朱凱凱 楊振南 潘學(xué)文

摘要：為了解決機(jī)械測(cè)量?jī)x器測(cè)量電容精度不高和速度不快的問題，該文基于PICOCAP測(cè)量原理，利用帶有內(nèi)部DSP單片機(jī)的單芯片電容測(cè)量方案PCAP01，設(shè)計(jì)電子測(cè)量系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)微小電容的檢測(cè)。該系統(tǒng)硬件主要由PCAP01芯片及其應(yīng)用電路，搭配STM32最小系統(tǒng)、供電電路以及OLEDssd1306顯示模塊組成。系統(tǒng)軟件包括電容數(shù)據(jù)采集、Pcap01與STM32之間的通信以及數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換、STM32與OLED液晶顯示器之間的通信、OLED的顯示等。通過最后測(cè)試結(jié)果分析可知：基于Pcap01的微電容測(cè)量系統(tǒng)可以完成從幾fF—幾百nF的電容測(cè)量，測(cè)量周期最低可達(dá)us級(jí)。該設(shè)計(jì)可以被應(yīng)用于液位測(cè)量、物位測(cè)量、加速度測(cè)量等微電容傳感器測(cè)量領(lǐng)域。

關(guān)鍵詞：微小電容;Pcap01;STM32;電容式傳感器;DSP

中圖分類號(hào)：TP391? ? ? ? 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A

文章編號(hào)：1009-3044（2021）18-0014-03

開放科學(xué)（資源服務(wù)）標(biāo)識(shí)碼（OSID）：

Design of Micro Capacitance Measurement System based on Pcap01

ZHU Kai-kai， YANG Zhen-nan， PAN Xue-wen

（School of Electronics and Information Engineering，Hunan University of Science and Engineering，? ?Yongzhou 425199， China）

Abstract： In order to solve the problem of low precision and slow speed of mechanical measuring instruments， this paper designs an electronic measurement system to detect tiny capacitors based on the measurement principle of PICOCAP and the single-chip capacitance measurement scheme of Pcap01 with internal DSP microcontroller.The hardware of the system is mainly composed of PCAP01 chip and its application circuit， STM32 minimum