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        不同充電機制鋰離子電池老化行為分析

        2021-11-19 06:05:06閆晟睿孫笑寒王丹劉曉蕾
        汽車工藝與材料 2021年11期
        關鍵詞:極片內(nèi)阻負極

        閆晟睿 孫笑寒 王丹 劉曉蕾

        (中國第一汽車股份有限公司 新能源開發(fā)院,長春130013)

        1 前言

        三元鋰離子電池因其比能量高,比功率大,耐低溫性能良好,允許大倍率充電,目前已經(jīng)廣泛應用于純電動汽車動力系統(tǒng)[1]。壽命是評估電池性能的重要指標之一,電池可用容量會隨著循環(huán)使用逐漸下降,電池長期處于大倍率充放電狀態(tài)下會縮短其壽命,合適的充放電策略可以減緩這種變化,從而節(jié)約成本。因此,研究鋰離子電池循環(huán)使用過程中充放電倍率對其容量衰減的影響具有重要意義。

        不同的充放電倍率對鋰離子電池衰減機理的影響非常復雜,一般將鋰電池的衰減機理分為可用鋰離子的損失(LLI)和正負極活性材料的損失(LAM),部分文獻中將正負極活性材料的損失繼續(xù)細分為正極富鋰材料的損失(LAMliPE),正極欠鋰材料的損失(LAMdePE),負極富鋰材料損失(LAMliNE),負極欠鋰材料的損失等(LAMdeNE)[2]。LLI主要由SEI膜、CEI膜的厚及負極表面的析鋰導致的[3]。當鋰離子電池經(jīng)歷低溫充電或快速充電等工況時,鋰離子可能會在負極表面還原成鋰金屬,發(fā)生析鋰現(xiàn)象。產(chǎn)生的鋰枝晶,可能造成局部微短路,從而造成安全隱患。析出的鋰枝晶即使不刺破隔膜,也會在負極表面沉積,與電解液發(fā)生副反應,形成氟化鋰、烷基鋰、碳酸鋰、磷酸鋰[2]等產(chǎn)物,造成活性鋰離子存量損失。LAM主要包括結構損壞,鐵、錳等離子的溶解等導致的正負極材料損失,石墨負極材料和錳酸鋰正極材料來說容易遭受活性材料的損失,石墨負極體積變化等導致部分活性物質(zhì)與集流體等接觸不良,由于電解液與鋰離子共同嵌入導致石墨顆粒的剝落,集流體與粘接劑的腐蝕等,也是導致LAM的可能原因,對于磷酸鐵鋰和鎳鈷錳酸鋰三元正極材料來說,LAM的量會比較少,而負極石墨LAM的量則比較大[3]。此外電池內(nèi)阻增加也會導致電池的容量損失。

        傳統(tǒng)的檢測方法需要對電池進行拆解,拆解后無法繼續(xù)對電池進行研究,而本研究采用容量增量法(IC),可以在無損的條件下對電池的衰減機理進行分析[4-5],之后對電池進行拆解,結合SEM、XPS等失效分析檢測手段,拆解后通過對極片表面,斷面顆粒形貌,以及極片表面元素含量的測試,用以檢測電池老化情況,并驗證增量容量無損檢測方法的準確性。

        2 試驗

        試驗采用某款鎳鈷錳酸鋰三元體系電池,充電策略如下所示。

        a.1號充電策略為1.2C充電至3.758 V,0.85C充電至4.1 V,0.33C充電至4.26 V。

        b.2號充電策略為1.45C充電至3.81 V,1.1C充電至3.87 V,0.85C充電至4.04 V,0.33C充電至4.18 V,0.1C充電至4.25 V。

        放電時以1C的倍率放電至截止電壓2.8 V,充電倍率C按首次放電容量計算,1號電池循環(huán)380次,2號電池循環(huán)350次。

        3 試驗結果分析

        3.1 增量容量分析

        在電池的循環(huán)過程中,每隔30至50次循環(huán),對電池進行一次穩(wěn)態(tài)測試。采用0.05C的小電流對電池進行充放電,以降低極化,再對得到的容量電壓數(shù)據(jù)進行微分處理,得到增量容量曲線,縱坐標為電池容量對電池開路電壓求導后所得的導數(shù),橫坐標為電池的開路電壓。

