷下降,但當(dāng)重復(fù)頻率大于15 kHz,降幅趨緩。單脈沖能量隨著脈沖重復(fù)頻率增加先減小,后增加,但單位時間內(nèi)脈沖注入能量增加。
(2)電子激發(fā)溫度在0.8~5 eV范圍內(nèi),為典型的非平衡態(tài)放電。當(dāng)脈沖重復(fù)頻率增加到10 kHz以上,電子溫度下降,這是因為高重復(fù)頻率下殘余電荷降低擊穿電壓,不利于脈沖能量的注入。