劉雋暉,賈靜,張健,趙艷麗
(營(yíng)口理工學(xué)院電氣工程學(xué)院,遼寧營(yíng)口,115014)
在高校教學(xué)實(shí)驗(yàn)環(huán)節(jié)中,會(huì)大量用到集成芯片。在實(shí)驗(yàn)教學(xué)中,經(jīng)常會(huì)有數(shù)字邏輯芯片由于各種原因已經(jīng)損壞,但是使用者不知情的情況,在排除其他原因后,才可能會(huì)想到檢測(cè)芯片的好壞。這樣會(huì)耽誤實(shí)驗(yàn)進(jìn)程,影響實(shí)驗(yàn)效果。市場(chǎng)上已有檢測(cè)集成芯片的工程應(yīng)用型測(cè)試儀,但是由于其價(jià)格昂貴,而且測(cè)試芯片不全,并不適合在高校教學(xué)應(yīng)用。為了降低成本,貼合高校實(shí)驗(yàn)教學(xué)需求,設(shè)計(jì)了一種以AT89S52單片機(jī)的集成芯片測(cè)試儀。由于不同芯片的測(cè)試儀只是測(cè)試程序不同,所以本文以74系列芯片為例,設(shè)計(jì)了針對(duì)74系列芯片的測(cè)試儀。
根據(jù)74系列芯片測(cè)試儀要完成的任務(wù)和技術(shù)指標(biāo)的要求,構(gòu)建系統(tǒng)總體方案框圖如圖1所示。測(cè)試儀的硬件部分主要工作為搭建測(cè)試平臺(tái),選擇單片機(jī)為電路核心,通過可編程I/O接口與20管腳集成芯片插座相連。74系列芯片有14個(gè)管腳,20管腳集成芯片插座選擇14個(gè)腳與單片機(jī)連接,其中接地端、電源端位置固定。對(duì)于測(cè)試結(jié)果,利用LED數(shù)碼管顯示芯片好壞和型號(hào)[1]。
圖1 系統(tǒng)總體方案框圖
根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的總體方案,系統(tǒng)的硬件由單片機(jī)最小系統(tǒng)電路、電源電路、測(cè)試芯片插座電路、數(shù)碼管顯示電路組成。測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理之后通過LED數(shù)碼管顯示芯片好壞和芯片型號(hào)。其中LED數(shù)碼管第一位為標(biāo)志位,顯示芯片好壞,如果數(shù)碼管第一位顯示7則為完好的芯片,若第一位顯示一半豎杠則為壞芯片,若數(shù)碼管顯示異常則為數(shù)據(jù)庫中不存在的芯片。利用開發(fā)板,在PC機(jī)上對(duì)新增IC進(jìn)行編程,并將數(shù)據(jù)存入程序庫中,燒入單片機(jī)芯片中[2]。根據(jù)測(cè)試的需要可以改變測(cè)試數(shù)據(jù)庫,以便滿足不同芯片的檢測(cè)需求,能夠擴(kuò)大測(cè)試范圍。測(cè)試儀電路系統(tǒng)原理圖如圖2所示。
圖2 測(cè)試儀控制電路系統(tǒng)原理圖
單片機(jī)最小系統(tǒng)設(shè)計(jì)采用內(nèi)部時(shí)鐘方式,對(duì)外接電容C1、C2雖沒有嚴(yán)格的要求,但電容容量的大小會(huì)影響振蕩頻率的高低、振蕩器工作的穩(wěn)定性、起振的難易程度及溫度穩(wěn)定性,如果使用石英晶體,推薦電容30pf+10pf,而陶瓷諧振器推薦電容40pf+10pf。設(shè)計(jì)采用12MHz晶振和30pf的C1、C2電容,在AT89S52引腳XTALl和XTAL2外接晶體和電容后,與其內(nèi)部高增益反相放大器一起構(gòu)成了自激振蕩器,在AT89S52內(nèi)部產(chǎn)生了時(shí)鐘[3]。
測(cè)試電路可以測(cè)試74系列基本芯片,測(cè)試數(shù)據(jù)庫主要收錄了74系列基本芯片,設(shè)定芯片的右上腳接電源(Vcc),左下腳接地(GND)。在插入被測(cè)芯片時(shí),芯片的地端管腳插入插座的地端,芯片的電源管腳插入插座的電源,其余管腳依次對(duì)應(yīng)插入。
顯示器是一個(gè)典型的輸出設(shè)備,而且應(yīng)用較廣泛。顯示器的差別在于結(jié)構(gòu)類型不同[4]。最簡(jiǎn)單、直觀的顯示器可以使用LED發(fā)光二極管,CRT監(jiān)視器或者LCD液晶屏結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜。根據(jù)實(shí)際情況,由于只需顯示芯片型號(hào),因此選用LED數(shù)碼管,通過單片機(jī)編程實(shí)現(xiàn)顯示。
電源電路是由一個(gè)整流橋集成電路、2個(gè)0.1μf無極性電容、2個(gè)470μf電解電容和7805三端穩(wěn)壓集成電路組成。+5V自制直流穩(wěn)壓電源,將220V市電通過降壓變壓器變換成12V交流電進(jìn)入全波整流電路變成脈動(dòng)的直流電壓,經(jīng)過C4,C6電容濾波,得到平滑的直流電壓Vin,再經(jīng)過三端穩(wěn)壓7805集成電路變成+5V穩(wěn)壓直流電源,通過C5,C7濾波電容,防止干擾,其中D1為電源指示燈。
本次設(shè)計(jì)利用Keil、EDA、Proteus完成編輯、編譯、連接、調(diào)試、仿真等整個(gè)開發(fā)流程。其中硬件設(shè)計(jì)環(huán)境是通過Proteus設(shè)計(jì)電路并將其仿真,以檢驗(yàn)電路功能,功能基本實(shí)現(xiàn)后再在EDA平臺(tái)下畫出硬件總電路原理圖,并適當(dāng)調(diào)整一些器件,使測(cè)試儀更加實(shí)用、可靠。軟件設(shè)計(jì)的環(huán)境是Keil,用C語言編程。圖3是軟件程序流程圖。首先單片機(jī)會(huì)根據(jù)引腳數(shù)量檢測(cè)芯片型號(hào),然后根據(jù)與數(shù)據(jù)庫中真值表對(duì)比,檢測(cè)芯片好壞。最終顯示結(jié)果。
圖3 軟件程序流程圖
以AT89S52單片機(jī)為核心,控制整個(gè)測(cè)試過程。當(dāng)單片機(jī)按鍵復(fù)位后,系統(tǒng)開始初始化,然后進(jìn)入程序。由鍵盤選擇要測(cè)試芯片型號(hào),單片機(jī)發(fā)送測(cè)試信號(hào),通過和測(cè)試數(shù)據(jù)庫中的真值表對(duì)照,判斷芯片是否損壞并顯示測(cè)試結(jié)果。根據(jù)原理圖焊接電路板,利用開發(fā)板往AT89S52中燒寫程序,經(jīng)過調(diào)試,使系統(tǒng)可以正常工作。對(duì)74系列芯片進(jìn)行測(cè)試,能夠正確顯示預(yù)期結(jié)果,達(dá)到預(yù)期目標(biāo)。
本文設(shè)計(jì)了基于單片機(jī)的集成芯片測(cè)試儀,該測(cè)試儀體積小、攜帶方便、造價(jià)低廉,能夠解決實(shí)驗(yàn)前邏輯芯片的完好性測(cè)試工作,為高校師生電路技術(shù)的教學(xué)與學(xué)習(xí)提供便利。