        分別對1號2號電池進行增量容量分析(ICA),結果如圖1和圖2所示。圖1為1號電池全電池0次,200次,380次循環(huán)后放電IC曲線對比,由圖可看出,經(jīng)過380次循環(huán)后,1號電池IC曲線上各個峰高度均明顯降低,有明顯的LLI和LAM現(xiàn)象發(fā)生[6]。LLI主要由SEI膜、CEI膜的增厚及負極表面的析鋰導致的,LAM主要包括結構損壞,鐵、錳等離子的溶解等導致的正負極材料損失,石墨負極材料和錳酸鋰正極材料來說容易遭受LAM,石墨負極體積變化等導致部分活性物質(zhì)與集流體等接觸不良,由于電解液與鋰離子共同嵌入導致石墨顆粒的剝落,集流體與粘接劑的腐蝕等,是導致負極材料LAM的可能原因。LAM相比于LLI對電池內(nèi)阻的影響更大,而當電池經(jīng)歷200次與380次循環(huán)后,各個特征峰的位置未發(fā)生明顯變化,說明此時峰高度的降低主要由LLI引起,循環(huán)的初期正負極材料活性物質(zhì)的損失較小。

        圖1 1號電池全電池0次-200次-380次循環(huán)后放電IC曲線對比

        圖2為2號電池全電池0次,200次,350次循環(huán)后放電IC曲線對比。由圖可看出,經(jīng)過350圈循環(huán)后,各個峰高度也均明顯降低,說明2號充電策略的電池也有明顯的LLI和LAM現(xiàn)象發(fā)生。而當2號充電策略的電池經(jīng)歷200次與380次循環(huán)后,各個特征峰的位置未發(fā)生明顯變化,說明此時峰高度的降低主要由LLI引起,此時正極材料和負極材料活性物質(zhì)的損失較小。

        圖2 2號電池全電池0次-200次-350次循環(huán)后放電IC曲線對比

        圖3 為1號與2號電池經(jīng)歷不同次數(shù)循環(huán)后,放電IC曲線的對比。從圖中可以看出,0次循環(huán)基測時,1號電池與2號電池IC曲線基本重合,不同電壓區(qū)域的相變點,有細微差別。當2號電池經(jīng)歷350次循環(huán),1號電池經(jīng)歷380次循環(huán)后,相比于2號電池,1號電池的特征峰高度更低,說明此時2號電池的LLI和LAM大于1號電池,而此時1號電池的循環(huán)次數(shù)卻小于2號電池,說明2號充電策略相比于1號充電策略,對電池造成老化衰減的程度更小。從圖中還可以看出1號電池與2號電池的峰1與峰4均明顯向高電壓區(qū)域移動,說明1號峰與4號峰所對應的正負極材料的相轉變過程均需要再更高的電壓區(qū)間進行,1號電池與2號電池的內(nèi)阻均明顯增大。對電池進行直流內(nèi)阻及溫升測試,1號電池內(nèi)阻為1.261 mΩ,2號電池內(nèi)阻為1.527 mΩ,充電過程中1號電池最高溫度為34.5℃,2號電池最高溫度為37.1℃,與分析結果一致。

        圖3 1號與2號電池全電池不同循環(huán)次數(shù)后局部放電IC曲線對比

        對電池內(nèi)阻增大的原因進行分析,電解液的損失,隔膜微孔被堵塞,SEI膜、CEI膜持續(xù)增厚,負極表面鋰枝晶析出,正極材料金屬溶出導致結構破壞,石墨負極體積變化等導致部分活性物質(zhì)與集流體等接觸不良,電解液與鋰離子共嵌入導致石墨顆粒剝落,集流體與粘接劑腐蝕等,都是導致內(nèi)阻增大的可能原因。隨著循環(huán)老化過程,電池內(nèi)部發(fā)生鋰離子和活性材料發(fā)生損失,電池內(nèi)部歐姆壓降和極化電壓增加,最終結果是電池充電過程中電壓平臺的增加。由于鋰電池充電電壓曲線是平坦的,無法直接觀察差異,轉化成為容量增量曲線后,可以發(fā)現(xiàn)容量增量曲線發(fā)生整體向右偏移,表明電池充電過程電壓平臺的增高。

        3.2 電池拆解分析

        電池拆解前,進行內(nèi)阻測試,1號電池內(nèi)阻為0.428 3 mΩ,2號電池內(nèi)阻為0.440 3 mΩ,2號電池的內(nèi)阻更大,老化程度更深。拆解后對比1號2號電池,負極極片界面狀態(tài)如圖4和圖5所示。負極極片表面均為金黃色,未發(fā)生析鋰,說明1號充電策略與2號充電策略均安全可行,但相較于1號充電策略電池,2號電池負極極片上的涂層脫落現(xiàn)象更加嚴重,脫落區(qū)域也更大,表明2電池充電策略下循環(huán)的電池,負極極片的結構損傷更嚴重。

        圖4 1號充電策略電池負極界面

        圖5 1號充電策略電池負極界面

        對拆解后的1號2號電池負極極片進行SEM分析,設備型號為JSM-7610FPlus掃描電子顯微鏡,測試結果如圖6和圖7所示。1號2號充電策略電池負極石墨表面均覆蓋有大片的膜狀物質(zhì),未覆蓋膜狀物質(zhì)部分石墨顆粒結構清晰,膜狀物質(zhì)為過度生長的SEI膜。

        圖6 1號充電策略電池負極表面形貌SEM圖

        圖7 2號充電策略電池負極表面形貌SEM圖

        對負極極片進行XPS測試,設備型號為K-AL?PHA+射線光電子能譜儀系統(tǒng),為確認SEI膜厚度,對負極進行Ar+刻蝕,圖8為連續(xù)刻蝕800 s過程中,1號電池負極極片各元素含量隨刻蝕時間的變化曲線圖。通過碳元素隨刻蝕時間變化的曲線圖分析,表面SEI膜厚度在刻蝕約200 s時所對應的厚度,利用二氧化硅刻蝕速率做參比,計算得出表面SEI膜的厚度為約96 nm。圖9為連續(xù)刻蝕800 s過程中,2號電池各元素含量隨刻蝕時間的變化曲線圖,通過碳元素隨刻蝕時間變化的曲線圖分析,表面SEI膜厚度在刻蝕約280 s時所對應的厚度,利用二氧化硅刻蝕速率做參比,計算得出表面SEI膜的厚度為約129 nm。相比于1號充電策略,2號充電策略的副反應更嚴重,活性鋰離子與電解液在負極極片表面不斷發(fā)生副反應,生產(chǎn)碳酸鋰,氟化鋰,烷基鋰,氧化鋰等副產(chǎn)物,造成SEI膜的持續(xù)增厚,進而導致可用鋰離子存量損失和電池內(nèi)阻的增大[7]。

        圖8 1號充電策略電池負極表面各元素含量隨刻蝕時間的變化

        圖9 2號充電策略電池負極表面各元素含量隨刻蝕時間的變化

        4 結束語

        通過對兩種不同充電機制的電池進行對比分析,2號電池經(jīng)歷350次循環(huán),1號電池經(jīng)歷380次循環(huán),發(fā)現(xiàn)2號電池的LLI和LAM大于1號電池,1號峰與4號峰所對應的正負極材料的相轉變過程均需要在更高的電壓區(qū)間進行,1號電池與2號電池的內(nèi)阻均明顯增大。SEM測試結果表明1號2號電池負極石墨表面均覆蓋有大片的膜狀物質(zhì),為過度生長的SEI膜。XPS測試得出1號電池負極極片表面SEI膜的厚度為約96 nm,2號電池負極極片表面SEI膜的厚度為約129 nm,2號充電策略電池老化程度大于1號充電策略電池,說明兩種策略對電池老化的機理相近,但有不同。2號策略溫升較大,SEI增長較快,1號充電策略優(yōu)于2號充電策略。

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